JPS62186054U - - Google Patents

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JPS62186054U
JPS62186054U JP7367386U JP7367386U JPS62186054U JP S62186054 U JPS62186054 U JP S62186054U JP 7367386 U JP7367386 U JP 7367386U JP 7367386 U JP7367386 U JP 7367386U JP S62186054 U JPS62186054 U JP S62186054U
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turbidity
light emitting
detection
light
output
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、この考案に係る濁度計の一実施例を
示す説明図、第２図は、各フオルマジン標準濁度
計検水中に本考案に係る濁度計を浸漬して検水温
度を変化させた時の濁度指示値を示すグラフ、第
３図及び第４図は、従来例を示す説明図、第５図
は、第４図に係る従来の濁度計を各フオルマジン
標準濁度計検水中に浸漬して検水温度を変化させ
た時の濁度指示値を示すグラフである。 １……被検出液、６Ａ……発光ダイオード、７
……発光電流制御回路、８……濁度検出装置、９
……比較検出用フオトダイオード、１３……懸濁
物質、１４Ａ……濁度検出用フオトダイオード。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 発光電流制御装置により所定発光周波数で
    点滅するように制御されて被検出液中に光を照射
    する発光ダイオードと、前記発光ダイオードから
    照射されて被検出液中の懸濁物質により散乱反射
    される光を検出する濁度検出センサを有する濁度
    検出装置と、からなる濁度計において、前記発光
    ダイオードの発光波長を６００ｎｍ〜８００ｎｍ
    に設定したことを特徴とする濁度計。 (2) 前記発光電流制御装置は、前記発光ダイオ
    ードからの光を直接受光して方形波電流を出力す
    る比較検出用フオトダイオードと、前記比較検出
    用フオトダイオードから出力される検出電流を増
    幅する増幅回路と、前記増幅回路から出力される
    検出電流を前記比較検出用フオトダイオードでの
    受光量に比例した直流電圧信号に変換するフイル
    タ整流回路と、前記直流電圧信号が入力されて所
    定の基準電圧と該直流電圧信号とを比較してその
    偏差分を一定となすように前記発光ダイオードへ
    の発光電流の供給を制御する発光電流制御回路と
    からなる実用新案登録請求の範囲第１項記載の濁
    度計。 (3) 前記濁度検出センサは、フオトダイオード
    である実用新案登録請求の範囲第１項又は第２項
    記載の濁度計。 (4) 前記濁度検出装置は、前記濁度検出センサ
    の検出出力を増幅して入射光量に応じた電気信号
    に変換する増幅回路と、前記電気信号が入力され
    て前記発光ダイオードの発光周波数と同じ周波数
    の信号成分のみを選択して整流を行なうと共に濁
    度に比例した直流信号を出力するフイルタ整流器
    と、前記直流信号が入力されて出力に適した信号
    に変換する出力回路と、前記出力回路から出力さ
    れる信号が入力され濁度の指示出力を行なう指示
    計とを備えてなる実用新案登録請求の範囲第１項
    乃至第３項のいずれかに記載の濁度計。
JP7367386U 1986-05-16 1986-05-16 Pending JPS62186054U (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5440680A (en) * 1977-09-07 1979-03-30 Hitachi Ltd Nephelometer
JPS58178243A (ja) * 1982-04-12 1983-10-19 Meidensha Electric Mfg Co Ltd 光学式懸濁物質濃度測定装置
JPS6113136A (ja) * 1984-06-19 1986-01-21 バイエルコーポレーション 光学的に不均一な試料から拡散反射される光の測定装置及び測定方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5440680A (en) * 1977-09-07 1979-03-30 Hitachi Ltd Nephelometer
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JPS6113136A (ja) * 1984-06-19 1986-01-21 バイエルコーポレーション 光学的に不均一な試料から拡散反射される光の測定装置及び測定方法

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