JPS58150876A - 反射形光センサ - Google Patents

反射形光センサ

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Publication number
JPS58150876A
JPS58150876A JP57034902A JP3490282A JPS58150876A JP S58150876 A JPS58150876 A JP S58150876A JP 57034902 A JP57034902 A JP 57034902A JP 3490282 A JP3490282 A JP 3490282A JP S58150876 A JPS58150876 A JP S58150876A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
electrical signal
pulse
pulse width
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP57034902A
Other languages
English (en)
Inventor
Juichi Maruyama
丸山 寿一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP57034902A priority Critical patent/JPS58150876A/ja
Publication of JPS58150876A publication Critical patent/JPS58150876A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、測定対象物上に投射した光の反射光を利用
して測定を行なう反射形光センサに関し、特に光源をパ
ルス信号によって点滅点灯させる方式の反射形光センサ
に関する。
対象物までの距離やその形状などを非接触で測定する手
段として、反射形光センサが数多く用いられる。反射形
光センサは、発光ダイオードやレーザなどの光源を用い
て対象物上に光を投射し、その反射光を利用して対象−
物に対する測定を行なうものである。
第1図は、従来の反射形光センサの一例を示す概略ブロ
ック図である。
構成において、投光側は、パルス発振器1が発光ダイオ
ードなどの光源2と接続され、さらに光112は投光側
光学系3と接続される。一方受光側、は、受光側光学系
5が受光索子6と接続され、受光索子6の出力側はバン
ドパスフィルタ7を介してAGC増幅I18の入力側と
接続される。AGC増幅器8の出力側は整流回路9を介
して信号処理回路10に接続される。また、整流回路9
の出力側はAGC増幅器のコントロール信号入力側に接
続される。
動作において、光1[2は、一定の周波数で発振してい
るパルス発振器1の出力信号に応答し、一定周期でオン
、オンのパルス点灯を繰り返す。このパルス光は投光側
光学系3を通して測定対象物4に投光される。測定対象
物4で反射されたパルス光は受光側光学系5を通して受
光素子6に入力され、これに応答して受光素子6は受光
したパルス光を電気信号に変換する。この電気信号には
、一般に外乱光の影響による雑音が含まれているため、
バンドパスフィルタ7を通じて、パルス発振I11の発
振周波数に等しい成分のみが抽出される。
抽出された電気信号は、AGO増幅器8で一定のレベル
まで増幅された後、整流回路9で整流されて直流信号に
変換される。この直流信号はAGC増幅器8にフィード
バックされ、直流信号の冑化に応じてAGC増幅−8の
増幅度が制御される。
したがって、AGC増幅118の出力は一定値を保ち、
整流1路9の直流信号出力も一定値を保つ。
この直流信号は、信号処理回路10へ送られ、分析が行
なわれる。
ところで、測定対象物4上で反射される光の強度は、測
定対象物の材質、色、汚れ、粗さ、傾き角などの表面状
態によって著しく変化する。このため、受光索子6の出
力である電気信号も同様に測定対象物の表面状態による
で大きく変動する。
AGC増幅I18はこの測定対象物の表面状層による電
気信号への影響を除去する目的で設けられているが、次
のような欠点があるためその目的を十分に果たし得ない
。第1に、増幅度の可変範囲に限界があるため、ある程
度以下の電気信号には対処し得ない。第2に、応答特性
の関係から、電気信号の急激な変化に対処し得ない。さ
らに、この従来の装置では、電気信号の段階で変動を修
正するものであるため、反射光が弱い状態のときのS/
N比の低下は修正し得ず、測定対象物の表面状態により
S/N比が大幅に変動するという欠点もある。
このような欠点は、信号処理回路10における電気信号
の分析を困難にし、この欠点を緩和するために信号処理
回路の構成を複雑化し、また装置そのものの応用範囲を
比較的表面状態の良好なものに限定してしまうという欠
点を招来している。
それゆえに、この発明の目的は、測定対象物の表面状態
にかかわらず、電気信号およびそのS/N比が一定値に
保たれる反射形光センサを提供することである。
この発明は要約すれば、光源を駆動するパルス発振器の
出力を受光された反射光の強度に応じて制御することに
より、反射光の強度そのものを一定に保ち、反射光に対
応して変換される電気信号を一定に保つものである。
この発明の上述の目的およびその他の目的と効果は、図
面を参照して行なう以下の詳細な説明により一一明らか
となろう。
第2図は、この発明の一寅論例である反射形光センサを
示す概略ブロック図である。構成にお&Nで、投光側は
、パルス発振器1がパルス幅変調回路21を介して発光
ダイオードなどの光1i2と接続され、光112は投光
側光学系3と接読される。
また受光側は、受光側光学系5が受光素子6と接続され
、受光素子6の出力側はバンドパスフィルタ7を介して
増幅$20の入力側に接続される。
増幅器20の出力側は、整流回路9の入力側と投光側に
設けられているパルス幅変調回路21とに接続され、整
流回路9の出力側は、信号処理回路10に接続される。
動作において、測定対象物4上での反射光は、従来装置
同様受光側光学系5を通って受光素子6で電気信号に変
換され、バントパスフィルタ7で外乱光の影響が取り除
かれた後、増幅1120で増幅される。増幅された電気
信号は、パルス暢lI!震回路21に送もれる。この電
気信号は、前述のように、測定対象物の表面状態に起因
する変動を含んでいる。
パルス幅変調1路21では、パルス発振器1の出力であ
る一定周波数のパルスが、電気信号の強弱に逆比例して
パルス幅変調される。つまり、電気信号が強いときはパ
ルス幅が狭められ、弱いときはパルス幅が広げられる。
この変調されたパルスを受け、光112は発光する。光
源2の単位周期ごとの発光時間はパルス幅に対応するの
で、電気信号が強いときは単位周期ごとの発光時間が短
くなる結果光量が減少し、弱いときは単位周期ごとの発
光時間が長くなる結果光量は増加する。したがって、光
112の光量は、電気信号の強弱を打ち消すように制御
されたものとなる。
この制御された光は投光側光学系3を通って測定対象物
4の表面に投射され、その反射光は上述の動作により再
びパルス幅変調回路21におけるパルス幅変調に利用さ
れる。以上の動作が連続して行なわれることにより、増
幅器20の出力は一定の値となる。この一定の出力は、
整流回路9で直流に変換された後、1号処理回路10に
送られて分析される。
ところで、パルス幅変調を行なう場合のパルス幅の可変
範囲はかなり大きくとることが可能であるため、反射光
の大幅な変化による電気信号の大幅な変化にも十分に対
処し得る。またディジタル処理により電気信号の変化を
正確にとらえ得るので、反射光の変化に対する応答も迅
速に行ない得る。したがって、反射光が大幅にまた急激
に変化した場合であっても、迅速にこれを修正して電気
信号を一定の値に保つことが可能となる。さらに、光源
の光量を制御して反射光自体を一定値に保つように制御
するため、電気信号のS/N比も一定値に保たれる。
なお、上記実施例では、パルス幅変調を利用して光源の
光量を制御したが、パルス振幅変調を利用してもよく、
上記実施例と同様の効果が得られる。
以上のように、この発明によれば、測定対象物の表面状
態にかかわらず電気信号およびそのS/N比を一定値に
保つことが可能となる結果、信号処理回路の構成が簡単
となり、また反射形光センサを測定対象物を選ばず広く
用いることができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の反射形光センサの一例を示す概略ブロ
ック図である。 第2図は、この発明の一実施例である反射形光センサを
示す概略ブロック図である。 図において、1はパルス発1L2は光源、3は投光側光
学系、4は測定対象物、5は受光側光学系、αは受光素
子、7はバンドパスフィルタ、8はAGC増幅器、9G
、tl1810o1f、10は信号処理回路、20は増
幅器、21はパルス幅変調回路をそれぞれ示す。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 測定対象物上に投射した光の反射光を利用して
    測定する光センサであって、 予め定めた一定の周波数で発振するパルス発振器と、 前記パルス発振器の出力に応答して点滅する光源と、 前記光源の出力である光の前記測定対象物上における反
    射光を受光して電気信号に変換する受光素子と、 前記パルス発振器と前記光源との間に設けられ、前記パ
    ルス発振器の出力を、前記電気信号出力に応答して制御
    する手段とを備える反射形光センサ。
  2. (2) 前記制御手段は、前記パルス発振器の出力のパ
    ルス幅を、前記電気信号に逆比例して変化させるパルス
    幅変調回路である、特許請求の範囲第1項記載の反射形
    光センサ。
  3. (3) 前記制御手段は、前記パルス発振器の出力のパ
    ルス振幅を、前記電気信号出力に逆比例して変化させる
    パルス振幅変調回路である、特許請求の範囲第1項記載
    の反射形光センサ。
JP57034902A 1982-03-03 1982-03-03 反射形光センサ Pending JPS58150876A (ja)

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JP57034902A JPS58150876A (ja) 1982-03-03 1982-03-03 反射形光センサ

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ID=12427112

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60207081A (ja) * 1984-03-31 1985-10-18 Toshiba Corp 近接センサ装置
JPH01265104A (ja) * 1987-12-21 1989-10-23 Carl Zeiss:Fa 光学的走査ヘツドにおける放出光量を調整するための方法及び装置
JPH01267402A (ja) * 1988-04-19 1989-10-25 Hitachi Ltd 物体の状態検出方法およびその装置

Cited By (3)

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JPS60207081A (ja) * 1984-03-31 1985-10-18 Toshiba Corp 近接センサ装置
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