JP3203829B2 - センサー回路 - Google Patents
センサー回路Info
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- JP3203829B2 JP3203829B2 JP30907192A JP30907192A JP3203829B2 JP 3203829 B2 JP3203829 B2 JP 3203829B2 JP 30907192 A JP30907192 A JP 30907192A JP 30907192 A JP30907192 A JP 30907192A JP 3203829 B2 JP3203829 B2 JP 3203829B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば光信号を投射
し、その反射信号を外乱雑音光中で検出するように授与
信号を授与し、その応答信号を外乱雑音中で検出するセ
ンサー回路に関する。
し、その反射信号を外乱雑音光中で検出するように授与
信号を授与し、その応答信号を外乱雑音中で検出するセ
ンサー回路に関する。
【0002】
【従来の技術】安価な発光ダイオードのような光源より
光を照射し、その反射光を検出するには、従来において
は主として直流分を検出する光チョッピング方式による
構成がよく採用され、回路技術的にも改良されてきてい
る。その一例を図4に示す。パルス発信器11からのパ
ルスで駆動回路12を通して、発光ダイオード13をパ
ルス的に発光させ、そのパルス光をレンズ14で絞って
物体15に射照し、その反射光をフォトダイオード16
で受光し、フォトダイオード16の出力を差動増幅器1
7で増幅する。容量素子18と増幅器19とからなる積
分回路により、光パルスを照射しない時間帯に外乱光だ
けを積分増幅しておき、その外乱光を反射光の受光出力
から差動増幅器17で差し引く、パルス発信器11の出
力パルスにより切替え回路21が制御されて、反射光か
ら外乱光が差し引かれた正味の反射光量信号が出力端子
22へ出力され、その他の期間は増幅器17の出力は増
幅器19の入力側へ供給される。
光を照射し、その反射光を検出するには、従来において
は主として直流分を検出する光チョッピング方式による
構成がよく採用され、回路技術的にも改良されてきてい
る。その一例を図4に示す。パルス発信器11からのパ
ルスで駆動回路12を通して、発光ダイオード13をパ
ルス的に発光させ、そのパルス光をレンズ14で絞って
物体15に射照し、その反射光をフォトダイオード16
で受光し、フォトダイオード16の出力を差動増幅器1
7で増幅する。容量素子18と増幅器19とからなる積
分回路により、光パルスを照射しない時間帯に外乱光だ
けを積分増幅しておき、その外乱光を反射光の受光出力
から差動増幅器17で差し引く、パルス発信器11の出
力パルスにより切替え回路21が制御されて、反射光か
ら外乱光が差し引かれた正味の反射光量信号が出力端子
22へ出力され、その他の期間は増幅器17の出力は増
幅器19の入力側へ供給される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の光チ
ョッピング方式はたとえば外乱雑音(外乱光) が直流分
だけであれば、理論上は雑音を完全に除去できるし、ま
た外乱光が完全な周期性を持つ場合はこの周期に同期し
た時間積分回路を構成して、反射光がある1周期の積分
出力から反射光がない1周期の積分出力を差し引くこと
により外乱光の影響をゼロにすることができる。しかし
不規則あるいは予想外の外乱雑音の除去は難かしい。引
き続いた2つの短時間内の外乱雑音の各積分総量が等し
いと仮定して、周期性雑音と同様に、反射光のある1つ
の短時間と、反射光のない1つの時間との各積分の差を
検出する回路を構成して、雑音除去率を上げようとし
て、その1つの短時間を短くしようとすれば、積分回路
の出力のスイッチングに併う過渡現象の影響が大きくな
ってしまい、高感度のセンサー回路は構成できない。
ョッピング方式はたとえば外乱雑音(外乱光) が直流分
だけであれば、理論上は雑音を完全に除去できるし、ま
た外乱光が完全な周期性を持つ場合はこの周期に同期し
た時間積分回路を構成して、反射光がある1周期の積分
出力から反射光がない1周期の積分出力を差し引くこと
により外乱光の影響をゼロにすることができる。しかし
不規則あるいは予想外の外乱雑音の除去は難かしい。引
き続いた2つの短時間内の外乱雑音の各積分総量が等し
いと仮定して、周期性雑音と同様に、反射光のある1つ
の短時間と、反射光のない1つの時間との各積分の差を
検出する回路を構成して、雑音除去率を上げようとし
て、その1つの短時間を短くしようとすれば、積分回路
の出力のスイッチングに併う過渡現象の影響が大きくな
ってしまい、高感度のセンサー回路は構成できない。
【0004】実際にこの従来方式を採用した製品は、最
大数cm程度の近距離センサー回路として、あるいは動
く物体からの反射光量の変化率だけの検出なら3m程度
まで検知するが静止物体は検知できないセンサー回路と
して、または室内照明を暗くしないと使えないセンサー
回路として使用される場合に限定されている。以上は光
センサー回路について述べたが、その他一般に信号を授
与し、その応答信号を比較的強い外乱雑音が存在する状
態で検出する場合にも同様の問題があった。
大数cm程度の近距離センサー回路として、あるいは動
く物体からの反射光量の変化率だけの検出なら3m程度
まで検知するが静止物体は検知できないセンサー回路と
して、または室内照明を暗くしないと使えないセンサー
回路として使用される場合に限定されている。以上は光
センサー回路について述べたが、その他一般に信号を授
与し、その応答信号を比較的強い外乱雑音が存在する状
態で検出する場合にも同様の問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明によれば授与信
号を時間d秒の間授与し、その授与に対する応答の間、
変換素子からの電気信号を信号積分手段で積分し、また
上記時間d秒の授与信号に対する応答から時間D秒(D
≧d) だけ離れた時間d秒の間、変換素子からの電気信
号を雑音積分手段により積分し、信号積分手段の積分中
の中間部の積分出力から、雑音積分手段の積分中の対応
する中間部の積分出力を差し引き、その差出力から応答
信号の有無の判定がなされ、又は応答信号の大きさが求
められる。このセンサー回路の応答周波数の上限f0 H
z以上ではf0 /2での検出感度の1/10以下の感度
とされてあり、かつ、D×f0 が0.03以下に設定さ
れている。
号を時間d秒の間授与し、その授与に対する応答の間、
変換素子からの電気信号を信号積分手段で積分し、また
上記時間d秒の授与信号に対する応答から時間D秒(D
≧d) だけ離れた時間d秒の間、変換素子からの電気信
号を雑音積分手段により積分し、信号積分手段の積分中
の中間部の積分出力から、雑音積分手段の積分中の対応
する中間部の積分出力を差し引き、その差出力から応答
信号の有無の判定がなされ、又は応答信号の大きさが求
められる。このセンサー回路の応答周波数の上限f0 H
z以上ではf0 /2での検出感度の1/10以下の感度
とされてあり、かつ、D×f0 が0.03以下に設定さ
れている。
【0006】以下、その原理を説明する。周波数をf=
2πω〔Hz〕、時間をt〔s〕として外乱雑音のスペ
クトル分布を s=∫S(ω) ・exp(iωt) dω ∫は0〜∞まで と記す。時刻t1 〔s〕にd〔s〕間、応答信号Bを積
分し、このd〔s〕間内に授与信号Aに対する応答の一
部または全部が入るようにする。すなわち雑音がなけれ
ばB=Id(I=定数) 。雑音を加味すると積分出力B
は次のようになる。
2πω〔Hz〕、時間をt〔s〕として外乱雑音のスペ
クトル分布を s=∫S(ω) ・exp(iωt) dω ∫は0〜∞まで と記す。時刻t1 〔s〕にd〔s〕間、応答信号Bを積
分し、このd〔s〕間内に授与信号Aに対する応答の一
部または全部が入るようにする。すなわち雑音がなけれ
ばB=Id(I=定数) 。雑音を加味すると積分出力B
は次のようになる。
【0007】 B=Id+∫sdt ∫はt1 からt1 +dまで =Id+∫S(ω)dω・exp(iωt1 ) ・(exp(iωd)−1) /(iω) ∫は0〜∞まで 時刻t1 からD〔s〕間前または後(D≧d) の時刻t
2 〔s〕に、授与信号からの応答なしにd〔s〕間外乱
雑音を積分する。この積分出力B0 は次のようになる。
2 〔s〕に、授与信号からの応答なしにd〔s〕間外乱
雑音を積分する。この積分出力B0 は次のようになる。
【0008】 B0 =∫sdt ∫はt2 からt2 +dまで =∫S(ω)dω・exp(iωt2 ) ・(exp(iωd)−1) /(iω) =∫S(ω)dω・exp(iωt1 ) ・〔exp(iωd)−1〕 ・exp(±iωD)/(iω) ∫は0〜∞まで ここで装置の検出感度の周波数上限をf0 =2πω
0 〔Hz〕とし、実用上はf 0 〔Hz〕以上での検出感
度をf0 /2〔Hz〕での検出感度の1/10以下とな
るように時間積分回路を構成するか、低周波域通過フィ
ルターを時間積分回路の前または後に挿入する。積分出
力BとB0 をそれぞれ一時記憶させておいて、両者の差
ΔB=B−B0 を検出する。各積分の終了する時刻t1
+dおよびt2+dの直前までに記憶動作を完了させて
しまえば積分終了時点のスイッチングに併う過渡現象に
よる誤差は入らない。記憶時のサンプリングのタイミン
グ誤差等が残ることは考えられるが、これは積分以前の
微弱信号そのもののレベル判定に影響するスイッチング
誤差よりはるかに小さい。積分中の信号の時間変化率が
大きい場合は、積分出力を記憶するサンプリング時点付
近のみなだらかな変化にしてサンプリング誤差を小さく
すればよい。
0 〔Hz〕とし、実用上はf 0 〔Hz〕以上での検出感
度をf0 /2〔Hz〕での検出感度の1/10以下とな
るように時間積分回路を構成するか、低周波域通過フィ
ルターを時間積分回路の前または後に挿入する。積分出
力BとB0 をそれぞれ一時記憶させておいて、両者の差
ΔB=B−B0 を検出する。各積分の終了する時刻t1
+dおよびt2+dの直前までに記憶動作を完了させて
しまえば積分終了時点のスイッチングに併う過渡現象に
よる誤差は入らない。記憶時のサンプリングのタイミン
グ誤差等が残ることは考えられるが、これは積分以前の
微弱信号そのもののレベル判定に影響するスイッチング
誤差よりはるかに小さい。積分中の信号の時間変化率が
大きい場合は、積分出力を記憶するサンプリング時点付
近のみなだらかな変化にしてサンプリング誤差を小さく
すればよい。
【0009】またDf0 <0.03とすることにより信
号Iに対する相対誤差を十分小さくすることができる。
つまり ωd≦ω0 d≦ω0 D=2πf0 D<0.2 となる。Df0 が十分小さいから、ωd,ωDも十分小
さく、eの指数関数を級数に展開してその2項までの近
似式を用いると積分値差ΔBは次式のようになる。
号Iに対する相対誤差を十分小さくすることができる。
つまり ωd≦ω0 d≦ω0 D=2πf0 D<0.2 となる。Df0 が十分小さいから、ωd,ωDも十分小
さく、eの指数関数を級数に展開してその2項までの近
似式を用いると積分値差ΔBは次式のようになる。
【0010】
【数1】 信号Iに対する相対誤差の程度は次式で表わせる。 |∫ωD・S(ω)・exp(iωt1 ) /I・dω| ≦∫ωD・|S(ω)/I|dω≦ω0 D∫|S(ω)/I|・dω ≦0.2∫|S(ω)/I|dω つまりDf0 <0.03とすることにより信号Iに対す
る相対誤差を0.2程度以下にまで減少できる。
る相対誤差を0.2程度以下にまで減少できる。
【0011】
【実施例】図1にこの発明の実施例を示し、図2にその
各部の動作信号波形を示す。パルス発生器31で時間幅
d=8〔μs〕のパルスV1を発生させ、そのパルスV
1で駆動回路32を働かせて授与信号発生部33から物
体(被検知体) 15に信号を授与する。一方パルスV1
は遅延回路34に入ってパルスV1からD=12〔μ
s〕遅れたパルス幅d=8〔μs〕のパルスV2を形成
し、パルスV1とV2とは論理和回路35によって合成
されて一対のパルスV3とされる。これらの時間数値
は、雑音のスペクトルの大部分が数kHz以下に分布し
ていて、それ以上の高周波成分は測定すべき応答信号よ
りも小さい一般的状況に合わせたものである。
各部の動作信号波形を示す。パルス発生器31で時間幅
d=8〔μs〕のパルスV1を発生させ、そのパルスV
1で駆動回路32を働かせて授与信号発生部33から物
体(被検知体) 15に信号を授与する。一方パルスV1
は遅延回路34に入ってパルスV1からD=12〔μ
s〕遅れたパルス幅d=8〔μs〕のパルスV2を形成
し、パルスV1とV2とは論理和回路35によって合成
されて一対のパルスV3とされる。これらの時間数値
は、雑音のスペクトルの大部分が数kHz以下に分布し
ていて、それ以上の高周波成分は測定すべき応答信号よ
りも小さい一般的状況に合わせたものである。
【0012】物体15からの応答信号は変換素子(セン
サー素子) 36で感受されて電気信号に変換される。そ
の電気信号はスイッチング回路37、容量素子38、増
幅器39からなる積分回路41にて積分される。スイッ
チング回路37はパルス対V3によりそのパルスの間だ
けオフに駆動されるため、積分回路41の出力V4とし
て積分出力Bと、B0 とがパルスV1、V2と対応して
生じる。積分出力Bは応答信号と雑音との和、積分出力
B0 は雑音のみに対応する。
サー素子) 36で感受されて電気信号に変換される。そ
の電気信号はスイッチング回路37、容量素子38、増
幅器39からなる積分回路41にて積分される。スイッ
チング回路37はパルス対V3によりそのパルスの間だ
けオフに駆動されるため、積分回路41の出力V4とし
て積分出力Bと、B0 とがパルスV1、V2と対応して
生じる。積分出力Bは応答信号と雑音との和、積分出力
B0 は雑音のみに対応する。
【0013】積分出力V4 を低域通過フィルタのような
波形整形回路42によって100kHz以上の残存成分
を減少させ、かつ、平坦化を行って出力V5を得る。こ
の各波形の平坦部(中間部) における最高周波数成分は
f0 =1kHz以下となり、Df0 =12〔μs〕×1
〔kHz〕=0.012<0.03の条件が満足され
る。この出力V5は可変抵抗器43にて分割されてサン
プル・ホールド回路44,45に入力する。パルスV
1,V2が遅延パルス発生器46,47にそれぞれ入力
されて、その各前縁からそれぞれd1 (<d) だけ遅れ
たサンプリングパルスV6,V7が発生され、これらサ
ンプリングパルスV6,V7でサンプル・ホールド回路
44,45がそれぞれ駆動されて、サンプリングパルス
V6,V7の各立ち下りの時の回路44,45の各入力
値が、それぞれ一時記憶される。これらの記憶値は差動
増幅器48で差をとられ出力V8を得る。差出力V8の
サンプリングパルスV6の立ち下り時刻t3 以前の値
は、前回試行の値または不定である。時刻t3 からサン
プリングパルスV7の立ち下り時刻t4 までの間の値v
1は積分出力Bの記憶値に対応し、時刻t4 以後の値v
1 −v2 はv1 と、積分出力B0 の記憶値に対応するv
2 との差である。
波形整形回路42によって100kHz以上の残存成分
を減少させ、かつ、平坦化を行って出力V5を得る。こ
の各波形の平坦部(中間部) における最高周波数成分は
f0 =1kHz以下となり、Df0 =12〔μs〕×1
〔kHz〕=0.012<0.03の条件が満足され
る。この出力V5は可変抵抗器43にて分割されてサン
プル・ホールド回路44,45に入力する。パルスV
1,V2が遅延パルス発生器46,47にそれぞれ入力
されて、その各前縁からそれぞれd1 (<d) だけ遅れ
たサンプリングパルスV6,V7が発生され、これらサ
ンプリングパルスV6,V7でサンプル・ホールド回路
44,45がそれぞれ駆動されて、サンプリングパルス
V6,V7の各立ち下りの時の回路44,45の各入力
値が、それぞれ一時記憶される。これらの記憶値は差動
増幅器48で差をとられ出力V8を得る。差出力V8の
サンプリングパルスV6の立ち下り時刻t3 以前の値
は、前回試行の値または不定である。時刻t3 からサン
プリングパルスV7の立ち下り時刻t4 までの間の値v
1は積分出力Bの記憶値に対応し、時刻t4 以後の値v
1 −v2 はv1 と、積分出力B0 の記憶値に対応するv
2 との差である。
【0014】出力回路49でv1 −v2 の出力値だけが
取り出される。出力回路49は例えばサンプリングパル
スV7が遅延回路51で遅延されたパルスによりサンプ
ルホールドされる回路である。この回路49の出力が外
乱雑音の影響を減少させたセンサー回路の応答出力であ
る。この例では更に抵抗器52(470Ω) と容量素子
53(0.33μF) よりなる平滑回路を追加して、図
2に示したような動作を繰り返して行った場合に各動作
の間に生ずる出力電圧の凹凸を平滑化して出力端子54
に出力している。この出力端子54の出力が所定値以上
で物体15が有ってその性質を検知した信号であると、
所定値以下で物体15が無しと判定する。
取り出される。出力回路49は例えばサンプリングパル
スV7が遅延回路51で遅延されたパルスによりサンプ
ルホールドされる回路である。この回路49の出力が外
乱雑音の影響を減少させたセンサー回路の応答出力であ
る。この例では更に抵抗器52(470Ω) と容量素子
53(0.33μF) よりなる平滑回路を追加して、図
2に示したような動作を繰り返して行った場合に各動作
の間に生ずる出力電圧の凹凸を平滑化して出力端子54
に出力している。この出力端子54の出力が所定値以上
で物体15が有ってその性質を検知した信号であると、
所定値以下で物体15が無しと判定する。
【0015】積分出力Bの始めと終りの各付近P1,Q
1、積分出力B0 の始めと終りの各付近P2,Q2はス
イッチング回路37のスイッチング時の非線形応答(過
渡現象) であって、乱れている。従ってアナログ的に積
分出力Bから積分出力B0 を単に差し引いただけでは前
記非線形応答は消えない。この非線形応答はスイッチン
グ速度を速くする程、従ってdが短いほど激しくなり、
これの少い理想的な回路要素で構成された積分回路41
は存在しなくなる。P1,Q1,P2,Q2付近の波形
はそれぞれ波形整形出力V5にもP1′,Q1′,P
2′,Q2′付近の波形に残存的影響を与えている。
1、積分出力B0 の始めと終りの各付近P2,Q2はス
イッチング回路37のスイッチング時の非線形応答(過
渡現象) であって、乱れている。従ってアナログ的に積
分出力Bから積分出力B0 を単に差し引いただけでは前
記非線形応答は消えない。この非線形応答はスイッチン
グ速度を速くする程、従ってdが短いほど激しくなり、
これの少い理想的な回路要素で構成された積分回路41
は存在しなくなる。P1,Q1,P2,Q2付近の波形
はそれぞれ波形整形出力V5にもP1′,Q1′,P
2′,Q2′付近の波形に残存的影響を与えている。
【0016】従って積分出力B,B0 のそれぞれの各始
め、終り部分を除いた中間部でサンプル・ホールドする
が、サンプル・ホールド回路44,45も実際には各時
刻t 3 ,t4 から一定時間(本例では約1μs) かかっ
て記憶保持動作を完了するので、サンプリングパルスV
6,V7のタイミングは図2に示すように、できるだけ
パルスV1,V2の各立ち上りから遠ざけて、各立ち下
りの近くで、かつQ1′,Q2′付近の非線形応答波形
が始まる直前に記憶保持動作が完了するように選ぶとよ
い。この発明ではこのようにd,Dを小さくして、外乱
雑音を除去し、かつ各積分出力の時間的中間部を取り出
すことにより出力V4の高調波成分やスイッチングの非
線形応答の大部分を除去した、高精度・高感度のセンサ
ー回路が構成できる。
め、終り部分を除いた中間部でサンプル・ホールドする
が、サンプル・ホールド回路44,45も実際には各時
刻t 3 ,t4 から一定時間(本例では約1μs) かかっ
て記憶保持動作を完了するので、サンプリングパルスV
6,V7のタイミングは図2に示すように、できるだけ
パルスV1,V2の各立ち上りから遠ざけて、各立ち下
りの近くで、かつQ1′,Q2′付近の非線形応答波形
が始まる直前に記憶保持動作が完了するように選ぶとよ
い。この発明ではこのようにd,Dを小さくして、外乱
雑音を除去し、かつ各積分出力の時間的中間部を取り出
すことにより出力V4の高調波成分やスイッチングの非
線形応答の大部分を除去した、高精度・高感度のセンサ
ー回路が構成できる。
【0017】図1の実施例を光信号を用いる場合につい
て図3Aに一部を示す。物体15として人や動物、物体
15′が授与信号発生部33として赤外発光ダイオード
33′が、変換素子36としてフォトダイオード36′
が用いられ、その他は図1の場合と同様である。赤外発
光ダイオード33′とフォトダイオード36′との間に
光及び電波の遮蔽板55が設けられ、またフォトダイオ
ード36′の前面に赤外光透過フィルタ56が設けられ
てフォトダイオード36′に可視光等が入射して増幅器
39(図1) のダイナミックレンジを狭くするのを防止
している。
て図3Aに一部を示す。物体15として人や動物、物体
15′が授与信号発生部33として赤外発光ダイオード
33′が、変換素子36としてフォトダイオード36′
が用いられ、その他は図1の場合と同様である。赤外発
光ダイオード33′とフォトダイオード36′との間に
光及び電波の遮蔽板55が設けられ、またフォトダイオ
ード36′の前面に赤外光透過フィルタ56が設けられ
てフォトダイオード36′に可視光等が入射して増幅器
39(図1) のダイナミックレンジを狭くするのを防止
している。
【0018】赤外発光ダイオード33′からの赤外光ビ
ーム57の広がりは図示の程度のものとし、レンズや鏡
等の集光系は特に使用していない。物体15′として青
服を着て静止している大人の場合、天井に40Wの蛍光
灯24個を点灯した広さ6m×6m,高さ2.4mの室
内でこのセンサー回路を実験してみると、最大感知距離
は1.2mであった。フォトダイオード36′の前面に
レンズなどの集光器を取りつけると、最大感知距離は2
m以上に向上した。日昼の戸外でも、赤外光透過フィル
タ56を厚めにして太陽スペクトルの赤外光分の入射量
を押さえ、増幅器39のダイナミックレンジ内におさめ
ることによって、同程度の感度が得られた。このような
成果は、安価な発光ダイオードを使用した民生品の分野
としては、従来技術では前述したように最大感知距離が
数cm程度であったことと比較すると、この発明によれ
ば従来よりも著しく高感度の赤外光反射センサー回路を
構成できることがわかる。
ーム57の広がりは図示の程度のものとし、レンズや鏡
等の集光系は特に使用していない。物体15′として青
服を着て静止している大人の場合、天井に40Wの蛍光
灯24個を点灯した広さ6m×6m,高さ2.4mの室
内でこのセンサー回路を実験してみると、最大感知距離
は1.2mであった。フォトダイオード36′の前面に
レンズなどの集光器を取りつけると、最大感知距離は2
m以上に向上した。日昼の戸外でも、赤外光透過フィル
タ56を厚めにして太陽スペクトルの赤外光分の入射量
を押さえ、増幅器39のダイナミックレンジ内におさめ
ることによって、同程度の感度が得られた。このような
成果は、安価な発光ダイオードを使用した民生品の分野
としては、従来技術では前述したように最大感知距離が
数cm程度であったことと比較すると、この発明によれ
ば従来よりも著しく高感度の赤外光反射センサー回路を
構成できることがわかる。
【0019】図1中のパルス発生器31の発生パルス幅
dを可変できるようにしたり、遅延回路34の遅延定数
を可変できるようにし、d、Dを個別又は同時に変更し
て、外乱雑音環境が様々に変動する場合に有効にするこ
とができる。同様の目的に、容量素子38,53の各容
量値を可変にして調整したり、サンプリングパルスV
5,V6の幅を可変にして信号対雑音比を最適値に調整
できるように構成することが有効であることも確認され
た。例えば応答信号なしの状態で差動増幅器48の出力
がゼロになるように各部を調整する。これらの可変量
は、いくつかの試験値を自動的に断続して与え、最適な
出力結果のみ出力端子54からの出力として採用して他
を捨てれば、測定精度は更に向上する。この場合、Bお
よび/またはB0 の検出動作の複数回に1回、最適出力
を得ることになる。
dを可変できるようにしたり、遅延回路34の遅延定数
を可変できるようにし、d、Dを個別又は同時に変更し
て、外乱雑音環境が様々に変動する場合に有効にするこ
とができる。同様の目的に、容量素子38,53の各容
量値を可変にして調整したり、サンプリングパルスV
5,V6の幅を可変にして信号対雑音比を最適値に調整
できるように構成することが有効であることも確認され
た。例えば応答信号なしの状態で差動増幅器48の出力
がゼロになるように各部を調整する。これらの可変量
は、いくつかの試験値を自動的に断続して与え、最適な
出力結果のみ出力端子54からの出力として採用して他
を捨てれば、測定精度は更に向上する。この場合、Bお
よび/またはB0 の検出動作の複数回に1回、最適出力
を得ることになる。
【0020】このような処置が複雑化した場合は、図1
中の出力回路49の部分を図3Bに示すように変えて、
信号V8を一時記憶後、統計処理するようにした方が部
品点数が少くてすむ。パルスV3が遅延パルス発生回路
58に入力され、その立ち下りからD+dより大きい遅
延が与えられたサンプリングパルスが作られ、そのパル
スでサンプル・ホールド回路59が駆動され、差出力V
8がサンプル・ホールドされ、更にA/D変換器61で
ディジタル化される。そのディジタル値はICメモリ回
路を含む記憶部62に記憶される。制御回路63で記憶
部62を制御して、最適と判断された値のみを出力す
る。図には記してないが、制御回路63は必要に応じて
当然、前述した各種可変手段の制御も行う。また制御回
路63は記憶したディジタル値を平均化したり統計処理
して出力してもよい。
中の出力回路49の部分を図3Bに示すように変えて、
信号V8を一時記憶後、統計処理するようにした方が部
品点数が少くてすむ。パルスV3が遅延パルス発生回路
58に入力され、その立ち下りからD+dより大きい遅
延が与えられたサンプリングパルスが作られ、そのパル
スでサンプル・ホールド回路59が駆動され、差出力V
8がサンプル・ホールドされ、更にA/D変換器61で
ディジタル化される。そのディジタル値はICメモリ回
路を含む記憶部62に記憶される。制御回路63で記憶
部62を制御して、最適と判断された値のみを出力す
る。図には記してないが、制御回路63は必要に応じて
当然、前述した各種可変手段の制御も行う。また制御回
路63は記憶したディジタル値を平均化したり統計処理
して出力してもよい。
【0021】他の実施例の一部を図3Cに示す。物体1
5として高透磁率磁性体を含む電子部品等の物体15″
が、授与信号発生部33として空芯コイル33″が変換
素子36としてホール素子36″がそれぞれ用いられた
場合であり、その他は図1と同一構成とされる。赤外光
や電波等の激しい劣悪な環境下ではこれら外乱雑音によ
りホール素子36″が影響されるが、この発明によれば
これら外乱雑音に影響されずに対象物15″の検知や磁
気的な性能等の検査ができる。単なる電磁場シールドは
磁場の交流分もシールドしてしまうし、薄くて赤外光を
通さないシールドは、検知すべき磁場が微弱な場合、や
はり検知特性を劣化させる。また、ホール素子を単に交
流法やパルス法で使用するだけでは、素子が激しい外乱
で非線形動作をしてしまえば役立たない。
5として高透磁率磁性体を含む電子部品等の物体15″
が、授与信号発生部33として空芯コイル33″が変換
素子36としてホール素子36″がそれぞれ用いられた
場合であり、その他は図1と同一構成とされる。赤外光
や電波等の激しい劣悪な環境下ではこれら外乱雑音によ
りホール素子36″が影響されるが、この発明によれば
これら外乱雑音に影響されずに対象物15″の検知や磁
気的な性能等の検査ができる。単なる電磁場シールドは
磁場の交流分もシールドしてしまうし、薄くて赤外光を
通さないシールドは、検知すべき磁場が微弱な場合、や
はり検知特性を劣化させる。また、ホール素子を単に交
流法やパルス法で使用するだけでは、素子が激しい外乱
で非線形動作をしてしまえば役立たない。
【0022】この実施例の動作は空芯コイル33″によ
って授与されるパルス状の磁場に対する対象物15″の
応答をホール素子36″で検知する。あるいは、空芯コ
イル33″と対象物15″との組みで発生する磁束密度
を授与信号と考えて、たとえば空芯コイル33″だけで
対象物15″がないときを「授与信号を与えない場合」
と考えて、時間差差動をとってもよい。いずれにせよ、
ホール素子36″が線形動作をする範囲内では、それ以
後の動作は、赤外発光ダイオード33′とフォトダイオ
ード36′を用いた具体例の時と同様である。
って授与されるパルス状の磁場に対する対象物15″の
応答をホール素子36″で検知する。あるいは、空芯コ
イル33″と対象物15″との組みで発生する磁束密度
を授与信号と考えて、たとえば空芯コイル33″だけで
対象物15″がないときを「授与信号を与えない場合」
と考えて、時間差差動をとってもよい。いずれにせよ、
ホール素子36″が線形動作をする範囲内では、それ以
後の動作は、赤外発光ダイオード33′とフォトダイオ
ード36′を用いた具体例の時と同様である。
【0023】今、赤外光パルスによる瞬間的な加熱や電
波等によってホール素子36″が非線形動作をした場合
は、制御回路63(図3B) で不適値と判断して統計処
理前に排除してしまう。大きな外乱磁場が入ってホール
素子36″の出力が増幅器39のダイナミックレンジか
らはずれてしまうと、一般には差動出力が異常に小さい
状態が続く。この場合も制御回路63で判断して、異常
が回復するまで、測定を中断する等の処置がとれる。非
線形動作が小さい場合は、図3Bに示したような判断機
能を特に付加せずに、前述したd,Dや回路定数の変更
などだけで線形動作範囲内に戻すことも可能である。
波等によってホール素子36″が非線形動作をした場合
は、制御回路63(図3B) で不適値と判断して統計処
理前に排除してしまう。大きな外乱磁場が入ってホール
素子36″の出力が増幅器39のダイナミックレンジか
らはずれてしまうと、一般には差動出力が異常に小さい
状態が続く。この場合も制御回路63で判断して、異常
が回復するまで、測定を中断する等の処置がとれる。非
線形動作が小さい場合は、図3Bに示したような判断機
能を特に付加せずに、前述したd,Dや回路定数の変更
などだけで線形動作範囲内に戻すことも可能である。
【0024】この図3Cに示した構成によって、モータ
ー近辺に固定されたフェライト磁芯の検査や、埋没金属
片の磁気的な高感度検知が可能になる。上述におい波形
整形回路42は省略してもよい。
ー近辺に固定されたフェライト磁芯の検査や、埋没金属
片の磁気的な高感度検知が可能になる。上述におい波形
整形回路42は省略してもよい。
【0025】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば授与
信号を時間dだけ与えた時の応答信号の積分と、授与信
号からD時間離れた時間dの外乱雑音の積分との各対応
中間時点での差をとり、かつ最高応答周波数f0 とDと
の積を0.03未満とすることにより、非周期性外乱雑
音も除去でき、かつスイッチングにもとづく非線形応答
(過渡現象) の影響を受けずに高精度、高感度に物体の
有、無の検出や特性を測定することができる。
信号を時間dだけ与えた時の応答信号の積分と、授与信
号からD時間離れた時間dの外乱雑音の積分との各対応
中間時点での差をとり、かつ最高応答周波数f0 とDと
の積を0.03未満とすることにより、非周期性外乱雑
音も除去でき、かつスイッチングにもとづく非線形応答
(過渡現象) の影響を受けずに高精度、高感度に物体の
有、無の検出や特性を測定することができる。
【図1】この発明の実施例を示すブロック図。
【図2】図1の中の各部の動作信号波形の例を示す図。
【図3】A及びCはそれぞれ授与信号発生部33及び変
換素子36の具体例を示す図、Bは図1中の出力回路4
9の変形例を示すブロック図である。
換素子36の具体例を示す図、Bは図1中の出力回路4
9の変形例を示すブロック図である。
【図4】従来の光反射センサー回路を示すブロック図。
Claims (2)
- 【請求項1】 授与信号を与え、その応答信号を変換素
子で電気信号に変換し、その電気信号から応答信号を検
出するセンサー回路において、 授与信号を時間d秒の間授与する手段と、 その授与に対する応答の間、上記変換素子からの電気信
号を積分する信号積分手段と、 上記時間d秒間の授与信号に対する応答から時間D秒
(D≧d) だけ離れた時間d秒の間、上記変換素子から
の電気信号を積分する雑音積分手段と、 上記信号積分手段の積分中の中間部の積分出力から、上
記雑音積分手段の積分中の対応する中間部の積分出力を
差し引く引算手段とを具備し、 上記センサー回路の応答周波数の上限f0 Hz以上では
f0 /2での検出感度の1/10以下の感度であり、か
つD×f0 が0.03より小さい値に設定されている、 ことを特徴とするセンサー回路。 - 【請求項2】 上記時間d及び/又は時間Dを変更する
手段が設けられていることを特徴とする請求項1記載の
センサー回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30907192A JP3203829B2 (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | センサー回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30907192A JP3203829B2 (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | センサー回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06160524A JPH06160524A (ja) | 1994-06-07 |
JP3203829B2 true JP3203829B2 (ja) | 2001-08-27 |
Family
ID=17988536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30907192A Expired - Fee Related JP3203829B2 (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | センサー回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3203829B2 (ja) |
-
1992
- 1992-11-18 JP JP30907192A patent/JP3203829B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06160524A (ja) | 1994-06-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |