JPS62183513A - 半導体製造装置 - Google Patents
半導体製造装置Info
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- JPS62183513A JPS62183513A JP2612486A JP2612486A JPS62183513A JP S62183513 A JPS62183513 A JP S62183513A JP 2612486 A JP2612486 A JP 2612486A JP 2612486 A JP2612486 A JP 2612486A JP S62183513 A JPS62183513 A JP S62183513A
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- Japan
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- chamber
- wafer
- hollow part
- wall
- lamp
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- Pending
Links
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
−この発明は半導体製造装置に係り、特に短時間アニー
ル装置に関するものである。
ル装置に関するものである。
現在、短時間アニール装置としてはハロゲンランプを用
いたランプアニール装置が多く用いられている。@2図
に従来のランプアニール装置の炉の部分の概略を示し、
以下これを用いて従来の装置について説明する。
いたランプアニール装置が多く用いられている。@2図
に従来のランプアニール装置の炉の部分の概略を示し、
以下これを用いて従来の装置について説明する。
従来のランプアニール装置は、その炉の部分の概略構造
を第2図に示すように、ランプ室の外壁1と、タングス
テンハロゲンランプ2と、石英チャンバー3と、試料を
支持する通常石英で作られているサセプター4から成っ
ている。そして、このサセプター4上には熱処理すべき
ウェハ5を乗せ、前記ランプ2によりウェハ5を急速に
加熱する。このランプ2はその外壁1に設けた冷却ガス
導入孔6より導入される窒素ガスにょシ冷却されている
。また、石英チャンバー3内はガス導入孔7より導みさ
れたガスで置換することができるようになっている。
を第2図に示すように、ランプ室の外壁1と、タングス
テンハロゲンランプ2と、石英チャンバー3と、試料を
支持する通常石英で作られているサセプター4から成っ
ている。そして、このサセプター4上には熱処理すべき
ウェハ5を乗せ、前記ランプ2によりウェハ5を急速に
加熱する。このランプ2はその外壁1に設けた冷却ガス
導入孔6より導入される窒素ガスにょシ冷却されている
。また、石英チャンバー3内はガス導入孔7より導みさ
れたガスで置換することができるようになっている。
しかし、このような従来のランプアニール装置では、石
英チャンバーが大きな熱容量を持っているため、一度チ
ャンバーの温度が上昇するとなかなか冷却されず、チャ
ンバー内のウェハもそのために冷却に時間がかかった。
英チャンバーが大きな熱容量を持っているため、一度チ
ャンバーの温度が上昇するとなかなか冷却されず、チャ
ンバー内のウェハもそのために冷却に時間がかかった。
特に低温でのウェハの出し入れが要求されるシリサイド
化等にランプアニール装置を用いる場合、この冷却時間
がプロセスに要する時間のほとんどを占めることになり
、°スループット向上の大きな障害となってい友。
化等にランプアニール装置を用いる場合、この冷却時間
がプロセスに要する時間のほとんどを占めることになり
、°スループット向上の大きな障害となってい友。
この発明は上記のような問題点を解消する友めになされ
たもので、従来よりも急速な冷却を可能にしてプロセス
に要する時間を短縮せしめた短時間アニール装置を提供
することを目的とする。
たもので、従来よりも急速な冷却を可能にしてプロセス
に要する時間を短縮せしめた短時間アニール装置を提供
することを目的とする。
この発明に係る短時間アニール装置は、ウェハを収容す
るチャンバーを二重構造にして、その二重構造の中空部
内にチャンバー冷却用の冷媒を流せるようにし友もので
ある。
るチャンバーを二重構造にして、その二重構造の中空部
内にチャンバー冷却用の冷媒を流せるようにし友もので
ある。
この発明においては、二重構造のチャンバー内の中空部
にチャンバー冷却用の冷媒を流すことにより、該チャン
バーの温度上昇を防ぐことができ、これによりウェハの
冷却時間を短かくすることができる。
にチャンバー冷却用の冷媒を流すことにより、該チャン
バーの温度上昇を防ぐことができ、これによりウェハの
冷却時間を短かくすることができる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図において、1はランプ室外壁であり、ランプ室外
壁10周辺にはタングステンハロゲンランプ2が配置さ
れており、このランプ2はその冷却用ガス導入孔6より
導入される窒素ガスによって冷却されるものとなってい
る。また、ランプ室外壁1内の中央部分には、内壁31
と外壁32で囲まれた中空部33を有する二重構造の石
英チャンバー3が前記ランプ2の配列方向に沿って装着
されている。この二重構造の石英チャンバー3は、その
終端3aが開口されており、終端3aよ〕ウェハ5が支
持され几サセプター4が挿入されてそのウェハ5を水平
に保って収容するとともに、サセプター4の蓋部4aに
て終端3aを閉塞する。
壁10周辺にはタングステンハロゲンランプ2が配置さ
れており、このランプ2はその冷却用ガス導入孔6より
導入される窒素ガスによって冷却されるものとなってい
る。また、ランプ室外壁1内の中央部分には、内壁31
と外壁32で囲まれた中空部33を有する二重構造の石
英チャンバー3が前記ランプ2の配列方向に沿って装着
されている。この二重構造の石英チャンバー3は、その
終端3aが開口されており、終端3aよ〕ウェハ5が支
持され几サセプター4が挿入されてそのウェハ5を水平
に保って収容するとともに、サセプター4の蓋部4aに
て終端3aを閉塞する。
そして、該終端3aと反対側にはチャンバー内置換ガス
導入孔7およびチャンバー冷却用冷媒導入孔34がそれ
ぞれ設けられ、このガス導入孔7より導入されるガスで
チャンバー3内を置換し、かつ前記導入孔34よりチャ
ンバー3の中空部33内に導入される冷却水によって該
チャンバー3を冷却するものとなっている。
導入孔7およびチャンバー冷却用冷媒導入孔34がそれ
ぞれ設けられ、このガス導入孔7より導入されるガスで
チャンバー3内を置換し、かつ前記導入孔34よりチャ
ンバー3の中空部33内に導入される冷却水によって該
チャンバー3を冷却するものとなっている。
すなわち、この実施例のランプアニール装置が第2図に
示す従来例のものと異なる点は、石英チャンバー3を、
内壁31と外壁32で囲まれた中空部33を有する二重
構造とし、この中空部33内にそれと連通した導入孔3
4より冷却水を導入してチャンバー3を冷却するように
したことである。なお、図中、同一符号は同一または相
当部分を示している。
示す従来例のものと異なる点は、石英チャンバー3を、
内壁31と外壁32で囲まれた中空部33を有する二重
構造とし、この中空部33内にそれと連通した導入孔3
4より冷却水を導入してチャンバー3を冷却するように
したことである。なお、図中、同一符号は同一または相
当部分を示している。
このように構成されたランプアニール装置によると、サ
セプター4に支持されたウェハlハロゲンランプ2によ
って急速に加熱する際に、二重構造をした石英チャンバ
ー3の中空部33内にその導入孔34より冷却水を流す
ことにより、このチャンバー3自身の温度は上昇せずに
ウェハ5のみを加熱することができる。
セプター4に支持されたウェハlハロゲンランプ2によ
って急速に加熱する際に、二重構造をした石英チャンバ
ー3の中空部33内にその導入孔34より冷却水を流す
ことにより、このチャンバー3自身の温度は上昇せずに
ウェハ5のみを加熱することができる。
表お、上記実施例では石英チャンバー3を冷却するため
の冷媒として水を用いた例を示したが、これは他のガス
でも液体でもよい。また、上述ではハロゲンランプを用
いたランプアニール装置を例にとって説明したが、本発
明は、これに限らす短時間アニール装置のすべてに適用
できることは勿論である。
の冷媒として水を用いた例を示したが、これは他のガス
でも液体でもよい。また、上述ではハロゲンランプを用
いたランプアニール装置を例にとって説明したが、本発
明は、これに限らす短時間アニール装置のすべてに適用
できることは勿論である。
以上のように、この発明によれば、短時間アニール装置
によるウェハの加熱プロセスにおいて、チャンバー自身
は温度を上げず、ウェハのみ全昇温することができるの
で、降温かすみやかに行えることでプロセスにかかる時
間を大幅に短縮でき、スループットが向上する効果があ
る。
によるウェハの加熱プロセスにおいて、チャンバー自身
は温度を上げず、ウェハのみ全昇温することができるの
で、降温かすみやかに行えることでプロセスにかかる時
間を大幅に短縮でき、スループットが向上する効果があ
る。
第1図はこの発明の一実施例によるランプアニール装置
を示す概略断面図、第2図は従来例によるランプアニー
ル装置を示す概略断面図である。 1・・・・ランプ室外壁、2・・・・タングステンハロ
ゲンランプ、3・・・・石英チャンバ、31・・・・内
壁、32・・・・外壁、33・・・・中空部、34・・
・・チャンバー冷却用冷媒導入孔、4・・・・試料支持
サセプター、5・・・・ウェハ、6・・・・ランプ冷却
ガス導入孔、7・・・・チャンバー内置換ガス導入孔。
を示す概略断面図、第2図は従来例によるランプアニー
ル装置を示す概略断面図である。 1・・・・ランプ室外壁、2・・・・タングステンハロ
ゲンランプ、3・・・・石英チャンバ、31・・・・内
壁、32・・・・外壁、33・・・・中空部、34・・
・・チャンバー冷却用冷媒導入孔、4・・・・試料支持
サセプター、5・・・・ウェハ、6・・・・ランプ冷却
ガス導入孔、7・・・・チャンバー内置換ガス導入孔。
Claims (1)
- 熱処理すべきウェハをチャンバー内に収容し該ウェハを
急速に加熱する短時間アニール装置において、前記チャ
ンバーを二重構造にしてその二重構造の中空部内に冷媒
を導入することにより、該チャンバーを冷却するように
したことを特徴とする半導体製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2612486A JPS62183513A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 | 半導体製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2612486A JPS62183513A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 | 半導体製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62183513A true JPS62183513A (ja) | 1987-08-11 |
Family
ID=12184813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2612486A Pending JPS62183513A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 | 半導体製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62183513A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5636320A (en) * | 1995-05-26 | 1997-06-03 | International Business Machines Corporation | Sealed chamber with heating lamps provided within transparent tubes |
WO2001082339A3 (de) * | 2000-04-22 | 2002-03-14 | Contrade Microstructure Techno | Verfahren und vorrichtung zum nasschemischen entfernen von schichten und zur reinigung von scheibenförmigen einzelsubstraten |
-
1986
- 1986-02-07 JP JP2612486A patent/JPS62183513A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5636320A (en) * | 1995-05-26 | 1997-06-03 | International Business Machines Corporation | Sealed chamber with heating lamps provided within transparent tubes |
WO2001082339A3 (de) * | 2000-04-22 | 2002-03-14 | Contrade Microstructure Techno | Verfahren und vorrichtung zum nasschemischen entfernen von schichten und zur reinigung von scheibenförmigen einzelsubstraten |
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