JPS62176704U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案に係る光学式測定装置の実施
例の要部構成を示す、一部側面図を含む回路図、
第２図は、前記実施例における出力波形の例を示
す線図、第３図は、従来の光学式測定装置の構成
を示す、一部側面図を含む回路図、第４図は、第
３図に示した従来例で棒状材の外径を測定した場
合の検出信号とその整形波形の例を示す線図、第
５図は、第３図に示した従来例で測定対象物の狭
い隙間を測定している状態を示す、一部側面図を
含む回路図、第６図は、第５図の場合における検
出信号とその整形波形の例を示す線図である。 ２……平行走査ビーム発生装置、４……受光装
置、６……電子回路、１０……ビーム発生器、１
２……レーザビーム、１６……ポリゴンミラー、
１７……回転走査ビーム、１８……コリメータレ
ンズ、２０……平行走査ビーム、２４……測定対
象物、２６……計測用受光素子、２９ａ……電圧
比較器、４８……マイクロプロセツサ、７０ｂ…
…Ａ／Ｄコンバータ、７２……Ｄ／Ａコンバータ
、Ｂ……参照信号。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 ビーム発生器、該ビーム発生器からのレーザビ
   ームを走査ビームに変換する手段及び該走査ビー
   ムを平行走査ビームとするコリメータレンズを含
   む平行走査ビーム発生装置と、 測定対象物を通過した前記平行走査ビームの明
   暗を検出する計測用受光素子を含む受光装置と、 前記平行走査ビームが測定対象物によつて遮ら
   れて生じる暗部又は明部の時間の長さから測定対
   象物の寸法に関する測定値を求める電子回路とを
   含んで構成された光学式測定装置において、 前記計測用受光素子の出力を、Ａ／Ｄコンバー
   タ、マイクロプロセツサ及びＤ／Ａコンバータを
   含む処理回路で処理して生成した参照信号により
   、該計測用受光素子の出力を波形整形することを
   特徴とする光学式測定装置。