JPH027507U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図はセンサ１８を傾けた場合の実施例を示
す平面断面図、第２図は第１図にさらにスリツト
板３０を設けた実施例を示す平面断面図、第３図
はセンサ１８の受光表面にフツ化マグネシウムを
蒸着して反射防止処理を行つた場合を示す平面断
面図、第４図はレンズ系のフアクターを選択しレ
ンズ系からの再反射光を分散させた場合を示す側
面断面図、第５図は従来の寸法測定器を示す斜視
図、第６図は従来の寸法測定器を示す平面断面図
、第７図は従来の寸法測定器を示す側面断面図、
第８図は従来の寸法測定器においてレンズ系から
の再反射光が測定に誤差をもたらすことを示す側
面断面図、第９図は再反射光の影響のない場合の
イメージセンサの出力を示す図、第１０図は再反
射光の影響がある場合のイメージセンサの出力を
示す図である。 ４……レーザ、６，８……レンズ、１８……イ
メージセンサ、３０……スリツト。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 光源、 光源からの光を平行光にする投光レンズ系、 投光レンズ系より出た平行光を所定の距離をお
   いて受光し電気信号に変換する光電変換素子が、
   列状に配された光電変換素子群、 を備え、平行光をさえぎるように置いた被測定物
   により変化する光電変換素子群の出力に基づき、
   被測定物の寸法を測定する機器において、 光電変換素子の列方向を中心軸として光電変換
   素子群を僅かな角度回転させ、光電変換素子にお
   いて反射された平行光が投光レンズ系へ逆入射し
   ないようにしたことを特徴とする寸法測定器。 (2) 請求項１記載の寸法測定器において、 光電変換素子群の直前または投光レンズ系の直
   後にスリツトを設け、前記逆入射防止のために必
   要な光電変換素子群の回転角度を小さくしたこと
   を特徴とするもの。 (3) 光源、 光源からの光を平行光にする投光レンズ系、 投光レンズ系より出た平行光を所定の距離をお
   いて受光し電気信号に変換する光電変換素子が、
   列状に配された光電変換素子群、 を備え、平行光をさえぎるように置いた被測定物
   により変化する光電変換素子群の出力に基づき、
   被測定物の寸法を測定する機器において、 光電変換素子の受光表面に反射防止処理を施し
   たことを特徴とする寸法測定器。 (4) 光源、 光源からの光を平行光にする投光レンズ系、 投光レンズ系より出た平行光を所定の距離をお
   いて受光し電気信号に変換する光電変換素子が、
   列状に配された光電変換素子群、 を備え、平行光をさえぎるように置いた被測定物
   により変化する光電変換素子群の出力に基づき、
   被測定物の寸法を測定する機器において、 光電変換素子群において反射した平行光が、さ
   らに投光レンズ系において反射するとき、この反
   射光が分散するように、投光レンズ系のフアクタ
   ーを選択したことを特徴とする寸法測定器。