JPS62175639A - 洩れ検知器の校正方法及び校正装置 - Google Patents
洩れ検知器の校正方法及び校正装置Info
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- JPS62175639A JPS62175639A JP1869186A JP1869186A JPS62175639A JP S62175639 A JPS62175639 A JP S62175639A JP 1869186 A JP1869186 A JP 1869186A JP 1869186 A JP1869186 A JP 1869186A JP S62175639 A JPS62175639 A JP S62175639A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 22
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は部品及び車両各部零の被検体に密閉され°Ｃ
いる１−１ｅの被検体からの洩れ団を検知する洩れ検知
器の校正方法及び校正装置に関づるものである。
いる１−１ｅの被検体からの洩れ団を検知する洩れ検知
器の校正方法及び校正装置に関づるものである。
（従来技術）
従来部品及び車両の各部から洩れ出る微量の日Ｃガスを
吸引検知Ｊる洩れ検知器の校正は洩れ検知器を構成する
分析管（スニファプローブ、以後プローブと言う）の吸
入聞及び濃度既知の標準Ｈｅガスにより行なわれている
。然しプローブの感度が経時的に鈍ること及びプローブ
が検査室内の雰囲気中の１−１０の影響を直接骨（）る
ことのため洩れの許容値壜なわら合否の判定レベルをど
の値に設定しＣよいか分らないと言う問題がある。
吸引検知Ｊる洩れ検知器の校正は洩れ検知器を構成する
分析管（スニファプローブ、以後プローブと言う）の吸
入聞及び濃度既知の標準Ｈｅガスにより行なわれている
。然しプローブの感度が経時的に鈍ること及びプローブ
が検査室内の雰囲気中の１−１０の影響を直接骨（）る
ことのため洩れの許容値壜なわら合否の判定レベルをど
の値に設定しＣよいか分らないと言う問題がある。
（発明が解決しようとする問題点）
この発明は被検体から洩れるｌ−１０の洩れ吊の許容値
が洩れ検査器において常に一定値に保持される洩れ検知
器の校正方法及び校正装置の提供を課題とする。
が洩れ検査器において常に一定値に保持される洩れ検知
器の校正方法及び校正装置の提供を課題とする。
（問題点を解決するための手段）
を記の課題を解決するためこの発明は
（１）被検体からの１」０の洩れ准許容値と同量のＨｅ
を洩れ検査待機中の洩れ検知器に常に吸入さ゛せておく
こと。
を洩れ検査待機中の洩れ検知器に常に吸入さ゛せておく
こと。
及び
（２）ｔ−１ｅのボンベと、このボンベに圧カレギル−
タを介して連通し、先端部から所定量のＨｅを常に流出
するリーク筒とから構成されていること。
タを介して連通し、先端部から所定量のＨｅを常に流出
するリーク筒とから構成されていること。
からｔｌっている。
（発明の作用）
リーク筒の先端部から常に一定濃度のト１ｅが所定ｉ（
ｌで流出しでおり、洩れ検知器のプローブはこのｌ−１
ｅを吸入しているので洩れ検査待機中の洩れ検知器の指
針ｔよ帛に一定値（許容値）を示している。ブＬ１−ブ
を被検体の洩れ箇所に押しあてるととｍ１が動き被検体
から洩れるｌ−Ｉ Ｃ！の量が許容値より多いか少ない
かがすぐに分る。
ｌで流出しでおり、洩れ検知器のプローブはこのｌ−１
ｅを吸入しているので洩れ検査待機中の洩れ検知器の指
針ｔよ帛に一定値（許容値）を示している。ブＬ１−ブ
を被検体の洩れ箇所に押しあてるととｍ１が動き被検体
から洩れるｌ−Ｉ Ｃ！の量が許容値より多いか少ない
かがすぐに分る。
（実施例の説明）
以下実施例を示す図面によりこの発明を説明する。洩れ
検査器は−・端が解放され、他端が閉鎖されたプローブ
１と、プローブ１にバイブ９を介して連通づるＨ ｅ検
知器２と、ト１ｅ検知器２に接続する指示計３及びブ！
Ｊ’ −８と不使用時（洩れ検査待機中）にプローブ１
を収納１ノでおくプローブホルダー４とからなっている
。ブｎ−ブホルダー４内にはこれにプＬＪ−ブ１を挿入
保持するための保持板１０が設けられている。保持板１
ｏとブＬＪ −ブホルダー４との間には隙間１１が設け
られている。洩れ検査器は上述の構成を右し公知℃・あ
る。
検査器は−・端が解放され、他端が閉鎖されたプローブ
１と、プローブ１にバイブ９を介して連通づるＨ ｅ検
知器２と、ト１ｅ検知器２に接続する指示計３及びブ！
Ｊ’ −８と不使用時（洩れ検査待機中）にプローブ１
を収納１ノでおくプローブホルダー４とからなっている
。ブｎ−ブホルダー４内にはこれにプＬＪ−ブ１を挿入
保持するための保持板１０が設けられている。保持板１
ｏとブＬＪ −ブホルダー４との間には隙間１１が設け
られている。洩れ検査器は上述の構成を右し公知℃・あ
る。
プローブボルダ−４の底部４ａにはジヨイント１２を介
してリーク筒５が取り（＝Ｊけられ、リーク筒５の先端
部５ａはブト１−ブホルダー４内に突出し、ざらに保持
板１０に設りた空気孔１０ａをｒ１通して保持板１０の
上方に突出している。リーク筒５は較り１３を有し、下
端５ｂにおいてバイブ１４、圧力レギュレータ６を介し
てト１ｅボンベ７に連通している。
してリーク筒５が取り（＝Ｊけられ、リーク筒５の先端
部５ａはブト１−ブホルダー４内に突出し、ざらに保持
板１０に設りた空気孔１０ａをｒ１通して保持板１０の
上方に突出している。リーク筒５は較り１３を有し、下
端５ｂにおいてバイブ１４、圧力レギュレータ６を介し
てト１ｅボンベ７に連通している。
上記の構成において洩れ検知器の不使用時にはプローブ
１はプローブボルダー４内に収納されその下端は保持板
１０の上に１ｔｆｆｉされている。従ってリーク筒５の
先端部５ａはブ【〕−１１の下端部内に挿入されている
。−・方Ｈｅホンベアがらの１−１０は圧力レギュレー
タ６により−・定圧力に調節され、絞り１３により微量
の流ｒＡ（例えばＩＸ １０−”ａｔｍ、 ｃｃ／ｓｅ
ｃ ）に絞られてリーク筒５の先端部５ａからブ［］−
１１内に流入する。又ブＬＩ−１１の下端からは隙間１
１及び保持板１０の空気孔１０ａを経て空気が流入する
。そしてプ１１−ブ１内ではト１ｅのｆ１度は常に許容
値となるようにリーク筒５からの流出量が調節されてい
る。Ｈｅ検知器２はバイブ９を介して絶えずブ１］−ブ
１内のｔ−１ｅ Ｐｉ重合金吸入し指示計３は常にＨｅ
１ｌＵの許容値を指示している。
１はプローブボルダー４内に収納されその下端は保持板
１０の上に１ｔｆｆｉされている。従ってリーク筒５の
先端部５ａはブ【〕−１１の下端部内に挿入されている
。−・方Ｈｅホンベアがらの１−１０は圧力レギュレー
タ６により−・定圧力に調節され、絞り１３により微量
の流ｒＡ（例えばＩＸ １０−”ａｔｍ、 ｃｃ／ｓｅ
ｃ ）に絞られてリーク筒５の先端部５ａからブ［］−
１１内に流入する。又ブＬＩ−１１の下端からは隙間１
１及び保持板１０の空気孔１０ａを経て空気が流入する
。そしてプ１１−ブ１内ではト１ｅのｆ１度は常に許容
値となるようにリーク筒５からの流出量が調節されてい
る。Ｈｅ検知器２はバイブ９を介して絶えずブ１］−ブ
１内のｔ−１ｅ Ｐｉ重合金吸入し指示計３は常にＨｅ
１ｌＵの許容値を指示している。
被検体からのＨｅガス洩れを検出するには前記の状態に
保持されているプローブ１をプローブボルダ−４から取
り出し被検体に押しあてると指示計３は被検体から流出
するＨ ｅのｉ１１度を指示する。
保持されているプローブ１をプローブボルダ−４から取
り出し被検体に押しあてると指示計３は被検体から流出
するＨ ｅのｉ１１度を指示する。
指示計３の指示値により被検体から流出するト１ｅに際
しブロー１１は被検体が置かれている場所（例えば検査
室）の雰囲気中のＨｅの濃度の影響を全く受りていない
。
しブロー１１は被検体が置かれている場所（例えば検査
室）の雰囲気中のＨｅの濃度の影響を全く受りていない
。
（発明の効果）
この発明は上記の構成を有するので次のような効果を有
する。
する。
（イ）洩れ検知器の校正作業が不要ひある。
（１］）洩れ検知器は被検体が置かれている場所の雰囲
気中のＨｅの濃度の影響を全く受けていない。
気中のＨｅの濃度の影響を全く受けていない。
（ハ）標準濃度のＨｅガスを準備する必要がなく直接合
否判定のレベルにＨｅ検知器のレベルを合わＵることが
できる。
否判定のレベルにＨｅ検知器のレベルを合わＵることが
できる。
（ニ）リーク筒からの洩れを任危に選べるため被検体の
洩れ許容値が変っても容易に対応できる。
洩れ許容値が変っても容易に対応できる。
図面はこの発明の・−実施例の正面図を示す。
５・・・リーク筒
６・・・圧力レギュレータ
７・・・Ｈｅボンベ
Claims (2)
- （１）被検体からのＨｅの洩れ量許容値と同量のＨｅを
洩れ検査待機中の洩れ検知器に常に吸入させておくこと
を特徴とする洩れ検知器の校正方法。 - （２）Ｈｅのボンベと、このボンベに圧力レギュレータ
を介して連通し、先端部から所定量のＨｅを常に流出す
るリーク筒とからなる洩れ検知器の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1869186A JPS62175639A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 洩れ検知器の校正方法及び校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1869186A JPS62175639A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 洩れ検知器の校正方法及び校正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62175639A true JPS62175639A (ja) | 1987-08-01 |
Family
ID=11978644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1869186A Pending JPS62175639A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 洩れ検知器の校正方法及び校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62175639A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10101237B2 (en) | 2013-08-02 | 2018-10-16 | Inficon Gmbh | Test leak device having integrated pressure sensor |
| WO2019021823A1 (ja) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | ヤマハファインテック株式会社 | ガスセンサ故障検出装置、ガスセンサ故障検出システム、及びガスセンサ故障検出方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249996A (en) * | 1975-10-15 | 1977-04-21 | Solvay | Titanium trichloride particle and method of polymerizing alphaaolefin using same |
| JPS58158533A (ja) * | 1982-03-16 | 1983-09-20 | Toshiba Corp | リ−クテスト方法 |
-
1986
- 1986-01-30 JP JP1869186A patent/JPS62175639A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249996A (en) * | 1975-10-15 | 1977-04-21 | Solvay | Titanium trichloride particle and method of polymerizing alphaaolefin using same |
| JPS58158533A (ja) * | 1982-03-16 | 1983-09-20 | Toshiba Corp | リ−クテスト方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10101237B2 (en) | 2013-08-02 | 2018-10-16 | Inficon Gmbh | Test leak device having integrated pressure sensor |
| WO2019021823A1 (ja) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | ヤマハファインテック株式会社 | ガスセンサ故障検出装置、ガスセンサ故障検出システム、及びガスセンサ故障検出方法 |
| JP2019027900A (ja) * | 2017-07-28 | 2019-02-21 | ヤマハファインテック株式会社 | ガスセンサ故障検出装置、ガスセンサ故障検出システム、及びガスセンサ故障検出方法 |
| US11454564B2 (en) | 2017-07-28 | 2022-09-27 | Yamaha Fine Technologies Co., Ltd. | Gas sensor fault detection device, gas sensor fault detection system, and gas sensor fault detection method |
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