JPH0465967B2 - - Google Patents

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JPH0465967B2
JPH0465967B2 JP60099738A JP9973885A JPH0465967B2 JP H0465967 B2 JPH0465967 B2 JP H0465967B2 JP 60099738 A JP60099738 A JP 60099738A JP 9973885 A JP9973885 A JP 9973885A JP H0465967 B2 JPH0465967 B2 JP H0465967B2
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JP
Japan
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gas
analyzer
input line
test
sample
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JP60099738A
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Shii Baanetsuto Danieru
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Elsag International BV
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Elsag International BV
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Publication date
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Publication of JPH0465967B2 publication Critical patent/JPH0465967B2/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/24—Suction devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0006—Calibrating gas analysers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0011—Sample conditioning

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  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、一般には、ガスの存在および、また
はガスの量を分析するためのガス分析器に関し、
詳しくいうと、既知の特性のテストガスを使用し
てガス分析器を較正する新規な、有用な装置およ
び方法に関する。
従来の技術 ある環境、例えばガス導管の内部、からサンプ
ルガスを吸引し、このサンプルガスを、センサま
たはサンプルの分析試験を実行する他のサンプリ
ングシステムに与えるように機能する吸引器を使
用するガス分析器は知られている。
サンプルガスはプローブによつて吸引されてセ
ンサまたはサンプリングシステムに送られる。か
かるプローブは通常、テストされる環境中に延在
しており、残渣をフイルタするためのフイルタと
一緒に使用される。
このようなガス分析器は計器の較正を正確にチ
エツクするためにテストガスを供給するためのあ
る機構を必要とすることが知られている。単にテ
ストガスをシステムに多量に供給してサンプルガ
スがプローブに入らないようにするだけでは正確
なチエツクにならない。何故ならば、これは、通
常負圧で動作されているシステムを加圧すること
になるからである。
また、このような方法は通常負に加圧されてい
るシステムに漏れ（リーク）があるか否かをチエ
ツクすることができない。
また、このような方法は特に流量を感知するあ
る形式のセンサの誤差を表わすセンサの空洞を通
る流量を多く生じさせる。これはまた、例えば触
媒の燃焼のために希釈空気を必要とする一酸化炭
素センサの場合には、一定流量の空気で希釈され
るテストガスを使用するセンサの誤差を表わすこ
とになる。
発明が解決しようとする問題点 ガス分析器を較正する他の方法として、プロー
ブを物理的に閉塞してサンプルガスの流入を防止
し、サンプルガスとテストガスとの混合を防止す
るものがある。これは通例、プローブにプラグ
（栓）を物理的に挿入することによつて、あるい
はプローブに対する接続路にプラグを物理的に挿
入することによつて行なわれる。テストガスはそ
の後、プラグの下流にあるサンプリングまたは分
析システムの口に流入される。この方法の欠点は
同じプローブを閉塞するのに使用されるシールが
しばしば機能不全になる、またはプローブをプラ
グでふさぐためのプラグ組立体を移動させるため
に使用されるシヤフトに関連したシールがしばし
ば機能不全になることである。他の問題は金属−
金属ねじ山のシールが使用される２つの相対的に
可動の部品が動かなくなることである。これは若
干のサンプリングシステムによつて要求される高
温度のためおよびサンプルガスを含む導管または
周囲環境に存在し得る高温度のためである。上記
欠点以外にも、従来技術の方法は、同じく高温度
によつて影響を受けかつシールを必要とするソレ
ノイド遮断器が使用されない場合には、局部的較
正をしなければならなかつた。
問題点を解決するための手段 本発明によれば、テストガスを投与するための
吸引器が機械的可動部品を使用することなしに分
析器を通るサンプルの流れを阻止するために使用
される。同時に、テストガスはサンプルガスが供
給されたのと同じ圧力および流量で分析器に供給
され、加圧されたテストガスを使用する方法に関
連する問題を除去している。
本発明の利点はいかなる可動部品またはシール
もないこと、いかなる機械的プローブ遮断装置も
ないこと、および高い周囲および動作温度が本発
明の技術に悪影響を与えないこと等である。
従つて、本発明の目的は、分析されるべきサン
プルガスを選択された流量でテスト空間からガス
分析器へこのテスト空間中に延在するプローブな
らびにこのプローブとガス分析器との間に接続さ
れた入力ラインを通じて供給する段階と、サンプ
ルガスを分析器から出力ラインを通じて放出する
段階と、入力ラインの圧力を出力ラインの圧力と
等しくしてサンプルガスの分析器への供給を停止
させる段階と、分析器を較正するのに使用するた
めのテストガスを前記選択された流量で入力ライ
ンを通じて分析器に供給する段階とを含むテスト
空間からのサンプルガスを分析するためのガス分
析器を動作させる方法を提供することである。
本発明の他の目的は、テスト空間中に延在する
プローブと、該プローブに接続された入力ライン
と、該入力ラインに接続され、テスト空間からの
サンプルガスをプローブおよび入力ラインを通じ
て受け入れるガス分析器と、該ガス分析器に接続
され、この分析器からガスを放出させるための出
力ラインと、入力ラインの圧力を出力ラインの圧
力と等しくして前記ガス分析器を通るガスの流れ
を阻止するための等化手段と、入力ラインを通る
サンプルガスの流量に等しい選択された流量でテ
ストガスを入力ラインに供給し、前記ガス分析器
を較正するための手段とを含むテスト空間からの
サンプルガスを分析するための装置を提供するこ
とである。
本発明の他の目的は、設計が簡単であり、構造
が頑強であり、経済的に製造できる、サンプルガ
スを分析するとともに該サンプルガスに対してガ
ス分析器を較正するための装置を提供することで
ある。
以下、添付図面を参照して本発明の好ましい実
施例について詳細に説明する。
添付図面を参照すると、第１図に示された本発
明の一実施例はテスト空間１０からのサンプルガ
スを分析するためのガス分析装置よりなる。この
テスト空間１０は既知のプロセスの内部であつて
も、あるいは燃焼プロセスからの排気ガスのよう
なガスサンプルを搬送するための導管であつても
よい。この分析装置は既知の設計のガス分析器１
２を使用する。このガス分析器１２はサンプルガ
スをセンサに供給するための入力ライン１４およ
びサンプルガスをセンサから放出させるための出
力ライン１６を含む。
既知の設計のものであるプローブ１８は開口入
力端を有し、この開口入力端はフイルタ２０によ
つておおわれておりかつテスト空間１０中に延在
している。出力ライン１６とテスト空間１０との
間に、テストされたサンプルガスをテスト空間１
０に戻すための戻りライン２２が接続されてい
る。
本発明の１つの特徴は、それ自体は既知の設計
のものであるサンプル吸引器２４が圧力レベル
P1の圧力源２８に接続されたパワー入力ライン
２６を有することである。このサンプル吸引器２
４のオリフイスは出力ライン１６に接続されてお
り、その結果パワー入力ライン２６の圧力P1に
依存して出力ライン１６に選択された流量が確立
される。サンプルガスおよび圧力源２８からのパ
ワーガスは戻りライン２２を通じてテスト空間１
０中に放出される。この流量はまた、同じ流量で
入力ライン１４を通じてのサンプルガスの流れを
誘起し、フイルタ２０およびプローブ１８を通じ
てテスト空間１０からサンプルガスが入力ライン
１４に流れる。
本発明の他の特徴は、テストガス吸引器３０が
プローブ１８と入力ライン１４との間に接続され
ていることである。吸引器３０は吸引器２４と同
様の設計のものであり、圧力P2を与える第２の
圧力源３４に接続された第２のパワー入力ライン
３２によつて付勢される。パワー入力ライン３２
はパワーライン弁３６によつて圧力源３４から隔
絶されている。
入力ライン１４は第１のオリフイス３８および
第２のオリフイス４０を備えている。第１のオリ
フイス３８の両端間の圧力降下を測定するための
圧力ゲージ４２がこの第１のオリフイス３８の上
流および下流で上流および下流ライン５０および
５２を介して入力ライン１４に接続されている。
圧力の変化△Ｐは水柱高さで測定される。このオ
リフイス３８の両端間の圧力降下は選択された流
量に比例し、従つて流量の尺度として使用でき
る。
圧力ゲージ４２の上流側にはテストガス弁４６
を含むテストガスライン４４が接続されており、
このテストガスライン４４は４８においてテスト
ガス源に接続されている。
第１図はサンプルガスを分析するための分析器
１２を通るサンプルガスの流れを例示している。
分析装置のこの測定状態においては、パワーライ
ン弁３６およびテストガス弁４６は閉塞されてい
る。圧力ゲージ４２によつて測定される流量はパ
ワー入力ライン２６を通じて吸引器２４を通るパ
ワーガスの圧力P1によつて決定される。
第２図は分析器１２が較正の準備をされている
ときの流れの状態を示す。分析装置のこの状態に
おいては、パワーライン弁３６は、圧力P2によ
つて付勢される吸引器３０が出力ライン１６から
吸引器２４がガスを吸引するのと同じ流量で入力
ライン１４からガスを吸引するまで、開放してい
る。入力および出力ラインの圧力は等化され、分
析器１２を流れるガスは存在しなくなる。入力ラ
イン１４にガスが流れなくなり、従つてオリフイ
ス３８の両端間には圧力降下がないから、圧力ゲ
ージ４２によつて指示される圧力降下値は０に降
下する。
この時点で、第３図に例示するように、テスト
ガス弁４６が選択された量だけ開放され、上流ラ
イン５０を通じて入力ライン１４にテストガスを
供給する。テストガスはオリフイス３８および４
０を通じて両方向に流れる。圧力ゲージ４２によ
つて指示される流量が第１図に例示したサンプル
ガスに対して選択された流量に等しくなるまで、
テストガス弁４６は開放されている。かくして、
テストガスはサンプルガスが分析器１２に提供さ
れたのと同じ条件で分析器１２に供給され、従つ
て明確な較正を起なうことができる。
テストガスはまた、吸引器３０を通つてテスト
空間１０へ入力ライン１４中を逆方向に流れる
が、これは較正段階に悪影響を与えない。
本発明の特定の実施例を図示し、詳細に記載し
たけれど、本発明の原理から逸脱することなしに
本発明が他の種々の態様で実施できることは理解
されよう。
【図面の簡単な説明】
第１図はサンプルガスを分析する動作状態にあ
る本発明のガス分析装置を示す概略構成図、第２
図はガス分析器の較正の準備位置にあるガス分析
装置を示す第１図と類似の構成図、第３図はガス
分析器を較正するための位置にあるガス分析装置
を示す第１図と類似の構成図である。 １０：テスト空間、１２：ガス分析器、１４：
入力ライン、１６：出力ライン、１８：プロー
ブ、２０：フイルタ、２２：戻りライン、２４：
サンプル吸引器、２６，３２：パワー入力ライ
ン、２８：圧力源、３０：テストガス吸引器、３
４：第２の圧力源、３６：パワーライン弁、３
８：第１のオリフイス、４０：第２のオリフイ
ス、４２：圧力ゲージ、４４：テストガスライ
ン、４６：テストガス弁。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ テスト空間からのサンプルガスを分析するた
    めのガス分析器を動作させる方法において、 分析されるべきサンプルガスを選択された流量
    で、テスト空間中に延在するプローブおよび該プ
    ローブと前記ガス分析器との間に接続された入力
    ラインを通じて前記ガス分析器に供給する段階
    と、 前記分析器から出力ラインを通じて前記サンプ
    ルガスを放出させる段階と、 前記入力ラインの流れを前記出力ラインの流れ
    と等しくし、サンプルガスの前記分析器への供給
    を停止させる段階と、 前記分析器を較正するのに使用されるテストガ
    スを前記選択された流量で前記入力ラインを通じ
    て前記分析器に供給し、サンプルガスを前記出力
    ラインを通じて放出させる段階 とを含むことを特徴とするガス分析器を動作させ
    る方法。 ２ サンプル吸引器が前記出力ラインに接続さ
    れ、テストガス吸引器が前記入力ラインに接続さ
    れ、サンプルガスを前記選択された流量で供給す
    るために前記サンプル吸引器を付勢する段階と、
    前記入力ラインの流れと前記出力ラインの流れを
    等しくするために前記テストガス吸引器を付勢す
    る段階とを含む特許請求の範囲第１項記載の方
    法。 ３ 第１のオリフイスが前記入力ラインに設けら
    れており、該第１のオリフイスの両端間の圧力降
    下を測定して前記サンプルガスに対する前記選択
    された流量を決定する段階と、前記第１のオリフ
    イスの両端間の圧力降下値が０になるまで前記テ
    ストガス吸引器を付勢する段階と、前記第１のオ
    リフイスの上流側の前記入力ラインにある流量で
    テストガスを供給し、前記第１のオリフイスの両
    端間の圧力降下を前記選択された流量に対応する
    レベルに戻す段階とを含む特許請求の範囲第２項
    記載の方法。 ４ テスト空間からのサンプルガスを分析するた
    めのガス分析装置において、 前記テスト空間中に延在するプローブと、 該プローブに接続された入力ラインと、 該入力ラインに接続され、この入力ラインから
    サンプルされるべきガスを受け入れるガス分析器
    と、 該分析器からガスを放出させるための出力ライ
    ンと、 該出力ラインに接続され、前記テスト空間から
    前記プローブおよび前記入力ラインを通じてサン
    プルガスを前記分析器に吸引するためのサンプル
    吸引手段と、 前記入力ラインに接続され、前記入力ラインの
    ガスの流れを前記出力ラインのガスの流れと等し
    くし、前記分析器にガスが流れなくするためのテ
    ストガス吸引手段と、 前記入力ラインに接続され、前記入力ラインの
    流れを測定するための流れ測定手段と、 前記入力ラインに接続され、前記分析器を較正
    するために前記選択された流量で前記入力ライン
    にテストガスを供給するためのテストガス供給手
    段 とを具備することを特徴とするガス分析装置。 ５ 前記サンプル吸引手段が圧力源に接続された
    パワー入力および前記出力ラインに接続されたサ
    ンプル入力を有する吸引器からなり、前記テスト
    ガス吸引手段が圧力源に接続されたパワーライン
    を有しかつ前記入力ラインに接続された吸引器か
    らなり、前記パワーラインが前記テストガス吸引
    手段のパワーを調節するための弁を有する特許請
    求の範囲第４項記載のガス分析装置。 ６ 前記流れ測定手段が前記入力ライン中に接続
    された第１のオリフイスと、該オリフイスの上流
    側と下流側との間で前記入力ラインに接続された
    圧力ゲージとを有し、前記テストガス供給手段が
    前記オリフイスの前記上流側に接続されている特
    許請求の範囲第５項記載のガス分析装置。 ７ 前記入力ライン中の前記第１のオリフイスの
    上流側でかつ前記圧力ゲージの上流側に第２のオ
    リフイスが接続されている特許請求の範囲第６項
    記載のガス分析装置。
JP60099738A 1984-05-14 1985-05-13 テストガスを吸引する手段を備えたガス分析器 Granted JPS60244834A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/609,673 US4545235A (en) 1984-05-14 1984-05-14 Gas analyzer with aspirated test gas
US609673 1990-11-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60244834A JPS60244834A (ja) 1985-12-04
JPH0465967B2 true JPH0465967B2 (ja) 1992-10-21

Family

ID=24441819

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60099738A Granted JPS60244834A (ja) 1984-05-14 1985-05-13 テストガスを吸引する手段を備えたガス分析器

Country Status (14)

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US (1) US4545235A (ja)
EP (1) EP0161931B1 (ja)
JP (1) JPS60244834A (ja)
KR (1) KR870001484B1 (ja)
AT (1) ATE42834T1 (ja)
AU (1) AU577117B2 (ja)
BR (1) BR8501976A (ja)
CA (1) CA1223451A (ja)
DE (1) DE3569983D1 (ja)
ES (1) ES8609708A1 (ja)
HK (1) HK72989A (ja)
IN (1) IN163892B (ja)
MX (1) MX166960B (ja)
SG (1) SG42889G (ja)

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EP0161931A2 (en) 1985-11-21
ES8609708A1 (es) 1986-09-16
EP0161931A3 (en) 1987-06-16
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DE3569983D1 (en) 1989-06-08
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