JPS58158533A - リ−クテスト方法 - Google Patents
リ−クテスト方法Info
- Publication number
- JPS58158533A JPS58158533A JP4132982A JP4132982A JPS58158533A JP S58158533 A JPS58158533 A JP S58158533A JP 4132982 A JP4132982 A JP 4132982A JP 4132982 A JP4132982 A JP 4132982A JP S58158533 A JPS58158533 A JP S58158533A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- leak
- time
- test
- volume
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、リークテスト方法の改良に関する。
従来、プローブガスを充填した被試験体を試験容器に収
納密封し、被試験体からのり−クガスの有無および試験
容器内の気体をサンプリングしてそのリークガス濃度を
測定し、そのリーク量を求めるリークテスト方法がある
が、この方法は、１回のサンプリングによって被試験体
からのリークガスの有無およびそのリークガス濃度を測
定していた。
納密封し、被試験体からのり−クガスの有無および試験
容器内の気体をサンプリングしてそのリークガス濃度を
測定し、そのリーク量を求めるリークテスト方法がある
が、この方法は、１回のサンプリングによって被試験体
からのリークガスの有無およびそのリークガス濃度を測
定していた。
また、上記方法を用いて複数回測定を繰り返した場合、
試験容器内に前回の測定で用いられたプローブガスが残
留してしまうという問題が起こる。ゆえに、この残留ガ
スを除去するためエアー、Ｎ２等による試験容器の洗浄
が行なわれるが、完全に試験容器内の残留ガスは除去さ
れない。したがって、試験容器内の残留ガスのために被
試験体からのリークガスの有無およびそのリークガス濃
度を正確に測定することは困難である。
試験容器内に前回の測定で用いられたプローブガスが残
留してしまうという問題が起こる。ゆえに、この残留ガ
スを除去するためエアー、Ｎ２等による試験容器の洗浄
が行なわれるが、完全に試験容器内の残留ガスは除去さ
れない。したがって、試験容器内の残留ガスのために被
試験体からのリークガスの有無およびそのリークガス濃
度を正確に測定することは困難である。
本発明は、試験容器内に残留ガスがあっても被試験体の
正確なリーク量を測定し得るリークテスト方法を提供す
ることを目的とする。
正確なリーク量を測定し得るリークテスト方法を提供す
ることを目的とする。
本発明は、試験容器の内部にプローブガスを充填した被
試験体を収納した後、一定時間内に試験容器内の気体の
サンプリングを所定時間内に少なくとも２回行ない、こ
れらのサンプリングされた気体のガス濃度を各々リーク
デテクタにより測定することにより、その時間経過によ
るガス濃度差を求め、被試験体のリーク量を測定するこ
とにより、上記目的を達成せんとするものである。
試験体を収納した後、一定時間内に試験容器内の気体の
サンプリングを所定時間内に少なくとも２回行ない、こ
れらのサンプリングされた気体のガス濃度を各々リーク
デテクタにより測定することにより、その時間経過によ
るガス濃度差を求め、被試験体のリーク量を測定するこ
とにより、上記目的を達成せんとするものである。
第１図は本発明のリークテスト方法を適用した装置の一
実施例を示す構成図である。同図において１１はプロー
ブガスを充填してなる被試験体であり、これは試験容器
１２内に収納密封されている。そして、試験容器１２に
は開閉弁１３を弁してリークデテクタ１４が接続されて
いる。ここで、リークデテクタ１４は試験容器１２内の
リーク濃度を測定するものである。
実施例を示す構成図である。同図において１１はプロー
ブガスを充填してなる被試験体であり、これは試験容器
１２内に収納密封されている。そして、試験容器１２に
は開閉弁１３を弁してリークデテクタ１４が接続されて
いる。ここで、リークデテクタ１４は試験容器１２内の
リーク濃度を測定するものである。
このように構成された装置を用いてリーク量を測定する
方法を説明する。まず、被試験体１ノの内部にプローブ
ガスを充填する。しかる後、この被試験体１１を試験容
器１２の中に収納し密封する。この状態において被試験
体Ｊ１よりリークガスＱが漏れていた場合、そのリーク
ガスＱが試験容器１２の底面に蓄積する。そこで、１、
時刻において開閉弁１３を開いてリークガスＱをリーク
デテクタ１４でサンプリングする。
方法を説明する。まず、被試験体１ノの内部にプローブ
ガスを充填する。しかる後、この被試験体１１を試験容
器１２の中に収納し密封する。この状態において被試験
体Ｊ１よりリークガスＱが漏れていた場合、そのリーク
ガスＱが試験容器１２の底面に蓄積する。そこで、１、
時刻において開閉弁１３を開いてリークガスＱをリーク
デテクタ１４でサンプリングする。
このリークガス濃度をＡ、 とする。さらに、所定時間
後ｔ２時刻においても、そのリークガス濃度Ａ２を測定
する。これにより、ｔｔ”−ｔ２２時間におけるリーク
ガス濃度差Ａ、 −ＡＩ が求められる。ここで、試
験容器１２の容積から被試験体１ノの容積の差をとった
有効容積Ｖと、１．〜ｔ２の時間は読値であるので、単
位時間当９のリーク蓋Ｑｏは次式で表わされる。
後ｔ２時刻においても、そのリークガス濃度Ａ２を測定
する。これにより、ｔｔ”−ｔ２２時間におけるリーク
ガス濃度差Ａ、 −ＡＩ が求められる。ここで、試
験容器１２の容積から被試験体１ノの容積の差をとった
有効容積Ｖと、１．〜ｔ２の時間は読値であるので、単
位時間当９のリーク蓋Ｑｏは次式で表わされる。
この式によって被試験体１１からの単位時間当りのリー
クｉｔ Ｑ ｏが得られる。
クｉｔ Ｑ ｏが得られる。
したがって、被試験体１１からのリークガス濃度の測定
を所定時間間隔おいて２回行ない、そのリークガス濃度
の差によって被試験体１１からのリークガス量Ｑｏが得
られるので、もし試験容器１２の内部に残留ガスＡＯが
あってもその影響を受けずに被試験体１１からのリーク
ガスｆｉｔ Ｑ ｏを正確に得られる。さらに、本方法
ではリークガス濃度の測定を短時間で行なうので、リー
クデテクタ１４の長時間使用における感度劣化を防ぐこ
とができる。
を所定時間間隔おいて２回行ない、そのリークガス濃度
の差によって被試験体１１からのリークガス量Ｑｏが得
られるので、もし試験容器１２の内部に残留ガスＡＯが
あってもその影響を受けずに被試験体１１からのリーク
ガスｆｉｔ Ｑ ｏを正確に得られる。さらに、本方法
ではリークガス濃度の測定を短時間で行なうので、リー
クデテクタ１４の長時間使用における感度劣化を防ぐこ
とができる。
なお、本発明は上記方法に限定されるものではない。た
とえはリークガス濃度夏の測定回数を複数回とし、時間
経過に対するリークガス濃度差を求めて被試験体１１か
らのリークガス量を求める方法もある。
とえはリークガス濃度夏の測定回数を複数回とし、時間
経過に対するリークガス濃度差を求めて被試験体１１か
らのリークガス量を求める方法もある。
以上詳記したようｉ／（本発明によれば、試験容器内に
残留ガスがあっても、その影響を受けずに被試験体から
の正確なリーク量を得ることが５− できるリークテスト方法を提供することができる。
残留ガスがあっても、その影響を受けずに被試験体から
の正確なリーク量を得ることが５− できるリークテスト方法を提供することができる。
第１図は本発明方法を適用した装置の一実施例を示す構
成図、第２図はリークガス濃度測定のタイミングを示す
図である。 １１・・・被試験体、１２・・・試験容器、１４・・・
リークデテクタ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦６− 第１図 第２ 図 ｔｌ ｔ２ １８７一
成図、第２図はリークガス濃度測定のタイミングを示す
図である。 １１・・・被試験体、１２・・・試験容器、１４・・・
リークデテクタ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦６− 第１図 第２ 図 ｔｌ ｔ２ １８７一
Claims (1)
- 試験容器の内部にプローブガスを充、填した被試験体を
収納し、試験容器内のが＝を一供して被試験体のリーク
をテストするものにおいて、試験容器内の気体のサンプ
リングを一定時間内に少なくとも２回行ない、このサン
シリンダされた複数回の気体のガス一度をリークデテク
タで測定したのち、これらのガス濃度差から被試験体の
リーク量を測定することを特徴とするリークテスト方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4132982A JPS58158533A (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | リ−クテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4132982A JPS58158533A (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | リ−クテスト方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58158533A true JPS58158533A (ja) | 1983-09-20 |
Family
ID=12605475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4132982A Pending JPS58158533A (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | リ−クテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58158533A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58179330A (ja) * | 1982-04-14 | 1983-10-20 | Shimadzu Corp | リ−ク検出装置 |
| JPS62175639A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-01 | Toyota Motor Corp | 洩れ検知器の校正方法及び校正装置 |
| WO1995027193A1 (en) * | 1994-04-04 | 1995-10-12 | Otsuka Pharmaceutical Factory, Inc. | Pinhole detector |
-
1982
- 1982-03-16 JP JP4132982A patent/JPS58158533A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58179330A (ja) * | 1982-04-14 | 1983-10-20 | Shimadzu Corp | リ−ク検出装置 |
| JPH0456251B2 (ja) * | 1982-04-14 | 1992-09-07 | Shimadzu Corp | |
| JPS62175639A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-01 | Toyota Motor Corp | 洩れ検知器の校正方法及び校正装置 |
| WO1995027193A1 (en) * | 1994-04-04 | 1995-10-12 | Otsuka Pharmaceutical Factory, Inc. | Pinhole detector |
| US5633454A (en) * | 1994-04-04 | 1997-05-27 | Otsuka Pharmaceutical Factory, Inc. | Pinhole inspecting apparatus |
| AU688483B2 (en) * | 1994-04-04 | 1998-03-12 | Otsuka Pharmaceutical Factory, Inc. | Pinhole detector |
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