JPS62166403A - 回路基板の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば回路基板の製造工程時においてこの回
路基板の調整を自動的に行なうのに使用して好適な回路
基板の検査装置に関する。

（発明の概要〕 本発明は、例えば回路基板の製造工程時にこの回路基板
の調整を自動的に行なうのに使用して好適な回路基板の
検査装置において、被調整素子が装着される回路基板と
、この回路基板に検査信号を供給する検査信号供給手段
と、回路基板の所定回路の出力信号を検波する検波手段
とを有し、検査信号供給手段が、水平周期の輝度信号が
連続する検査信号を回路基板に供給するようにしたこと
により、検査信号に対する検波手段の応答が速くなり、
短時間に検査が行なえるようにしたものである。

〔従来の技術〕

従来、回路基板の検査を自動的に行なう回路基板の検査
装置として、特開昭６０−１７５０３号公報に示される
ものが提案されていた。この検査装置は、検査の結果に
より調整を行なうもので、第５図に　　示した如く構成
され、マイクロコンピュータシステム（ｌ）の制御によ
り、入力信号発生器群（２）から複数のアナログ入力信
号が発生する。入力信号発生器群（２）で発生した複数
のアナログ入力信号のうちの所定の信号が入力信号選択
器（３）で選択される。

この入力信号選択器（３）は、マイクロコンピュータシ
ステム＋１１により制御され、必要とされる調整。

検査□のためのアナログ信号が選択される。このアナロ
グ信号が、ピン治具（１２）を介して被調整基板（１３
）に供給される。被調整基板（１３）にディジタル回路
が含まれている場合は、ディジタル入力信号処理回路群
（７）より複数ビットの調整、検査のためのディジタル
入力信号が発生し、被調整基板（１３）にピン治具（１
２）を介して供給される。

このように、被調整基板（１３）に調整検査のためのア
ナログ信号及びディジタル信号がピン治具（１２）を介
して供給されることにより、被調整基板（１３）よりピ
ン治具（１２）を介して測定出力信号が取り出される。

被調整基板（１３）からのアナログ出力信号は、ピン治
具（Ｉ２）を介してアナログ出力信号処理回路群（４）
に伝送される。アナログ出力信号の観測量に比例する直
流出力電圧への変換が、アナログ出力信号処理回路群（
４）により行なわれる。アナログ出力信号処理回路群（
４）とピン治具（１２）との間には切換回路がなく、ピ
ン治具（１２）のコンタクトピンとアナログ出力信号処
理回路群（４）の各回路とは直接接続されている。した
がって、アナログ出力信号処理回路群（４）から出力さ
れる直流電圧は、被調整基板（１３）の観測点の観測量
に富に比例する。

アナログ出力信号処理回路群（４）で変換された複数の
直流出力電圧が、出力信号切換器（５）に供給され、何
れかひとつが選択される。この時、アナログ出力信号処
理回路群（４）により、観測量は、これに比例する直流
電圧に既に変換されているので、出力信号切換器（５）
により観測点を高速で切り換えた時に伴うアナログ処理
回路の過渡現象が発生しない。出力信号切換器（５）で
選択された直流出力電圧が、Ａ／Ｄ変換器（６）に供給
されディジタル量に変換され、マイクロコンピュータシ
ステム（１）で読み取られる。

被調整基板（１３）にディジタル回路がある場合、被調
整基板（１３）からのディジタル出力信号がピン治具（
１２）を介してディジタル出力信号処理回路群（８）に
より処理され、マイクロコンピュータシステム（１１で
読み取られる。

調整時には、マイクロコンピュータシステム（１）は、
あらかじめ与えられている目標値と、Ａ／Ｄ変換器（６
）でディジタル化された所定の観測点の観測値（又はデ
ィジタル出力信号処理回路群（８）により処理された所
定の観測点の観測値）との差から調整素子の一整必要量
を計算する。そして、マイクロコンピュータシステム（
１）は、この調整必要量をパルスモータで駆動する命令
をパルスモー多制御器群（９）の所定の制御器に与え、
これによって所定の調整箇所の調整が行なわれる。マイ
クロコンピュータシステム（１）゛の指令でパルスモー
タが回動している間に、マイクロコンピュータシス夢ム
（１）は、次の点゛の調整について同様の処理を行なう
。

このように、マイクロコンピュータシステム（１）は、
パルスモータ制御器群（９）に命令だけを与え、パルス
モータ群０伽の制御はパルスモータ制御器群（９）が行
赴う。然も、マイクロコンピュータの処理速度は゛パル
スモータの応答に比較して十分高速であるので、複数の
モータが同時に回っているようにな゛す、複数の調整箇
所に対して同時的に調整を行なうことができる。

このように調整が行なわれている間に、他の観測点につ
いての検査を行なうことができる。あらかじめマイクロ
コンピュータシステム（１）に与えられた目標値と観測
値とが比較され、その比較によって検査を行なうことが
できる。

このようにしてマイクロコンピュータシステム（１）で
検査及び調整の制御を行なうことにより、検査及び調整
を簡単に行なうことが山菜る。

とこ元で、上述の如くして検査を行なう回路基板として
、ビデオテープレコーダ等の輝度信号系回路基板のＡＧ
Ｃ回路がある。このＡＧＣＩｉｉｌ路は、例えばビデオ
ｆｉ号入力端子と輝度信号・色信号分離回路との間に設
けられ、このＡＧＣ回路により輝度信号のビー′り電圧
＋ｉを所定値に制御するものである。このＡＧＣ回路を
上述の如き検査装置により検査する際には、例えばこの
ＡＧＣ回路に通常の同期信号等を含んだカラーバー信号
等の輝度信号を供給して、出力された輝度信号のピーク
電正値が予め定められた所定値にあるかどうかを検査し
ていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところが、上述の如く通常の複合映像信号である輝度信
号をＡＧＣ回路に供給して出力された輝度信号を検査す
ると、輝度信号が垂直同期期間であるときには信号に輝
度の情報はなく、垂直同期期間にはピーク電圧値の検査
が出来なかった。即ち、例えば第３図Ａに示す如く、輝
度信号のエンベロープ波形には垂直同期期間Ｖごとにリ
ップルが現われてしまう。このため、この輝度信号の検
波器に、カットオフ周波数を垂直同期信号周期の１／　
１０　（６Ｈｚ）等に設定したローパスフィルタを組み
込み、第３図Ｃに示す如くリップルの除去を行なってい
た。ところが、ローパスフィルタを組み込むと、検波信
号のＡＧＣ回路の調整に対する応答が遅くなり、検査に
時間がかかってしまう不都合があった。

本発明は斯かる点に鑑み、検波手段の応答が速い回路基
板の検査装置を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明回路基板の検査装置は、例えば第１図及び第２図
に示す如く、被調整素子（２３ａ　）が装着される回路
基板（２２）と、この回路基板（２２）に検査信号を供
給する検査信号供給手段（２１）と、回路基板（２２）
の所定回路の出力信号を検波する検波手段（２６）とを
有し、挨査信号供給手段（２Ｉ）は、水平周期の輝度信
号が連続する検査信号を回路基板（２２）に供給するよ
うにしたものである。

〔作用〕

本発明回路基板の検査装置は、水平周期の輝度信号が連
続する検査信号を回路基板（２２）に供給するようにし
たことにより、検査用の情報を含んだ信号が連続する輝
度信号が検査信号となり、この信号により検波手段（２
６）は連続的に検査が出来、検査信号に対する検波手段
（２６）の応答が速くなり、短時間に検査が行なえる。

〔実施例〕

以下、本発明回路基板の検査装置の一実施例を、第１図
〜第４図を参照して説明しよう。

本例の回路基板の検査装置は、全体の構成を第２図に示
す如く構成する。この第２図において、（２２）は検査
を行なう回路基板を示し、この回路基板（２２）はビデ
オテープレコーダ等のビデオ系回路基板である。この回
路基板（２２）には可変抵抗器、可変容量等よりなる複
数の調整素子（２３ａ　）　。

（２３ｂ）　　・・・が設けである。そして、この回路
基板（２２）の検査装置の構成部として、マイクロコン
ピュータ（以下ＣＰＵと称す）　　（２４）及びこのＣ
ＰＵ（２４）とデータバスラインにより双方向にデータ
の移送が可能になったデータ部（２５）とを有す。この
ＣＰＵ（２４）からパルスモータ制御部（３０）に指令
信号を供給可能で、この指令信号によりパルスモータ制
御部（３０）から複数のパルスモータ（２７ａ　）　、
　　（２７ｂ　）　　・・・の中の所定・のパルスモー
タ（２７ａ）等を回転駆動させる。この夫々のパルスモ
ータ（２７ａ　）　、　　（２７ｂ　）　　・・・の先
端には、ドライバー等の工具の形状をした調整部品回動
手段が取付けである。また、ＣＰ　Ｕ　（，２４）から
基準信号発生器（２１）に基準信号の発生を指示し、基
準信号発生器（２１）から回路基板（２２）の所定箇所
に基準信号を供給する。また、回路基板（２２）の所定
箇所から検波部（２６）に、基板（２２）内の所定の回
路を介した基準信号を供給する。そして、この検波部（
２６）の他に、同様に構成された複数の検波部（２６’
）等を有し、夫々の検波部（２Ｂ）　、　　（２Ｂ’）
・・・からの検査信号を信号選択部（２８）に供給し、
この信号選択部（２８）で所定の検波部（例えば検波部
（２６））からの検査信号を、アナログ・ディジタル変
換器（Ａ／Ｉ”）変換器）（２９）に、よりディジタル
信号とした後、Ｃ，Ｐ、ＴＪ、（２４）に供給する。

次に、本例の検査装置の基準信号発生器（２１）の構成
について、第１図を参照して説明する。第１図に示した
基準信号発生器（２１）は、ビデオ系回路基板（２２）
の輝度信号のＡＧＣ回路を検査するための基準信号を発
生するものである。第１図において（３１）はＲＯＭを
示し、このＲＯＭ（３１）は、前述のＣＰＵ（２４）か
らの指令信号の供給により、ラッチ回路（３２）に順次
後述する領域ごとに記憶したデータを繰り返し供給する
。ランチ回路（３２）は、ＣＰＵ（２４）からの指令信
号の供給によりこのＲＯＭ（３１）のデータを一定時間
継続させてＤ／Ａ変換器（３３）に供給する。Ｄ／Ａ変
換器（３３）は、ラッチ回路（３２）の出力信号を対応
したアナログ電圧値に変換し、このアナログ電圧信号を
混合器（３４）に供給する。また、クロマ基準信号発生
器（３５）から混合器（３４）にクロマ基準信号となる
バースト信号を供給する。そして、この混合器（３４）
で、ＣＰＵ（２４）からの指令信号に基づいて所定のタ
イミングでアナログ電圧信号にバースト信号を混合する
。この混合信号を増幅器（３６）を介して基準信号発生
器（２１）の出力端子（２１ａ）に供給し、この出力端
子（２１ａ）から前述の回路基板（２２）のＡＧＣ回路
に、混合器号を検査信号として供給する。

次に、上述のＲＯＭ（３１）が記憶しているデータの一
例を示す。

領　域　　　データ ０　　　　０００（−〇） １　　　　’　　　０１０（＝２） ２　　　　　１１１（＝７） ４　　　　　１１１（＝７） ５　　　　　　ｌ１ｌ（−７） ６　　　　　１１１（−７＞ ７　　　　　０１０（＝２） 以上のようにして領域ごとにデータが記憶してあり、Ｒ
ＯＭ（３１）は１〜７の領域のデータを一定間隔で繰り
返し出力する。このＲＯＭ（３１）のデータをランチ回
路（３２）を介した後、Ｄ／Ａ変換器（３３）により電
圧信号に変換すると、この第４図の横軸０〜７の領域に
示す電圧信号となり、１００％レベルの一水平周期の輝
度信号に近伯した信号となる。そして、このＲＯＭ（３
１）は上述のデータを連続的に繰り返し出力するので、
水平周期の輝度信号が連続した第４図に示す如き信号が
出力端子（２１ａ）に得られる。そして、出力端子（２
１ａ　）から回路基板（２２）のＡＧＣ回路にこの水平
周期の輝度信号が連続した信号が検査信号として供給さ
れる。

このようにしてなる検査信号のＡＧＣ回路を介した出力
信号を検波部（２６）が検査する。ここで、この検波部
（２６）により出力信号をエンベロープ検波すると、第
３図Ｃに示す如く一定レベルの信号となり、第３図Ａに
示す如きリップルは現われない、このため、この検波部
（２６）はリップル除去用のローパスフィルタが不用と
なると共に、ローパスフィルタによるリップルの除去の
影響による検査信号の遅れが発生しない。即ち、検波部
（２６）の検査に基づいてＣＰＵ（２４）がパルスモー
タ（２７ａ）を回動させて、ＡＧＣ回路に係わる調整素
子？２３ａ）を調整した場合、ただちに検波部（２６）
が開塾状態を検知出来、迅速に検査を行なうことが出来
る。また、基準信号発生器（２１）が発生する基準信号
は、ＡＧＣ回路の検査を行なうだけの信号でクロマ信号
の位相情報は必要ないため、ＮＴＳＣ，Ｐ　Ａ　Ｌ　、
　ＳＥＣＡＭ等種々の放送方式用の回路基板の検査を、
この検査装置で共通して行なうことが出来る。

なお、本発明は上述実施例に限らず、本発明の要旨を逸
脱することなく、その他種々の構成が取り得ることは勿
論である。

〔発明の効果〕

本発明回路基板の検査装置によると、検査用の情報を含
んだ信号が連続する輝度信号が検査信号となり、この信
号により検波手段（２６）は連続的に検査が出来、検査
信号に対する検波手段（２６）の応答が速くなり、短時
間で検査が行なえる利益がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の回路基板の検査装置の一実施例の要部
を示した構成図、第２図は第１図例の全体構成を示した
構成図、第３図及び第４図は夫々第１図例の説明に供す
る線図、第５図は従来の回路基板の検査装置を示した構
成図である。 （２１）は基準信号発生器、（２２）はビデオ系回路基
板、（２３ａ）、（２３ｂ）・・・は調整素子、（２６
）　、　　（２６’）は検波部である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　被調整素子が装着される回路基板と、 該回路基板に検査信号を供給する検査信号供給手段と、 上記回路基板の所定回路の出力信号を検波する検波手段
   とを有し、 上記検査信号供給手段は、水平周期の輝度信号が連続す
   る検査信号を上記回路基板に供給するようにしたことを
   特徴とする回路基板の検査装置。