JPS6017503A - 自動調整検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、配線基板の調整及び検査に使用される自動
調整検査装置に関する。

「背景技術とその問題点」 従来の自動調整検査装置は、調整規格と被調整基板の調
整のだめの測定点の出力とが等［、くなるようにアナロ
グ回路で直流サーボモーターを制御ｌ−４、サーボモー
ターに連動するドライバー選択機構により選択された調
整ドライバーによって調整素子を順次調整する構成であ
った。

Ｃの従来の自動調整検査装置は、調整が順次行なわれる
ため、相互に関連ある２個以上の調整素子を調整する際
、一方の調整素子の調整を行った時に他方の調整がずれ
てしまうので、交互に何回も調整を繰り返す必要があっ
た。また、調整系がアナログ回路を主体としたサーボ系
であるために、被調整基板の回路応答の遅れ要素及び無
駄時間が大きい時には、サーボ系の安定時間が長く必要
となり、したがって、調整時間が長くかかる欠点があっ
た。また、アナログ回路による調整では、二つの各々変
動があるレベルのレベル差を一定にする様な調整では、
レベルをアナログ的に書已憶する事が必要になるため、
う−まく調整することができない。更に、複雑な判断を
行いながら調整をすすめなければならない調整釦は対応
できない問題点があった。

「発明の目的」 この発明は、以下のように改良された自動調査検査装置
の提供を目的とするものである。

第１に、この発明は二つ以上の調整動作を同時的建行な
えるようにして、相互に関連する調整及び独立な調整を
複数行えるようにして調整時間を短縮するものである。

第２にこの発明は、調整系をマイクロコンピュータ−を
使用した数値制御系にして、調整必要量を予測する事に
よって、回路応答の遅れ要素及び無駄時間が大゛きくと
も調整時間の遅れを少なくするようにしたものである。

第３に、この発明はアナログ信号をディジタル変換する
事により、アナログレベルをディジタル量として容易に
記憶できるようになり、レベル差を一定するような調整
が可能になるようにしたものである。然も、調整方法を
プログラムとしてソフトウェアで組む事が可能になるの
で、複雑な判断を伴う調整を行なうことができる。

第４に、この発明は、調整用の駆動源としてのパルスモ
ータ−をマイクロコンピュータ−シスチムニよって直接
、駆動するのではなく、パルスモータ−制御器群を介在
させることによって、同時的に複数の調整、検査を処理
できるようにしたものである。

「発明の概要」 この発明は、被調整基板に必要な入力信号を発生する入
力信号発生器群と、被調整基板の観測点からのアナログ
出力信号を直流電圧出力に変換するアナログ出力信号処
理回路群と、アナログ出力信号処理回路群から観測量に
比例する直流電圧出力群のうちの一つを取り出す出力切
換器と、出力切換器に接続されたアナログ・ディジタル
変換器と、装置全体の制御と調整検査に必要な演算を行
なうマイクロコンピュータ−システムと、マイクロコン
ピュータ−の制御によりパルスモータ−を制御するパル
スモータ−制御器群と、被調整素子を回転させる駆動力
を発生するパルスモータ一群と、パルスモータ−の駆動
力を被調整素子に伝達する動力伝達ユニット群と、被調
整基板に対する電源供給、信号入出力を行なうビン治具
を備えた自動調整検査装置である。

「実施例」 この発明の一実施例について、図面を参照して説明する
。図において、１がマイクロコンピュータ−システムを
示す。マイクロコンピュータ−システム１は、マイクロ
プロセッサ、メモリー、入出力インターフェース、タイ
マー等で構成サレ、このマイクロコンピュータ−システ
ム１が装置全体の制御と調整に必要な演算を行なう。

２が入力信号発生器群を示し、入力信号発生器群２は、
例えばビデオ用の基板においてはホワイト信号、カラー
パー信号、ドロップアウト検出用の信号、オーディオ用
の基板においてはサイン波などの被調整基板１３の調整
検査に必要な各種入力信号を発生する複数の信号発生器
で構成される。

入力信号発生器群２の複数の信号発生器は、マイクロコ
ンピュータ−システム１で制御される。入力信号発生器
群２からの複数の入力信号の中から、被調整基板１３の
調整検査に必要な信号が、入力信号選択器３において、
マイクロコンピュータ−システム１の制御により選択さ
れる。

４がアナログ出力信号処理回路群を示し、アナログ出力
信号処理回路群４は、被調整基板１３から出力されるア
ナログ信号を処理して直流電圧に変換する複数の信号処
理回路により構成される。

アナログ出力信号処理回路群４により、交流電圧から直
流電圧への変換２周波数から直流電圧への変換２周期か
ら直流電圧への変換２位相差から直流電圧への変換など
が行なわれる。アナログ出力信号処理回路群４の複数の
ａｉ処理回路の各出力端子が出力信号切換器５に接続さ
れる。出力信号切換器５は、アナログ出力信号処理回路
群４から出力される複数の直流電圧の中から一つを、マ
イクロコンビーフ、・−ターシステム１の制御ｊ、／ｒ
ｌよｈ選択して出力する３、この出力信号切換器５に対
し−ＣＡ／Ｄ変換器６が接続される。Ａ／Ｄ変換器６は
、マイクロコンビュ・−ターシステム１１（より制御さ
れ、アブログ出力信号処理回路群４から出力される直流
電圧がディジタル信号例えば１２ビツトのバイナリ−コ
ードに変換される。

７で示されるディジタル入力信号処理回路群は、マイク
ロコンピュータ−システム１からのディジタル制御信号
を、被調整基板１３の調整検査に必要なディジタル入力
信号に変換する回路群と、結合回路群とで構成される。

８で示されるディジタル出力信号処理回路群は、被調整
基板１３から出力されるディジタル出力信号をマイクロ
コンピュータ−システム１で読み取る事ができるように
する変換回路群と、結合回路群とで構成される。

９がパルスモータ−制御器群を示し、パルスモータ−制
御５群９は、マイクロコンピュータ−システム１からの
指令によってパルスモータ一群１０を制御するもので、
各パルスモ・−ターと対応する複数の制御器により構成
される。パルスモータ・一群１０には、例えばユニバー
・サルジヨイントを用いた動力伝達ユニット群１１が結
合され、パルスモータ一群１０の駆動力を被調整基板１
３の調整素子を回動させるドライバー０名々に伝達する
。バルスモ・−ター制御器群９は、マイクロコンピュー
タ−システム１の指令に基づいて、パルスモータ−の各
々の回転速度１回転量を制御する。

更に、被調整基板１３の調整検査に必要な信号の人出力
を被調整基板１３の適当な点から行なえるようにするた
め、ビン治具１２が設けられている。

ピン治具１２は、コンタクトピンをアクリルボード上に
配置した接続治具である。ビン治具１２で規定される測
定点の各々と調整点の各々とは、原則的に１対１に対応
している。

上述の構成を有するこの発明の一実施例の動作について
説明する。まず、マイクロコンピュータ−システム１の
制御によｐ１人力信号発生器群２から複数のアナログ入
力信号が発生する。入力信号発生器群２で発生した複数
のアナログ入力信号のうちの所定の信号が入力信号選択
器３で選択される。この入力信号選択器３は、マイクロ
コンピュータ−システム１により制御され、必要とされ
る調整。

検査のためのアナログ信号が選択される。このアナログ
信号が、ビン治具１２を介して被調整基板１３に供給さ
れる。被調整基板１３にディジタル回路が含まれている
場合は、ディジタル入力信号処理回路群７より複数ビッ
トの調整、検査のためのディジタル人力信号が発生し、
被調整基板１３にビン治具１２を介して供給される。

このように、被調整基板１３に調整検査のだめのアナロ
グ信号及びディジタル信号がビン治具１２を介して供給
されることにより、被調整基板１３よシビン治具１２を
介して測定出力信号が取り出される。被調整基板１３か
らのアナログ出力信号は、ビン治具１２を介してアナロ
グ出力信号処理回路群４に供給される。アナログ出力信
号の観測量に比例する直流出力電圧への変換が、アナロ
グ出力信号処理回路群４によシ行なわれる。アナログ出
力信号処理回路群４とビン治具１２との間には切換回路
がなく、ビン治具１２のコンタクトピンとアナログ出力
信号処理回路群４の各回路とは直接接続さオ］ている。

したがって、アナログ出力信号処理回路群４から出力さ
れる直流電圧は、被調整基板１３の観測点の観測量に常
に比例する。

アナログ出力信号処理回路群４で変換された複数の直流
出力電圧が、出力信号切換器５に供給され、何れかひと
つが選択される。この時、アナログ出力信号処理回路群
４により、観測量は、これに比例する直流電圧に既に変
換されているので、出力信号切換器５により観測点を高
速で切り換えた時に伴うアナログ処理回路の過渡現象が
発生しない。出力信号切換器５で選択された直流出力電
圧が、Ａ／Ｄ変換器６に供給されディジタル量に変換さ
れ、マイクロコンピュータ−システム１で読み取られる
。

被調整基板１３にディジタル回路がある場合、被調整基
板１３からのディジタル出力信号がビン治具１２を介し
、てディジタル出力信号処理回路群８により処理され、
マイクロコンビコ一一ターシステム１で読み取られる。

調整時には、マイクロコンピュータ−システム１は、あ
らかじめ与えられている目標値と、　Ａ／Ｄ変換器６で
ディジタル化された所定の観測点の観測値（又はディジ
タル出力信号処理回路群８により処理された所定の観・
測点の観測値）との差から調整素子の調整必要量を計算
する。そして、マイクロコンピュータ−システム１は、
この調整必要量をパルスモータ−で駆動する命令をパル
スモータ−制御器群９の所定の制御器に与え、これによ
って所定の調整箇所の調整が行なわれる。マイクロコン
ピュータ−システム１の指令でパルスモータ−が回動し
ている間に、マイクロコンピュータ−システム１は、次
の点の調整について同様の処理を行なう。このように、
マイクロコンピュータ−システム１は、パルスモータ−
制御器群９に命令だけを与え、パルスモータ一群１０の
制御はパルスモータ−制御器群９が行なう。然も、マイ
クロコンピュータ−の処理速度はパルスモータ−の応答
に比較して十分高速であるので、複数のモーターが同時
に回っている工うになり、複数の調整箇所に対して同時
的に調整を行なうことができる。

このように調整が行なわれている間に、他の観測点につ
いての検査を行なうことができる。あらかじめマイクロ
コンピュータ−システム１に与えられた目標値と観測値
とが比較され、その比較によって検査を行なうことがで
きる。

以上の調整或いは検査の手順は、マイクロコンピュータ
−のプログラムとして与えられる。従って、特殊な調整
検査及び複雑な判断を伴う処理も、それに従ってプログ
ラムを変更することで行なうことができる。

「発明の効果」 この発明は、複数の観測点からの信号を常に直流信号に
変換しているので、これらを高速で切換えてＡ／Ｄ変換
器に供給することにより、同時的な処理を行なうことが
でき、相互に関連ある複数の調整素子を短時間に調整す
ることができる。然も、マイクロコンピュータ−システ
ムにより直接、パルスモータ−に対する駆動信号を形成
せずに、パルスモータ−制御器群を設け、マイクロコン
ピュータ−システムは、これに対する指令を発生するだ
けで良い。したがって、マイクロコンピュータ−システ
ムが同時的に複数の調整、検査の処理を行なうことがで
き、検査、調整の時間を大幅に短縮化することができる
。

この発明は、被調整基板の回路応答、遅れ要素。

無駄時間要素に対しては、予め、遅れ量、無駄時間量を
データとして与え、演算処理することにより、必要以上
に余裕を設ける必要がなく、調整時間の遅れを最小限に
おさえることができる。また、プログラムによって複雑
な判断を伴う調整を処理することが可能である。

【図面の簡単な説明】

図はこの発明の一実施例のブロック図である。 １…・・・・・・・・・マイクロコンピュータ−システ
ム、２・・・・・・−・・・・・入力信号発生器群、３
・・・・・・・・・・・・入力信号選択器、４・・・・
・・・・・・・・アナログ出力信号処理回路群、５・・
・・・・・・・・・・出力信号切換器、６・・・・・・
・・・・・・Ａ／Ｄ変換器。 ７・・・・、・・・・・・・・ディジタル入力信号処理
回路群、８・・・・・・・・・・・・ディジタル出力信
号処理回路群、９・・・・・・・・・・・・ノくルスモ
ーター制御器群、１０・・・・・・・・・・・・ノくル
スモータ一群、１１・・・・・・・・・・・・動力伝達
ユニット群、１２・・・・・・・・・・・・ピン治具、
１３・・・・・・・・・・・・被調整基板。 代理人杉浦正知

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被調整基板に必要な入力信号を発生する入力信号発生器
   群と、上記被調整基板の観測点からのアナログ出力信号
   を直流電圧出力に変換するアナログ出力信号処理回路群
   と、このアナログ出力信号処理回路群から観測量に比“
   例する直流電圧出力群のうちの一つを取り出す出力切換
   器と、この出力切換器に接続されたアナログ・ディジタ
   ル変換器と、装置全体の制御と調整検査に必要な演算を
   行うマイクロコンピュータ−システムと、マイクロコン
   −ニーターの制御によりパルスモータ−を制御するパル
   スモータ−制御器群と、被調整素子を回転させる駆動力
   を発生するパルスモータ一群と、上記パルスモータ−の
   駆動力を上記被調整素子に伝達する動力伝達ユニット群
   と、上記被調整基板に対する電源供給、信号入出力を行
   なうピン治具とを備えたことを特徴とする自動調整検査
   装置。