JPS62151586A - 透明酸化インジウム膜の微細加工法 - Google Patents

透明酸化インジウム膜の微細加工法

Info

Publication number
JPS62151586A
JPS62151586A JP29380385A JP29380385A JPS62151586A JP S62151586 A JPS62151586 A JP S62151586A JP 29380385 A JP29380385 A JP 29380385A JP 29380385 A JP29380385 A JP 29380385A JP S62151586 A JPS62151586 A JP S62151586A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
indium oxide
oxide film
transparent indium
film
finely
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29380385A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Yamazoe
山添 博司
Katsuhiko Kumakawa
克彦 熊川
Keisuke Tsuda
津田 圭介
Isao Oota
勲夫 太田
Hisahide Wakita
尚英 脇田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP29380385A priority Critical patent/JPS62151586A/ja
Publication of JPS62151586A publication Critical patent/JPS62151586A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 所定の基板、たとえばガラス基板上の微細加工された透
明酸化インジウム膜は、液晶ディスプレイや電場発光デ
ィスプレイ、さらにはプラズマ・ディスプレイ等の表示
デバイス、あるいは撮像デバイス等に広く使われている
本発明は、これらの微細加工された透明酸化インジウム
膜を製造する方法に関するものである。
なお、一般に、導電率の見地から透明酸化インジウム膜
は若干の錫(S n)を含んでいる。
従来の技術 従来、10ミクロン・メートル(以後・μmと記す)以
下の微細な形状の透明インジウム膜を得る方法としては
、所定の基板全面に形成された透明酸化インジウム膜上
に、所望の形状のフィト・レジスト膜をフォト・リソグ
ラフィー法で形成し、しかる後、塩化第1鉄(FeCj
!z 、6H2O)と塩酸の水溶液で前記透明酸化イン
ジウム膜を腐蝕、微細加工して得るものが一般的である
。この場合、前記水溶液の温度は、約40〜50℃が望
ましい。
発明が解決しようとする問題点 前述の従来の技術によれば、前記腐蝕のため、前記透明
酸化インジウム膜を前記水溶液に浸漬する時間を若干で
も長くすると、前記透明酸化インジウム膜は前記フォト
・レジスト膜の形状より、大きくサイド・エッチされる
。また、甚しい場合は、前記フォト・レジスト膜の一部
が前記透明酸化インジウム膜より剥離する。また、前述
の浸漬時間が若干短い場合には、除去さるべき前記透明
酸化インジウム膜が若干、残存し、不都合を起こす。す
なわち、前記の浸漬時間は、前記水溶液の温度と、相関
して厳密に制御する必要があり、前記透明酸化インジウ
ム膜が大面積となると、前記透明酸化インジウム膜の′
RL細加工時の製造歩留りは大きく劣化する。
ちなみに、シート抵抗が10Ω/口(膜厚にして約2O
00人強)の透明酸化インジウム膜を、温度45℃の前
記水溶液で微細加工する場合、1分生では、微細加工は
不完全であり、1分45秒では数μm程度のサイド・エ
ッチが生じた。
問題点を解決するための手段 本発明は、前述のような問題点を解決するために、所定
の基板上に形成された透明酸化インジウム膜上に、クロ
ム膜を形成し、前記クロム膜を微細加工し、つぎに、塩
化第1鉄と塩酸の水溶液で前記クロム膜をマスクとして
前記透明酸化インジウム膜を腐蝕、微細加工することを
特徴とする透明酸化インジウム膜の微細加工法を提供す
るものである。さらに、本発明は前記クロム膜の厚みが
800人以上であるような前記微細加工法を提供するも
のである。
作用 本発明によれば、前記透明酸化インジウム膜を塩化第1
鉄と塩酸の水溶液に著しく長く浸漬・腐蝕しても、前記
透明酸化インジウム膜のサイド・エッチ量は数μm程度
に抑えられる。すなわち、本発明は前記水溶液の浸漬時
間の許容巾を拡大し、前記透明酸化インジウム膜の微細
加工時の製造歩留りを大きく向上させるものである。
前述の事象に対する理由は以下の如くであると想定され
る。まず、クロム膜上のフォト・レジスト膜の密着性は
、透明酸化インジウム膜上のそれに比べて著しく向上し
ており、剥離に対する抵抗力は大きいと考えられる。つ
ぎに、クロム膜の微細加工の際には、サイド・エッチ量
の少ない、微細加工に適合した腐蝕液が存在する。これ
は、たとえば硝酸第2セリウム・アンモニウム(Ce(
No:l)4 −2 (NH,Noz))と過塩素酸と
の水溶液等がある。さらに、クロム膜は酸に対する耐性
が高く、透明酸化インジウム膜の腐蝕液、すなわち、塩
化第1鉄と塩酸との水溶液に対して腐蝕速度は格段に小
さく、透明酸化インジウム膜の腐蝕の際、十分マスクと
なるものである。
さらに、前記クロム膜は、通常スパッター法ないし蒸着
法で形成されるが、この膜に欠陥がなく、十分マスクと
して機能するためには、この膜の厚みは800Å以上が
望ましい。
実施例 シート抵抗が10Ω/口の透明酸化インジウム膜を付着
せしめたガラス板を購入した。
つぎに、よく洗浄の後、直流スパッター法でクロムを透
明酸化インジウム膜全面に被覆した。サンプルAは前述
のクロム膜の厚みを1000人、サンプル らに比較例としてこの過程を省いたものをサンプルDと
した。
つぎに、東京応化製ポジ・フォト・レジスト、OFPI
? − 800及び通常のフォト・リソグラフィー法で
もって所望のフォト・レジスト膜のパターンをサンプル
A,BSC,Dの表面に形成した。
さらに、室温の硝酸第2セリウム・アンモニウム(Ce
 (NO3 )4・2 (NH4 NOi ) )と過
塩素酸との水溶液に、サンプルA..BSCを1〜3分
浸漬、クロム膜を腐蝕、微細加工した。前述の浸漬の時
間を目視により調節した。この時の、顕微鏡による観察
によれば、透明酸化インジウム膜は全く腐蝕されず、ク
ロム膜のサイド・エッチ■も1μm以内であった。
つぎに、45°Cに保たれた塩化第1鉄(FCC7!2
・6 H□0)と塩酸の水溶液にサンプルASB。
C,Dを3分浸漬、透明酸化インジウム膜を腐蝕、微細
加工した。さらによく水洗し、乾燥させた。
顕微鏡観察によれば、サンプルA,B,Cは透明酸化イ
ンジウム膜のクロム膜に対するサイド・エッチ量は1μ
m以内であった。だが、サンプルCでは、ところどころ
、所望の透明酸化インジウム膜は虫喰い状に穴がおいて
いた。これは、透明酸化インジウム膜の腐蝕の過程にお
いて、前記フォト・レジスト膜が剥離し、マスクたるべ
きクロム膜の欠陥を通して透明酸化インジウム膜の腐蝕
が進行したと考えられる。サンプルDでは、前記サイド
・エッチ量は優に10μmを越えていると見積もられ、
小さな所望の透明酸化インジウムのパターンは消失して
いた。
発明の効果 以上、本発明は、透明酸化インジウム膜の微細加工の歩
留りを向上させることに資するものであり、産業上の価
値は大なるものがある。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定の基板上に形成された透明酸化インジウム膜
    上に、クロム膜を形成し、前記クロム膜を微細加工し、
    つぎに、塩化第1鉄(FeCl_2・6H_2O)と塩
    酸の水溶液で前記クロム膜をマスクとして前記透明酸化
    インジウム膜を腐蝕、微細加工することを特徴とする透
    明酸化インジウム膜の微細加工法。
  2. (2)クロム膜の厚みが800Å以上であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の透明酸化インジウム
    膜の微細加工法。
JP29380385A 1985-12-26 1985-12-26 透明酸化インジウム膜の微細加工法 Pending JPS62151586A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29380385A JPS62151586A (ja) 1985-12-26 1985-12-26 透明酸化インジウム膜の微細加工法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29380385A JPS62151586A (ja) 1985-12-26 1985-12-26 透明酸化インジウム膜の微細加工法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62151586A true JPS62151586A (ja) 1987-07-06

Family

ID=17799351

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29380385A Pending JPS62151586A (ja) 1985-12-26 1985-12-26 透明酸化インジウム膜の微細加工法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62151586A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61246379A (ja) オリフィスプレート及びその製造方法
JPS6019608B2 (ja) 電極パタ−ン形成方法
EP0418333B1 (en) Composition and method for stripping tin or tin-lead alloy from copper surfaces
JPS62151586A (ja) 透明酸化インジウム膜の微細加工法
JP2000239891A (ja) 塗装面の製造方法
JPH0245711B2 (ja) Kinhakumakunoetsuchinguhoho
JPS63300954A (ja) 微小白金電極の製造法
JPS58120780A (ja) 透明導電膜のエツチング法
JPS5826121B2 (ja) 透明導電膜精密パタ−ン形成法
JPH11140668A (ja) 非導電性基板に導電性パタ−ンを形成させる方法
SU902682A3 (ru) Способ получени микроструктур
JPH0113097B2 (ja)
JP3140574B2 (ja) 電着基板および電着転写方法
JPH09249980A (ja) 金属材料の湿式エッチング方法
JPS5864383A (ja) 金薄膜のエツチング方法
JPS61276327A (ja) 微細加工法
JPS6396280A (ja) 金型
JPS63318561A (ja) ハ−ドマスクの製造方法
JPH06349351A (ja) 透明導電膜のパターン化方法
JPH05313177A (ja) 表示装置用基板の製法
JP2949615B2 (ja) 付着膜の剥離方法
CN114164402A (zh) 一种用于晶圆湿法腐蚀工艺的金属掩膜制备方法
JPH01318279A (ja) 耐酸性薄膜パターンの作製方法
JPH0641799A (ja) センダスト及びクロム膜のパターンエッチング法
JPH11106897A (ja) スパッタリングマスクの再生方法