JPS62149157U - - Google Patents

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JPS62149157U
JPS62149157U JP3735086U JP3735086U JPS62149157U JP S62149157 U JPS62149157 U JP S62149157U JP 3735086 U JP3735086 U JP 3735086U JP 3735086 U JP3735086 U JP 3735086U JP S62149157 U JPS62149157 U JP S62149157U
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JP
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sample
spectrometer
dispersive
aperture
rays
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一実施例の構成図である。 1:電子銃、2:電子線、3:集束レンズ、5
:試料、6:EDS分光器、7:X線、8:ED
S分光器の前方に配置された絞り、9:絞り可変
駆動部、10:絞り駆動電源、11:励磁増幅器
、12:演算制御回路、13:CPU BUS、
14:WDS分光器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子銃よりの電子線を集束して試料に照射する
    電子線による照射電流を可変する電子レンズと、
    該試料への電子線の照射によつて該試料より発生
    するX線のうち特定波長のX線を検出する波長分
    散型X線分光器と、該試料より発生するX線をエ
    ネルギーに応じて分析するエネルギー分散型X線
    分光器を備えた装置において、前記エネルギー分
    散型X線分光器の前方に配置され試料より分光器
    に入射するX線の検出立体角を可変する絞りと、
    該電子レンズの励磁信号を変化させると共に、該
    励磁信号に対応した前記絞りの最適絞り穴径を演
    算する演算制御手段とを具備し、該演算制御手段
    よりの信号に基づいて該絞りの穴径を変化させて
    分光器に入射するX線の検出立体角を変化させる
    ように構成したことを特徴とするX線分析装置。
JP3735086U 1986-03-14 1986-03-14 Pending JPS62149157U (ja)

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JPS62149157U true JPS62149157U (ja) 1987-09-21

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ID=30848600

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JP3735086U Pending JPS62149157U (ja) 1986-03-14 1986-03-14

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5595263A (en) * 1979-01-12 1980-07-19 Hitachi Ltd X-ray analyzer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5595263A (en) * 1979-01-12 1980-07-19 Hitachi Ltd X-ray analyzer

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