JPH0676976B2 - 油中ニツケル／バナジウム検出装置 - Google Patents
油中ニツケル／バナジウム検出装置Info
- Publication number
- JPH0676976B2 JPH0676976B2 JP60124597A JP12459785A JPH0676976B2 JP H0676976 B2 JPH0676976 B2 JP H0676976B2 JP 60124597 A JP60124597 A JP 60124597A JP 12459785 A JP12459785 A JP 12459785A JP H0676976 B2 JPH0676976 B2 JP H0676976B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oil
- ray
- measured
- nickel
- rays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、原油や重油などの油中に含まれる重元素であ
るニッケル（Ni）とバナジウム（Ｖ）の存否あるいは濃
度等を測定するための油中ニッケル／バナジウム検出装
置に関する。
るニッケル（Ni）とバナジウム（Ｖ）の存否あるいは濃
度等を測定するための油中ニッケル／バナジウム検出装
置に関する。
〔従来の技術〕 従来の油中ニッケル／バナジウム検出装置としては、原
子吸収法を利用した方式のものと、波長分散型の螢光Ｘ
線分析法を利用した方式のものが知られている。
子吸収法を利用した方式のものと、波長分散型の螢光Ｘ
線分析法を利用した方式のものが知られている。
しかしながら、前者の原子吸収法を利用した方式のもの
では、被測定油を濃硫酸で加熱炭化処理した後、更に、
575℃で乾式灰化処理して試薬に溶解させる、という非
常に面倒で長時間を要する被測定油の前処理作業が必要
である、という欠点があった。即ち、例えば処理すべき
被測定油量が20gの場合、加熱炭化処理に20時間、乾式
灰化処理に一晩もかかり、また、加熱炭化処理に際して
は、突沸防止のために加熱温度の微妙な調整や撹拌を常
時行わねばならない。
では、被測定油を濃硫酸で加熱炭化処理した後、更に、
575℃で乾式灰化処理して試薬に溶解させる、という非
常に面倒で長時間を要する被測定油の前処理作業が必要
である、という欠点があった。即ち、例えば処理すべき
被測定油量が20gの場合、加熱炭化処理に20時間、乾式
灰化処理に一晩もかかり、また、加熱炭化処理に際して
は、突沸防止のために加熱温度の微妙な調整や撹拌を常
時行わねばならない。
また、後者の波長分散型螢光Ｘ線分析法を利用した方式
のものでは、被測定油を収納する試料セルから波長分散
型螢光Ｘ線検出器までの螢光Ｘ線測定径路を充分に長く
とる必要があり、またそれ故に、その長い測定径路にお
いて螢光Ｘ線が吸収されて減衰することが無いように、
その測定径路を真空状態に維持する構成としなければな
らず、従って、真空中での被測定油の沸騰による分散を
避けるために、上記した原子吸収法を利用した方式のも
のにおけると同様な被測定油の灰化処理、ならびに、そ
の灰化処理された試料の溶融ガラス化、といったやはり
非常に面倒で長時間を要する被測定油の前処理作業が必
要であると共に、装置全体が大型かつ複雑なものにな
る、という欠点があった。
のものでは、被測定油を収納する試料セルから波長分散
型螢光Ｘ線検出器までの螢光Ｘ線測定径路を充分に長く
とる必要があり、またそれ故に、その長い測定径路にお
いて螢光Ｘ線が吸収されて減衰することが無いように、
その測定径路を真空状態に維持する構成としなければな
らず、従って、真空中での被測定油の沸騰による分散を
避けるために、上記した原子吸収法を利用した方式のも
のにおけると同様な被測定油の灰化処理、ならびに、そ
の灰化処理された試料の溶融ガラス化、といったやはり
非常に面倒で長時間を要する被測定油の前処理作業が必
要であると共に、装置全体が大型かつ複雑なものにな
る、という欠点があった。
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであって、そ
の目的は、従来必要としていた非常に面倒で長時間を要
する被測定油の前処理作業を不要にできると共に、装置
全体を比較的小型かつ簡素に構成でき、しかも、精度の
高い検出を行える油中ニッケル／バナジウム検出装置を
提供せんとすることにある。
の目的は、従来必要としていた非常に面倒で長時間を要
する被測定油の前処理作業を不要にできると共に、装置
全体を比較的小型かつ簡素に構成でき、しかも、精度の
高い検出を行える油中ニッケル／バナジウム検出装置を
提供せんとすることにある。
上記目的を達成するために、本発明による油中ニッケル
／バナジウム検出装置は、被測定油を収納する試料セル
に対して、ターゲット方式のＸ線管から発射された後で
鉄（Fe）フィルターを通過させられたＸ線を照射するよ
うに構成すると共に、その照射Ｘ線を受けて前記試料セ
ル中の被測定油において励起された螢光Ｘ線を検出する
エネルギー分散型螢光Ｘ線検出器を設けてある、という
特徴を備えている。
／バナジウム検出装置は、被測定油を収納する試料セル
に対して、ターゲット方式のＸ線管から発射された後で
鉄（Fe）フィルターを通過させられたＸ線を照射するよ
うに構成すると共に、その照射Ｘ線を受けて前記試料セ
ル中の被測定油において励起された螢光Ｘ線を検出する
エネルギー分散型螢光Ｘ線検出器を設けてある、という
特徴を備えている。
かかる特徴構成故に発揮される作用は次の通りである。
即ち、本発明装置では、試料セル中の被測定油において
照射Ｘ線により励起された螢光Ｘ線をエネルギー分散型
螢光Ｘ線検出器で検出する、というようにエネルギー分
散型の螢光Ｘ線分析法を利用した方式を採用しているか
ら、従来の波長分散型螢光Ｘ線分析法を利用した方式の
もののように、螢光Ｘ線測定径路を長くとったり、その
測定径路を真空状態に維持する構成としなくてもよく、
従って、被測定油に対して加熱炭化処理や灰化処理ある
いは試料の溶融ガラス化、といった非常に面倒で長時間
を要する被測定油の前処理作業を行う必要が無く、被測
定油を空気中においてそのままの状態で測定試料として
用いることができると共に、装置全体を小型で簡素な構
造のものに構成できる。
照射Ｘ線により励起された螢光Ｘ線をエネルギー分散型
螢光Ｘ線検出器で検出する、というようにエネルギー分
散型の螢光Ｘ線分析法を利用した方式を採用しているか
ら、従来の波長分散型螢光Ｘ線分析法を利用した方式の
もののように、螢光Ｘ線測定径路を長くとったり、その
測定径路を真空状態に維持する構成としなくてもよく、
従って、被測定油に対して加熱炭化処理や灰化処理ある
いは試料の溶融ガラス化、といった非常に面倒で長時間
を要する被測定油の前処理作業を行う必要が無く、被測
定油を空気中においてそのままの状態で測定試料として
用いることができると共に、装置全体を小型で簡素な構
造のものに構成できる。
更に、被測定油を収納する試料セルに対して励起用Ｘ線
を照射するに際して、ターゲット方式のＸ線管から発射
されたＸ線をそのまま前記試料セルに対して直接に照射
するのでは無く、そのＸ線管から発射されたＸ線を鉄
（Fe）フィルターを通過させてから前記試料セルに対し
て照射するように構成してあるから、ニッケル（Ni）お
よびバナジウム（Ｖ）という２種類の重元素を共に、一
回の検出操作にて確実かつ精度よく検出することができ
る。
を照射するに際して、ターゲット方式のＸ線管から発射
されたＸ線をそのまま前記試料セルに対して直接に照射
するのでは無く、そのＸ線管から発射されたＸ線を鉄
（Fe）フィルターを通過させてから前記試料セルに対し
て照射するように構成してあるから、ニッケル（Ni）お
よびバナジウム（Ｖ）という２種類の重元素を共に、一
回の検出操作にて確実かつ精度よく検出することができ
る。
即ち、上記したエネルギー分散型の螢光Ｘ線分析法を利
用した方式を採用した場合には、測定対象である油の主
成分である軽元素による散乱Ｘ線がエネルギー分散型螢
光Ｘ線検出器に入って、測定したい上記ニッケル（Ni）
およびバナジウム（Ｖ）という２種類の重元素の特性Ｘ
線のバックグラウンドとなってその測定精度を悪くする
という基本的問題があること、ならびに、そのようなバ
ックグラウンドを低くするために、フィルターを用い
て、ニッケルの特性Ｘ線（Ni−Ｋα）を測定するのに最
適な条件にするとバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋα）の
測定強度が不足し、また、バナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−
Ｋα）を測定するのに最適な条件にするとニッケルの特
性Ｘ線（Ni−Ｋα）のバックグラウンドが高くなる、と
いう二律背反的な問題があることが、上記本発明装置の
開発過程において判明したのであるが、種々のフィルタ
ーを用いて実験的研究を重ねた結果、ターゲット方式の
Ｘ線管から発射されたＸ線に対して鉄（Fe）フィルター
をかけた場合には、ニッケルの特性Ｘ線（Ni−Ｋα）の
バックグラウンドが減少すると共に、ニッケルの特性Ｘ
線（Ni−Ｋα）とバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋα）の
間の連続Ｘ線によってバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋ
α）が充分に励起されるという現象、つまり二波長励起
の作用・効果が認められ、その作用・効果を利用すべく
ターゲット方式のＸ線管と試料セルとの間に鉄フィルタ
ーを配置したのである。その二波長励起について簡単に
説明すると、まず、鉄フイルターを設けない場合のター
ゲット式Ｘ線管の発射Ｘ線エネルギー分布は第３図
（イ）に示されるような、上に凸の山形状の曲線となる
のに対し、鉄フィルターを設けた場合には、第３図
（ロ）に示すように、測定対象となるバナジウム（Ｖ）
とニッケル（Ni）より少し高いＸ線エネルギーの強度が
大になり、これによりバナジウムとニッケルが励起され
やすくなるのである。
用した方式を採用した場合には、測定対象である油の主
成分である軽元素による散乱Ｘ線がエネルギー分散型螢
光Ｘ線検出器に入って、測定したい上記ニッケル（Ni）
およびバナジウム（Ｖ）という２種類の重元素の特性Ｘ
線のバックグラウンドとなってその測定精度を悪くする
という基本的問題があること、ならびに、そのようなバ
ックグラウンドを低くするために、フィルターを用い
て、ニッケルの特性Ｘ線（Ni−Ｋα）を測定するのに最
適な条件にするとバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋα）の
測定強度が不足し、また、バナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−
Ｋα）を測定するのに最適な条件にするとニッケルの特
性Ｘ線（Ni−Ｋα）のバックグラウンドが高くなる、と
いう二律背反的な問題があることが、上記本発明装置の
開発過程において判明したのであるが、種々のフィルタ
ーを用いて実験的研究を重ねた結果、ターゲット方式の
Ｘ線管から発射されたＸ線に対して鉄（Fe）フィルター
をかけた場合には、ニッケルの特性Ｘ線（Ni−Ｋα）の
バックグラウンドが減少すると共に、ニッケルの特性Ｘ
線（Ni−Ｋα）とバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋα）の
間の連続Ｘ線によってバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋ
α）が充分に励起されるという現象、つまり二波長励起
の作用・効果が認められ、その作用・効果を利用すべく
ターゲット方式のＸ線管と試料セルとの間に鉄フィルタ
ーを配置したのである。その二波長励起について簡単に
説明すると、まず、鉄フイルターを設けない場合のター
ゲット式Ｘ線管の発射Ｘ線エネルギー分布は第３図
（イ）に示されるような、上に凸の山形状の曲線となる
のに対し、鉄フィルターを設けた場合には、第３図
（ロ）に示すように、測定対象となるバナジウム（Ｖ）
とニッケル（Ni）より少し高いＸ線エネルギーの強度が
大になり、これによりバナジウムとニッケルが励起され
やすくなるのである。
以下、本発明の具体的実施例を図面に基いて説明する。
第１図は原油や重油中に含有されているニッケル（Ni）
およびバナジウム（Ｖ）の濃度を検出するための装置の
全体概略ブロック回路構成を示している。
およびバナジウム（Ｖ）の濃度を検出するための装置の
全体概略ブロック回路構成を示している。
１は金属製の励起ベンチであって、その上方には、被測
定油Ｏを収納する試料セルＳが複数個例交換可能にセッ
トされる資料テーブル２が、各試料セルＳを所定の測定
位置へ順次移動させるように駆動可能に設けられてい
る。３は、その資料テーブル２の駆動位置、つまり、ど
の試料セルＳが所定の測定位置に在るか、を検出するた
めのセンサーである。この位置センサー３の検出信号は
後記するデータ処理装置11に入力されている。なお、前
記試料セルＳは、底部にマイラー膜を貼り付けた蓋付の
セル枠体から成り、その内部に前記被測定油Ｏを注入可
能に構成されている。
定油Ｏを収納する試料セルＳが複数個例交換可能にセッ
トされる資料テーブル２が、各試料セルＳを所定の測定
位置へ順次移動させるように駆動可能に設けられてい
る。３は、その資料テーブル２の駆動位置、つまり、ど
の試料セルＳが所定の測定位置に在るか、を検出するた
めのセンサーである。この位置センサー３の検出信号は
後記するデータ処理装置11に入力されている。なお、前
記試料セルＳは、底部にマイラー膜を貼り付けた蓋付の
セル枠体から成り、その内部に前記被測定油Ｏを注入可
能に構成されている。
前記励起ベンチ１の側部には、前記所定の測定位置にあ
る試料セルＳに向けてＸ線を発射するタングステン
（Ｗ）ターゲット方式のＸ線管４が固設され、そのＸ線
管４のＸ線発射口の直前位置に鉄（Fe）フィルター５が
付設されている。つまり、そのＸ線管４から発射された
一次Ｘ線は、鉄（Fe）フィルター５を通過した二次Ｘ線
となって、前記所定の測定位置にある試料セルＳ中の被
測定油Ｏに照射されるのである。なお、図中、6,7は、
夫々、前記Ｘ線管４に対する電流・電圧制御回路および
高圧電源供給回路を示している。
る試料セルＳに向けてＸ線を発射するタングステン
（Ｗ）ターゲット方式のＸ線管４が固設され、そのＸ線
管４のＸ線発射口の直前位置に鉄（Fe）フィルター５が
付設されている。つまり、そのＸ線管４から発射された
一次Ｘ線は、鉄（Fe）フィルター５を通過した二次Ｘ線
となって、前記所定の測定位置にある試料セルＳ中の被
測定油Ｏに照射されるのである。なお、図中、6,7は、
夫々、前記Ｘ線管４に対する電流・電圧制御回路および
高圧電源供給回路を示している。
また、前記励起ベンチ１の底部には、前記試料セルＳ中
の被測定油Ｏにおいて、前記鉄（Fe）フィルター５を通
過して照射された二次Ｘ線を受けて励起された螢光Ｘ線
を検出するエネルギー分散型螢光Ｘ線検出器８が固設さ
れている。この螢光Ｘ線検出器８は、内蔵プリアンプ
（図示ぜず）と冷却用デュワー8aを備えている。９は、
その螢光Ｘ線検出器８の内蔵プリアンプ等に対する電源
回路である。
の被測定油Ｏにおいて、前記鉄（Fe）フィルター５を通
過して照射された二次Ｘ線を受けて励起された螢光Ｘ線
を検出するエネルギー分散型螢光Ｘ線検出器８が固設さ
れている。この螢光Ｘ線検出器８は、内蔵プリアンプ
（図示ぜず）と冷却用デュワー8aを備えている。９は、
その螢光Ｘ線検出器８の内蔵プリアンプ等に対する電源
回路である。
前記エネルギー分散型螢光Ｘ線検出器８による前記螢光
Ｘ線の検出信号は、リニアアンプ10を介してマイクロコ
ンピュータを主要部とするデータ処理装置11に入力さ
れ、このデータ処理装置11において前記螢光Ｘ線のエネ
ルギースペクトル解析が行なわれ、被測定油Ｏ中に含有
されているニッケル（Ni）およびバナジウム（Ｖ）の濃
度が測定される。そして、そのデータ処理装置11による
解析結果はCRT或いはプリンターなどの出力装置12に出
力される。
Ｘ線の検出信号は、リニアアンプ10を介してマイクロコ
ンピュータを主要部とするデータ処理装置11に入力さ
れ、このデータ処理装置11において前記螢光Ｘ線のエネ
ルギースペクトル解析が行なわれ、被測定油Ｏ中に含有
されているニッケル（Ni）およびバナジウム（Ｖ）の濃
度が測定される。そして、そのデータ処理装置11による
解析結果はCRT或いはプリンターなどの出力装置12に出
力される。
第２図は、上記のように構成された油中ニッケル／バナ
ジウム検出装置による測定されたエネルギースペクトル
の一例を示すグラフである。
ジウム検出装置による測定されたエネルギースペクトル
の一例を示すグラフである。
この図から判るように、本発明装置によれば、鉄フィル
ターの二波長励起効果によって、ニッケルの特性Ｘ線
（Ni−Ｋα）もバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋα）も、
共に、バックグラウンドが少ない状態で確実に検出され
ている。
ターの二波長励起効果によって、ニッケルの特性Ｘ線
（Ni−Ｋα）もバナジウムの特性Ｘ線（Ｖ−Ｋα）も、
共に、バックグラウンドが少ない状態で確実に検出され
ている。
以上詳述したところから明らかなように、本発明に係る
油中ニッケル／バナジウム検出装置によれば、エネルギ
ー分散型の螢光Ｘ線分析法を利用した方式を採用したこ
とにより、従来の原子吸収法や波長分散型螢光Ｘ線分析
法を利用した方式のもののように、被測定油に対して加
熱炭化処理や灰化処理あるいは試料の溶融ガラス化、と
いった非常に面倒で長時間を要する被測定油の前処理作
業を全く行う必要が無く、更にまた、ターゲット方式の
Ｘ線管から発射されたＸ線を鉄（Fe）フィルターを通過
させてから試料セルに対して照射するように構成してあ
るから、その鉄フィルターによる二波長励起の効果によ
って、ニッケル（Ni）およびバナジウム（Ｖ）という２
種類の重元素を共に、ごく短時間で済む一回の測定操作
にて極めて能率的にしかも確実かつ精度良く検出するこ
とができ、その上、従来の波長分散型螢光Ｘ線分析法を
利用した方式のもののように、螢光Ｘ線測定径路を長く
とったり、その測定径路を真空状態に維持する構成とし
なくてもよいから、装置全体を非常に小型で簡素な構造
のものに構成できる、といった種々の効果が発揮され
る。
油中ニッケル／バナジウム検出装置によれば、エネルギ
ー分散型の螢光Ｘ線分析法を利用した方式を採用したこ
とにより、従来の原子吸収法や波長分散型螢光Ｘ線分析
法を利用した方式のもののように、被測定油に対して加
熱炭化処理や灰化処理あるいは試料の溶融ガラス化、と
いった非常に面倒で長時間を要する被測定油の前処理作
業を全く行う必要が無く、更にまた、ターゲット方式の
Ｘ線管から発射されたＸ線を鉄（Fe）フィルターを通過
させてから試料セルに対して照射するように構成してあ
るから、その鉄フィルターによる二波長励起の効果によ
って、ニッケル（Ni）およびバナジウム（Ｖ）という２
種類の重元素を共に、ごく短時間で済む一回の測定操作
にて極めて能率的にしかも確実かつ精度良く検出するこ
とができ、その上、従来の波長分散型螢光Ｘ線分析法を
利用した方式のもののように、螢光Ｘ線測定径路を長く
とったり、その測定径路を真空状態に維持する構成とし
なくてもよいから、装置全体を非常に小型で簡素な構造
のものに構成できる、といった種々の効果が発揮され
る。
図面は本発明に係る油中ニッケル／バナジウム検出装置
の具体的実施例を示し、第１図は全体概略ブロック回路
構成図、そして、第２図は検出結果の一例としてのエネ
ルギースペクトルのグラフ、第３図（イ）は鉄フィルタ
ーを設けない場合のＸ線のエネルギースペクトルを示す
グラフ、（ロ）は鉄フィルターを設けた場合のエネルギ
ースペクトルを示すグラフである。 ４……ターゲット方式のＸ線管、５……鉄（Fe）フィル
ター、８……エネルギー分散型螢光Ｘ線検出器、Ｏ……
被測定油、Ｓ……試料セル。
の具体的実施例を示し、第１図は全体概略ブロック回路
構成図、そして、第２図は検出結果の一例としてのエネ
ルギースペクトルのグラフ、第３図（イ）は鉄フィルタ
ーを設けない場合のＸ線のエネルギースペクトルを示す
グラフ、（ロ）は鉄フィルターを設けた場合のエネルギ
ースペクトルを示すグラフである。 ４……ターゲット方式のＸ線管、５……鉄（Fe）フィル
ター、８……エネルギー分散型螢光Ｘ線検出器、Ｏ……
被測定油、Ｓ……試料セル。
Claims (1)
- 【請求項１】ターゲット方式のＸ線管と、被測定油を収
納した試料セルとの間に鉄フィルターを配置し、そのＸ
線管から放射された一次Ｘ線を鉄フィルターを介して前
記被測定油に照射させ、その照射Ｘ線を受けて励起され
た被測定油から放射される螢光Ｘ線を検出できる位置に
エネルギー分散型螢光Ｘ線検出器を設けてなることを特
徴とする油中ニッケル／バナジウム検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60124597A JPH0676976B2 (ja) | 1985-06-08 | 1985-06-08 | 油中ニツケル／バナジウム検出装置 |
| US06/844,018 US4720842A (en) | 1985-06-08 | 1986-03-25 | Apparatus for detecting nickel/vanadium contained in oil |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60124597A JPH0676976B2 (ja) | 1985-06-08 | 1985-06-08 | 油中ニツケル／バナジウム検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61283859A JPS61283859A (ja) | 1986-12-13 |
| JPH0676976B2 true JPH0676976B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=14889389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60124597A Expired - Lifetime JPH0676976B2 (ja) | 1985-06-08 | 1985-06-08 | 油中ニツケル／バナジウム検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4720842A (ja) |
| JP (1) | JPH0676976B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3166638B2 (ja) * | 1996-11-29 | 2001-05-14 | 株式会社島津製作所 | 蛍光ｘ線分析装置 |
| DE19820321B4 (de) * | 1998-05-07 | 2004-09-16 | Bruker Axs Gmbh | Kompaktes Röntgenspektrometer |
| WO2001036966A2 (en) | 1999-11-19 | 2001-05-25 | Battelle Memorial Institute | An apparatus for machine fluid analysis |
| US6668039B2 (en) | 2002-01-07 | 2003-12-23 | Battelle Memorial Institute | Compact X-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis |
| US6859517B2 (en) * | 2003-04-22 | 2005-02-22 | Battelle Memorial Institute | Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis |
| US7184515B2 (en) * | 2004-09-24 | 2007-02-27 | Battelle Memorial Institute | Component specific machine wear determination with x-ray fluorescence spectrometry |
| JP4874118B2 (ja) * | 2004-11-08 | 2012-02-15 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP4854005B2 (ja) * | 2006-02-24 | 2012-01-11 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2013156172A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | X-Ray Precision Inc | Ｘ線検査装置 |
| DE102012110321A1 (de) * | 2012-10-29 | 2014-04-30 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | System zum Untersuchen von Motorenöl |
| CN104198508B (zh) * | 2014-09-30 | 2017-12-08 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | 一种具有滤光片切换功能的食品重金属检测仪 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3919548A (en) * | 1974-07-24 | 1975-11-11 | David E Porter | X-Ray energy spectrometer system |
| JPS5139580U (ja) * | 1974-09-18 | 1976-03-24 | ||
| SE428974B (sv) * | 1979-02-07 | 1983-08-01 | Nils Johannes Baecklund | Sett att medelst rontgenstralning meta halten av ett forutbestemt emne i ett prov |
| JPS57179705A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Method and device for measuring thickness of alloy plating |
-
1985
- 1985-06-08 JP JP60124597A patent/JPH0676976B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-03-25 US US06/844,018 patent/US4720842A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4720842A (en) | 1988-01-19 |
| JPS61283859A (ja) | 1986-12-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3919548A (en) | X-Ray energy spectrometer system | |
| JPH0676976B2 (ja) | 油中ニツケル／バナジウム検出装置 | |
| JPH08136480A (ja) | 油中硫黄分測定装置 | |
| JP2759054B2 (ja) | 体液標本を測定する方法 | |
| EP4252836A1 (en) | Neutron capture therapy device and correction method therefor | |
| Wobrauschek et al. | X-ray fluorescence analysis in the ng region using total reflection of the primary beam | |
| ATE116061T1 (de) | Erzanalyse. | |
| US3944822A (en) | Polarization excitation device for X-ray fluorescence analysis | |
| US4016419A (en) | Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer | |
| US4128336A (en) | Spectroscopic apparatus and method | |
| US4283625A (en) | X-Ray fluorescence analysis | |
| EP0766083A2 (en) | X-ray fluorescence inspection apparatus and method | |
| US3404270A (en) | Radioactive isotope-activated light source for color photometer | |
| JPH0228819B2 (ja) | Metsukiekibunsekisochi | |
| Raith et al. | Trace element detection sensitivity in PIXE analysis by means of an external proton beam | |
| Matosek et al. | Spectrometric analysis of non-metals introduced from a graphite furnace into a microwave-induced plasma | |
| Ida et al. | X-ray fluorescence analysis at mg l− 1 level with an X-ray source powered by a dry battery | |
| US4402606A (en) | Optogalvanic intracavity quantitative detector and method for its use | |
| JPH01156646A (ja) | 蛍光ｘ線分析方法 | |
| Lamola et al. | Recommended standards for reporting photochemical data (Recommendations 1983) | |
| US3163754A (en) | Thermally excited x-ray spectrometer | |
| US3855475A (en) | Uv-spectrographic analysis of beryllium and carbon for determining nuclear reactor fuel element consumption | |
| US4349738A (en) | Method of measuring the content of given element in a sample by means of X-ray radiation | |
| JP2539558B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| SU1224689A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа состава вещеста |