JP2539558B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JP2539558B2 JP2539558B2 JP3211806A JP21180691A JP2539558B2 JP 2539558 B2 JP2539558 B2 JP 2539558B2 JP 3211806 A JP3211806 A JP 3211806A JP 21180691 A JP21180691 A JP 21180691A JP 2539558 B2 JP2539558 B2 JP 2539558B2
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- unit
- liquid sample
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液体試料の分析を連続
的に実施可能な自動分析装置に関する。
的に実施可能な自動分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、蛍光Ｘ線分析は、試料の前処理
が簡単であること、操作が簡単で測定時間も短く、検出
感度が高いこと、スペクトル的に測定元素の分離定量が
可能であること等から、各種の技術分野において広く利
用されている。例えば、海水、河川水、湖沼水、工業用
水、排水等について環境保全のための水質監視がなさ
れ、また各種飲料等については品質確保のための品質管
理を目的として蛍光Ｘ線分析が利用されている。
が簡単であること、操作が簡単で測定時間も短く、検出
感度が高いこと、スペクトル的に測定元素の分離定量が
可能であること等から、各種の技術分野において広く利
用されている。例えば、海水、河川水、湖沼水、工業用
水、排水等について環境保全のための水質監視がなさ
れ、また各種飲料等については品質確保のための品質管
理を目的として蛍光Ｘ線分析が利用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の蛍光Ｘ線分析は、各試料毎に個別に分析操作
を行うため、操作時間に長時間を有し、操作が煩雑にな
るという問題がある。本発明は、このような問題点を解
決するためになされたもので、複数の試料について連続
的に高検出度で分析可能な自動分析装置を提供すること
を目的とする。
うな従来の蛍光Ｘ線分析は、各試料毎に個別に分析操作
を行うため、操作時間に長時間を有し、操作が煩雑にな
るという問題がある。本発明は、このような問題点を解
決するためになされたもので、複数の試料について連続
的に高検出度で分析可能な自動分析装置を提供すること
を目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の第１発明による自動分析装置は、液体試料を
担持可能な担持体と、前記担持体を搬送する担持体駆動
部と、前記担持体上に液体試料を点滴する液体試料供給
部と、前記担持体上の液体試料を乾燥して固着する乾燥
部と、前記固着された試料にＸ線を照射するＸ線発生部
と、Ｘ線スペクトルを検出する検出部と、前記担持体駆
動部、前記液体試料供給部、前記乾燥部および前記Ｘ線
発生部の１つ以上を制御し、かつ前記検出部からの入力
信号に基づき複数の試料を蛍光Ｘ線分析する制御装置と
を備えたことを特徴とする。前記坦持体は、金属フィル
ムを用いるのが望ましい。
の本発明の第１発明による自動分析装置は、液体試料を
担持可能な担持体と、前記担持体を搬送する担持体駆動
部と、前記担持体上に液体試料を点滴する液体試料供給
部と、前記担持体上の液体試料を乾燥して固着する乾燥
部と、前記固着された試料にＸ線を照射するＸ線発生部
と、Ｘ線スペクトルを検出する検出部と、前記担持体駆
動部、前記液体試料供給部、前記乾燥部および前記Ｘ線
発生部の１つ以上を制御し、かつ前記検出部からの入力
信号に基づき複数の試料を蛍光Ｘ線分析する制御装置と
を備えたことを特徴とする。前記坦持体は、金属フィル
ムを用いるのが望ましい。
【０００５】第２発明による自動分析装置は、液体試料
を担持可能な担持体と、前記担持体を搬送する担持体駆
動部と、前記担持体上に液体試料を点滴する液体試料供
給部と、前記担持体上の液体試料を乾燥して固着する乾
燥部と、前記固着された試料に赤外線を照射する赤外線
発生部と、赤外線吸収スペクトルを検出する検出部と、
前記担持体駆動部、前記液体試料供給部、前記乾燥部お
よび前記赤外線発生部の１つ以上を制御し、かつ前記検
出部からの入力信号に基づき複数の試料を赤外分光分析
する制御装置とを備えたことを特徴とする。前記坦持体
は、金属フィルムを用いるのが望ましい。
を担持可能な担持体と、前記担持体を搬送する担持体駆
動部と、前記担持体上に液体試料を点滴する液体試料供
給部と、前記担持体上の液体試料を乾燥して固着する乾
燥部と、前記固着された試料に赤外線を照射する赤外線
発生部と、赤外線吸収スペクトルを検出する検出部と、
前記担持体駆動部、前記液体試料供給部、前記乾燥部お
よび前記赤外線発生部の１つ以上を制御し、かつ前記検
出部からの入力信号に基づき複数の試料を赤外分光分析
する制御装置とを備えたことを特徴とする。前記坦持体
は、金属フィルムを用いるのが望ましい。
【０００６】
【作用】本発明の自動分析装置によると、従来技術に比
較し測定元素の制限が少なく、微量分析、少量分析も可
能で、検出感度が高く、連続的に多数の試料を分析可能
である。ここに、「微量分析」とは、試料中の分析元素
の含有量が０．１％程度以下の分析をいい、「少量分
析」とは、試料中の分析元素の含有量が１％前後での分
析をいう。
較し測定元素の制限が少なく、微量分析、少量分析も可
能で、検出感度が高く、連続的に多数の試料を分析可能
である。ここに、「微量分析」とは、試料中の分析元素
の含有量が０．１％程度以下の分析をいい、「少量分
析」とは、試料中の分析元素の含有量が１％前後での分
析をいう。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。実施例１ 図１に示すように、自動分析装置９は、フィルム供給部
１とフィルム巻取り部２とを備え、フィルム供給部１か
ら供給される金属フィルム３がロール４、５、６、７、
８により案内され、フィルム巻取り部２で巻取られる構
成になっている。金属フィルム３は、例えばＡｌ、Ｔｉ
等の金属箔状のものを使用することができる。そして、
金属フィルム３の上流側から順にマイクロピペット１
０、乾燥部１１、Ｘ線発生部１２、計数部１３がそれぞ
れ備えられている。
する。実施例１ 図１に示すように、自動分析装置９は、フィルム供給部
１とフィルム巻取り部２とを備え、フィルム供給部１か
ら供給される金属フィルム３がロール４、５、６、７、
８により案内され、フィルム巻取り部２で巻取られる構
成になっている。金属フィルム３は、例えばＡｌ、Ｔｉ
等の金属箔状のものを使用することができる。そして、
金属フィルム３の上流側から順にマイクロピペット１
０、乾燥部１１、Ｘ線発生部１２、計数部１３がそれぞ
れ備えられている。
【０００８】マイクロピペット１０は、液体試料を金属
フィルム３上に供給するもので、制御装置１４の指令に
よって駆動される。乾燥部１１は、例えばハロゲンラン
プ１１ａから照射する光のもつ熱により金属フィルム３
上の液体試料を乾燥する。Ｘ線発生部１２は、金属フィ
ルム３上の乾燥された試料にＸ線を照射するもので、制
御装置１４の指令により駆動される。計数部１３は、金
属フィルム３上の試料に照射されたＸ線により発生した
蛍光Ｘ線スペクトルを検知するもので、そのスペクトル
の位置および強度から測定元素ならびにその量を検知す
るものである。計数部１３の出力は制御装置１４に入力
される。制御装置１４は、内蔵される演算プログラムお
よびデーター値にもとづいて試料の化学組成を分析す
る。
フィルム３上に供給するもので、制御装置１４の指令に
よって駆動される。乾燥部１１は、例えばハロゲンラン
プ１１ａから照射する光のもつ熱により金属フィルム３
上の液体試料を乾燥する。Ｘ線発生部１２は、金属フィ
ルム３上の乾燥された試料にＸ線を照射するもので、制
御装置１４の指令により駆動される。計数部１３は、金
属フィルム３上の試料に照射されたＸ線により発生した
蛍光Ｘ線スペクトルを検知するもので、そのスペクトル
の位置および強度から測定元素ならびにその量を検知す
るものである。計数部１３の出力は制御装置１４に入力
される。制御装置１４は、内蔵される演算プログラムお
よびデーター値にもとづいて試料の化学組成を分析す
る。
【０００９】前記実施例において蛍光Ｘ線分析を採用し
たのは次の理由による。従来の原子吸光分析装置による
と、Ｃｌ、Ｆ、Ｓ、Ｐ、Ｂ等の非金属元素を分析するこ
とが困難であり、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｖ、Ｍｏ、Ｗ等の金属元
素の検出感度も低く、微量分析、少量分析には適さな
い。高周波プラズマ発光分析装置によると、Ｃｌ、Ｆの
分析ができず、しかも試料容積１ｍｌ以下での分析が難
しい。またイオンメータによる分析によると、溶液濃度
でｐｐｍ以下の微量分析については分析感度が不足す
る。これに対し、実施例１の自動分析装置によると、測
定元素の制限がより少なく、わずか１００μｌ程度の試
料液量で微量分析、少量分析が可能で、連続的に多数の
試料を分析可能であるためである。
たのは次の理由による。従来の原子吸光分析装置による
と、Ｃｌ、Ｆ、Ｓ、Ｐ、Ｂ等の非金属元素を分析するこ
とが困難であり、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｖ、Ｍｏ、Ｗ等の金属元
素の検出感度も低く、微量分析、少量分析には適さな
い。高周波プラズマ発光分析装置によると、Ｃｌ、Ｆの
分析ができず、しかも試料容積１ｍｌ以下での分析が難
しい。またイオンメータによる分析によると、溶液濃度
でｐｐｍ以下の微量分析については分析感度が不足す
る。これに対し、実施例１の自動分析装置によると、測
定元素の制限がより少なく、わずか１００μｌ程度の試
料液量で微量分析、少量分析が可能で、連続的に多数の
試料を分析可能であるためである。
【００１０】実施例１によると、金属フィルム３上にマ
イクロピペット１０により液体試料を間欠的に供給し、
金属フィルム３上に液体試料を点滴することで金属フィ
ルム３上に液体試料を載せる。この液体試料は乾燥部１
１によって乾燥され、金属フィルム３上に固着される。
固着された試料にＸ線発生部１２からＸ線が照射され、
発生した蛍光Ｘ線スペクトルを検出した計数部１３の信
号が制御装置１４に入力される。制御装置１４は、この
計数部１３からの入力信号に基づいて試料の分析を行
う。従って、金属フィルム３上に点滴された液体試料を
連続的に元素分析することができる。
イクロピペット１０により液体試料を間欠的に供給し、
金属フィルム３上に液体試料を点滴することで金属フィ
ルム３上に液体試料を載せる。この液体試料は乾燥部１
１によって乾燥され、金属フィルム３上に固着される。
固着された試料にＸ線発生部１２からＸ線が照射され、
発生した蛍光Ｘ線スペクトルを検出した計数部１３の信
号が制御装置１４に入力される。制御装置１４は、この
計数部１３からの入力信号に基づいて試料の分析を行
う。従って、金属フィルム３上に点滴された液体試料を
連続的に元素分析することができる。
【００１１】実施例２ 実施例２は、図２に示すように、実施例１に示すマイク
ロピペット１０に代えてキャピラリ２０を使用した例で
ある。金属フィルム３は、フィルム駆動部２２によって
金属フィルム３の供給および巻取りが行われる。金属フ
ィルム３は、ループ状に閉じている。その他の構成部分
について図１に示す実施例１と同一の部分については同
一符号を付し、説明を省略する。
ロピペット１０に代えてキャピラリ２０を使用した例で
ある。金属フィルム３は、フィルム駆動部２２によって
金属フィルム３の供給および巻取りが行われる。金属フ
ィルム３は、ループ状に閉じている。その他の構成部分
について図１に示す実施例１と同一の部分については同
一符号を付し、説明を省略する。
【００１２】実施例２によると、金属フィルム３がルー
プを構成しているため、金属フィルム３上に供給された
液体試料を連続分析できるほか、誤検出された場合など
に再度測定することができる。また、再測定により分析
精度の向上が可能である。実施例３ 実施例３は、実施例１および実施例２の組み合わせで、
図３に示すように、金属フィルム３を巻取り方式にし、
液体試料の供給部にキャピラリ２０を使用した例であ
る。実施例３によると、制御部１４の指令でキャピラリ
２０により連続的に金属フィルム３上に点滴される液
体、例えば排水等を連続的に移動される金属フィルム３
上に点滴するので、金属フィルム３上の液滴の化学組成
の変化を連続的に検知できる。従って、例えば排水監視
に利用すれば、排水の化学組成の変化を長期的に監視
し、これを環境保全に有効に利用することが可能とな
る。
プを構成しているため、金属フィルム３上に供給された
液体試料を連続分析できるほか、誤検出された場合など
に再度測定することができる。また、再測定により分析
精度の向上が可能である。実施例３ 実施例３は、実施例１および実施例２の組み合わせで、
図３に示すように、金属フィルム３を巻取り方式にし、
液体試料の供給部にキャピラリ２０を使用した例であ
る。実施例３によると、制御部１４の指令でキャピラリ
２０により連続的に金属フィルム３上に点滴される液
体、例えば排水等を連続的に移動される金属フィルム３
上に点滴するので、金属フィルム３上の液滴の化学組成
の変化を連続的に検知できる。従って、例えば排水監視
に利用すれば、排水の化学組成の変化を長期的に監視
し、これを環境保全に有効に利用することが可能とな
る。
【００１３】実施例４ 実施例４は、前記実施例１〜３に示す蛍光Ｘ線分析に代
えて、赤外分光分析を用いた例である。この例では、前
記Ｘ線発生部に代えて、赤外線発生部を用い、前記計数
部に代えて、赤外線吸収スペクトルを検出する検出部を
用いる。その他の構成は前記実施例の構成と同様である
ので図による説明は省略する。
えて、赤外分光分析を用いた例である。この例では、前
記Ｘ線発生部に代えて、赤外線発生部を用い、前記計数
部に代えて、赤外線吸収スペクトルを検出する検出部を
用いる。その他の構成は前記実施例の構成と同様である
ので図による説明は省略する。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の自動分析
装置によると、複数の液体試料を連続線上に搬送し、簡
単な操作で迅速に連続分析することができるという効果
がある。また本発明によると、環境保全のための水質監
視、飲料等の品質確保のための品質管理等を目的とする
長期間の連続分析に有用であるという効果がある。
装置によると、複数の液体試料を連続線上に搬送し、簡
単な操作で迅速に連続分析することができるという効果
がある。また本発明によると、環境保全のための水質監
視、飲料等の品質確保のための品質管理等を目的とする
長期間の連続分析に有用であるという効果がある。
【図１】本発明の第１実施例による自動分析装置を示す
概略構成図である。
概略構成図である。
【図２】本発明の第２実施例による自動分析装置を示す
概略構成図である。
概略構成図である。
【図３】本発明の第３実施例による自動分析装置を示す
概略構成図である。
概略構成図である。
１ フィルム供給部（担持体駆動部） ２ フィルム巻取り部（担持体駆動部） ３ 金属フィルム（担持体） １０ マイクロピペット（液体試料供給部） １１ 乾燥部 １２ Ｘ線発生部 １３ 計数部 １４ 制御装置 ２０ キャピラリ（液体試料供給部） ２２ フィルム駆動部
Claims (4)
- 【請求項１】液体試料を担持可能な担持体と、前記担持
体を搬送する担持体駆動部と、前記担持体上に液体試料
を点滴する液体試料供給部と、前記担持体上の液体試料
を乾燥して固着する乾燥部と、前記固着された試料にＸ
線を照射するＸ線発生部と、Ｘ線スペクトルを検出する
検出部と制御装置からなる自動分析装置において、 前記制御装置は、前記検出部、前記担持体駆動部、前記
液体試料供給部、前記乾燥部及び前記Ｘ線発生部の一つ
以上を制御し、前記検出部からの入力信号に基づき複数
の試料を蛍光Ｘ線分析するように構成され、かつ、前記担持体は、金属フィルムであり、フィルム供
給部により供給され、フィルム巻き取り部により、巻き
取られる構成になっている ことを特徴とする自動分析装
置。 - 【請求項２】金属フィルムは、ループ状に閉じているこ
とを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。 - 【請求項３】液体試料を担持可能な担持体と、前記担持
体を搬送する担持体駆動部と、前記担持体上に液体試料
を点滴する液体試料供給部と、前記担持体上の液体試料
を乾燥して固着する乾燥部と、前記固着された試料に赤
外線を照射する赤外線発生部と、赤外線吸収スペクトル
を検出する検出部と、前記担持体駆動部、前記液体試料
供給部、前記乾燥部及び前記赤外線発生部の一つ以上を
制御し、前記検出部からの入力信号に基づき複数の試料
を赤外分光分析する制御装置とを備え、かつ、前記担持体は、金属フィルムであり、フィルム供
給部により供給され、フィルム巻き取り部により、巻き
取られる構成になっている ことを特徴とする自動分析装
置。 - 【請求項４】金属フィルムは、ループ状に閉じているこ
とを特徴とする請求項３記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3211806A JP2539558B2 (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3211806A JP2539558B2 (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0552774A JPH0552774A (ja) | 1993-03-02 |
| JP2539558B2 true JP2539558B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=16611912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3211806A Expired - Fee Related JP2539558B2 (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2539558B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2726816B2 (ja) * | 1993-11-30 | 1998-03-11 | 工業技術院長 | 二次イオン質量分析法及びそれに用いる標準試料の調製方法 |
| JP6982031B2 (ja) | 2019-07-18 | 2021-12-17 | 日本電子株式会社 | 蛍光ｘ線測定装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55174485U (ja) * | 1979-06-02 | 1980-12-15 | ||
| JPH01214748A (ja) * | 1988-02-24 | 1989-08-29 | Nippon I T S Kk | 微量試料液用蛍光ｘ線分析方法および装置 |
| GB2219082B (en) * | 1988-05-06 | 1992-08-26 | Gersan Ets | A method of identifying specific objects or zones |
-
1991
- 1991-08-23 JP JP3211806A patent/JP2539558B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0552774A (ja) | 1993-03-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |