JPS62133363A - 目盛付き陰極線管の自動較正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、陰極線管の自動較正方法及び装置、詳しくは
目盛付き陰極線管を使用する表示装置の電子ビーム偏向
を自動的に較正する方法及び装置に関するものである。

〔従来技術と発明が解決しようとする問題点〕電気計測
機器に用いられる陰極線管（ＣＲＴ）には、電気信号に
応じて電子ビームで描かれた波形を測定するためにその
管面に目盛が設けられたもの（いわゆる内部目盛付きＣ
ＲＴ　）が多い。偏向の精度を保証するためには、定期
的に電子ビームの偏向を目盛に対して較正する必要があ
る。従来、この較正は大部分手作業によって行われてい
る。すなわち、操作者は、目盛線上へ電子ビームを偏向
するよう高精度の目盛線に対応する入力信号をＣＲＴ駆
動用増幅手段に印加し、目盛線に対するビームの位置を
目視により判定してビームが目盛線に一致するまで増幅
手段を手動調整している。

この手作業による方法は、かなシの時間及び労力を要し
、不経済である。また、比較的不正確でもある。更に、
電子ビームの幅は目盛線の幅より大きく、ビームの中心
を目盛線の中心に目視で一致させるのは困難である。

このような欠点にも拘らず、これが現在量もよく使われ
ている較正方法である。しかし、ビームの位置を自動的
に検出する技術は既に知られている。例えば、カラーテ
レビジョンに用いられているビームインデックスＣＲＴ
では、　ＣＲＴの電子ビームの位置を正確に検出し、個
々の原色発光螢光体に対して正しいビームの位置決めを
行っている。

米国特許第４，２５７，８６９号、同第２，７Ｑ９７１
号、同第η９ｏ五〇７号及び英国特許第８２２ρ１７号
は、電子ビームの実際の位置を示す帰還信号を発生する
インデックス素子、ストリップ又はバンドを有するＣＲ
Ｔを開示している。インデックス素子は、これを電子ビ
ームが横切ったとき光又は電子を放射するもので、この
放射をＣＲＴ内で検出して正しい時点でビームを励起す
るのに利用している。しかし、このようなＣＲＴは、高
度で複雑なスクリーン技術を要し、製造費が高くなる欠
点がある。

ほかに、電子目盛を用いた。９．ＣＲＴ管面を衝撃スル
ビームを記録するテレビジョンカメラヲ用いたシ゛する
ことも試みられているが、これらの方法も、較正に比較
的長時間を要し且つ高価となる欠点を有する。

したがって、本発明の目的は、目盛付きＣＲＴを自動的
に較正する方法及び装置を提供することである。

本発明の他の目的は、電子ビームがＣＲＴの目盛線に一
致したことを高精度で検出することである。

本発明の更に他の目的は、ビームの目盛線への一致を検
出することによジ、電子ビームの偏向を自動的に′ｆＡ
！１することである。

本発明の別の目的は、ビーム偏向を正確に調整できるよ
うに、ビームの目盛線に対するスクリーン上の位置を電
気的に測定し記録することである。

本発明の更に別の目的は、電気的、光学的周囲雑音の存
在下において電子ビームの目盛線への一致の検出能力を
改善することである。

〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は、こ
れらの目的を達成するＣＲＴの自動較正装置を開示して
いる。この装置は、目盛付きＣＲＴを駆動する増幅器に
マイクロプロセッサ応用の信号発生手段を接続し、電子
ビームがＣＲＴ管面上の目盛線を横切るように偏向され
る複数の子め定めた入力信号を発生して増幅器に入力す
る。そして、この偏向され７’Ｃ成子ビームが目盛線に
一致したかどうかを検出する検出手段を設け、その一致
に応じて検出時の入力信号や値を求める。比較手段によ
り、各検出時の入力信号を目盛線に対応する入力信号と
比較する。この比較結果に応じてＣＲＴ駆動用増幅器を
調整する手段を設け、これにより、その入力信号に対応
する目盛線に電子ビームを一致させる。

好適実施例では１．演出手段として管面又はフェースプ
レートに光学的に結合され次フォトトランゾ不夕を用い
、目盛線に一致した電子ビームにより発生する光強度を
検出して、この検出光を電気信号に変換する。信号発生
手段には、デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）を制御
するマイクロプロセッサを用い仝。比較手段はマイクロ
プロセッサ内にあり、所定の入力信号と演出時の入力信
号との比較結果に基づいて、増幅器の特性をどれだけ調
整すればビーム偏向が較正されるかを決定する。

マイクロプロセッサには、増幅器の調整も行わせる。

本発明の自動較正Ｗｃ、ｉは、（に、目盛）嫌に対する
ビーム位置をデジタル的に記録するためのデジタル測定
信号を発生するビーム位置測定回路を含んでもよい。増
幅器をこの測定信号に応答して調整することにより、ビ
ーム偏向を目盛、？＋ｊＩに対して較正することができ
る。

目盛線に対するビーム一致の検出能力を西上させるため
に、電子ビームを変調する手段とフォトトランジスタの
発生した電気信号を復調する信号処理手段とを設ける。

変調手段には、ビーム位置を変調するものとビーム輝度
番変調するものとがある。前者は、ＣＲＴのフェースプ
レート上の２位置に交互にビームを偏向させるものであ
る（第６Ａ図）。この２位置は、フェースプレートを横
方向に移動し、ビームが目盛庫上を横切るときビームが
連続して目盛線を衝撃することがない楊度の間隔だけ離
されている。信号処理手段では、各２ビ一ム位置におけ
る演出手段からの電気信号を同期的にサンプリングし、
その一方の電気信号を他方の（無信号から減算する。こ
の減算処理により周囲光による信号部分が除去されるの
で、残りの信号がめる場合、これが目盛線に一致したビ
ームに基づく光強度による信号（検出信号）となる（第
６図）。

この変調手段の変形例は、゛電子ビームを予め定めた周
波数で交互にオン・オフするものである。

これに対応する信号処理手段は、−その周波数に同調し
て周囲光による電気信号を除去するものである（第７図
）。

本発明はまた、ＣＲＴの自動較正方法も開示してイル。

その方法は、ビームがＣＲＴフェースプレート上の目盛
線を横切って偏向されるような所定精度の複数の入力信
号を発生して偏向増幅器に入力し、ビームの目盛線に対
する一致を検出してその時点における入力信号を取出し
、その構出時の入力信号をこれと対応する入力信号と比
較し、その比較結果に応じて増幅器を調整し、所定の入
力信号がその入力信号を示す目盛線上に正しくビームを
偏向す冬ようになるまで以上のステップを反復するもの
である。

この方法を高速化す為ため、更に、目盛線上の既知のビ
ーム位置に対応する複数の入力信号を発生して増幅器に
入力し、増幅器の出力信号をデジタル化し各ビーム位置
に対応するデジタル測定信号を得て上記ビーム位置をデ
ジタル的に記碌し、この測定信号に応じて増幅器を調整
し、所定の入力信号を表わす目盛線に正しくビームが一
致するまで上述のステップを反復するようにする。

〔実施例〕

（自動較正装置の実施例） 本発明による自動較正装置の実施例を第１図に示す。自
動較正装置（至）は、スイッチぐ・、　（１６’）によ
り、ＣＲＴ（１）を駆動する垂直及び水平可変利得増幅
器（１１。

（１８’）に切換え可能に接続されている。ＣＲＴ　ｅ
Ａは、増幅器Ｍ　、　（１８’）にそれぞれ接続され゛
たビーム偏向板ｆｉ　、　（２６’）及び電子ビーム（
ハ）を発生する′１子銃（２）を有する。、ＣＲＴ（イ
）は、第３図（正面図）に示されるようなフェースプレ
ート四を有する。電子鏡に）に面するフェースプレート
（ハ）の内側表面上には、目盛（７）が設けられている
。′電子銃（２）は、゛輝度制御部０埠により制御され
る。目盛（７）は、フェースプレート■に衝突するビー
ム（至）によって描かれる電気的波形の振幅や周波数を
測るための物差しになるものであふ７このｍ形は一目盛
（イ）に対１−で・ｄ子ビーム（至）を垂直及び水平方
向に偏向する増幅器（至）。

（１８’）の利得及びオフセット（偏差）によって制御
される。較正装置（至）は、あとで詳述する反復的なス
テップ（手順）を通じて増幅器（至）、　（１８’）の
利得及びオフセットを自動的に調整することによシ、ビ
ーム（ハ）を目盛（至）に対して較正する。ビーム１尚
が一旦較正されれば、スイッチＣ１＊　、　（１６’）
をＡ側に切換えてＣＲ’ｌｌ及び増幅器（至）、　（１
Ｂ’）に外部入力（ロ）を接続することによシ、外部信
号の波形を正確に再生することができる。

スイッチα＊　、　（１６’）をＢ１１ｔｌＩに作動し
て自動較正を選択すると、インテル社ｍ　８０１８６マ
イクロプロセツサ及びその関連周辺回路を有する第１図
の制御器（ハ）内のソフトウェア・ルーチンの如き信号
発生手段によって較正、動作が開始される。゛ソフトウ
ェア・ルーチンは、増幅器α→、　（１８’）に対し予
め定めた入力信号電圧に対応する複数のデジタル信号を
発生する。これらのデジタル信号は、独ｉのサーチ・ｉ
ターン状に発生し制御器（至）から信号路（ト）を経て
デジタル・アナログ変換器ＣＤＡＣ）（至）に送シ、２
こで正確なアナログ入力電圧に変換する。これらの電圧
は、信号路側に送出されスイッチαＧ　、　（１６’）
を介して可変増幅器３１１６　、　（１８’）に入力さ
れ、増幅器α・、　（ＸＳ）でその利得及びオフセット
に従って増幅され、アナログ信号路■、　（３９’）を
介して偏向板（ハ）。

（２６’）Ｋ達し、ビーム（財）をフェースプレート（
ハ）の一部及びその目盛（至）を横切るように偏向する
。増幅器０・、（１８つは、プログラマブルなもの又は
利得・オフセットが調整可能なものである。

ＣＲＴ較正時には、プログラマブル増幅器αυ。

（１８’）の一方のみを可変とし、他方は一定値に固定
する。すなわち、ビームはまず一方向（例えば水平方向
）について較正し、次に他方向（垂直方向）について較
正する。以下、垂直増幅器α峰を例に取って説明するが
、増幅器（１８）の較正についても同様である。増幅器
（１８）について増暢器α峰と対応する部分には、同一
参照番号にダッシュ記号を付して示す。

フェースプレート又はスクリーン（至）の断面図及び正
面図をそれぞれ第２図及び第３図に示す。両図に示すよ
うに、フェースプレート（至）は、ガラス製でその内表
面上に目盛間の目盛線となるガラスフリット線−が印刷
されている。ｍ（ト）は、スクリーンを複数の目盛区分
Ｏ］）に分割する。ガラスフリットは橙色、白色等の色
の付いたものでよく、その上に螢光体に）が被覆される
。

電子ビーム（ハ）が発生すると、螢光体（６）を衝撃し
て光■を発する。光（６）はビームの位ａを示す。ビー
ム（ハ）が目盛線０Ｑに一致すると、光の一部（４３ｍ
）は、目盛線の材料を通してフェースプレート（至）内
部へ導入される。第２図から判るとおシ、この光部分（
４３ｍ）は内部で反射されて側端部−に向かう。

よって、光部分（４３ｍ）は、フォトトランジスタに）
の如き光１手段によりｍ出され、光強度に対応する電気
信号に変換できる。

しかし、フォトトランジスターが拾う光強度は、光部分
（４３ｍ）の光強度に加えて周囲光の光強度をも含んだ
ものである。第４図は、フォトトランジスタに）が全党
強度に応答して発生する電気信号の例を示す。フォトト
ランジスターが拾う周囲光及び他の光学的・電気的雑音
に基づく信号に比べ、上記−数を示す電気的検出信号は
極めて小さい。

この電気検出信号を取出して明確な検出信号を作シ出す
ため、装置（至）は、ビーム変調手段及び１無償号復調
のｔめの信号処理手段を有する。この変調及び復調によ
って、第５図に示すように検出信号が鋭いデジタル・パ
ルスになり望ましい結果が得られる。

かような変調及び信号処理手段のうち、ビーム位置を変
調する場合の例を第６図及び第７図に示す。第６図にお
いて、発振信号源（ロ）の如きビーム位置変調手段が制
御器（至）に内蔵され、その発振信号は制御器（２）内
のソフトウェア・ルーチンによって作られる。この発振
信号は、増幅器α→に加えらレヒームが交互に２つの位
置に来るようにビーム（財）を偏向する（第６Ａ図）。

この２つのビーム位置は、ビームが連続して目盛線−上
に来ないように適当な間隔で離れておシ、ビームは、こ
の２つの位置を交互に動きながら横に移動する。Ｘは初
期信号値、Δ１は約０．２目盛区分の偏向に対応する付
加信号値、Δ２は約０．０１目盛区分の偏向に対応する
付加信号値を表わす。次だし、第６Ａ図では、説明上Δ
１．Δ２の目盛区分に対する比率は実際の値とは変えて
示しである。発振信号は１８００異なる２つの位相φ、
及びφ２を有し、発振信号の位相がφ。

の期間にはどちらの付加信号も加えない。発振信号の位
相がφ２の期間には、制御器（２）が発生した原人力信
号に付加信号値Δ１を加算する。どちらの位相において
も一致が生じない場合、第８図に示し後述するように、
基本信号値Ｘに増分Δ２を加えて再び上記の動作を繰返
す。

上述のように変調され次ビームに応じてフォトトランジ
スタ曲が発生する電気信号は、信号路株→を介して信号
処理部（ト）内の信号処理手段に送られる。信号処理手
段は、信号路−を介して発振信号を受けながら入力電気
信号を復調して検出信号を発生する。信号処理手段内で
は、発振周波数に同調した帯域通過フィルタ／バッファ
（イ）が、フォトトランジスタに）の発生し九′磁気信
号Ａをｐ波・緩衝し、被検出光強度に応じた出力電圧Ｂ
を発生する。発振信号の位相がφ、のとき、電圧信号Ｂ
１が第１サンプルホールド（Ｓ／１（）回路（財）にサ
ンプリングされ、位相がφ２のとき、その信号Ｂ１は第
１１回路（財）に保持されたまま、第２　Ｓ／ｉ（回′
ＩＮ１曽が新たな電圧信号Ｂ２をサンプリングする。両
シ乍回路（財）。

輪の各出力電圧Ｃ，Ｄは差動増幅器（至）に入力され、
ここで、一方の電圧から他方の電圧が引かれて周囲光及
び他の雑音による電圧部分が除去される。

残りの電圧すなわち出力電圧Ｅがちる場合、これは、目
盛線（ト）に隣接する螢光体（６）を衝撃したビームに
よる光強度に対応する。電圧ＥＦｉ、後処理バッファ／
低域通過フィルターに入力され、非同期エイリアス雑音
が軽減された後、その４１調信号が検出信号として送出
される。

例えば、位相がφ、の期間に、ビーム（財）が第６Ａ図
の目盛Ｓ（ト）に一致したとする。このときのビーム偏
向は、入力信号Ｘにより行われている。第１Ｓ／１（回
ｗ＆−の出力端の電圧Ｃは、次のようになる。

電圧Ｃ＝周囲光雑音十目盛−による信号　・・・（１）
位相がφ２の期間、ビーム偏向は、前述のように基本人
力信号Ｘに増分信号値Δ１を加算したものによって行わ
れる。この例では、ビーム（ハ）は目盛！ｌ！（ト）を
衝撃できず、第２８Ａ回路−の出力端の電圧りは次のよ
うになる。

電圧Ｄ＝周囲光雑音　　　　　　　　・・・（２）差動
増幅４岐による減算の結果、その出力には目盛線をビー
ムが衝撃したことによる電圧Ｅのみが残る。

電圧Ｅ＝目盛線による電圧　　　　　・・・（３）第６
図の手段の変形例を第７図に示す。この例では、両ＳＡ
回路（財）、神及び差動増幅器−が反転／非反転増幅器
−に置換されている。バッファ／フィルタ働の出力電圧
Ｂは、増幅器−に入力される。

この増幅器の利得の符号（反転又は非反転）は、発振信
号の位相φ、で決まる。増幅器−の出力電圧Ｅは、第７
図に示すように、ビームが目盛−に一致しないとき対称
で、一致するとき非対称の方形波となる。ビームが目盛
線に一致するとき、４圧Ｅの平均値は０でなくなる。第
７図には、電圧Ｅが後処理バッファ／フィルターで平均
化され検出信号として出力されることを示す。

第６図のビーム位置変調手段を用いる場合の流れ図（フ
ローチャート）を第８図に示す。ＤＡＣ（３４が発生し
た初期信号値Ｘにより、電子ビームは特定の目盛線の領
域、例えば第３水平線の領域に偏向される。第１　Ｓ／
）１回路（財）は位相がφ、の間ストローブされ（サン
プリングし）、次いで、ＤＡＣＣ３１１の出力は、ビー
ムをΔ１距離だけ付加的に偏向するためΔ１だけ増加さ
れる。次に、位相がφ２の間、第２８Ａ（回路間がスト
ローブされる。ＤＡＣ（至）は初期信号値Ｘにリセット
され、両ＳＡ口路（ロ）、（至）の出力が互いに比較さ
れ、その一方の出力が他方の出力を超えるかどうかが判
定される。真出力が等しければ、一致は起こっていない
ことになる。初期信号値Ｘは、Ｘ＋Δ２に等しい新たな
値Ｘにまで増加される。このループは、一致による検出
信号が発生されるまで繰り返され、その一致時の入力信
号は制御器（２）により記録される。

ビーム変調手段の第２の例である輝度変調手段とこれに
対応した信号処理手段とを第９因に示す。

この例では、ビーム（財）の変調は、制御器（至）と輝
度制御部（イ）との間の信号路に挿入したチョッピング
回路−によって行う。チョッピング回路−は、予め定め
た周波数（代表的には１　ｋＨｚ〜５０　ｋＨｚ）でビ
ーム（財）をオン・オフ駆動する。ビーム（財）が制御
器（至）からの入力信号に従って目盛■上を掃引される
間、チョッピング信号は、ＣＲＴ（イ）のＺＣｊｆｉ度
）軸に沿う方形波を発生させる。

この場合の、フォトトランジスタに）が発生し次電気信
号を復調する信号処理手段を、第１０図及び第１１図に
示す。この信号処理手段は、フォトトランジスターの出
力端に接続され、チョッピング回路（財）の　　　　　
　　゛置傘チョッピング周波数に同調した帯域通過フィ
ルタ（ＢＰＦ）　＠を有する。

フィルターの出力は、全波整流器−に入力される。

全波Ｉｉ流器−の出力ｖｉ４（図示されている。）は、
低域通過フィルタ（ＬＰＦ）　１７０に入力され、信号
値が平均化されて出力（ハ）が得られる。ビーム（財）
が目盛１ＦＢＨに一致すると、その結果性じる電気信号
は全波整流器−に演出され、ＬＰＦσＯにより戸波され
る。

更に、その出力信号（ハ）はＡＤＣ（２）に入力され、
検出信号が出力される。第１１図の回路は、ＡＤＣ（至
）がピーク検出器ｑ４で置換されている以外、第１０図
の回路と同様である。

上記２つの例により１子ビーム（ハ）を変調しα無償号
を復調した後、その検出信号を信号路ｆＱを介して制御
器（至）に送る。電ＩＪ　＋４器ＯＱのマイクロプロセ
ッサ内のソフトウェア・ルーチンの如き信号比較手段は
、各検出時の入力信号をその対応する入力信号と比較対
照する。スクリーン上のビーム位置と入力信号との関係
は、第１２図にグラフ化されている。このＸ軸は制御器
（至）が発生するＤＡＣ入力コードに対応し、Ｙ軸は目
盛線で表わしたビーム位置（スクリーン位置）に対応し
ている。破線で示すような２点を取り直線的関係を仮定
してプロットすれば、入力電圧とビーム位置の関係を示
す直線が描ける。この直１癲は、次式で表わせる。

ｙ　＝　ｍｘ　−１−ｂ　　　　　　　　　・・・（４
）ここに、ｍは、ＤＡＣ（至）の発生した入力電圧信号
が増幅器（至）を通ってビーム（ハ）を偏向するまでの
利得であり、ｂは信号路間の実効入力オフセット電圧を
示す。

比較手段によシ検出時の入力信号の値が記碌され、第１
２図に表わされるようなデータが与えられると、増幅器
ｑ呻の利得及びオフセットは、制御器（至）内のマイク
ロプロセッサによシ信号路（ハ）を介して送られる信号
によって調整される。この調整は、反復して行われ、ビ
ーム（財）が所定の入力信号に対応する目盛線を正しく
衝撃するまで続けられる。

この調整方法を例を挙げて説明する。いま、増幅器（至
）の入力電圧が６ｖ変化したときビームが６目盛区分（
１目盛区分につき１目盛線がある。）だけ偏向されるこ
とが望まれ、また、増幅器α時への入力電圧が一３ｖの
とき中心目盛疏から下へ３番目の目盛側へビームが偏向
され、＋３Ｖのとき中心間・＆線から上へ３番目の目盛
庫へビームが偏向されるべきである、とする。　　　゛
第１図において、スイッチα→が位置Ｂにある状態で、
Ｉ）ＡＣ（至）の出力が２．８ｖのとき、信号処理手段
（ト）から検出信号が出力されたとする。この検出値＋
ｊｆは、電子ビーム（ハ）が正の第３目盛線を横切った
ことを示す。また、ＤＡＣ（３１Ｓが−３，１ｖを発生
し次とき、成子ビームが負の第３目盛線を横切ったこと
を示す他の検出信号が出力され友とする。増幅器α→が
正しく調整されていたとすれば、上記２つの場合、ＤＡ
Ｃ（至）の出力′電圧はそれぞれ＋３．Ｏｖ及び・−３
，０Ｖ（すなわち、６目盛区分に対して６ｖ）であった
筈である。所望の利得に対する実際の利得の比率は、次
式により定量化できる。

井暑モ＋珪Ｚ　＝　０．Ｃ，８・・・（５）この比は、
所望利得が実現されていれば１．０になる筈である。し
たがって、この例では、利得は増即させる必要がある。

利得を上方に段階的に増加しながらこの測定を繰返すこ
とによシ、所望の利得を得ることができる。

オフセットの横置を行うには、前述のようにして得らｈ
ｆｃ、４圧を平均化する。

この結果がＯよシ大か小かを判定す名。０よシ大であれ
ば、増幅器（１時のオフセットを徐々に下−ｈに修正し
、この例のようＩＣ０Ｊ：Ｊ小であれば、オフセットを
徐々に上方に修正する。この過程を所望のオフセット（
この場合はＯ）が得られるまで反復す′る。増幅器に）
の利得を調整すると第１２図の直線の傾きが変わり、オ
フセットを調整すると直線のＹ軸を切る点が変わる。オ
フセットがＯＫなると、直線は２軸の交点を通過するこ
とになる。

いままで述べた方法は、これだけでも十分に調整できる
が、各調整後の目盛線探知に光検出を用いるので、信号
対雑音比が低く成る状況では比較的低速になる。処理を
高速にするために、目盛線に）に対する電子ビームの位
置をデジタル的に測定するビーム位置測定回路−を設け
る。第１図に示すように、回！ｍは、信号路（ト）から
分岐し、増幅器α枠からの信号をデジタル変換して制御
器（２）へ送る。回路■は、増幅４（ト）の出力を受け
る増幅器＠、ＬＰＦ（ハ）及びＡＤＣ＠４がら成シ、Ａ
ＤＣ（至）は、信号路（ハ）を介して制御器（至）に接
続される。ＬＰＦ’　ｅ４は、ＡＤＣ轡の入力端におけ
る雑音を軽減するためのものである。回路■は、増幅器
α枠の出力電圧を取出し、これを制御器（ト）に記録す
るため、ＡＤＣ桐により２進値に変換して出力する。目
盛ｉ（ト）に対するビーム（財）の位置はＡＤＣｆ４の
２進出力コードによってデジタル的に表わされるので、
最初に目盛線輪を横切るビームをフォトトランジスター
で検出するだけでよく反復して検出する必要はなくなる
。

回路−の動作について、例を挙げて説明する。第１２図
には、制御器（ト）からのＤＡＣ（至）２進入カコード
とスクリーン上のビーム位置との線形関係が示されてい
る。この関係は、上述の較正過程をビーム・目盛線一致
を光学的に検出して行う最初の実行（ラン）により得ら
れる。次に、ｍ制御器（至）は、第２の実行において、
２本の目盛線（例えば＋３目盛線及び−３目盛線）に対
応するＤＡＣ２進入カコードを発生し、その績果住する
回路−のＡＤＣ２進出力コードを制御器（至）内に記録
する。このＤＡＣ２進入カコードとＡＤＣ２進出力コー
ドとの関係は第１３図のようになる。第１２図及び第１
３図のグラフは、共通のパラメータとして、ＤＡＣ（至
）２進入カコードを有する。第１２図において、第１３
図の対応するＡＤＣ■２進出力コード゛をＤＡＣ（２）
２進入カコードの代わシに用いると、ＡＤＣ２進出力コ
ードに対するビーム位置の関係を衣わす第１４図のグラ
フが得られる。この関係は、増幅器Ｃ１１Ｓの利得とは
独立しておシ、ビーム位置をデシタル的に表わしている
。

第１４図の線形関係が確立すれば、ビーム偏向は、ビー
ム（財）の位置を示す回路−のＡＤＣ２進出力コードを
基皐にして、Ｓｇｌできる。例えば、電子ビーム（財）
の感度を１０ｍＶ／目盛区分目盛、オフセットをＯｖと
する場合を想定する。制御器（ロ）よ）、オフセット試
験のためにＯｖに対応する入力信号を出力する。第１４
図の破謙は、回路■が測定し、ＡＤＣ１４９が符号化し
たビーム位Ｔ！ｔＡ　ｆ示す。ＡＤＣ’２進出力コード
１１００は、補間によって求めたＯオフセットのＡＤＣ
２進コード１０１０よシ大きい。よって、オフセットが
正の方向に大きすぎておシ、増幅器のオフセットは段階
的に下方に修正される。その後、−新たな測定が行われ
る。この過程は５式（６）に従ってオフセットを上方又
は下方に徐々に修正しながら、所望のオフセットが得ら
れるまで反復される。増幅器（至）の利得を設定するた
めに、制御器（至）は、＋３０ｍＶ及び−３０ｍＶの如
き１対の目盛線に対応する予め定めた正確な電圧を出力
する。測定の結果、第１４図に示すように各ビーム位置
についてＡＤＣ２進出力コードが記録される。ＡＤＯ２
進出力コードと所望値との差は式（５）によって計算さ
れ、これに従って利得がＡ整される。この過程は、所望
の利得が得られるまで反復される。

上述した例では、可変増幅器α樽の利得とオフセットと
は相互に独立で６９．その一方の調整は他方に影響しな
い。しかしながら、増幅器によっては、利得及びオフセ
ットの調整が相互に影響を及ぼし合うものもある。この
ような増幅器では、オフセット及び利得調整は、所望の
較正が得られるまで周知の収束アルゴリズムを用いて更
に反復する必要がめる。

ｒ肉鋪旬工嘴辻ハ櫂澁す口 本発明の較正方法は、第１図の実施例において使用され
るものであるが、必ずしもその装置には限定されない。

第１５図は、本発明方法の基本的なステップを示す流れ
図である。一旦、較正が開始されると（ブロック１００
　”）　、％定のサーチノぐターン状に目盛線（６）を
横切って電子ビームを」回するため制御器（２）に設定
された一連の「ペシチマーク」信号（入力信号）が発生
される（ブロック１０２）。

ビームが目盛線−に当友ると、このビーム・目盛線一致
は光学的に検出され（ブロック１０４　）　、　演出時
の入力信号が対応する入力信号と比較される（ブロック
１０６）。その比較結果が判定され（ブロック１０８　
）　、増幅器の利得及びオフセットが繰返し調整されて
（ブロック１１０　）　、最後に所望の精度の較正が完
了する（ブロック１１２）。

上述し且つ第１６図に示すように、この第１５図の基本
的方法はその動作を高速化することができる。

目盛線上の既知のビーム位置に対応する複数の入力信号
が制御器（至）によって発生される（ブロック１１４）
、これに基づいて僧−基商九番牛中入ａｄのアナログ電
圧がデジタル測定信号に変換され（ブロック１１５）、
制御器（ト）に記録される（ブロック１１６）。次に、
目盛線に対応する所望電圧値を表わす別の入力信号が制
御器（ロ）から発生される（ブロック１１８）。この入
力信号のデジタル変換値が上記デジタル測定信号と比較
され、所望の偏向が生じたかチェックされる（ブロック
１２０）。

偏向が正しくなければ、増幅＝Ｓ餞が調整され（ブロッ
ク１１２）、最終的にビーム偏向が目盛（７）に対して
較正される（ブロック１２４　）　ｔで目盛線に対応す
る入力信号が再送出される。

以上、本発明の好適実施例について説明したが、本発明
の要旨を逸脱することなく１種々の変形・変更を行うこ
とは可能である。

〔発明の効果〕

本発明によれば、４子ビーム偏向ｔ　ｃａｒフェースプ
レートの内部目盛に対して自動的に且つ迅速に較正でき
るので、従来の手動較正に伴う時間及び労力が不要にな
ると共に較正者の熟練度の差異等に基づく個人差が排除
できるという格別の効果が得られる。′また、ビーム・
位置測定回路を設けることにより、一旦第１４図の関係
が得られ九後に実際にビームの目盛線一致を検出するこ
となく一致を判定できるので、ＣＲＴ自動較正に要する
時間が短縮される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による自動較正装置の実施例を示すブロ
ック図、第２図は本発明に用いる検出手段の例を示す断
面図、第３図は目盛付きフェースプレートの正面図、第
４図は第２図の検出手段により出力される′１１信号の
例を示す波形図、＠５図は第４図の４予信号を処理した
後の検出信号を示す波形図、第６図は電子ビームの位置
変調手段及び対応する信号処理手段の例を示すブロック
図、第６Ａ図は第６図のビーム位置変調手段のビーム位
置の変化を示す図、第７図は、第６図の手段の変形例を
示すブロック図、第８図は、第６図の手段の動作を示す
流れ図、第９図は、電子ビームの輝度変調手段及び対応
する信号処理手段の例を示すブロック図、第１０図は第
９図の信号処理手段の例を示すブロック図、第１１図は
第１０図の変形例を示すブロック図、第１２図は、ＤＡ
Ｃ入力コードとスクリーン位置（目盛区分）との関係を
示すグラフ、第１３図はＤＡＣ入カフカコードＤＣ出力
コードとの関係を示すグラフ、第１４図はＡＤＣ出力コ
ードとスクリーン位置との関係を示すグラフ、第１５図
は不発明方法の基本的実施例を示す流れ図、第１６図は
本発明方法の第２実施例における付加的ステップを示す
流れ図である。 （１８、（１８’）・・・偏向増幅器、翰・・・ＣＲＴ
　、（至）・・・制御器（入力信号発生手段、比較手段
、ＡＭ手段を含む。）、（ト）・・・目盛線、−・・・
検出手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、陰極線管の電子ビームが目盛線を横断するように予
   め定めた複数の入力信号を偏向増幅器に入力し 上記電子ビームが上記目盛線の１つに一致したことを検
   出し、 その検出時の入力信号の値を上記目盛線に対応する入力
   信号の値と比較し、 その比較結果に基づいて上記増幅器の特性を調整し、 上記目盛線に対応する入力信号による上記電子ビームの
   偏向が上記目盛線に一致するまで上記の各ステツプを反
   復することを特徴とする目盛付き陰極線管の自動較正方
   法。 ２、陰極線管の電子ビームを偏向する特性可変の増幅器
   と、該増幅器への予め定めた複数の入力信号を発生する
   信号発生手段と、上記電子ビームが目盛線に一致したこ
   とを検出する検出手段と、該検出手段の検出時の入力信
   号の値を上記目盛線に対応する入力信号の値と比較する
   比較手段と、該比較手段の結果に基づいて上記増幅器の
   特性を調整する調整手段とを具えた目盛付き陰極線管の
   自動較正装置。