JP2835333B2 - 電子ビームの位置測定方法 - Google Patents

電子ビームの位置測定方法

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JP2835333B2
JP2835333B2 JP63049889A JP4988988A JP2835333B2 JP 2835333 B2 JP2835333 B2 JP 2835333B2 JP 63049889 A JP63049889 A JP 63049889A JP 4988988 A JP4988988 A JP 4988988A JP 2835333 B2 JP2835333 B2 JP 2835333B2
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は色選択電極型表示管の電子ビームの位置を測
定する方法に関するものである。斯種の方法は特に色選
択電極型表示管の３本の電子ビームのコンバーゼンスの
調整に使用される。コンバーゼンスとは３本の電子ビー
ムにより発生される像を透明表示窓の内側に通常設けら
れている陰極ルミネッセンススクリーン上で一致させる
ことを意味する。陰極線管、特にグラフィック表示用の
高精細度管に、改善されたカラー表示を得るには一層厳
しいコンバーゼンスの調整が要求される。同時にこの作
業は短時間で終了するようにして経済的に許容し得るも
のとする必要がある。
コンバーゼンスエラーの測定における問題点はスクリ
ーン上の像が色選択電極のアパーチャによりサンプルさ
れて与えられることにある。
静及び動コンバーゼンスエラーを測定する既知の技術
は英国特許第2048625号明細書（特開昭55−149574号）
から既知である。この既知の技術はセルの中心に対し対
称に位置する少くとも２個の光感知表面部から成る少く
とも１個の光感知セルを具える検出器を用いる必要があ
る。前記光感知表面部の光感度はセルの中心から略々直
線的に増大する。使用に当っては表示スクリーンからの
光を光学素子によりこの光感知セルの光感知表面部上に
入射させる。光感知表面部の入射光量の差を決定する手
段を設ける。これらの差を用いて電子銃に多極磁石とし
て支持された少くとも１個の永久に磁化し得るリングを
磁化することにより表示管の正しい静コンバーゼンスを
設定する。この既知の技術は精密であり、満足な結果を
与える。しかし、上述の測定及び調整はかなり長い時間
を必要とし、テレビジョン表示管の製造をスピードアッ
プするためには管の種々の製造工程に要する時間を短縮
する必要がある。このためコンバーゼンス調整に要する
時間も短くする必要がある。
本発明の第１の特徴は、色選択電極型表示管の電子ビ
ームの位置を測定するに当り、電子ビームの位置の粗測
定を行なうと共に、電子ビームを色選択電極の空間周波
数又はその約数の周波数から相違する空間周波数を有す
るビデオ信号により強度変調し、色選択電極の各別のア
パーチャを通過した電子ビームの電子によりけい光体ス
クリーンに発生したトレースを構成する微小スポットの
輝度値を光学的にサンプリングし、これら輝度値に基づ
いてビームの精密な位置を計算することにより電子ビー
ムの一層精密な測定を行なうことにある。ここで、色選
択電極の空間周波数とは色選択電極の隣接するアパーチ
ャ（孔）の中心間隔の逆数であり、微小スポットとは色
選択電極のアパーチャを通過した電子ビームの電子によ
りけい光体スクリーン上に発生される輝点を意味し、ト
レースとはこれらの輝点によりスクリーン上に発生され
る軌跡を意味する。
ビデオ信号の空間周波数は色選択電極の空間周波数又
はその約数の周波数から僅かに相違させるのが好まし
い。これにより精密な位置測定が簡単になる。
色選択電極の空間周波数又はその約数の周波数から僅
かに相違する空間周波数を有するビデオ信号により電子
銃装置から発生される電子ビームを変調することによっ
て微小スポットの輝度に変化が生ずる。この変化から、
例えばトレース内の微小スポットの輝度の強さに適合す
る曲線又はこれら微小スポットの輝度の強さから適当に
構成したパラメータに適合する曲線によりビート周波数
波形をシミュレートすることができる。このビート周波
数波形から電子ビームの位置を決定することができる。
本発明の第２の特徴は、フェースプレートとコーン部
とネック部とから成る管器と、３つの異なる色を発光す
るけい光体トリオから成る陰極ルミセッセンススクリー
ンと、色選択電極と、ネック部内にあって３本の電子ビ
ームを発生するインライン型電子銃装置とを具えたカラ
ー表示管の水平コンバーゼンスを測定するに当り、第１
中心電子ビームと外側の第２及び第３電子ビームの各々
との間の距離を粗測定し、電子銃装置により発生された
電子ビームを、色選択電極の空間周波数又はその整数分
の１の周波数から異なる空間周波数を有するビデオ信号
により同時に振幅変調して第１組のトレースを発生さ
せ、電子の射突に応答してけい光体トリオの各別のけい
光体素子により発生された微小スポットの輝度値をけい
光体ピッチで光学的にサンプリングし、前記輝度値に基
づいて３本のビームの精密な相対位置を決定することに
ある。
ビデオ信号の空間周波数は色選択電極の空間周波数又
はその約数の周波数から僅かに相違させるのが好まし
い。この場合精密な相対位置の計算が簡単になる。
電子銃装置により発生される電子ビームを色選択電極
の空間周波数又はその約数の周波数から僅かに相違する
空間周波数を有するビデオ信号により変調することによ
り、微小スポットの輝度の強さに変化が生ずる。この変
化から、例えば各トレースの微小スポットの輝度の強さ
に適合する曲線によりビート周波数波形をシミュレート
することができる。これらビート周波数波形の相対位
置、即ち波形間の位相差から３本の電子ビームの精密な
相対位置を決定することができる。
本発明方法の実施に当っては、ビデオ信号の空間周波
数の選択はビームスポットの集束の質に依存させる。不
十分な集束電子ビームの場合には、ビデオ信号の空間周
波数は色選択電極の空間周波数の1/2,1/3,1/4,……1/n
（ｎは２以上の整数）のような約数の周波数から僅かに
相違する値を選択する。一般にスポットの集束が悪いほ
ど小さい約数にする。
色選択電極の空間周波数の約1/2の空間周波数を有す
るビデオ信号を用いる場合には、ビート周波数波形の位
置の測定精度を、各色の微小スポットの奇数番スポット
及び偶数番スポットの輝度値から互に逆位相の２つのビ
ート周波数波形を発生させることにより改善することが
できる。互に逆位相のビート周波数波形の零交差点は変
化速度が零になるその最大点又は最小点よりも一層精密
に検出することができる。ビート周波数波形の位置の測
定精度は、第１組のトレースを発生するのに用いるビデ
オ信号に対し90゜移相したビデオ信号を用いて第２組の
トレースを発生させることにより更に改善することがで
きる。この場合第２組のトレースの任意の１つの色に対
する輝度値から互に逆相のビート周波数波形を発生させ
ることにより第１ビート周波数波形の交差点と第２ビー
ト周波数波形の交差点との間の距離がビート周波数波形
の1/4に等しくなる。
発生し得るビート周波数波形の数は色選択電極の空間
周波数の特定の約数1/nに依存する。一般に、360゜/nの
位相差を有するｎ個のビート周波数波形を発生させるこ
とができる。
図面についき本発明を説明する。
第１図は“インライン”型のカラー表示管の一部を破
除して示す斜視図である。この表示管は表示窓12とコー
ン部13とネック部14とから成るガラス管器11から成る。
ネック部内の一平面内に位置する３個の電子銃15,16及
び17が３本の電子ビーム18,19及び20を発生する。これ
ら電子ビームは互に小角度、いわゆる色選択角度をな
し、表示窓12の内面に近接配置されたシャドーマスク又
は色選択電極22のアパーチャ21を通過する。多数の赤、
緑及び青発光素子R,G,Bのトリオから成る陰極ルミネッ
センス表示スクリーン23が表示窓12の内面に存在する。
電子ビーム18,19,20のコンバーゼンスはこれらビームの
中心軸線がスクリーン23で一致するようにする必要があ
る。マスクの水平ピッチ（緑−緑）ｍはスクリーンのサ
イズに依存し、26インチ管ではｍ＝0.8mmである。色選
択電極のアパーチャの列は第２図に示すようにけい光体
素子の長さ方向に平行に延在する。選択電極の各アパー
チャに対し１組のけい光体素子トリオ（R,G,B）が関連
する。電子ビームは互に小角度をなすため、管が適正に
色純度調整されている場合には、電子ビーム20が赤けい
光体素子Ｒにのみ、電子ビーム19が緑けい光体素子Ｇに
のみ、電子ビーム18が青けい光体素子Ｂにのみ射突す
る。
第３図は表示スクリーン23上の電子ビーム19のスポッ
ト27を拡大して示すものである。このスポットは２〜3m
mの直径を有し、けい光体素子は約270μｍ幅である。シ
ャドーマスクのアパーチャ21が電子ビームによりけい光
体素子上に投影される。この結果このビームスポットは
スクリーン上では微小スポット28からなる微小構造を有
する。カラー表示管では、３本の電子ビームにより３原
色で表示される画像を表示スクリーン上でその全域に亘
って精密に一致させる必要がある。換言すれば、３本の
電子ビームを表示スクリーンの全域で集中させる必要が
ある。従って、静及び動コンバーゼンスの双方を補正し
得るようにするためにはスクリーン上でコンバーゼンス
エラーを測定し得ることが必要である。しかし、スクリ
ーン上のビーム像はけい光体ドットにより、即ちマスク
によりサンプルされる。ここでは本発明の方法をシャド
ーマスクを具えるカラー表示管について説明するが、こ
の方法は他のタイプの色選択電極、例えばグリッド形色
選択電極を具える表示管にも適用し得る点に注意された
い。
本発明の方法は２つの主なステップ、第１に電子ビー
ムの位置の粗測定を行なうステップと、第２にこの粗測
定より精密な測定をバーニヤ式に行うステップとを具え
る。電子ビームの位置は任意の基準点、例えばスクリー
ン外の水平同期パルスに対し、或は中心の緑電子ビーム
を基準ビームとして測定することができる。粗測定ステ
ップは、電子ビームを低い値から高い値へステップ変化
し次いで低い値にステップ変化する信号又は低い値から
高い値へ精密に既知の速度で上昇し次いで低い値に戻る
信号により変調して１つのスポットをスクリーン上に投
映することにより達成する。第４図はこの粗測定用のス
テップ信号波形を示す。今、緑電子銃が矩形波信号によ
り変調され、この電子ビーム変調に応答して緑けい光体
素子により発生される微小スポットのピッチがシャドー
マスク22のピッチに対応する800μｍであるものとす
る。フェースプレート部のカメラから成るモニタ位置か
ら見ると、低輝度値の微小スポットG1の隣に３個の順次
の高輝度値の微小スポットG2〜G4及びその隣りに低輝度
値の順次の微小スポット（その最初の１つがG5）が存在
することが観測されるであろう。ピーク輝度又はビーム
スポットの中心（電子ビームの真の位置とみなせる）は
G1〜G5のどこかに位置し、これがG1〜G5の中間位置であ
るものと仮定すればこの仮定に基づく測定の精度は±40
0μｍになる。
上述したように、この方法の第２ステップはピーク輝
度の位置をバーニヤ式に一層精密に測定することにあ
る。この第２ステップにおいては、十分に集束された電
子スポットに対しては色選択電極の空間周波数から僅か
に異なる空間周波数を有するビデオ信号で、十分に集束
されていない電子スポットに対しては色選択電極の空間
周波数の約数、例えば1/2又は1/3の周波数から僅かに相
違する空間周波数を有するビデオ信号で電子ビームを強
度変調する。この場合ビート周波数波形を電子ビームに
より発生される微小スポットの輝度の強さに適合する曲
線、即ち微小スポットの輝度の強さの分布に対応する曲
線でシミュレートすることができる。バーニャ測定は、
ビデオ信号を１波長だけシフトさせることによりビート
周波数波形がビデオ信号周波数の波長より著しく長いそ
の１ビート波長だけシフトするという事実に基づくもの
である。実際には、空間周波数の半分程度の周波数を有
するビデオ信号を用い、この場合にはビート周波数はけ
い光体ピッチの約20倍になり、これがため変調されたビ
ームの位置が一定のスケールファクタ（倍率）だけ増幅
されることになる。このスケールファクタはビデオ信号
周波数波長に対するビート周波数波長の比である。ビデ
オ信号周波数波長は時間とともにドリフトし得るためこ
の波長は未知の不定の周波数であるとみなすのが良い。
従って、スケールファクタを決定するためには高信頼度
に決定し得るファクタを測定する必要がある。けい光体
ピッチはシャドーマスクシートのエッチングに使用する
技術仕様書から既知である（これが既知でない場合には
容易に測定することもできる）。更に、ビート周波数波
長も後に述べるように測定することができる。
上述したように、電子ビームを色選択電極の空間周波
数又はその約数の周波数から僅かに相違する空間周波数
を有するビデオ信号により変調するが、どの周波数を選
択するかは電子ビームの集束の質に応じて決める。例え
ば電子ビームの集束が弱い場合にビデオ信号の空間周波
数を色選択電極の空間周波数に近い値に選択すると、ビ
ート周波数の振幅が小さくなりすぎて有効でなくなる。
この問題はビデオ信号の空間周波数を色選択電極の空間
周波数の整数分の１、例えば1/2,1/3又は1/4から僅かに
相違する周波数に選択することにより緩和することがで
きる。低いビデオ信号周波数を選択するもう１つの利点
はビデオ増幅器は12MHzの信号より6MHzの信号を良好に
増幅し得る点にある。
本発明の測定方法の以下の例においては、電子ビーム
をシャドーマスクの空間周波数の1/2から僅かに相違す
る空間周波数を有するビデオ信号で強度変調する。それ
ぞれの微小スポットの輝度の振幅はスクリーンを走査す
る信号のサンプルとして処理する。各色に関連する微小
スポット又はサンプルは奇数番グループR1と偶数番グル
ープR2に分けられる。第５図は斯る１つの電子ビームの
強度を位置の関数としてグラフの形に示したものであ
る。変調ビデオ信号は高周波数の正弦波として実線で示
してある。図中の上向き矢印は微小ドットの位置を示し
ている。同一のグループ（R1又はR2）内の微小ドットの
間隔は水平ピッチｍの２倍である。ビデオ信号は波長λ
VIDEOを有する。グループR1の微小スポットの輝度の強
さ又は振幅は第５図に円形の黒点で示し、グループR2の
微小スポットの輝度の強さは四角の黒点で示してある。
グループR1の微小スポットの輝度の強さに適合する曲線
によりビート波形BW1が破線で示すように発生する。１
点鎖線で示すビート波形BW2がグループR2の微小スポッ
トの輝度の強さに適合する曲線により発生する。両ビー
ト波形の２個の順次の交差点間の距離はビート周波数の
波長λBEATの半分のλBEAT/2に対応する。これによりビ
ート周波数波形の波長及び位置の双方の測定精度が増大
する。
ビート周波数波形の位置及び波長の測定精度は、ビデ
オ変調を第５図のビデオ変調に対して90゜位相シフトさ
せると共にサンプリングを同一に行ない、第２のトレー
ス（第６図）を発生させることにより更に改善すること
ができる。この場合、奇数グループR1と偶数グループR2
のそれぞれの微小スポットの輝度の強さに適合する曲線
がビート波形BW1及びBW2に対しそれぞれ90゜シフトした
ビート波形BW3及びBW4が発生する。第５及び第６図のビ
ート波形の順次の零交差点間の距離の測定値は常にλ
BEAT/4になる。このように90゜位相関係にある２つのビ
デオ波形を用いることによりビート周波数を減少させて
測定精度を増大させることができる。
零交差点をサーチする方が最大輝度値又は最小輝度値
をサーチするよりも好ましい。その理由は最大又は最小
輝度値の点における勾配は零であるのに対し零交差点に
おける勾配は最大であるためである。
第７図は両方とも同一の空間周波数を有するビデオ信
号により変調された２つの電子ビームＡ及びＢを示す。
これら電子ビームは距離Ｙだけ互にシフトしている。Ａ
が例えば電子ビームの理想的な位置であり、Ｂが実際の
位置であるものとする。ビームＡ及びＢに対する奇数グ
ループR1の微小ドットの輝度の強さに適合する曲線がそ
れぞれビート波形BW5及びBW6を発生する。ビート波形BW
5及びBW6は距離Ｘだけ互にシフトする。ＸはＹの多数倍
である。これがため、この方法によればシフトＹを精密
に測定することができる。ＸとＹとの比、即ちスケール
ファクタＡは以下のように計算することができる。
本例ではビデオ信号の空間周波数はマスクの空間周波
数の約1/2とし、マスクの空間周波数に関連するサンプ
リング瞬時は２つのグループ即ち位置ｋ・2m（ここにｋ
＝0,1,2,3,…、及びｍ＝マスクピッチ）の奇数サンプル
点のグループR1と、位置ｋ・2m＋１の偶数サンプル点の
グループR2に分ける。ビデオ信号λVIDEOの波長はマス
クピッチの２倍（2m）から僅かに相違させ、 に等しくする。
固定のサンプリング位置Ｘ＝ｋ・ｍにおける輝度信号
の強度は、 であり、ここにＣ＝１＋Δ（Δ≪１）及びIO＝平均強度
である。
（１）式のＣに１＋Δを代入すると、 が得られる。
従って、 Ｉ＝IO（１＋sin（ｋπ＋ｋπ・Δ） ＝IO（１＋（−１）ksin kπΔ） （３） 偶数サンプル点:I＝IO（１＋sin kπΔ） 奇数サンプル点:I＝IO（１−sin kπΔ） となる。
スケールファクタの決定においては、ビデオ情報が１
波長シフトすると、ビート周波数も１波長（ビート周波
数波長）シフトすることに留意されたい。（３）式か
ら、ビート信号λBEATの波長は2m/Δに等しい。従っ
て、スケールファクタは となる。
本発明の測定方法を実施するにはモニタカメラの視野
（Ｈ）はビート周波数波長の少くとも2/3、 をカバーする必要がある。この場合、Δの最小値は になる。例えばＨ＝10mm及びｍ＝0.8mmの場合、Δ＝0.1
07になり、スケールファクタＡは になる。
電子ビームがどこに位置するか知りたい場合には、ス
テップ状ビデオ信号で変調されたトレースのサンプル列
から±m/2の精度で電子ビームの粗い位置を決定するこ
とができる。この粗い位置測定と略々同時に上述したビ
デオ信号で変調されたトレースをスクリーン上に発生さ
せる。このトレースの微小スポットの輝度値の奇数番及
び偶数番のサンプル列を用いて第５図にBW1及びBW2に示
すような互に反対位相の１対のビート周波数波形を発生
させることができる。
第５及び第６図は３本の電子ビームの１つを用いる際
の状態を示すものである。しかし、実際には３本の電子
ビームがあり、各ビームに対して各色の奇数番及び偶数
番サンプル（又は微小スポット）の輝度値に適合するビ
ート波形を発生し得る。
第８図は緑電子ビームと赤電子ビームとの間の粗コン
バーゼンス測定を説明するためのものである。緑電子ビ
ームを基準ビームとする。緑のトレースは実線で示し、
赤のトレースは破線で示してある。各トレースの低値と
高値を結ぶジグザグ線はその立上り緑及び立下り緑の正
確な位置が不明確であることを表わしている。他のジグ
ザグ線30,31は各パルスの“中間点”を示すが、この
“中間点”は±m/2の精度で推定することができるだけ
であることを示す。従って、コンバーゼンスエラーＹは
±m/2の精度にすぎず、Ｙが1mmであると推定された場
合、ｍ＝0.8mmの場合には緑ビームと赤ビームとの間の
実際の差は0.6mmから1.4mmの間にあることになる。
各電子ビームを同一の位相及び周波数のビデオ周波数
波形で変調して第５及び第６図につき述べたようなビー
ト周波数波形を発生させることにより、Ｙの値をもっと
高い精度で測定することができる。明瞭のため第９図と
赤と緑のサンプル値を示し、第10図に青と緑のサンプル
値を示してある。緑電子ビームは通常中心電子ビームで
あるから、緑電子ビームを基準ビームとし、外側のオフ
アクシスビームを緑ビームに対してコンバーゼンスす
る。これがため、緑スポットＧに関連する交点32と赤ス
ポットＲに関連する対応する交点34との間の距離を測定
することによりXR-Gの値が得られる。距離XG-Bも同様に
して得られる。これらの値XR-G及びXG-Bをスケールファ
クタＡで割算すれば、YR-G及びYG-Bの一層精密な値： YR-G＝XR-G/A YG-B＝XG-B/A が得られる。
粗測定は必要である。その理由は、実際上ビート周波
数波形はＸ方向に複数の交点32及び34を有するためであ
る。これがため、赤及び青交点を緑交点に対し測定する
際に複数の距離測定値、即ちXR-G;XR-G＋λBEAT（ここ
にλBEAT＝ビート周波数波長）;XR-G−λBEAT等、並び
にXG-B;XG-B＋λBEAT;XG-B−λBEAT等が得られる。これ
らの値のどれが正しいかを決定するために、それぞれの
距離測定値をスケールファクタで割算し、得られるた値
のどれがYR-G及びYG-Bの粗測定値の公差範囲内に入るか
を決定してこれを正しい測定値とみなす。
尚、輝度サンプル及びこれらサンプルの適合曲線の蓄
積を可視像を発生する必要なしにプログラムドコンピュ
ータにより実施することができる。また、本発明は上述
した適合曲線の例に限定されるものではない。第５図で
は２つの異なる適合曲線BW1及びBW2をシミュレートして
いる。しかし、グループR1の各サンプルに特定の微小ス
ポットの輝度の強さをパラメータとして割り当てないで
特定の微小スポットの輝度の強さとグループR2の２個の
隣接する微小スポットの輝度の平均強度との値の差を割
り当て、次いでこれらパラメータに曲線BW1′を割り当
てることもできる。こうして得られる曲線BW1′は零の
平均値を有すると共に曲線BW1の振幅の２倍を有する。
振幅が２倍になり、且つパラメータの平均値が既知であ
るから、斯る曲線BW1′の波長及び／又は位置を測定し
得る精度が曲線BW1の場合より平均して大きくなる。グ
ループR2のサンプルに対して同様の曲線BW2′を構成し
得ること勿論である。この場合、これらの曲線BW1′及
びBW2′を用いてビート周波数波形の位置及び／又は周
波数を一層精密に決定することができる。同一の方法で
曲線BW3′及び／又はBW4′を構成することもできること
勿論である。例えば各微小スポットに、（その微小スポ
ットの輝度の強さ）−（隣りの微小スポット輝度の強さ
×グループR1の微小スポットに対し＋１及びグループR2
の微小スポットに対し−１である関数）を割り当てるこ
とにより異なる曲線を構成することができる。これらパ
ラメータ値に適合する曲線BW1″はBW1′に類似するが1/
2mだけシフトされ、２倍のサンプリング点を有する。２
倍のサンプリング点を有するための曲線BW1″を確定し
得る精度が増大する。同様にして曲線BW2″,BW3″及びB
W4″も構成することができる。
算出された距離YR-G及びYG-Bが許容統計偏差内の場
合、３本のビームがスクリーン上で正しく集中する、即
ち赤及び青ビームが緑と一致するものと結論することが
できる。他方、これら距離が等しくなく且／又統計的に
決定される公差範囲外にある場合にはコンバーゼンスエ
ラーが存在する。
上述のコンバーゼンス測定技術は電子銃に装着された
少くとも１個の永久に磁化し得るリング内の多極磁界を
磁化して表示管の静コンバーゼンスを設定するのに用い
ることができる。適切な磁化方法は英国特許第2048625
号明細書に詳細に記載されている。
【図面の簡単な説明】
第１図は“インライン”電子銃型のシャドーマスク式カ
ラー表示管の１部を破除して示す斜視図、 第２図は第１図の円で囲んだ部分IIの拡大図、 第３図は表示スクリーン上のスポットの微小スポット構
造を示す拡大図、 第４図は電子ビームスポットの位置の粗測定の説明図、 第５〜10図は粗測定に対し行なうべきバーニア測定の計
算方法を説明するための波形図である。 11……管器、12……表示窓 13……コーン部、14……ネック部 15〜17……電子銃、18〜20……電子ビーム 21……アパーチャ 22……色選択電極（シャドーマスク） 23……表示スクリーン、28……微小スポット ｍ……アパーチャピッチ BW1,BW2,BW3,BW4,BW5,BW6……ビート周波数波形
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−277135（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−119817（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01J 9/44 H04N 17/04

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】色選択電極型表示管の電子ビームの位置を
    測定するに当り、電子ビームの位置の粗測定を行なうと
    共に、電子ビームを色選択電極の空間周波数又はその約
    数の周波数から相違する空間周波数を有するビデオ信号
    により強度変調し、色選択電極の各別のアパーチャを通
    過した電子ビームの電子によりけい光体スクリーンに発
    生したトレースを構成する微小スポットの輝度値を光学
    的にサンプリングし、これら輝度値に基づいて電子ビー
    ムの精密な位置を決定することにより電子ビーム位置の
    一層精密な測定を行なうことを特徴とする電子ビームの
    位置測定方法。
  2. 【請求項２】前記ビデオ信号の空間周波数は色選択電極
    の空間周波数又はその約数の周波数から僅かに相違させ
    ることを特徴とする請求項１記載の方法。
  3. 【請求項３】前記トレースを構成する微小スポットの輝
    度値に適合する曲線又はこれら微小スポットの輝度値か
    ら適宜構成したパラメータ値に適合する曲線によりビー
    ト周波数波形をシミュレートし、電子ビームの精密な位
    置をこのビート周波数波形から測定することを特徴とす
    る請求項１又は２記載の方法。
  4. 【請求項４】前記ビデオ信号の空間周波数は色選択電極
    の空間周波数の約数（1/n）の周波数から僅かに相違さ
    せ（ここにｎは整数）、360゜/nの相対位相差を有する
    ｎ個のビート周波数波形を発生させることを特徴とする
    請求項1,2又は３記載の方法。
  5. 【請求項５】フェースプレートとコーン部とネック部と
    から成る管器と、３つの異なる色を発光するけい光体ト
    リオから成る陰極ルミセッセンススクリーンと、色選択
    電極と、ネック部内にあって３本の電子ビームを発生す
    るインライン型電子銃装置とを具えたカラー表示管の水
    平コンバーゼンスを測定するに当り、第１中心電子ビー
    ムと外側の第２及び第３電子ビームの各々との間の距離
    を粗測定し、電子銃装置により発生された電子ビーム
    を、色選択電極の空間周波数又はその約数の周波数から
    異なる空間周波数を有するビデオ信号により同時に振幅
    変調して第１組のトレースを発生させ、電子の射突に応
    答してけい光体トリオの各別のけい光体素子により発生
    される微小スポットの輝度値をけい光体ピッチで光学的
    にサンプリングし、前記輝度値に基づいて３本のビーム
    の精密な相対位置を決定することを特徴とする水平コン
    バーゼンスの測定方法。
  6. 【請求項６】各電子ビームと関連するトレースの微小ス
    ポットの輝度値又はこれら微小スポットの輝度値から適
    宜構成したパラメータ値に適合する曲線によりビート周
    波数波形をシミュレートし、これらビート周波数波形か
    ら３本の電子ビームの精密な相対位置を測定することを
    特徴とする請求項５記載の方法。
  7. 【請求項７】各電子ビームの位置の測定は、第１及び第
    ２の電子ビーム並びに第１及び第３電子ビームに関連す
    るビート周波数波形の同一位相の波形の対応する点間の
    距離を測定することにより行なうことを特徴とする請求
    項６記載の方法。
  8. 【請求項８】前記ビデオ信号の周波数は色選択電極の空
    間周波数の約数の周波数から僅かに相違させ、各電子ビ
    ームによりスクリーン上に発生される微小スポットの輝
    度値の奇数番サンプル及び偶数番サンプル又は前記パラ
    メータ値の奇数番サンプル及び偶数番サンプルにそれぞ
    れ適合する曲線により２つの互に逆相のビート周波数波
    形をシミュレートすることを特徴とする請求項７記載の
    方法。
  9. 【請求項９】前記第１組のトレースを発生するビデオ信
    号に対し90゜移相した前記ビデオ周波数を有するビデオ
    信号により３本の電子ビームを振幅変調して第２組のト
    レースを同時に発生させることを特徴とする請求項８記
    載の方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8901295A (nl) * 1989-05-24 1990-12-17 Philips Nv Werkwijze voor het bepalen van een weergeefparameter in een beeldbuis en werkwijze voor het verbeteren van een beeldweergave in een beeldbuis.
JP3116457B2 (ja) * 1991-09-13 2000-12-11 株式会社村田製作所 コンバージェンス測定装置
US6897855B1 (en) * 1998-02-17 2005-05-24 Sarnoff Corporation Tiled electronic display structure
US20080160171A1 (en) * 2006-12-29 2008-07-03 United Technologies Corporation Electron beam physical vapor deposition apparatus and processes for adjusting the feed rate of a target and manufacturing a multi-component condensate free of lamination
RU2665744C2 (ru) * 2014-03-31 2018-09-04 Общество С Ограниченной Ответственностью "Рэнк" Устройство для создания механических колебаний

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55141868A (en) * 1979-04-23 1980-11-06 Sony Corp Color television receiver of beam index type
JPS55166391A (en) * 1979-06-14 1980-12-25 Sony Corp Television picture receiver
US4316211A (en) * 1980-09-30 1982-02-16 Rca Corporation Color kinescope convergence measuring system
DD160426A1 (de) * 1980-11-27 1983-07-27 Wilfried Regel Verfahren zur bestimmung des konvergenzfehlers an farbfernseh-bildwiedergaberoehren
JPS5974781A (ja) * 1982-10-21 1984-04-27 Toshiba Corp カラ−受像管のコンバ−ゼンス測定方法およびその測定装置

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