JPH043829B2 - - Google Patents

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JPH043829B2
JPH043829B2 JP60290303A JP29030385A JPH043829B2 JP H043829 B2 JPH043829 B2 JP H043829B2 JP 60290303 A JP60290303 A JP 60290303A JP 29030385 A JP29030385 A JP 29030385A JP H043829 B2 JPH043829 B2 JP H043829B2
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
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    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/202Non-electric appliances, e.g. scales, masks

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Electrophonic Musical Instruments (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、オシロスコープの如きフエースプレ
ートに内部目盛を有する波形表示装置の偏向を自
動的に較正する装置に関する。
〔従来技術とその問題点〕
通常、オシロスコープは高精度測定機器として
用いられるので、正確な較正を行なうことが重要
である。較正の1つの項目は、試験される波形の
振幅又は電圧(Y偏向)及び時間(X偏向)が正
確に表示されるための陰極線管(CRT)の電子
ビームの偏向精度に関係するものである。従来、
このためにオシロスコープの偏向波形入力として
較正された基準信号を用いて、予定の偏向が得ら
れるようにオシロスコープ回路の偏向率(感度)、
即ち増幅率を調整するのが常であつた。例えば、
オシロスコープの仕様では通常CRTフエースプ
レート上の目盛の1デイビジヨン(DIV)電子ビ
ームを偏向するには50mVの入力信号変化が必要
である。オシロスコープを定期的に較正すると、
その期間(ダウンタイム)、オシロスコープが使
えなくなるのみならず、適正な調整を行なえる技
量をもつた保守要員が必要になる。
CRT電子ビームの位置が予め定められるよう
に電子ビームの位置決めを自動的に制御すること
は可能である。例えば、カラーテレビジヨンに用
いられるビームインデツクス形CRTは、電子ビ
ームを分離した3原色の螢光体に正しく整合させ
るために、電子ビームの位置を正確につきとめる
ことができる。米国特許第4247869号、同第
2778971号、同第2790107号及び英国特許第822017
号は、インデツクス素子、即ち、電子ビームの実
際の位置を示す帰還信号を発生するストリツプま
たはバンドを有するCRTを開示している。電子
ビームがインデツクス素子を横切ると、インデツ
クス素子は光または電子を放射し、この放射は
CRT内で検出されて電子ビームの位置が判明す
る。しかしながら、このようなCRTの製造には
高度かつ複雑なスクリーニング技術を要するとい
う欠点がある。
したがつて、本発明の目的は、ダウンタイムが
なく熟練した保守要員による調整も必要ないオシ
ロスコープの偏向較正が行なえる装置を提供する
ことである。
本発明の他の目的は、CRTに特別なインデツ
クス手段を設けることなくオシロスコープの偏向
が較正できる装置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によれば、入力信号11に応じた偏向信
号を陰極線管10の偏向板14,16に供給し、
電子ビームの偏向を制御する偏向信号発生手段1
8と、陰極線管10の表示スクリーンに設けられ
た目盛26と、電子ビームと上記目盛26との交
差による発光変化を検出する光検出手段32と、
この光検出手段の出力信号と入力信号11とによ
り偏向信号発生手段18の入出力特性を自動的に
制御する制御手段38とを含む波形表示装置の較
正装置を較正している。
〔作用〕
本発明の好適実施例によれば、可視内部目盛を
有するCRTを有するオシロスコープの較正は、
電子ビームの目盛横断を検出することにより行な
われる。この電子ビームの目盛横断に応じて、電
子ビーム偏向信号と目盛に対応する基準偏向値と
が比較され、両者が一致するまで自動的に偏向が
制御される。したがつて、現在のオシロスコープ
の目盛を自動較正に用いることができる。好適実
施例では、電子ビームが目盛を横切るのを検出す
るためにCRTフエースプレートの端部近傍に光
電変換手段が配置される。電子ビームの目盛横断
時に目盛によつて散乱される光に応じて光電変換
手段は出力を発生する。この出力は、比較処理を
通してオシロスコープの偏向増幅器の利得調整に
用いられる。
〔実施例〕
第1図は本発明の原理を説明するための図であ
る。CRT10は電子銃12,垂直偏向板14,
水平偏向板16を有する。偏向増幅器18で発生
し、偏向板の各組に印加される信号により、電子
ビーム20は典型的な場合、CRTのフエースプ
レート22上を掃引され、CRT目盛、即ち目盛
スケール26を横切る走査線24が発生する。
目盛スケール26は好適にはフエースプレート
22の内面(即ち、電子銃12側の面)上に設け
られる。目盛スケールは、フエースプレート22
上にガラスフリツトを線状に印刷し、これを融解
して白い半透明の目盛を作ることにより構成され
る。その後、螢光スクリーンを構成する螢光体層
がフエースプレートの内面に目盛の上から形成さ
れる。このような型の目盛スケールはウイルバン
クス等による米国特許第3207936号に開示され、
更に第2図に示されている。第2図において、ガ
ラスフリツト線28は螢光体30が覆われてい
る。目盛をこのようにフエースプレートの内面に
形成することにより、螢光スクリーン上に電子ビ
ーム20で書込まれた情報と、これを測定するた
めに用いる目盛との間の視差を実質的に排除でき
る。目盛は、好適にはフエーズプレート22の端
部に設けたランプ(図示せず)により照明され
る。ランプはオンオフさせることができ、あるい
は発光強度を変えることができる。
本発明では、電子ビームの偏向を較正するため
に目盛を用いる。フエースプレート22の端部近
傍に、好適には第2図に示す如くフエースプレー
ト部材22を接触包囲する透明ガラスまたはプラ
スチツク製の光案内部材34を設けたノツチ内に
光電変換手段32、例えば光電セルまたはフオト
トランジスタを配置する。電子ビームが螢光スク
リーンの螢光体に衝突するときに発する光の一部
36は光電変換手段32により電気信号に変換さ
れて較正ジロツク回路36に送られる。特に、電
子ビーム20がフエースプレート上を掃引され、
フリツト線28を横切るとき、フリツト目盛線2
8の周囲の螢光体から発する光はフエースプレー
ト内を横方向に散乱して光電変換手段32に達す
る。その結果、第3図に示す如く電子ビーム20
がフエースプレート上を偏向されるにつれて、複
数のパルス40を含む光強度出力が光電変換手段
に入力される。各パルスは電子ビームがフリツト
線28を横切る度に出力される。この光強度の変
化は、電気信号の変化に変換され、較正ロジツク
回路38に送られる。較正ロジツク回路38は、
偏向増幅器18の利得を調整し、これによつて偏
向電子ビームは与えられた入力信号11に対して
入力信号の大きさを正確に描く。例えば、目盛線
間の偏向が50mVの電位差に対応するとすれば、
図示の例では水平偏向増幅器の利得は、入力信号
11が50mV変化したとき電子ビームが目盛線間
隔に対する距離だけ移動するように調整される。
偏向増幅器18の利得を変化させるには多くの
異なる装置を用い得る。例えば、較正ロジツク回
路38は、電子ビームが予定の速度で偏向される
とき光電変換手段32のパルス出力の周波数を予
定の基準値と比較する手段を有してもよい。この
場合、もしそのパルス周波数が高すぎたり低すぎ
たりすればそれに応じて偏向増幅器の利得が調整
される。
第4図に本発明による偏向制御回路のブロツク
図を示す。傾斜波発生器42の出力は偏向増幅器
18にその一方の入力11として供給される。偏
向増幅器18には第2の入力も供給される。増幅
器18はCRT10の水平偏向板を駆動する。フ
エースプレート22の端部に上述の如く配置した
光電変換手段32の出力は、信号増幅器46に入
力され、信号増幅器46の出力は電圧比較器48
に入力される。電圧比較器48は、その入力が予
め定めたレベルを超えたとき出力を発生し、この
出力は、傾斜波発生器42の出力を受けるアナロ
グデジタル変換器(ADC)50を始動させるた
めに用いられる。電圧比較器48の出力は、ま
た、電圧比較器48への入力が予め定めたレベル
を超えたとき、マイクロプロセツサ(μP)52
がデータバス54上のADC50の出力を処理す
るようにμP52を駆動する。
電圧比較器48は、ノイズ除去のために用いら
れるものであり、単に信号増幅器46の出力が予
め定めたレベルを超えたときADC50及びμP5
2を始動させる働きをする。予定のレベルを超え
る電圧比較器48への入力レベルは、傾斜波発生
器42の傾斜波出力によつて偏向される電子ビー
ムが目盛線を横切つたとき発生すべきである。し
たがつて、データバス54上のデジタル出力は、
水平走査線が目盛線と交差した時点の傾斜波発生
器42の出力電圧をデジタル形式に変換したもの
である。
μP52は計算処理を行ない、その出力信号を
デジタルアナログ変換器(DAC)56に供給す
る。DAC56はサンプルホールド(S/H)回
路58に対してオフセツト値を出力し、且つS/
H回路60に対して利得値を出力する。オフセツ
ト値は信号線44を介して差動偏向増幅器18の
第2の入力となる。S/H回路60からの利得値
は、増幅器18の利得を制御するために信号線6
2を介してAGC入力として増幅器18に供給さ
れる。
第4図の回路の動作は第5乃至第7図を参照す
ることによつてより明瞭となろう。μP52は記
憶手段を有し、記憶手段は、特定の目盛線の組、
例えば第1図に示す如き垂直目盛線に対して偏向
を行なうような適当な入力電圧である“基準レコ
ード”64を記憶する。即ち、第5図の基準レコ
ードの各ステツプ(階段)は異なる垂直目盛線に
対する記憶デジタル値に対応し、電子ビームがそ
の特定の目盛線を横切るときの入力信号11の期
待される正確な大きさを表わしている。第5図に
破線66で表わされる“新レコード”は、電子ビ
ームが各目盛線を横切つたときにADC50でデ
ジタル化された傾斜波発生器42の実際の出力値
に対応する。第5図の例では、2つのレコードに
かなりの差違があるだけでなく、中央で一方か他
方に対してオフセツトされている。10本の垂直目
盛線と2本の境界線があるとすれば、6番目のス
テツプは零偏向、即ちスクリーンの中央に相当
し、基準レコード及び新レコードは共にこの点で
0電圧縦線を指示すべきである。“オフセツトと
は、新レコードがその中央ステツプを0ボルトに
合わせるためにシフトすべき量を表わす。
再度、第4図を参照するに、μP52は記憶さ
れた0ボルトとスクリーン中央での傾斜波発生器
42の実際の出力のデジタル化された値とのオフ
セツト、即ち差を求める。μP52はこの差を決
定した後、その値をS/H回路58に記憶させ
る。このオフセツト値は増幅器18に接続される
信号線44上に出力され入力傾斜波から減算され
る。
第6図は、新レコード66が補正され6番目の
ステツプが基準レコードと一致した補正済新レコ
ード66である。そこで、各ステツプの基準レコ
ードは利得補正値を算出するために新レコード6
6で除算される。装置が線形であれば、基準レコ
ードの新レコードに対する比率は、6番目を除い
て各ステツプで一定になる筈である。この様子は
第7図に示されている。
μP52(第4図)は、更に6番目のステツプ
を除いて第7図の平均値を算出し、その逆数を
S/H回路60に入力する。S/H回路60の出
力は増幅器18の自動利得制御入力として信号線
62上に出力される。これにより、増幅器18の
利得は、傾斜波電圧がμP52の基準レコード記
憶手段に記憶された目盛線の予定値に対応する各
目盛線へ電子ビームを偏向させるように制御され
る。即ち、中央の目盛線の両側の目盛線が50mV
の変化に対応し、両側に続く順次の目盛線は更に
50mVずつの変化に対応するとすれば、増幅器1
8の利得は、傾斜波発生器42からの傾斜波が
50mV変化する毎に電子ビームを目盛線の間隔に
対応する距離分移動させるよう制御される。
フエースプレートが外部照明を受ける場合等、
較正中はスクリーンを覆い、及び/またはCRT
のZ軸を変調する(即ち、電子ビームの強度を例
えば20KHzで変調する)ことが有効である。信号
増幅器46に付加された同調回路は20KHz信号を
検出し、これにより外部からの照明によつてシス
テム動作が干渉されない。また、CRTの螢光体
には光電変換手段32が検出し易い波長の光を発
するものを用いる方がよい。
以上の本発明における特定動作説明では、大部
分、垂直目盛線を横切る電子ビームの水平偏向、
及びこの水平偏向を調整するための偏向増幅器の
利得補正について述べたが、垂直偏向についても
同様の補正が行なえることは容易に理解されよ
う。また、偏向増幅器の入力信号は説明の都合
上、傾斜波信号としたが、必ずしも傾斜波信号で
ある必要はない。
次に、μP52の動作について、第8乃至第1
0図を参照して説明する。好適にはインテル社製
タイプ8186から成るμPは、較正機能のみならず
多くの他の機能のためにオシロスコープに用いら
れる。第8図を参照するに、判断ブロツク70
は、μPが電圧比較器48からインタラプト信号
を受けたかどうかを判断する。インタラプト信号
を受けると、μPはブロツク70で、ADC50の
現在の出力を記憶手段に記憶させる。この記憶値
は第5図の新レコードの1ステツプ、即ち、目盛
線を電子ビームが横切つたときの入力傾斜波の電
圧値に対応する。ブロツク74では、今、検出し
た電圧値が最後の目盛線に対応するものかどうか
が判断され、最後でなければブロツク70に制御
が戻る。最後の目盛線に対応する電圧値が記憶さ
れたら、ブロツク76で新レコードと基準レコー
ドの両方の中央ステツプの値の差が検出される。
差が検出されると、ブロツク78でオフセツト値
がS/H回路58に入力される。また、ブロツク
76では各ステツプで基準レコードが新レコード
で除算され、その平均値の逆数がブロツク80で
増幅器18の利得制御フアクタとして出力され
る。
第9図は、ブロツク72の電圧値記憶サブルー
チンを詳細に示したものである。ブロツク82で
ADC50が読出され、ブロツク84でそのデジ
タル変換値がメモリ記憶位置Nに書込まれる。次
に、ブロツク86でNがN+1にインクリメント
され、メインプログラムのブロツク74に戻る。
第10図は第8図のメインプログラムのブロツ
ク76のレコード比較サブルーチンを詳細に示し
たものである。ブロツク88では記憶位置0、即
ち新レコードの6番目のステツプ(第5図)の電
圧値が読出され、ブロツク90で上述のオフセツ
ト値が記憶位置0の値になる。ブロツク92で
は、すべての新レコードステツプからオフセツト
値が減算され、第6図の新レコード66′が算出
される。また、オフセツト値はS/H回路58に
送出される。ブロツク94では、基準レコードが
各ステツプで新レコード66′によつて除算され、
第7図の如き出力を得た後、ブロツク96でこれ
らの平均値が算出される。ブロツク98では、
μPで平均値の逆数が算出され、これが上述の利
得になる。この利得値は、DAC56を介して
S/H回路60に送られる。その後、制御がメイ
ンプログラムに戻る。
〔発明の効果〕
以上のとおり、本発明によると内部目盛付き
CRTを有する波形表示装置の電圧及び/または
時間軸を、パワーアツプ時又はその他任意時に自
動的に直接目盛を基準にして較正するので、常時
較正された測定が可能となる。また、較正に人が
介在しないので較正に個人差が生じることがな
く、較正の為の装置のダウンタイムも実質的に存
しない。また、本発明では特別のCRTを必要と
せず、ガラスフリツト又は食刻等による内部目盛
を有する従来のCRTを用いることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理を説明する説明図、第
2図は本発明に用いられるCRTのフエースプレ
ートの断面図、第3図は光電変換手段32の出力
波形図、第4図は本発明による装置のブロツク
図、第5図は基準レコード及び補正前の新レコー
ドを示す線図、第6図は基準レコード及びオフセ
ツト補正後の新レコードを示す線図、第7図は除
算結果を示す線図、第8図乃至第10図は第4図
の回路動作を説明するための流れ図である。 図中、11は偏向入力信号、18は偏向信号発
生手段(偏向増幅器)、32は光検出手段(光電
変換手段)、38は制御手段(較正ロジツク回路)
を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入力信号に応じた偏向信号を陰極線管の偏向
    板に供給し、電子ビームの偏向を制御する偏向信
    号発生手段と、 上記陰極線管の表示スクリーンに設けられた目
    盛と、 上記電子ビームと上記目盛との交差による発光
    変化を検出する光検出手段と、 該光検出手段の出力信号と上記入力信号とによ
    り上記偏向信号発生手段の入出力特性を自動的に
    制御する制御手段とを具えることを特徴とする波
    形表示装置の較正装置。
JP60290303A 1984-12-24 1985-12-23 波形表示装置の較正装置 Granted JPS61155965A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/685,879 US4677340A (en) 1984-12-24 1984-12-24 Method and apparatus for calibrating deflection in an oscilloscope
US685879 1984-12-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61155965A JPS61155965A (ja) 1986-07-15
JPH043829B2 true JPH043829B2 (ja) 1992-01-24

Family

ID=24754046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60290303A Granted JPS61155965A (ja) 1984-12-24 1985-12-23 波形表示装置の較正装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4677340A (ja)
EP (1) EP0195162B1 (ja)
JP (1) JPS61155965A (ja)
DE (1) DE3582494D1 (ja)

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Also Published As

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JPS61155965A (ja) 1986-07-15
EP0195162A2 (en) 1986-09-24
EP0195162B1 (en) 1991-04-10
DE3582494D1 (de) 1991-05-16
EP0195162A3 (en) 1987-03-18

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