JPS62131409A - 電子材料セラミツクの製造法 - Google Patents
電子材料セラミツクの製造法Info
- Publication number
- JPS62131409A JPS62131409A JP27066485A JP27066485A JPS62131409A JP S62131409 A JPS62131409 A JP S62131409A JP 27066485 A JP27066485 A JP 27066485A JP 27066485 A JP27066485 A JP 27066485A JP S62131409 A JPS62131409 A JP S62131409A
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- electronic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁器コンデンサー等の′I往千部品基材乃金は
コンデンサー内蔵磁器基板等の電子部品内蔵電子回路用
基体など電子材料として利用し得る電子材料セラミック
の製造法に関する。
コンデンサー内蔵磁器基板等の電子部品内蔵電子回路用
基体など電子材料として利用し得る電子材料セラミック
の製造法に関する。
従来、電子回路用基体は、導体回路のみ、導体回路と抵
抗、もしくは導体回路と抵抗と限られた範囲のコンデン
サーを具備して構成され、その他の機能部分は、素子と
して分離して基体に装着されていた。
抗、もしくは導体回路と抵抗と限られた範囲のコンデン
サーを具備して構成され、その他の機能部分は、素子と
して分離して基体に装着されていた。
即ち、例えば、従来の磁器基板においては、導体と抵抗
体の内蔵基板が中心であり、コンデンサーはチップ部品
等としてはんだ付により装着していた。この為、′重子
回路の小型化には限界があった。第7図にその1例を示
す。71は磁器基板、72は導体回路、73は抵抗体、
74はチップコンデンサーである。
体の内蔵基板が中心であり、コンデンサーはチップ部品
等としてはんだ付により装着していた。この為、′重子
回路の小型化には限界があった。第7図にその1例を示
す。71は磁器基板、72は導体回路、73は抵抗体、
74はチップコンデンサーである。
例えば、半導体磁器を誘電体化して得られる誘電体磁器
について、近年、同一の磁器基板内で誘電率を変化させ
る基により、基板内に複数個のコンデンサーを内蔵させ
ようとする試みがなされている。つまり第8図に示すよ
うに、高誘電率ε1の部分81.83と低誘電率(2の
部分82を分離するバにより同一基板上に複数個のコン
デンサーを形成させようとする試みである。しかしなが
ら、従来、同一基板内に異なった誘電体部分を形成する
方法が非常に難しく1例えば積層セラミ・・ツクコンデ
ンサーを作製する場合の煩雑さを考えれば自明である様
に、複数個のコンデンサーを内蔵する基板は、未だ実現
乃至実用化5れていないのか現状である。また、高話゛
−を率の部分81゜83を限られた構造スペースのなか
で動作−h7Eいに影響を及ぼし合わない程度に素子機
能部分として十分に分離された状態にすることも、重要
な技術的課題となっていた。
について、近年、同一の磁器基板内で誘電率を変化させ
る基により、基板内に複数個のコンデンサーを内蔵させ
ようとする試みがなされている。つまり第8図に示すよ
うに、高誘電率ε1の部分81.83と低誘電率(2の
部分82を分離するバにより同一基板上に複数個のコン
デンサーを形成させようとする試みである。しかしなが
ら、従来、同一基板内に異なった誘電体部分を形成する
方法が非常に難しく1例えば積層セラミ・・ツクコンデ
ンサーを作製する場合の煩雑さを考えれば自明である様
に、複数個のコンデンサーを内蔵する基板は、未だ実現
乃至実用化5れていないのか現状である。また、高話゛
−を率の部分81゜83を限られた構造スペースのなか
で動作−h7Eいに影響を及ぼし合わない程度に素子機
能部分として十分に分離された状態にすることも、重要
な技術的課題となっていた。
また、この様な電子部品乃至は電子回路用基体にまつわ
る問題点は、誘電体磁器に限らず、前述17た半導体磁
器を利用する電子部品乃至は電子回路用基体の製造の分
野においても普く顕現されていた。
る問題点は、誘電体磁器に限らず、前述17た半導体磁
器を利用する電子部品乃至は電子回路用基体の製造の分
野においても普く顕現されていた。
本発明の目的は、従来の問題点を解決し、電子部品乃至
は′電子回路用基体の機能部分を上のに分1苛された状
態で画成し得るセラミックの製造法を提供すべくなされ
たものである。
は′電子回路用基体の機能部分を上のに分1苛された状
態で画成し得るセラミックの製造法を提供すべくなされ
たものである。
h足口的は、半導体磁器の所定部位の表層部分に電子部
品形成用拡散源からの拡散層を形成せしめることにより
、前記磁器内部に互いに分離した2つ以りの電子部品構
成単位を形成せしめることを特徴とする未発明のセラミ
−/りの製造法によって達成される。
品形成用拡散源からの拡散層を形成せしめることにより
、前記磁器内部に互いに分離した2つ以りの電子部品構
成単位を形成せしめることを特徴とする未発明のセラミ
−/りの製造法によって達成される。
未発[す1方法により製造される電子材料セラミ・ンク
内部に形成される電子部品構成単位は、例えはコンデン
サー、抵抗、絶縁体、ダイオード、トランジスター等の
広範な電子部品の構成中位のなかから選択することがで
き、また同一セラミック中に2種類以ヒの′電子部品構
成単位を形成してもよい、また、使用する半導体磁器も
、形成する電子部品構成単位の種類に応じて、半導体化
し得る広範な磁器のなかから、適宜選択することができ
る。
内部に形成される電子部品構成単位は、例えはコンデン
サー、抵抗、絶縁体、ダイオード、トランジスター等の
広範な電子部品の構成中位のなかから選択することがで
き、また同一セラミック中に2種類以ヒの′電子部品構
成単位を形成してもよい、また、使用する半導体磁器も
、形成する電子部品構成単位の種類に応じて、半導体化
し得る広範な磁器のなかから、適宜選択することができ
る。
以下、半導体磁器に複数のコンデンサー構成中位を形成
した電子材料セラミックについて、本発明の詳細な説明
するが、本発明の実施態様はこれに限定されない。
した電子材料セラミックについて、本発明の詳細な説明
するが、本発明の実施態様はこれに限定されない。
コンデンサー構成単位を形成する場合、基体となる半導
体磁器は、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム
等又はこれらの複合酸化物で構成することができ、具体
的には、BaTiO3,5rTiO,、、MgTiO3
、(Ba、5r)(T i 、 S n) 03系複合
酸化物(固溶体も含む)、(Ba 、S r)Ti03
系複合酸化物(固溶体も含む)、(Mg、Sr、Ca)
Ti03系複合酸化物(固溶体も含む)、(Sr、Pb
)T i O3系複合酸化物(固溶体も含む)、。
体磁器は、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム
等又はこれらの複合酸化物で構成することができ、具体
的には、BaTiO3,5rTiO,、、MgTiO3
、(Ba、5r)(T i 、 S n) 03系複合
酸化物(固溶体も含む)、(Ba 、S r)Ti03
系複合酸化物(固溶体も含む)、(Mg、Sr、Ca)
Ti03系複合酸化物(固溶体も含む)、(Sr、Pb
)T i O3系複合酸化物(固溶体も含む)、。
(S r Ca) T i 03系複合酸化物(固溶体
も含む) 、Fe703 、ZnOなどの?A重体成分
に、寥々体化に必要な成分としてLa、Dy、Nd、Y
、Nb、Ta、Er、Gd、1(o、Ce等の酸化物な
どを添加し混合した後、圧粉状の成形体を得、−次焼成
して半導体化することにより得ることができる0次いで
この半導体磁器の表面に金属又は金属酸化物(例えばB
i、Cu、CuO。
も含む) 、Fe703 、ZnOなどの?A重体成分
に、寥々体化に必要な成分としてLa、Dy、Nd、Y
、Nb、Ta、Er、Gd、1(o、Ce等の酸化物な
どを添加し混合した後、圧粉状の成形体を得、−次焼成
して半導体化することにより得ることができる0次いで
この半導体磁器の表面に金属又は金属酸化物(例えばB
i、Cu、CuO。
MnO2、T 1703 、PbO、P205 。
Bi203 、Nb20.ZnO,Fe703 。
KMnO4、B aM n()4等)を塗布し、二次焼
成して粒界絶縁層を形成せしめることにより誘電体を構
成成分とする磁器が得られる。
成して粒界絶縁層を形成せしめることにより誘電体を構
成成分とする磁器が得られる。
この例において本発明を実施する場合、前述した一次焼
成により得られる半導体磁器の表面l−に、′電子部品
形成用拡散源として、例えば前述した金属又は金属酸化
物を互いに離隔した部位で塗布して拡散源の層を形成し
、次いで通常酸化性雰囲気中で二次焼成することにより
、半導体磁器表面l―に前記拡散源からの、写いに離隔
した2つ以F;の拡散層を形成することにより、2つ以
1−の高話’+lf体部分を形成する。
成により得られる半導体磁器の表面l−に、′電子部品
形成用拡散源として、例えば前述した金属又は金属酸化
物を互いに離隔した部位で塗布して拡散源の層を形成し
、次いで通常酸化性雰囲気中で二次焼成することにより
、半導体磁器表面l―に前記拡散源からの、写いに離隔
した2つ以F;の拡散層を形成することにより、2つ以
1−の高話’+lf体部分を形成する。
あるいは、低誘電率化し得る拡散源として、例えばMg
TiO3、S i02 、Al;+ 03笠の、轡を形
成して二次焼成により半導体磁器の表層部分に低誘’I
lt率の拡散層を形成せしめると共に、この拡散層の周
囲に1いに離隔した状態で前述した金属又は金属酸化物
による高AA電率の拡散層を形成せしめて、2つ以ヒの
高誘電体部分を低1誘電率の拡散層を介して分離せしめ
る。この場合、高誘電体部分は半導体磁器の表層部分の
みに限って形成する心霊はなく、例えば半導体磁器の胃
なる表層部分を連通する形で形成してもよい。また、−
次焼成によりqいに離隔した高誘電を形成した後、これ
らの間に低誘電率化し得る拡散源の拡散層を形成しても
よい。
TiO3、S i02 、Al;+ 03笠の、轡を形
成して二次焼成により半導体磁器の表層部分に低誘’I
lt率の拡散層を形成せしめると共に、この拡散層の周
囲に1いに離隔した状態で前述した金属又は金属酸化物
による高AA電率の拡散層を形成せしめて、2つ以ヒの
高誘電体部分を低1誘電率の拡散層を介して分離せしめ
る。この場合、高誘電体部分は半導体磁器の表層部分の
みに限って形成する心霊はなく、例えば半導体磁器の胃
なる表層部分を連通する形で形成してもよい。また、−
次焼成によりqいに離隔した高誘電を形成した後、これ
らの間に低誘電率化し得る拡散源の拡散層を形成しても
よい。
なお、これらの例において、使用する拡散源は適宜変え
てもよいし、また、形成されるコンデンサー構1& l
−位の数にも特に制限はない。
てもよいし、また、形成されるコンデンサー構1& l
−位の数にも特に制限はない。
かくして得られる本発明の電子材料セラミックには、各
々の高誘電体部分の表面上に導体部分(′電極、引出し
部″9)を設けることにより、複数個のコンデンサーを
内蔵させることができる。また更に、セラミックの内部
乃至は周囲に、導体部分、抵抗体乃至は絶縁体部分(例
えば通常のFlj膜乃至は厚膜形成法により形成される
)を形成して、多くの機能部分を備えた電子部品乃至は
電子回路用基体とすることができる。
々の高誘電体部分の表面上に導体部分(′電極、引出し
部″9)を設けることにより、複数個のコンデンサーを
内蔵させることができる。また更に、セラミックの内部
乃至は周囲に、導体部分、抵抗体乃至は絶縁体部分(例
えば通常のFlj膜乃至は厚膜形成法により形成される
)を形成して、多くの機能部分を備えた電子部品乃至は
電子回路用基体とすることができる。
以下、旦体的実施例を示して、本発明を更に、洋しく説
明するが、本発明の実施の態様はこれにより限定されな
い。
明するが、本発明の実施の態様はこれにより限定されな
い。
実施例1
第1図に示した様に、−次焼成により形成されりM g
T i 03− D y 203− S i O2糸
’F導体磁器フ、(板11(厚み0.6mm)の主面(
7) 7fいに離隔した位置に、高誘電体化のだめのM
n O7溶液の塗布層12,12.12.12を形成
し、またこれら塗布層の間に低誘′11i率化のための
MgTiO3粉のペーストを印刷し塗布層13.13を
形成した。
T i 03− D y 203− S i O2糸
’F導体磁器フ、(板11(厚み0.6mm)の主面(
7) 7fいに離隔した位置に、高誘電体化のだめのM
n O7溶液の塗布層12,12.12.12を形成
し、またこれら塗布層の間に低誘′11i率化のための
MgTiO3粉のペーストを印刷し塗布層13.13を
形成した。
次いで、この様に塗布層を形成した寥導体磁器を酸化雰
囲気中、1250℃で2時間焼成して、第2図に示した
様に2つの高誘電体部分21゜21の間に低?A電率の
拡散層22.23 (深さ200μm、幅約1mm)を
介在させた電子材料セラミックを形成した。
囲気中、1250℃で2時間焼成して、第2図に示した
様に2つの高誘電体部分21゜21の間に低?A電率の
拡散層22.23 (深さ200μm、幅約1mm)を
介在させた電子材料セラミックを形成した。
次いで、第3図に示した様に、前記高話゛這体部分21
.21の両側に銀ペーストを塗布し、850℃で焼付け
て電極31,32,33.34を形成することにより、
2つのコンデンサーを内蔵する磁器基板を得た。
.21の両側に銀ペーストを塗布し、850℃で焼付け
て電極31,32,33.34を形成することにより、
2つのコンデンサーを内蔵する磁器基板を得た。
参考例I
低誘電率化拡散層を設けない以外は実施例1と同一の磁
器基板を得た(第4図、第3図と同一要素を同一符号で
表わしている)。
器基板を得た(第4図、第3図と同一要素を同一符号で
表わしている)。
かくして実施例1及び参考例1で得られた複数のコンデ
ンサーを内蔵した電子回路用基体について、コンデンサ
ー容賃を測定した。結果を第1表に示した。
ンサーを内蔵した電子回路用基体について、コンデンサ
ー容賃を測定した。結果を第1表に示した。
第 1 表
第1表から、本発明方法により得られる′電子材料セラ
ミックには、2つ以上〇′市子部品構成中位が素子機能
部分として十分に分離された状態で形成される。
ミックには、2つ以上〇′市子部品構成中位が素子機能
部分として十分に分離された状態で形成される。
実施例2
参考例1で得られた磁器基板(第4図、但し銀電極を形
成していない)の高誘電体部分21゜21の間の表面上
に、低?JJ’を率化のためのホウケイ酸鉛ガラス粉末
のペーストをスクリーン印刷し、850℃、10分間の
加熱プロセスを4回繰返し、第5図に示した様な深さ1
00〜200用mの拡散層51.52を形成した0次い
で、実施例1と同様に銀電極53,54,55.56を
形成した。
成していない)の高誘電体部分21゜21の間の表面上
に、低?JJ’を率化のためのホウケイ酸鉛ガラス粉末
のペーストをスクリーン印刷し、850℃、10分間の
加熱プロセスを4回繰返し、第5図に示した様な深さ1
00〜200用mの拡散層51.52を形成した0次い
で、実施例1と同様に銀電極53,54,55.56を
形成した。
かくして得られた゛電子回路用基体について、コンデン
サー容置を測定した。結果を第2表に示した。
サー容置を測定した。結果を第2表に示した。
第 2 表
なお、実施例1.2において、拡散層22゜23 、5
1 、52は磁器基板の片方の主面にのみ設けておいて
もよいが、コンデンサー素子機能分離のためには、両主
面に設けた方がより効果的である。
1 、52は磁器基板の片方の主面にのみ設けておいて
もよいが、コンデンサー素子機能分離のためには、両主
面に設けた方がより効果的である。
本発明方法により得られるの′重子材料セラミンクは、
誘電率の異なる誘電体等半導体を利用した機能部分を複
数画成し得る。従って、これを用いて構成される電子部
品や電子回路用基体等は、各種容重のコンデンサー等の
半導体を利用した素子機能部分を複数内蔵することがで
き、また例えば前記基体に導体、抵抗体、絶縁体等の各
種機能部分を形成することにより、多くの機能部分を備
え、しかも小型化され安価な電子回路用基体等となる。
誘電率の異なる誘電体等半導体を利用した機能部分を複
数画成し得る。従って、これを用いて構成される電子部
品や電子回路用基体等は、各種容重のコンデンサー等の
半導体を利用した素子機能部分を複数内蔵することがで
き、また例えば前記基体に導体、抵抗体、絶縁体等の各
種機能部分を形成することにより、多くの機能部分を備
え、しかも小型化され安価な電子回路用基体等となる。
また、この様に基体内でのコンデンサー、抵抗等の設計
の自由度を大幅に向ヒさせることができる。
の自由度を大幅に向ヒさせることができる。
第1図乃至第3図は、本発明方法の1実施例の製造上程
を説明するための図であり、第1図は拡散源の層を塗布
した半導体磁器基板、第2図は拡散層を形成した後の磁
器基板、第3図はこの磁器ノS板表面に電極を設けた電
子回路用基体の夫々の断面図である。 第4図は、第3図の基板において拡散層を設けない参考
例の基板の断面図である。 第5図は、本発明方法の他の実施例で得られる′1シ子
回路用基体の断固である。 第6図は第2図の磁器基板のシ面図である。 第7図は、従来の磁器基板の断面図である。 第8図は、従来試みられている方法による複数の高誘電
体部分を有する磁器基板の断面図である。 21・・・高誘電体部分。 22.23,51,52・・・低誘電率拡散層。 63・・・導体。 64・・・抵抗体。 65・・・絶縁体。 代理人 弁理士 山 下 穣 W第1図
第2図 第5図
を説明するための図であり、第1図は拡散源の層を塗布
した半導体磁器基板、第2図は拡散層を形成した後の磁
器基板、第3図はこの磁器ノS板表面に電極を設けた電
子回路用基体の夫々の断面図である。 第4図は、第3図の基板において拡散層を設けない参考
例の基板の断面図である。 第5図は、本発明方法の他の実施例で得られる′1シ子
回路用基体の断固である。 第6図は第2図の磁器基板のシ面図である。 第7図は、従来の磁器基板の断面図である。 第8図は、従来試みられている方法による複数の高誘電
体部分を有する磁器基板の断面図である。 21・・・高誘電体部分。 22.23,51,52・・・低誘電率拡散層。 63・・・導体。 64・・・抵抗体。 65・・・絶縁体。 代理人 弁理士 山 下 穣 W第1図
第2図 第5図
Claims (1)
- 半導体磁器の所定部位の表層部分に電子部品形成用拡
散源からの拡散層を形成せしめることにより、前記磁器
内部に互いに分離した2つ以上の電子部品構成単位を形
成せしめることを特徴とする電子材料セラミックの製造
法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27066485A JPS62131409A (ja) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | 電子材料セラミツクの製造法 |
US06/892,320 US4759965A (en) | 1985-08-06 | 1986-08-04 | Ceramic, preparation thereof and electronic circuit substrate by use thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27066485A JPS62131409A (ja) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | 電子材料セラミツクの製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62131409A true JPS62131409A (ja) | 1987-06-13 |
Family
ID=17489231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27066485A Pending JPS62131409A (ja) | 1985-08-06 | 1985-12-03 | 電子材料セラミツクの製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62131409A (ja) |
-
1985
- 1985-12-03 JP JP27066485A patent/JPS62131409A/ja active Pending
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