JPS62123829A - D/a変換器評価装置 - Google Patents
D/a変換器評価装置Info
- Publication number
- JPS62123829A JPS62123829A JP26447785A JP26447785A JPS62123829A JP S62123829 A JPS62123829 A JP S62123829A JP 26447785 A JP26447785 A JP 26447785A JP 26447785 A JP26447785 A JP 26447785A JP S62123829 A JPS62123829 A JP S62123829A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、D/A変換器評価装置に関するものであり、
詳しくは、高速型のD/A変換器のダイナミック動作の
評価に好適な装置に関するものである。
詳しくは、高速型のD/A変換器のダイナミック動作の
評価に好適な装置に関するものである。
(従来の技術)
第4図は、従来の高速型D/A変換器のダイナミック特
性を評価する装置の一例を示すブロック図である。第4
図において、1は正弦波デジタルパターンデータを発生
するパターン発生器であり、その出力データは被評価D
/A変換器(以下D/A変換器という)2に加えられて
アナログ正弦波信号に変換される。3はD/A変換器2
から変換出力されるアナログ正弦波信号の歪率を測定す
る歪率計である。
性を評価する装置の一例を示すブロック図である。第4
図において、1は正弦波デジタルパターンデータを発生
するパターン発生器であり、その出力データは被評価D
/A変換器(以下D/A変換器という)2に加えられて
アナログ正弦波信号に変換される。3はD/A変換器2
から変換出力されるアナログ正弦波信号の歪率を測定す
る歪率計である。
このように構成することにより、D/A変換器2から変
換出力されるアナログ正弦波信号の歪率は歪率計3で測
定されることになる。
換出力されるアナログ正弦波信号の歪率は歪率計3で測
定されることになる。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、このような従来の構成では、例えばD/A変換
器2が10ピット程度の分解能になるように構成されて
いて10M Hz程度の高速で駆動されている場合には
、その最小分解能入力ピット(以下LSBという)が高
速に動作していることを確認することは困難である。
器2が10ピット程度の分解能になるように構成されて
いて10M Hz程度の高速で駆動されている場合には
、その最小分解能入力ピット(以下LSBという)が高
速に動作していることを確認することは困難である。
本発明は、このような点に着目してなされたものであっ
て、その目的は、比較的簡単な構成で、D/A変換器の
ダイナミック特性を188まで評価できる装置を提供す
ることにある。
て、その目的は、比較的簡単な構成で、D/A変換器の
ダイナミック特性を188まで評価できる装置を提供す
ることにある。
〈問題点を解決するための手段ン
このような目的を達成する本発明は、D/A変換器を最
高速度で選択的に1ビツトずつ駆動する手段と、各ビッ
トの基本波成分の出力レベルを測定する手段とで構成さ
れたことを特徴とする。
高速度で選択的に1ビツトずつ駆動する手段と、各ビッ
トの基本波成分の出力レベルを測定する手段とで構成さ
れたことを特徴とする。
(実施例)
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、第
4図と同一部分には同一符号を付けている。第1図にお
いて、4はD/A変t/AB2をそのD/A変換器2の
最高速度で選択的に1ビツトずつ駆動する駆動回路、5
はD/A変換器2の各ビットの基本波成分の出力レベル
を測定する選択レベル計である。
4図と同一部分には同一符号を付けている。第1図にお
いて、4はD/A変t/AB2をそのD/A変換器2の
最高速度で選択的に1ビツトずつ駆動する駆動回路、5
はD/A変換器2の各ビットの基本波成分の出力レベル
を測定する選択レベル計である。
第2図は、第1図の駆動回路4の具体例を示す回路図で
ある1第2図において、PGは周波数がD/A変換器2
の最高速度に対応しデユーティレシオが50%の矩形波
信号を発生するパルス発生器である。この矩形波信号は
、スイッチ5W40〜5W4nを介してD/A変換器2
の各ビット入力端子DO〜[)nに加えられるとともに
、遅延回路OLを介してクロック端子GKに加えられる
。ここで、スイッチ5W40〜5W4nは、任意の1ビ
ツトのみを選択的にパルス発生器PGに接続して他のビ
ットはすべて共通電位点に接続するように構成されてい
る。遅延回路DLの遅延時間は、スイッチ5W40〜5
W4nの切換設定に十分な時間に設定されている。なお
、Aはアナログ信号の出力端子である。
ある1第2図において、PGは周波数がD/A変換器2
の最高速度に対応しデユーティレシオが50%の矩形波
信号を発生するパルス発生器である。この矩形波信号は
、スイッチ5W40〜5W4nを介してD/A変換器2
の各ビット入力端子DO〜[)nに加えられるとともに
、遅延回路OLを介してクロック端子GKに加えられる
。ここで、スイッチ5W40〜5W4nは、任意の1ビ
ツトのみを選択的にパルス発生器PGに接続して他のビ
ットはすべて共通電位点に接続するように構成されてい
る。遅延回路DLの遅延時間は、スイッチ5W40〜5
W4nの切換設定に十分な時間に設定されている。なお
、Aはアナログ信号の出力端子である。
第3図は、D/A変換器2の具体例を示す回路口であり
、R−2R型の例を示している。第3図において、vr
は基準電圧源である。基*m電圧源「の−側端子は共通
電位点に接続され、+側端子は各ビット入力端子Do−
Dnに対応したスイッチ5W20〜5W2nの一方の固
定接点aに接続されている。なお、スイッチ5W20−
3W2nの他方の固定接点すは共通電位点に接続され、
可動接点Cは直列接続されている複数の抵抗Rの接続点
にそれぞれ抵抗2Rを介して接続されている。そして、
これら抵抗Rの直列回路の両端は抵抗Rを介して共通電
位点に接続され、一端のこれら抵抗Rの接続点にはアナ
ログ信号出力端子Aが接続されている。
、R−2R型の例を示している。第3図において、vr
は基準電圧源である。基*m電圧源「の−側端子は共通
電位点に接続され、+側端子は各ビット入力端子Do−
Dnに対応したスイッチ5W20〜5W2nの一方の固
定接点aに接続されている。なお、スイッチ5W20−
3W2nの他方の固定接点すは共通電位点に接続され、
可動接点Cは直列接続されている複数の抵抗Rの接続点
にそれぞれ抵抗2Rを介して接続されている。そして、
これら抵抗Rの直列回路の両端は抵抗Rを介して共通電
位点に接続され、一端のこれら抵抗Rの接続点にはアナ
ログ信号出力端子Aが接続されている。
このように構成された装置の動作について説明する。
ビット入力端子Do−Dnには、駆動回路4のパルス発
生器PGから、周波数がD/A変換器2の!&高速度に
対応しデユーティレシオが50%の矩形波信号が、スイ
ッチ5W40−8W4nを介してスイッチ5W20−8
W2nを選択的に1ビツトずつ切換駆動するためのビッ
ト制御信号として加えられる。これにより、アナログ信
号出力端子Aには、基準電圧源■rの出力電圧の大きさ
が指定されたビットの重みに従って分圧された所定の振
幅を有し、周波数がD/A変換器2の最高速度に対応し
デユーティレシオが50%の矩形波信号が出力されるこ
とになる。ここで、アナログ信号出力端子Aに出力され
る各ビットごとの矩形波信号のIJtx幅の理論値は、
予め計算で求めることができる。
生器PGから、周波数がD/A変換器2の!&高速度に
対応しデユーティレシオが50%の矩形波信号が、スイ
ッチ5W40−8W4nを介してスイッチ5W20−8
W2nを選択的に1ビツトずつ切換駆動するためのビッ
ト制御信号として加えられる。これにより、アナログ信
号出力端子Aには、基準電圧源■rの出力電圧の大きさ
が指定されたビットの重みに従って分圧された所定の振
幅を有し、周波数がD/A変換器2の最高速度に対応し
デユーティレシオが50%の矩形波信号が出力されるこ
とになる。ここで、アナログ信号出力端子Aに出力され
る各ビットごとの矩形波信号のIJtx幅の理論値は、
予め計算で求めることができる。
従って、選択レベル計5で各ビットが選択的に駆動され
た状態におけるアナログ出力信号の基本波成分の大きさ
を測定することにより、MSBがらLSBまでの各ビッ
トの最高速度におけるD/A′ll換動作の状態を各ビ
ット毎に単独に評価することができる。
た状態におけるアナログ出力信号の基本波成分の大きさ
を測定することにより、MSBがらLSBまでの各ビッ
トの最高速度におけるD/A′ll換動作の状態を各ビ
ット毎に単独に評価することができる。
ここで、アナログ出力信号の波形品位の評価にあたって
は、1次高調波まで観測する必要があることから、本発
明に係る装置では波形品位の評価は除外する。
は、1次高調波まで観測する必要があることから、本発
明に係る装置では波形品位の評価は除外する。
このように構成することにより、比較的簡単な構成で、
最高速度でD/A変換器2を動作させた場合における各
ビット単位の動作状態をLSBまで評価することができ
、評価時間の短縮が図れ、評価装置の信頼性の向上も期
待できる。
最高速度でD/A変換器2を動作させた場合における各
ビット単位の動作状態をLSBまで評価することができ
、評価時間の短縮が図れ、評価装置の信頼性の向上も期
待できる。
なお、上記実施例では、アナログ出力信号のレベルを選
択レベル計で測定する例について説明したが、例えばオ
シロスコープを用いてもよい。
択レベル計で測定する例について説明したが、例えばオ
シロスコープを用いてもよい。
また、矩形波信号のデユーティレシオは50%に限るも
のではな(、一連の評価動作期間内において一定であれ
ばよい。
のではな(、一連の評価動作期間内において一定であれ
ばよい。
また、被評価D/A変換器は、R−2R型に限るもので
はなく、各種のD/A変換器の評価にも有効である。
はなく、各種のD/A変換器の評価にも有効である。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な構
成で、D/A変換器のダイナミック特性をLSBまで評
価できるD/A変換器評価装置が実現できる。
成で、D/A変換器のダイナミック特性をLSBまで評
価できるD/A変換器評価装置が実現できる。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の駆動回路の具体例を示す回路図、第3図はD/
Am換器の具体例を示す回路図、第4図は従来の高速型
D/A変換器のダイナミック特性を評価する装置の一例
を示すブロック図である。 2・・・被評価D/A変換器、4・・・駆動回路、5・
・・選択レベル計。 第1図 第2図
第1図の駆動回路の具体例を示す回路図、第3図はD/
Am換器の具体例を示す回路図、第4図は従来の高速型
D/A変換器のダイナミック特性を評価する装置の一例
を示すブロック図である。 2・・・被評価D/A変換器、4・・・駆動回路、5・
・・選択レベル計。 第1図 第2図
Claims (1)
- D/A変換器を最高速度で選択的に1ビットずつ駆動す
る手段と、各ビットの基本波成分の出力レベルを測定す
る手段とで構成されたことを特徴とするD/A変換器評
価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26447785A JPS62123829A (ja) | 1985-11-25 | 1985-11-25 | D/a変換器評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26447785A JPS62123829A (ja) | 1985-11-25 | 1985-11-25 | D/a変換器評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62123829A true JPS62123829A (ja) | 1987-06-05 |
JPH056933B2 JPH056933B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=17403770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26447785A Granted JPS62123829A (ja) | 1985-11-25 | 1985-11-25 | D/a変換器評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62123829A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
JP2002340992A (ja) * | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Rohm Co Ltd | Dacを有する半導体装置 |
-
1985
- 1985-11-25 JP JP26447785A patent/JPS62123829A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
JP2002340992A (ja) * | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Rohm Co Ltd | Dacを有する半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH056933B2 (ja) | 1993-01-27 |
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