JPS62123829A - Ｄ／ａ変換器評価装置 - Google Patents
Ｄ／ａ変換器評価装置Info
- Publication number
- JPS62123829A JPS62123829A JP26447785A JP26447785A JPS62123829A JP S62123829 A JPS62123829 A JP S62123829A JP 26447785 A JP26447785 A JP 26447785A JP 26447785 A JP26447785 A JP 26447785A JP S62123829 A JPS62123829 A JP S62123829A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、Ｄ／Ａ変換器評価装置に関するものであり、
詳しくは、高速型のＤ／Ａ変換器のダイナミック動作の
評価に好適な装置に関するものである。
詳しくは、高速型のＤ／Ａ変換器のダイナミック動作の
評価に好適な装置に関するものである。
（従来の技術）
第４図は、従来の高速型Ｄ／Ａ変換器のダイナミック特
性を評価する装置の一例を示すブロック図である。第４
図において、１は正弦波デジタルパターンデータを発生
するパターン発生器であり、その出力データは被評価Ｄ
／Ａ変換器（以下Ｄ／Ａ変換器という）２に加えられて
アナログ正弦波信号に変換される。３はＤ／Ａ変換器２
から変換出力されるアナログ正弦波信号の歪率を測定す
る歪率計である。
性を評価する装置の一例を示すブロック図である。第４
図において、１は正弦波デジタルパターンデータを発生
するパターン発生器であり、その出力データは被評価Ｄ
／Ａ変換器（以下Ｄ／Ａ変換器という）２に加えられて
アナログ正弦波信号に変換される。３はＤ／Ａ変換器２
から変換出力されるアナログ正弦波信号の歪率を測定す
る歪率計である。
このように構成することにより、Ｄ／Ａ変換器２から変
換出力されるアナログ正弦波信号の歪率は歪率計３で測
定されることになる。
換出力されるアナログ正弦波信号の歪率は歪率計３で測
定されることになる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、このような従来の構成では、例えばＤ／Ａ変換
器２が１０ピット程度の分解能になるように構成されて
いて１０Ｍ Ｈｚ程度の高速で駆動されている場合には
、その最小分解能入力ピット（以下ＬＳＢという）が高
速に動作していることを確認することは困難である。
器２が１０ピット程度の分解能になるように構成されて
いて１０Ｍ Ｈｚ程度の高速で駆動されている場合には
、その最小分解能入力ピット（以下ＬＳＢという）が高
速に動作していることを確認することは困難である。
本発明は、このような点に着目してなされたものであっ
て、その目的は、比較的簡単な構成で、Ｄ／Ａ変換器の
ダイナミック特性を１８８まで評価できる装置を提供す
ることにある。
て、その目的は、比較的簡単な構成で、Ｄ／Ａ変換器の
ダイナミック特性を１８８まで評価できる装置を提供す
ることにある。
〈問題点を解決するための手段ン
このような目的を達成する本発明は、Ｄ／Ａ変換器を最
高速度で選択的に１ビツトずつ駆動する手段と、各ビッ
トの基本波成分の出力レベルを測定する手段とで構成さ
れたことを特徴とする。
高速度で選択的に１ビツトずつ駆動する手段と、各ビッ
トの基本波成分の出力レベルを測定する手段とで構成さ
れたことを特徴とする。
（実施例）
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、第
４図と同一部分には同一符号を付けている。第１図にお
いて、４はＤ／Ａ変ｔ／ＡＢ２をそのＤ／Ａ変換器２の
最高速度で選択的に１ビツトずつ駆動する駆動回路、５
はＤ／Ａ変換器２の各ビットの基本波成分の出力レベル
を測定する選択レベル計である。
４図と同一部分には同一符号を付けている。第１図にお
いて、４はＤ／Ａ変ｔ／ＡＢ２をそのＤ／Ａ変換器２の
最高速度で選択的に１ビツトずつ駆動する駆動回路、５
はＤ／Ａ変換器２の各ビットの基本波成分の出力レベル
を測定する選択レベル計である。
第２図は、第１図の駆動回路４の具体例を示す回路図で
ある１第２図において、ＰＧは周波数がＤ／Ａ変換器２
の最高速度に対応しデユーティレシオが５０％の矩形波
信号を発生するパルス発生器である。この矩形波信号は
、スイッチ５Ｗ４０〜５Ｗ４ｎを介してＤ／Ａ変換器２
の各ビット入力端子ＤＯ〜［）ｎに加えられるとともに
、遅延回路ＯＬを介してクロック端子ＧＫに加えられる
。ここで、スイッチ５Ｗ４０〜５Ｗ４ｎは、任意の１ビ
ツトのみを選択的にパルス発生器ＰＧに接続して他のビ
ットはすべて共通電位点に接続するように構成されてい
る。遅延回路ＤＬの遅延時間は、スイッチ５Ｗ４０〜５
Ｗ４ｎの切換設定に十分な時間に設定されている。なお
、Ａはアナログ信号の出力端子である。
ある１第２図において、ＰＧは周波数がＤ／Ａ変換器２
の最高速度に対応しデユーティレシオが５０％の矩形波
信号を発生するパルス発生器である。この矩形波信号は
、スイッチ５Ｗ４０〜５Ｗ４ｎを介してＤ／Ａ変換器２
の各ビット入力端子ＤＯ〜［）ｎに加えられるとともに
、遅延回路ＯＬを介してクロック端子ＧＫに加えられる
。ここで、スイッチ５Ｗ４０〜５Ｗ４ｎは、任意の１ビ
ツトのみを選択的にパルス発生器ＰＧに接続して他のビ
ットはすべて共通電位点に接続するように構成されてい
る。遅延回路ＤＬの遅延時間は、スイッチ５Ｗ４０〜５
Ｗ４ｎの切換設定に十分な時間に設定されている。なお
、Ａはアナログ信号の出力端子である。
第３図は、Ｄ／Ａ変換器２の具体例を示す回路口であり
、Ｒ−２Ｒ型の例を示している。第３図において、ｖｒ
は基準電圧源である。基＊ｍ電圧源「の−側端子は共通
電位点に接続され、＋側端子は各ビット入力端子Ｄｏ−
Ｄｎに対応したスイッチ５Ｗ２０〜５Ｗ２ｎの一方の固
定接点ａに接続されている。なお、スイッチ５Ｗ２０−
３Ｗ２ｎの他方の固定接点すは共通電位点に接続され、
可動接点Ｃは直列接続されている複数の抵抗Ｒの接続点
にそれぞれ抵抗２Ｒを介して接続されている。そして、
これら抵抗Ｒの直列回路の両端は抵抗Ｒを介して共通電
位点に接続され、一端のこれら抵抗Ｒの接続点にはアナ
ログ信号出力端子Ａが接続されている。
、Ｒ−２Ｒ型の例を示している。第３図において、ｖｒ
は基準電圧源である。基＊ｍ電圧源「の−側端子は共通
電位点に接続され、＋側端子は各ビット入力端子Ｄｏ−
Ｄｎに対応したスイッチ５Ｗ２０〜５Ｗ２ｎの一方の固
定接点ａに接続されている。なお、スイッチ５Ｗ２０−
３Ｗ２ｎの他方の固定接点すは共通電位点に接続され、
可動接点Ｃは直列接続されている複数の抵抗Ｒの接続点
にそれぞれ抵抗２Ｒを介して接続されている。そして、
これら抵抗Ｒの直列回路の両端は抵抗Ｒを介して共通電
位点に接続され、一端のこれら抵抗Ｒの接続点にはアナ
ログ信号出力端子Ａが接続されている。
このように構成された装置の動作について説明する。
ビット入力端子Ｄｏ−Ｄｎには、駆動回路４のパルス発
生器ＰＧから、周波数がＤ／Ａ変換器２の！＆高速度に
対応しデユーティレシオが５０％の矩形波信号が、スイ
ッチ５Ｗ４０−８Ｗ４ｎを介してスイッチ５Ｗ２０−８
Ｗ２ｎを選択的に１ビツトずつ切換駆動するためのビッ
ト制御信号として加えられる。これにより、アナログ信
号出力端子Ａには、基準電圧源■ｒの出力電圧の大きさ
が指定されたビットの重みに従って分圧された所定の振
幅を有し、周波数がＤ／Ａ変換器２の最高速度に対応し
デユーティレシオが５０％の矩形波信号が出力されるこ
とになる。ここで、アナログ信号出力端子Ａに出力され
る各ビットごとの矩形波信号のＩＪｔｘ幅の理論値は、
予め計算で求めることができる。
生器ＰＧから、周波数がＤ／Ａ変換器２の！＆高速度に
対応しデユーティレシオが５０％の矩形波信号が、スイ
ッチ５Ｗ４０−８Ｗ４ｎを介してスイッチ５Ｗ２０−８
Ｗ２ｎを選択的に１ビツトずつ切換駆動するためのビッ
ト制御信号として加えられる。これにより、アナログ信
号出力端子Ａには、基準電圧源■ｒの出力電圧の大きさ
が指定されたビットの重みに従って分圧された所定の振
幅を有し、周波数がＤ／Ａ変換器２の最高速度に対応し
デユーティレシオが５０％の矩形波信号が出力されるこ
とになる。ここで、アナログ信号出力端子Ａに出力され
る各ビットごとの矩形波信号のＩＪｔｘ幅の理論値は、
予め計算で求めることができる。
従って、選択レベル計５で各ビットが選択的に駆動され
た状態におけるアナログ出力信号の基本波成分の大きさ
を測定することにより、ＭＳＢがらＬＳＢまでの各ビッ
トの最高速度におけるＤ／Ａ′ｌｌ換動作の状態を各ビ
ット毎に単独に評価することができる。
た状態におけるアナログ出力信号の基本波成分の大きさ
を測定することにより、ＭＳＢがらＬＳＢまでの各ビッ
トの最高速度におけるＤ／Ａ′ｌｌ換動作の状態を各ビ
ット毎に単独に評価することができる。
ここで、アナログ出力信号の波形品位の評価にあたって
は、１次高調波まで観測する必要があることから、本発
明に係る装置では波形品位の評価は除外する。
は、１次高調波まで観測する必要があることから、本発
明に係る装置では波形品位の評価は除外する。
このように構成することにより、比較的簡単な構成で、
最高速度でＤ／Ａ変換器２を動作させた場合における各
ビット単位の動作状態をＬＳＢまで評価することができ
、評価時間の短縮が図れ、評価装置の信頼性の向上も期
待できる。
最高速度でＤ／Ａ変換器２を動作させた場合における各
ビット単位の動作状態をＬＳＢまで評価することができ
、評価時間の短縮が図れ、評価装置の信頼性の向上も期
待できる。
なお、上記実施例では、アナログ出力信号のレベルを選
択レベル計で測定する例について説明したが、例えばオ
シロスコープを用いてもよい。
択レベル計で測定する例について説明したが、例えばオ
シロスコープを用いてもよい。
また、矩形波信号のデユーティレシオは５０％に限るも
のではな（、一連の評価動作期間内において一定であれ
ばよい。
のではな（、一連の評価動作期間内において一定であれ
ばよい。
また、被評価Ｄ／Ａ変換器は、Ｒ−２Ｒ型に限るもので
はなく、各種のＤ／Ａ変換器の評価にも有効である。
はなく、各種のＤ／Ａ変換器の評価にも有効である。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な構
成で、Ｄ／Ａ変換器のダイナミック特性をＬＳＢまで評
価できるＤ／Ａ変換器評価装置が実現できる。
成で、Ｄ／Ａ変換器のダイナミック特性をＬＳＢまで評
価できるＤ／Ａ変換器評価装置が実現できる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図の駆動回路の具体例を示す回路図、第３図はＤ／
Ａｍ換器の具体例を示す回路図、第４図は従来の高速型
Ｄ／Ａ変換器のダイナミック特性を評価する装置の一例
を示すブロック図である。 ２・・・被評価Ｄ／Ａ変換器、４・・・駆動回路、５・
・・選択レベル計。 第１図 第２図
第１図の駆動回路の具体例を示す回路図、第３図はＤ／
Ａｍ換器の具体例を示す回路図、第４図は従来の高速型
Ｄ／Ａ変換器のダイナミック特性を評価する装置の一例
を示すブロック図である。 ２・・・被評価Ｄ／Ａ変換器、４・・・駆動回路、５・
・・選択レベル計。 第１図 第２図
Claims (1)
- Ｄ／Ａ変換器を最高速度で選択的に１ビットずつ駆動す
る手段と、各ビットの基本波成分の出力レベルを測定す
る手段とで構成されたことを特徴とするＤ／Ａ変換器評
価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26447785A JPS62123829A (ja) | 1985-11-25 | 1985-11-25 | Ｄ／ａ変換器評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26447785A JPS62123829A (ja) | 1985-11-25 | 1985-11-25 | Ｄ／ａ変換器評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123829A true JPS62123829A (ja) | 1987-06-05 |
| JPH056933B2 JPH056933B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=17403770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26447785A Granted JPS62123829A (ja) | 1985-11-25 | 1985-11-25 | Ｄ／ａ変換器評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62123829A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
| JP2002340992A (ja) * | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Rohm Co Ltd | Ｄａｃを有する半導体装置 |
-
1985
- 1985-11-25 JP JP26447785A patent/JPS62123829A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
| JP2002340992A (ja) * | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Rohm Co Ltd | Ｄａｃを有する半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH056933B2 (ja) | 1993-01-27 |
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