JPS62119606U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62119606U JPS62119606U JP654286U JP654286U JPS62119606U JP S62119606 U JPS62119606 U JP S62119606U JP 654286 U JP654286 U JP 654286U JP 654286 U JP654286 U JP 654286U JP S62119606 U JPS62119606 U JP S62119606U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- interference
- spatial filter
- attenuated
- small hole
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例を示す光学系の図、
第2図および第3図は空間フイルタによる光量の
減少を説明するための図、第4図は空間フイルタ
を利用して被検物の位置調整を行う場合の一実施
例を示す斜視図、第5図は空間フイルタを利用し
て被検物の位置調整を行う場合の他の実施例を示
す正面図、第6図はシエアリング型干渉計の従来
例を示す光学系の図である。 1…レーザー光源、4…ビームスプリツタ、5
…コリメーターレンズ、7…被検物、8…被検面
、9…ビームスプリツタ、10,11…全反射鏡
、15…撮像素子、20,21…空間フイルタ、
22,23…小孔。
第2図および第3図は空間フイルタによる光量の
減少を説明するための図、第4図は空間フイルタ
を利用して被検物の位置調整を行う場合の一実施
例を示す斜視図、第5図は空間フイルタを利用し
て被検物の位置調整を行う場合の他の実施例を示
す正面図、第6図はシエアリング型干渉計の従来
例を示す光学系の図である。 1…レーザー光源、4…ビームスプリツタ、5
…コリメーターレンズ、7…被検物、8…被検面
、9…ビームスプリツタ、10,11…全反射鏡
、15…撮像素子、20,21…空間フイルタ、
22,23…小孔。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 光源から出射した光をコリメーターレンズ
等の光学素子を経て被検物の被検面に導き、その
戻つてくる反射光の相互干渉に基づく干渉像を観
測し、前記被検面の面精度を測定する干渉測定装
置において、前記コリメーターレンズの焦点位置
付近に、中央に小孔を有する空間フイルタを配設
し、前記被検面からの反射光は減衰することなく
前記小孔を通過させ、それ以外の光を減衰させる
ようにしたことを特徴とする干渉測定装置。 (2) 空間フイルタが光散乱性の材料で形成され
ていることを特徴とする実用新案登録請求の範囲
第1項記載の干渉測定装置。 (3) 空間フイルタが受光素子を備えていること
を特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記載
の干渉測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986006542U JPH0419457Y2 (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986006542U JPH0419457Y2 (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62119606U true JPS62119606U (ja) | 1987-07-29 |
JPH0419457Y2 JPH0419457Y2 (ja) | 1992-05-01 |
Family
ID=30789155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986006542U Expired JPH0419457Y2 (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0419457Y2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5659208A (en) * | 1979-07-27 | 1981-05-22 | Thomson Csf | Directional filter for display screen |
JPS5958420U (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-16 | 株式会社リコー | レンズ系のフレア防止装置 |
JPS60211306A (ja) * | 1984-04-06 | 1985-10-23 | Ricoh Co Ltd | 縞走査シエアリング干渉測定装置における光学系調整方法 |
-
1986
- 1986-01-22 JP JP1986006542U patent/JPH0419457Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5659208A (en) * | 1979-07-27 | 1981-05-22 | Thomson Csf | Directional filter for display screen |
JPS5958420U (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-16 | 株式会社リコー | レンズ系のフレア防止装置 |
JPS60211306A (ja) * | 1984-04-06 | 1985-10-23 | Ricoh Co Ltd | 縞走査シエアリング干渉測定装置における光学系調整方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0419457Y2 (ja) | 1992-05-01 |
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