JPS621191A - 信号出力回路 - Google Patents

信号出力回路

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JPS621191A
JPS621191A JP61054263A JP5426386A JPS621191A JP S621191 A JPS621191 A JP S621191A JP 61054263 A JP61054263 A JP 61054263A JP 5426386 A JP5426386 A JP 5426386A JP S621191 A JPS621191 A JP S621191A
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JP
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signal
level
transistors
output
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JP61054263A
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Inventor
Shigeru Maruyama
繁 丸山
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NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Filing date
Publication date
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    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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    • H03K19/0013Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
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    • G11CSTATIC STORES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プツシニブル型式の信号出力回路に関し、特
に多段のセンスアンプを備えた半導体メモリに用いられ
る信号出力回路に関する。
〔従来の技術〕
プッシュプル型式の信号出力回路は、電源間に直列接続
された第1および第2のトランジスタを有する。信号出
力端子は第1および第2のトランジスタの接続点に接続
されている。出力すべきデータ信号の正補の信号は、第
1および第2のトランジスタのゲートにこれらがプッシ
ュプル動作を果たすように供給される。定常状態では、
第1および第2のトランジスタの一方は遮断状態にある
から、電源間に流れる貫通電流は生じない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、データ信号の論理レベルが変化すると、
それに伴なって第1および第2のトランジスタの一方は
遮断状態から導通状態に、他方は導通状態から遮断状態
にそれぞれ移行する。すなわち、データ信号の論理レベ
ルが変化する過渡状態のときに第1および第2のトラン
ジスタの両方とも導通状態となシ、電源間に貫通電流が
流れる。
第1および第2トランジスタの電流能力は負荷駆動能力
を充分なものとするために大きく設定されている。この
ため、千の貫通電流はかな)大きい。
このような大きな貫通電流は消費電力を増大させると共
に、電源ラインにおけるインピーダンスによって信号処
理部に大きなノイズ信号を与え、誤動作やデータ破壊を
ひき起こすことになる。
本発明の目的は、動作スピードを低下させることなく貫
通電流を激減させた手段を有する信号出力回路を提供す
ることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による信号出力回路は、データ信号の論理レベル
を変化させる信号に応答して、データ信号の論理レベル
が変化するときに、第1および第2のトランジスタのゲ
ートベルをこれらトランジスタが遮断状態となりて出力
端子がハイインピーダンス状態となるような論理レベル
とする手段ヲ有する。
したがって、データ信号の論理レベルが変化する過渡状
態においては、出力端子はノ・インピーダンス状態、す
なわち、第1および第2のトランジスタは共に遮断状態
となっておシ、貫通電流は極めて小さくなる。第1およ
び第2のトランジスタは、データ信号の論理レベルの変
化の過渡期間の後にデータ信号に応答するから、負荷へ
の充電電流又は放電電流が流れるだけである。
〔実施例〕
以下、図面を参照しながら本発明の実施例につ−て詳細
に°説明しよう。
第1図社本発明の一実施例を示すブロック図であシ、第
2図はその動作説明のためのタイミングチャートである
。信号処理回路1として示したブロックは、マイクロプ
ロセッサ、論理回路、あるいは半導体メモリにおける信
号処理部を示し、信号S1を受けこの信号にもとづく処
理を行なってデータ信号S2*発生する。データ信号S
2は増幅器2に供給される。増幅器2は一対の出力増子
AIおよびA!を有し、データ信号S鵞に対し正補の信
号SAおよび8Aを出力する。これらの信号SAおよび
SAは出力回路3に供給される。出力回路3は第1の電
源端子と出力端子7との間に接続されたPチャンネルf
f1M08)ランジスタQt sおよび第2の電源端子
と出力端子7との間に接続されたNチャンネル9MO8
)?ンジスタQsを有する。信号SAはトランジスタQ
1のゲートに供給され、信号8Aはインバータ5を介し
てトランジスタQ鵞のゲートに供給される。本実施例で
は、第1の電源端子にはVccなる電圧が供給され、第
2の電源端子は接地されている。
第2図に示すように、データ信号S2はロウレベルにあ
シ、シたがって信号SAはハイレベルで、SAはロウレ
ベルであるとすると、トランジスタQ!が導通状態にな
シ、出力端子7はロウレベルの信号が出力される。この
状態において、信号S1が変化するとこれに応じた信号
処理が回路1で行なわれる。回路1は、信号処理の結果
として、デー信号82の論理レベルをロウレベルカラハ
イレベルへ反転させる。
ここで、本発明による貫通電流防止回路4がないとする
と、データ信号S2のレベル変化に応じて、増幅器2の
出力信号8Aはハイレベルからロウレベルへ、8人はロ
ウレベルカラハイレベルへそれぞれ第2図の点[100
で示すように変化する。この変化の過渡状態におてい、
トランジスタQ1およびQ2の両方とも導通することに
なる。トランジスタQ1およびQ、の電流能力は、充分
な負荷駆動能力を確保するために大きく設定されている
。この丸め、トランジスタQ1およびQ、の導通によっ
て、第2図で点線110として示されるかなシ大きな貫
通電流IDCが電源間に流れる。
このような大きな貫通電流IDCは回路4によって防止
される。防止回路4は、第1の電源端子(Vcc)と増
幅器2の第1の出力端子A!との間に接続されたPチャ
ンネル型MOSトランジスタQ3、第1の電源端子と増
幅器2の第2の出力端子A。
との間に接続されたPチャンネル型MO8ト9ンジXり
Q4%およびこれらトランジスタQ3.Q4ノケートへ
供給されるワンショットパルス(lφを発生するワンシ
ョットパルス発生回路6を有する。発生回路6は、信号
処理回路lからデータ信号S2の論理レベルの変化の前
に発生される信号S3に応答し、増幅器の出力信号8人
およびSAのレベル変化と時をほぼ同じにしてロウレベ
ルに変化するワンショットパルス信号φを発生する。
パルス信号φのパルス幅紘信号SA、SAのレベル変化
に要する時間とほぼ同じにする。勿論、長くすることも
できるが、その分出力データの発生が遅れる。したがっ
て、データ信号S2のレベル変化によって増幅器2が信
号SAおよび8Aのレベルを変化させようとするときに
1 )ランジスタQ。
およびQ4が両方とも導通状態となる。かくして、第2
図で信号8Aおよび8Aを実線で示すように、トランジ
スタQ1のゲートは実質的にハイレベルに保タレ、イン
バータ5の入力レベルはハイレベルに、したがってトラ
ンジスタQsのゲートはロウレヘA/ K反転する。ト
ランジスタQlおよCF Q * O両方とも遮断状態
となる。ワンショット信号φがなくなると、信号8Aの
みがロウレベルに反転してトランジスタQ、を導通させ
、信号出力端子7はハイレベルに反転する。このとき、
トランジスタQ。
は実質的に遮断状態にある。この結果、電源間に流れる
貫通電流IDCは第2図で実線で示されるように極めて
小さくな夛、東線110として示した過大な貫通電流が
防止される。
なお、第1図で点線で示すように、ワンショットパルス
発生回路6は、信号S3の代わ夛に、入力信号81に応
答してワンショット信号φを発生してもよく、要は、デ
ータ信号を変化させる信号に応答してワンショット信号
φを発生する。また、信号処理回路2は、トランジスタ
QS、Q4のゲートにパルス信号φと別に制御信号を供
給してもよく、これによって所謂トライステート回路が
実現される。
第3図に本発明の第2の実施例としての半導体メモリ、
特にスタティック型ランダムアクセスメモリを示す。ア
ドレス信号Ao乃至Aiはアドレス端子20乃至21に
供給されアドレスバッファ1゜へ取)込まれる。列アド
レス信号は列デコーダ11に供給される0列デコーダ1
1はメモリセルアレイ12におけるワード線W1乃至W
nの一つを選択する。メモリセルアレイ12は、複数の
ビット線対(BLs 、 BLt )乃至(BLm、B
Im)と、複数のスタティック型メモリセルMC口乃至
MC血とをさらに有している。
データ書込モードでは、書込制御端子22に供給される
信号WEはロウレベルをとシ、データ読出/書込制御回
路14は信号WEによシデータ書込制御回路15を活性
化する。したがって、制御回路15は、データ入力端子
24に供給されるデータ信号DINの正補の信号りおよ
びDを発生する。
これらデータ信号り、Dは列デコーダ13によって選択
されたビット線対BL、BLを介して選択されたワード
線WにつながるメモリセルMCに供給されて入力データ
DINが書込まれるわけであるが、その書込み構成につ
いては、本発明と直接関係がなく、また図面の複雑化を
避けるために第3図では省略した。
データ読出しモードでは、信号WEはハイレベルにあシ
、データ書込制御回路15は非活性状態にある。行デコ
ーダIIKよって選択されたワード線Wにつながるメモ
リセルMCの格納データは各ビット線対BL、BLに現
われ初段のセンスアンプ16に供給される。初段センス
アンプ16はビット線対毎に設けられておシ、さらに、
8つのブロックに分割されてい丸缶ブロックでのセンス
アンプの出力端子は共通接続されている。列デコーダ1
3は列アドレス信号に応じて第1のセンス活性化信号8
Y口乃至5Y1jのうちの−っを付勢する。信号8Y1
1乃至5Y1jは初段センスアンプ16の各ブロック毎
に供給されている。すなわち、付勢された第1のセンス
活性化信号によって各ブロックにおける一つのセンスア
ンプ、したがって、全体で8つのセンスアンプが活性化
される。各ブロックの初段センスアンプの正補の出力は
8つの2段目センスアンプS人、1乃至SA■にそれぞ
れ供給される。2段目のセンスアンプは2つのブロック
に分けられ、各ブロックのセンスアンプ(SAzt乃至
Sk*4および8 A 2g乃至8Axs)の出力端子
は共通接続されている。各ブロックには4つの第2セン
ス活性化信号SY、1乃至SY、、が供給されている。
列デコーダ13は列アドレス信号に応答してSY、1乃
至5Y24の一つを付勢する。したがって、第2段目の
センスアンプSA、1乃至SA□のうち、ブロック毎に
一つのセンスアンプが活性化される。
活性化された二つの2段目センスアンプの正補の出力(
2At、28i)および(2Av、2Bs)は、二つの
3段目センスアンプS A @ 1およびSAoにそれ
ぞれ供給される。一方の3段目センスアンプ5A31は
NチャンネルMO8)ランジスタQ17乃至至Q1−を
有し、他方のセンスアンプS A3.はNチャンネルM
O8)ランジスタQ21乃至Q23を有する。これら二
つのセンスアンプ8A3□おヨヒS A3.の共通負荷
としてPチャンネルMO8)ランジスタQzoおよびQ
z4が設けられている。トランジスタQ19およびQz
sのゲートには、列デコーダ13から第3のセンス活性
化信号SY、!および5Y3−がそれぞれ設けられてい
る。列デコーダ13は、列アドレス信号に応答し第3の
センス活性化信号8Y31およびSY3.の一方を付勢
する。この結果、アドレス信号A、乃至Aiによって一
つのメモリセルMCが選択され、そのセルに格納されて
いるデータの正補の信号第3段のセンスアンプ出力3B
および3Aとして現われる。
トランジスタQ2oおよび(haには、本発明によって
設けられたPテヤンネ1g/MO8トtンジスタQff
iIおよびQtsがそれぞれ並列に接続されておシ、こ
れらのゲートにはワンシ冒ットパルス発生器18からワ
ンショット信号φが供給されている。これらの働きおよ
び効果については後で詳しく述べる。
第3段目のセンスアンプの出力は、第1の出力アンプO
A1に供給されその出力はさらに第2の出力アンプOA
、に供給される。第1の出力アンプOAlは、Nチャン
ネルMO8)ランジスタQ釘乃至QzsおよびPチャン
ネルMOSトランジスタQ36 e Qstを有し、第
2の出力アンプOA!はNチャンネルMO8)ランジス
タQsz乃至Q34およびPチャンネルMO8)ランジ
スタQss 、 Qssを有している。
電流源となるトランジスタQxsおよびQ34のゲート
には、データ読出/書込制御回路14から読出し活性化
信号REが供給される。この信号BEは、データ読出し
期間中ハイレベルをとシ、トランジスタQu 、Q34
を導通状態に維持せしめて出力アンプOAl、OA、を
活性化する。データ書き込み期間中は、信号比Eはロウ
レベルをと夛、出力アン4Bは出力回路へ供給される。
この出力回路は、電源Vcc、接地GND間に直列接続
されたPチャンネルMOSトランジスタQnおよびNチ
ャンネルMO8)ランジスタQ40を有し、これらトラ
ンジスタの接続点くデータ出力端子25が接続されてい
る。トランジスタQssのゲートは第2の出力アン7”
OA、の一方の出力端子に、トランジスタQ40のゲー
トは、PおよびNチャンネルMOSトランジスタQst
 e (:hsでなるインバータを介してアンプOA、
の他方の出力端子にそれぞれ接続されている。データ書
込みモードでは、信号REはロウレベルであってトラン
ジスタQs<は遮断状態にあるから、第2の出力アンプ
OA、の二つの出力端子は共にハイレベルをとる。この
結果、トランジスタQ39およびQ40は共に遮断状態
となシ、データ出力端子25はハイインピーダンス状態
となる。
データ読出しモードでは、トランジスタQts。
Qsaは導通状態にあるから、出力アンプOAはセンス
アンプ8Aの出力を受は入れる状態ある。第4図に示す
ように、アドレス信号(1)に゛よって、第1のワード
線Wlが選択されセンス活性化信号s y、l。
sy、lおよび5Y31の付勢化による第1のビット線
対BL1およびBLlが選択されておシ、それによって
指定されたメモリセルMC11がデータ10@を格納し
ているとすれば、ビット線BLlおよびBLlはそれぞ
れハイレベルおよびロウレベルtとる。これによって、
第3段目センスアンプS人31の出力3人および3Bは
それぞれハイレベルおよびロウレベルをとシ、出力アン
プOA、の出力4人および4Bはそれぞれハイレベルお
よびロウレベルとなって端子25から得られる出力デー
タDotrTはロウレベルをとっている。ここで、アド
レス信号(2)に変化すると、指定されるメモリセルM
Cが変化するが、このアドレス信号(2)は選択される
ワード線をWlからW2に変えるものであったとすると
、センス活性化信号S Y 11 、 S Y Hおよ
び5y31は付勢化され続ける。すなわち、メモリセル
MC,1がアドレス信号(2)によって指定されること
になる。
メモリセルMC載はデーダ1@を格納しておシ。
したがって、ビット線HL、およびHL、社それぞれロ
ウレベルおよびハイレベルへ変化する。
ところで、スタティック型のメモリセルは7リツプフロ
ツプ型弐に接続された二つのトランジスタを有するが、
これらの電流能力にはしはしば差が生じる。このため、
第4図にBL、およびBLlのレベル変化として示すよ
うに、 BLlは比較的速くロウレベルに変化しBLl
は比較的遅くロウレベルに変化する。このよう々レベル
変化は第4図で第3段目のセンスアンプSA3.の点線
で示す出力3A、3Bのレベル変化として現われる。す
なわち、出力3人および3Bが共にロウレベルに近い状
態となる。この結果、第2の出力アンプOA!の出力4
人および4Bも点線で示すように共にロウレベルに近い
状態となシ、トランジスタQseおよびQ4゜が両方と
も導通状態となる。これらトランジスタQs+e 、 
Qaoの電流能力は大きいので、第4図に点線201と
して示すかなシ大きな貫通電流IDCがが流れる。
このような太き表貫通電流IDCの防止のために、トラ
ンジスタQssおよびQssとワンショットパルス発生
器18とが設けられている。ワンショットパルス発生器
18はアドレスバッファ10からの信号Axを受けとシ
、アドレス信号Ao乃至Aiのどれか一つでも変化した
ときにワンショットパルスφ゛を発生する。パルス信号
φは、このメモリが非選択の状態およびデータ書込モー
ドのときは発生する必要がない。したがって、パルス発
生器18の動作はチップセレクト制御回路17およびデ
ータ読出/書込制御回路14からの信号CXおよびWx
で制御される。パルス発生器18は、第4図に示すよう
に、第3段目のセンスアンプ8A3の出力レベルの変化
時点に合わせてロウレベルに変化するパルス信号φを発
生する。信号φのパルス幅は、出力3Nおよび3Bの変
化に要する時間とほぼ同じく設定されている。
したがって、アドレス(2)への変化によシセンスアン
プ5A31の出力3Aおよび3Bのレベルが変化しよう
とすると、ワンショットパルスφによってトランジスタ
QssおよびQzsが共に導通する。
ベルでちゃ、出力3Bはハイレベルに反転される。
かくして、トランジスタQxyおよびQz@は導通状態
となシ、トランジスタQszおよびQssは遮断状態と
なって、出力アンプOA、の出力4人および4Bは共に
ハイレベルとなる。この結果、トランジスタQ311お
よびQ40は共に遮断状態となシ、貫通電流よりcは第
4図に実線で示すように非常に小さくなる。
ワンショットパルスφがなくなった時点では、トランジ
スタQlyおよびQ18のゲートはそれぞれ実質的にハ
イレベルおよびロウレベルにあるので、出力3人はロウ
レベルに反転し、一方、出力3Bはハイレベルに保持さ
れている。この結果、出力4AによってトランジスタQ
seが導通し、出力デ−タD□g7ハハイレベルに反転
する。このとき、トランジスタQ40は遮断状態にある
ので貫通電流IDCはない。
第5図に本発明の第3の実施例を示す。この実施例もス
タティック型の半導体メモリであるが、3段目のセンス
アンプ以降を示し、また第3図と同じ構成部は同じ参照
番号で示す。本実施例では、出力アンプがOAlの1段
構成となりている。したがって、第3図および第4図で
述べたように第3段目のセンスアンプ8A3の出力3人
および3Bが共にロウレベルに近くなっても、出力アン
プOA1の出力4 A /および4B′は両方ともノ・
イレベルとなり、シたがって、大きな貫通電流(第4図
点線201)は生じない。
ところが、アドレス信号の変化によシ選択されるビット
線が変化するとき、特に第3のセンス活性化信号の付勢
が5Y31からBr3.へ変化するときに、大きな貫通
電流が生じる。すなわち、第6図に示すように、アドレ
ス信号(3)によって信号SY、lの方が付勢されてい
るとすると、センスアンプSA、、の出力3Aおよび3
Bはそれぞれハイレベルおよびロウレベルにある。した
がって、出力アンプOA、の出力4A’および4 B 
/はそれぞれロウレベルおよびハイレベルにあシ、出力
データ信号I)otrtはハ、イレベルをとっている。
ここで、アドレス信号(4)へ変化したとすると、この
アドレス信号(4)はSY3.0方を付勢する情報をも
っているが、センスアンプSA、、およびSA3.が共
に活性化状態におちいることKよる誤動作を防止するた
めに、第6図に示すように、信号8 Y3.をロウレベ
ルにした後に信号5Y3zをハイレベルに付勢している
すなわち、センスアンプSA3.からSA3.へ切シか
わる遷移期間に、これらが両方とも非活性化状態となる
期間が存在する。センスアンプ5A31および8 A 
Hlの共通負荷であるトランジスタQuおよびQuは導
通状態にあるから、第6図のようにこの非活性化期間に
出力3Aおよび3Bが共にハイレベルとなる。このため
、出力アンプOA1の出力4A′および4B′は両方と
もロウレベルとなってトランジスタQseおよびQ40
が導通し、点線301で示されるかなシ大きな貫通電流
IDCが流れる。
このような大きな貫通電流の防止のために、本発明によ
るPチャンネルMO8)ランジスタQi。
およびQsoがトランジスタQsoおよびQBlへそれ
ぞれ並列に接続されておル、ワンショットパルスφがQ
so 、 Q16のゲートに供給されている。ワンショ
ットパルスφは第3図に示すようにアドレス信号の変化
に応答してセンスアンプ8Asの出力変化と時を同じに
して発生される。この結果、出力アンプOA、の出力4
A/および4 B /は、センスアンプ8kg、および
SA、、の非活性化期間で、両方ともハイレベルとな〕
、トランジスタQssおよびQ4゜を遮断状態とする。
し九がって、大きな貫通電流が防止される。パルス信号
φがなくなると、読み出しデータに応じて、トランジス
タQssおよびQa。
の一方が導通する。本説明では、トランジスタQ40が
導通し出力データD。IUTはロウレベルになる。
なお、第1図に示したワンショットパルス発生回路6は
遅延回路とNANDAND回路D回路等の論理回路との
組合で得ることができるので、その詳細については省略
する。第3図に示したワンショットパルス発生回路18
については第7図を用いて説明しよう。
信号Axはアドレス信号Ao乃至Aiのどれかのレベル
変化に応答して発生されるから、各アドレス端子21乃
至22には、レベル変化検出回路5〇−1乃至50−1
がそれぞれ設けられている。この回路50は、二つの遅
延回路51および52、排他的論理和回路53、および
NチャンネルMO8トランジスタQsoを有している。
したがって、アドレス信号A6乃至Aiのどれかがレベ
ル変化をおこすと、トランジスタQsoが導通して信号
Axはロウレベルへ反転する。その導通タイミングはア
ドレス変化時点から回路51の遅延時間だけ遅れたもの
となる。チップ選択時以外はCxはロウレベルにあるか
ら、4段のインバータ57乃至60によって信号φはロ
ウレベルに保持される。また、データ書込みそ−ド時は
、信号Wxはロウレベルにあシ、NチャンネルMOSト
ランジスタQs!は遮断状態にある@したがって、この
ような時はワンショットパルス信号φはアドレス変化に
かかわらず発生しない。データ読出しモードでは、信号
CxおよびW、は共にハイレベルにあり、また、アドレ
ス変化以外は人Xはハイレベルにあるので、信号φXは
ハイレベルにある。アドレス変化により信号AXがロウ
レベルとなると、信号φXがロウレベルに反転する。イ
ンバータ54の出力はハイレベルに反転し、このレベル
が遅延回路55を介してNAND回路56に伝わシ、P
チャンネルM08ト?ンジスタQS1が導通する。信号
φXはハイレベルに戻る。
回路55の遅延時間によシ、φXのパルス幅が決まる。
したがって、遅延回路51および55の遅延。
時間の設定によシ、アドレス変化に対し所望のタイミン
グで所望のパルス幅をもったワンショットパルス信号φ
が発生される。
〔発明の効果〕
以外のとおシ、本発明によれば、動作スピードを低下さ
せることなく貫通電流を減少させた信号出力回路が提供
される。
本発明は上記実施例に限定されないことは熱論である。
たとえばワンショットパルス信号φを一1イレベルへ変
化するとすれは、トランジスタQs。
Q4# Qzs t Qzs 、 QsoおよびQ s
o K Nチャンネル製のものを用いる。また、ワンシ
ョットパルスは、アドレス信号の変化以外に、センスア
ンプの入力の変化に応じて発生してもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
そのタイミングチャート、第3図は本発明の第2の実施
例を示すブロック図、第4図は第3図のタイミングチャ
ート、第5図は本発明の第3の実施例を示す回路図、第
6図は第5図のタイミングチャート、第7図は第°3図
で示したワンショットパルス発生回路の論理回路図であ
る。 ト〉 、−(、、fit) ′I Ivc  −一一一一一一えニーーーーーーーー箭Z図 ”   2’0/ l ビゝ′ 、111 1DC、−一一一一一一 躬4図 塙 2 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  一対の信号が供給される入力端子および出力端子を有
    する出力回路であって前記一対の信号の論理レベルが所
    定の状態の時は前記出力端子をハイインピーダンス状態
    とし前記一対の信号の論理レベルが前記所定の状態以外
    の時は前記出力端子を前記一対の信号に応答した信号レ
    ベルとする出力回路と、前記一対の信号の論理レベルを
    変化させる信号に応答して前記一対の信号の論理レベル
    が変化するときに前記出力回路の前記入力端子の論理レ
    ベルを前記所定の状態とする手段とを備えることを特徴
    とする信号出力回路。
JP61054263A 1985-03-11 1986-03-11 信号出力回路 Pending JPS621191A (ja)

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JP4773385 1985-03-11
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0198185A (ja) * 1987-10-09 1989-04-17 Nec Corp 半導体メモリ
JPH01248393A (ja) * 1988-03-30 1989-10-03 Toshiba Corp スタティック型ランダムアクセスメモリ

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62170097A (ja) * 1986-01-21 1987-07-27 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5034923A (en) * 1987-09-10 1991-07-23 Motorola, Inc. Static RAM with soft defect detection
JPH01117518A (ja) * 1987-10-30 1989-05-10 Toshiba Corp 半導体装置の出力回路
US4808855A (en) * 1987-12-16 1989-02-28 Intel Corporation Distributed precharge wire-or bus
US4992677A (en) * 1988-03-23 1991-02-12 Hitachi, Ltd. High speed MOSFET output buffer with low noise
US4847522A (en) * 1988-06-08 1989-07-11 Maxim Integrated Products CMOS amplifier/driver stage with output disable feature
US4851720A (en) * 1988-09-02 1989-07-25 Cypress Semiconductor Corporation Low power sense amplifier for programmable logic device
US5241504A (en) * 1989-05-29 1993-08-31 U.S. Philips Corp. Integrated memory comprising a sense amplifier
JP2820980B2 (ja) * 1989-11-02 1998-11-05 富士通株式会社 論理回路
US5023480A (en) * 1990-01-04 1991-06-11 Digital Equipment Corporation Push-pull cascode logic
JP2672721B2 (ja) * 1991-05-27 1997-11-05 株式会社東芝 センスアンプ回路
EP0547889B1 (en) * 1991-12-17 1999-04-14 STMicroelectronics, Inc. A tristatable driver for internal data bus lines
US5438277A (en) * 1993-03-19 1995-08-01 Advanced Micro Devices, Inc. Ground bounce isolated output buffer
JP2912158B2 (ja) * 1994-05-17 1999-06-28 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 信号線切替回路
US5486782A (en) * 1994-09-27 1996-01-23 International Business Machines Corporation Transmission line output driver
EP0735676B1 (en) * 1995-03-29 2001-05-23 Agilent Technologies, Inc. Predriver circuit for low-noise switching of high currents in a load
US5841313A (en) * 1995-08-30 1998-11-24 Cherry Semiconductor Corporation Switch with programmable delay
US5781058A (en) * 1995-08-30 1998-07-14 Cherry Semiconductor Corporation Totem pole driver with cross conduction protection and default low impedance state output
US6888444B1 (en) * 1995-11-08 2005-05-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Signal transmitting circuit, signal receiving circuit, signal transmitting/receiving circuit, signal transmitting method, signal receiving method, signal transmitting/receiving method, semiconductor integrated circuit, and control method thereof
KR100466457B1 (ko) * 1995-11-08 2005-06-16 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 신호전송회로,신호수신회로및신호송수신회로,신호전송방법,신호수신방법및신호송수신방법과반도체집적회로및그제어방법
US5777505A (en) * 1996-01-25 1998-07-07 The Boeing Company Low-power crosspoint switch
DE19701377C2 (de) * 1997-01-16 1999-07-29 Sgs Thomson Microelectronics Treiberschaltung
WO1998051012A1 (en) 1997-05-01 1998-11-12 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Output buffer circuit
US6366140B1 (en) * 1999-07-01 2002-04-02 Vitesse Semiconductor Corporation High bandwidth clock buffer
KR100360405B1 (ko) * 2000-08-09 2002-11-13 삼성전자 주식회사 출력 안정도를 개선하는 반도체 장치의 데이터 출력용증폭 회로 및 이를 구비하는 반도체 장치
US6633191B2 (en) 2001-02-05 2003-10-14 Vitesse Semiconductor Corporation Clock buffer with DC offset suppression
JP4382312B2 (ja) * 2001-09-05 2009-12-09 三菱電機株式会社 駆動制御装置、電力変換装置、電力変換装置の制御方法、および電力変換装置の使用方法
DE10156817C1 (de) * 2001-11-20 2003-05-28 Infineon Technologies Ag Mehrphasiger Komparator

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4435658A (en) * 1981-02-17 1984-03-06 Burroughs Corporation Two-level threshold circuitry for large scale integrated circuit memories
US4425517A (en) * 1981-03-31 1984-01-10 Rca Corporation Fail soft tri-state logic circuit
US4540904A (en) * 1983-05-03 1985-09-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Tri-state type driver circuit
US4621208A (en) * 1984-09-06 1986-11-04 Thomson Components - Mostek Corporation CMOS output buffer
US4649298A (en) * 1985-01-09 1987-03-10 At&T Bell Laboratories Non-saturating tri-state driver circuit
US4644196A (en) * 1985-01-28 1987-02-17 Motorola, Inc. Tri-state differential amplifier
US4638187A (en) * 1985-10-01 1987-01-20 Vtc Incorporated CMOS output buffer providing high drive current with minimum output signal distortion

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0198185A (ja) * 1987-10-09 1989-04-17 Nec Corp 半導体メモリ
JPH01248393A (ja) * 1988-03-30 1989-10-03 Toshiba Corp スタティック型ランダムアクセスメモリ

Also Published As

Publication number Publication date
US4739198A (en) 1988-04-19

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