JPS62116274A - 電子デバイス駆動回路 - Google Patents

電子デバイス駆動回路

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JPS62116274A
JPS62116274A JP60256262A JP25626285A JPS62116274A JP S62116274 A JPS62116274 A JP S62116274A JP 60256262 A JP60256262 A JP 60256262A JP 25626285 A JP25626285 A JP 25626285A JP S62116274 A JPS62116274 A JP S62116274A
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JP
Japan
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voltage
electronic device
drive circuit
drive
voltage application
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Pending
Application number
JP60256262A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Saitou
斉藤 佳大
Toshiaki Ogura
小椋 利明
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication of JPS62116274A publication Critical patent/JPS62116274A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、電−rデバイスの検査システムにおいて被
検査電−r−デバイスを駆動する電子デバイス駆動回路
に関し、さらに詳細には、電圧値がダイナミックに変化
する多値駆動電圧を被検査電子デバイスのピンに印加す
るための電r・デバイス駆動回路に関する。
[従来の技術] 7[i子デバイス検査システムにおいては、被検査電r
デバイスと直接的にインターフェイスする部分であるテ
ストヘッドに、被検査電子デバイスのピンを駆動するた
めの電子デバイス駆動回路が多数設けられている。
従来、そのような電rデバイス駆動回路は、出力モード
(ピン駆動モード)時にアクティブ状態となってプラス
極性の駆動電圧またはマイナス極性の駆動電圧を出力し
、入力モード時に高インピーダンス杖態となる構成であ
った。
[解決しようとする問題点コ ところで、アナログメモリなどのアナログICを検査す
る場合、特定のピンに印加する駆動電圧値をダイナミッ
クに変化させたい場合が少なくない。しかし、従来の電
子デバイス駆動回路は、駆動電圧の極性はダイナミック
に切り換えることができるが、電圧値はダイナミックに
変化させることはできないという問題があった。
そこで、そのような駆動電圧値をダイナミックに変化さ
せて電子デバイスの検査を行うには、例えば一つのピン
に対して複数の電子デバイス駆動回路を設け、それぞれ
の電rデバイス駆動回路に異なった駆動型ハ値を設定し
、その電rデバイス駆動回路をダイナミックに選択して
作動させるなどの方法をとらざるをfJながった。
しかし、駆動対象のビン数が多いと、ピン駆動系全体の
回路1[が膨大となってしまう。また、ピンに複数の電
子デバイス駆動回路が接続される関係から、駆動電圧の
伝播経路の浮遊容Ii1が増加し、その結果、ピン駆動
電圧波形(出力モード時)およびピン出力信り波形(入
力モード時)の歪みが増大するという問題もある。
[発明の[1的] この発明は、そのような従来技術の問題点に鑑み、電圧
値がダイナミックに変化する多値駆動電圧を電子デバイ
スのピンに印加できる電rデバイス駆動回路を提供する
ことを目的とするものである。
[問題点を解決するためのP段] この[1的を達成するために、電rデバイスの検査シス
テムにおける、この発明にJ:る電子デバイス駆動回路
は、出力モードおよび入力モードを有し、駆動制御信号
に従って出力モード時にアクティブ状態となって電圧印
加端子の印加電圧に対応した駆動電圧を出力し、入力モ
ード時に高インピーダンス杖態となるドライバと、電圧
選択制御信号に従って複数の直流電源から一つの直流電
源をダイナミックに選択して前記電圧印加端子に接続す
る電子スイッチとを備えてなるものである。
[作用] 出力モード時にドライバより出力される駆動電圧は電子
スイッチによって選択された直流電源に対応するもので
あるから、複数の直流電源のそれぞれの電圧値を異なら
せ、電子スイッチによって、それらの選択をダイナミッ
クに切り換えれば、一つの回路にて電圧値がダイナミッ
クに変化する多値駆動電圧を被検査電子デバイスのピン
に印加することができる。
このように、この発明の電子デバイス駆動回路は、一つ
の回路で多値駆動電圧を被検査素子に印加することがで
きるため、従来のように複数の電子デバイス駆動回路を
並設するよりも、被電rデバイスの駆動回路系の回路l
itを大幅に減らすことができ、また駆動型31の伝播
経路の浮遊容品を減らして駆動型11波形およびピン出
力信号波形を改善することができる。
[実施例] 以下、図面を参照し、この発明の一実施例について説明
する。
第1図は、この発明による電γ・デバイス駆動回路の一
実施例を示す回路図である。この図において、10はド
ライバであり、電子スイッチとしてのダイオード・ブリ
ッジ12.14、その制御のためのPNP型バイポーラ
I・ランジスタ16,18およびNPN型バイポーラト
ランジスタ20゜22、定電流源24.28からなる。
ダイオード・ブリッジ12.14の−・対のノードは図
示のようにバイポーラトランジスタ16〜22を介して
定電流源24.28にそれぞれ接続されている。
30A、30B、30Cはプラス極性の異電圧値の直流
電源である。これらの直流電源とドライバ10の第1の
電圧印加端J’TI(ダイオード・ブリッジ14の・つ
のノード)との間に、電子スイッチ34が介在している
。この電子スイッチ34は、ここでは電界効果トランジ
スタ38A、36B、36Cからなる。
32A、32B、32Cはマイナス極性の異電月’、(
ll′lの直流電源である。これらの直流電源とドライ
バ10の第2の電圧印加端子T2(ダイオード・ブリッ
ジ12の一つのノード)との間に、電子スイッチ38が
介在している。ここでは、電子スイッチ38は電界効果
トランジスタ40A、40B、40Cからなっている。
PH,PH*、PL、PL*は当該電子デバイス駆動回
路に供給される駆動制御信号であり、図示のようにバイ
ポーラトランジスタ16〜22の対応するもののベース
にそれぞれ印加される。これらの信号によって、出力モ
ード時にバイポーラトランジスタIE3.20またはバ
イポーラトランジスタ18.22がオンせしめられ、入
力モード時にバイポーラトランジスタ18.22がオン
せしめられる。
PA、PB、PCはプラス側の電圧選択制御信号であり
、これら信−ノによって電界効果トランジスタ36A〜
36Cがダイナミ’7りに選択されてオンせしめられる
。NA、NB、NCはマイナス側の電圧選択制御信ぢ・
であり、これら信号によって電界効果トランジスタ40
A〜40Cがダイナミックに選択されてオンせしめられ
る。
ドライバ10の出力端’f’T3 (ダイオード・ブリ
ッジ12および14の相JEに結合されたノード)は、
信号伝送路42(例えば特性インピーダンスが500の
マイクロストリップ線路)を介してピン接続端子44に
接続されている。46はインピーダンス整合用の抵抗(
例えば50Ω)である。
なお、この電子デバイス駆動回路は被検査デバイスの駆
動の必要なピンに対応させて設けられるが、直流電源3
0A〜30C,32A〜32Cは、複数の電子デバイス
駆動回路に共通に使用され得るものである。
次に、この電子デバイス駆動回路の動作を説明する。ま
ず出力モード(駆動モード)時について説明すれば、相
補信号であるPH倍信号よびPH*信壮、またはPL信
号およびPL*信号が同時にオンする。
PH倍信号よびPH*信号がオンしたとすると、バイポ
ーラトランジスタ18.22が同時にオン杖態となって
定電流源24.28によりダイオード・ブリッジ14の
各ダイオードが順バイアスされる。したがって、電源印
加端子T1がダイオード・ブリッジ14を介して出力端
子T3に接続さ。
れ、電圧印加端子T1の印加電圧に対応した駆動電圧(
プラス極性)がピン接続端子44に印加される。
PL信号およびPL*信号がオンした場合、バイポーラ
トランジスタ18.20がオンしてダイオード・ブリッ
ジ12の各ダイオードが順バイアスされ、電源印加端子
21の印加電圧に対応した駆動電圧(マイナス極性)が
ピン接続端子44に印加される。
このような印加電圧の極性選択は、駆動制御信号によっ
てダイナミックに制御される。
入力モード時には駆動制御信%jはすべてオフするため
、ダイオード・ブリッジ12.14のダイオードは逆バ
イアス状態となり、ドライバIOは高インピーダンス状
態となる。このモード時に、ピン接続端子44に接続さ
れている被検査電子デバイスのピンの出力信号がコンパ
レークなとによってチェックされることになる。
さて、直流電源30A〜30Cは、電圧選択制御信号P
A−PCに従って電子スイッチ34によってダイナミッ
クに選択され電圧印加端子T1に接続される。他方の直
流電源32A〜32Cも同様に、電圧選択制御信号NA
−NCに従って電子スイッチ38によってダイナミック
に選択され電圧印加端子T2に接続される。そして、出
力モード時に、ドライバ10から出力される駆動電圧は
、電圧印加端子T1またはT2に接続された直流電源の
電圧に対応するものである。したがって、この電子デバ
イス駆動回路によれば、電1ト値並びに極性がダイナミ
・ツクに変化する多値駆動電圧を被接合電子デバイスの
ピンに印加することができる。
なお、モードは出力モードと入力モードとに交rIHに
切り換えられる場合と、各モードが連続する場合とがあ
る。いずれの場合についても、一つの出力モード期間中
に駆動電圧を2同辺−1−1連続的に切り換えることも
可能である。
ここで、この電子デバイス駆動回路は、一つの回路で駆
動電圧値をダイナミックに切り換え可能である。したが
って、従来のように複数の電子デバイス駆動回路を一つ
のピン接続端子44に並列する構成に比較し、駆動回路
系の回路量を大幅に減らすことができる。また、ピン接
続端子44から見た静電界隈を減少させることができる
ため、ピン駆動電圧およびピン出力信号の波形のなまり
等を減少させることができる。
なお、ドライバの電圧印加端子を1個だけとし、電圧印
加端子の選択を行わないようにドライバを構成すること
もr1f能である。
また、前記実施例のドライバは電子スイッチからなる構
成であったが、電圧印加端子の印加電圧を増幅する電1
1増幅器と、その出力型ハ、の電流増幅を行う電流ブー
スタ回路とからなるような構成とすることもできる。
直流電源の選択接続のための電子スイッチは、高速動作
の1丁能なものであれば、その構成は適宜変更してよい
[発明の効果] 以−1−詳細に説明したように、この発明によれば電子
デバイス駆動回路は、出力モードおよび入力モードを有
し、駆動制御信号に従って出力モード時にアクティブ状
態となって電圧印加端子の印加電圧に対応した駆動電圧
を出力し、入力モード時に高インピーダンス状態となる
ドライバと、電圧選択制御信シ3に従って複数の直流電
源から−・つの直流電源をダイナミックに選+31! 
して前記電圧印加端子に接続する電子スイッチとからな
る構成とされるから、 ・つの回路にて電11′値がダ
イナミックに変化する多値駆動電圧を被検杏電子デバイ
スのピンに印加することができ、従来のように複数の電
子デバイス駆動回路を一1rl設するよりも、被電子デ
バイスの駆動回路系の回路量を大幅に減らすことができ
、また駆動電圧の伝播経路の浮遊容量を減らして駆動電
圧波形およびピン出力信号波形を改ざtすることができ
るなど、従来技術の欠点を解消した電r出は駆動回路を
実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による電子デバイス駆動回路の一実施
例を示す回路図である。 10・・・ドライバ、12.14・・・ダイオード・ブ
リッジ、24.26・・・定電流源、30A〜30C1
32A〜32C・・・直流電源、34.38・・・電子
スイッチ、44・・・ピン接続端子。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電子デバイスの検査システムにおいて被検査電子
    デバイスのピンを駆動するための電子デバイス駆動回路
    であって、出力モードおよび入力モードを有し、駆動制
    御信号に従って出力モード時にアクティブ状態となって
    電圧印加端子の印加電圧に対応した駆動電圧を出力し、
    入力モード時に高インピーダンス状態となるドライバと
    、電圧選択制御信号に従って複数の直流電源から一つの
    直流電源をダイナミックに選択して前記電圧印加端子に
    接続する電子スイッチとを備え、電圧値がダイナミック
    に変化する多値駆動電圧を被検査電子デバイスのピンに
    印加することを特徴とする電子デバイス駆動回路。
  2. (2)電圧印加端子は複数個あり、電子スイッチおよび
    直流電源はその各電圧印加端子毎に設けられ、ドライバ
    は駆動制御信号に従って出力モード時に前記複数個の電
    圧印加端子中の一つを選択し、その電圧印加端子の印加
    電圧に対応した駆動電圧を出力するようにしてなること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子デバイス
    駆動回路。
  3. (3)電圧印加端子は2個あり、その一方の電圧印加端
    子には電子スイッチを介してプラス極性の直流電源が選
    択的に接続され、他方の電圧印加端子には電子スイッチ
    を介してマイナス極性の直流電源が選択的に接続される
    ことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の電子デバ
    イス駆動回路。
JP60256262A 1985-11-15 1985-11-15 電子デバイス駆動回路 Pending JPS62116274A (ja)

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