JPS62112228A - 垂直磁気記録媒体の製造装置 - Google Patents
垂直磁気記録媒体の製造装置Info
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- JPS62112228A JPS62112228A JP25320385A JP25320385A JPS62112228A JP S62112228 A JPS62112228 A JP S62112228A JP 25320385 A JP25320385 A JP 25320385A JP 25320385 A JP25320385 A JP 25320385A JP S62112228 A JPS62112228 A JP S62112228A
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- Japan
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- film
- magnetic film
- mask
- magnetic recording
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、基体を移動させながら該基体上にCoとCr
を主成分とし111面に垂直な方向に磁化容易軸を有す
る磁性膜をスパッタリング法により形成して垂直磁気記
録媒体を製造する装置に関する。
を主成分とし111面に垂直な方向に磁化容易軸を有す
る磁性膜をスパッタリング法により形成して垂直磁気記
録媒体を製造する装置に関する。
近年、情報処理技術の発達に伴なってメモリ装置の担う
情報量は飛躍的に増大し、フロッピーディスクを始めと
する磁気記録媒体に対する大容量化の要求がますます高
まっている。特に、現在一般に使用されている塗布型面
内磁気記録媒体に対し、co−Crllのような膜面に
垂直な方向に磁化容易軸を有する磁性m(垂直磁化膜と
もいう)をスパッタリング法等により形成した垂直磁気
記録媒体が、将来の高密度記録に適した媒体として注目
されている。
情報量は飛躍的に増大し、フロッピーディスクを始めと
する磁気記録媒体に対する大容量化の要求がますます高
まっている。特に、現在一般に使用されている塗布型面
内磁気記録媒体に対し、co−Crllのような膜面に
垂直な方向に磁化容易軸を有する磁性m(垂直磁化膜と
もいう)をスパッタリング法等により形成した垂直磁気
記録媒体が、将来の高密度記録に適した媒体として注目
されている。
垂直磁気記録媒体を量産化するためには、フロッピーデ
ィスクを例にとると樹脂フィルムのような可撓性基体を
例えばローラによって移動させながら、基体上に連続的
にCo−0r膜を形成する技術が要求され、リジッドデ
ィスクの場合もやはり基体を移動させながらCo−Cr
暎を形成する技術が要求される。
ィスクを例にとると樹脂フィルムのような可撓性基体を
例えばローラによって移動させながら、基体上に連続的
にCo−0r膜を形成する技術が要求され、リジッドデ
ィスクの場合もやはり基体を移動させながらCo−Cr
暎を形成する技術が要求される。
このように移動する基体上にC0−0r膜をスパッタリ
ング法により形成する場合における問題の一つは、基体
上に形成されたCo−Cr膜の結晶配向が、静止した基
体上に形成されたものと比較して劣ることである。この
主原因は、本発明者らによる種々の実験結果によると、
ターゲットから基体へ向かうスパッタ粒子のうち不要な
スパッタ粒子を遮蔽するために基体とターゲットとの間
に配設されるマスクと、基体との膜形成開始点における
間隙dがOでないために、スパッタ用ガスであるArに
よって散乱されたスパッタ粒子がこの間隙を通して回り
込むことによって形成される初期層による影響であるこ
とがわかった。この回り込みによる初明藤の厚さは磁性
膜全体の厚さに比べると非常に1いから、通常はその影
響を無遼できると予想される。しかし、Co −Cr
腰の場合はその結晶がセルフエピタキシャルに成長する
ので、膿形成初期の段階における結晶配向性がその後の
膜成長に重要な影響を与える初期層は結晶配向性が非常
に悪く、僅かな山でも膜の結晶配向を乱すのである。
ング法により形成する場合における問題の一つは、基体
上に形成されたCo−Cr膜の結晶配向が、静止した基
体上に形成されたものと比較して劣ることである。この
主原因は、本発明者らによる種々の実験結果によると、
ターゲットから基体へ向かうスパッタ粒子のうち不要な
スパッタ粒子を遮蔽するために基体とターゲットとの間
に配設されるマスクと、基体との膜形成開始点における
間隙dがOでないために、スパッタ用ガスであるArに
よって散乱されたスパッタ粒子がこの間隙を通して回り
込むことによって形成される初期層による影響であるこ
とがわかった。この回り込みによる初明藤の厚さは磁性
膜全体の厚さに比べると非常に1いから、通常はその影
響を無遼できると予想される。しかし、Co −Cr
腰の場合はその結晶がセルフエピタキシャルに成長する
ので、膿形成初期の段階における結晶配向性がその後の
膜成長に重要な影響を与える初期層は結晶配向性が非常
に悪く、僅かな山でも膜の結晶配向を乱すのである。
そこで、従来co−(::r膜を連続的に形成する場合
には、膜形成開始点における基体とマスクとの間隙dを
極力小さくして、この回り込みの影響を抑える努力がな
されてきた。しかしながら、間隙dを小さくし過ぎると
、スパッタリングの途中で基体が熱膨張により微妙に変
形した際に基体がマスクと接触し、磁性膜面に接融キズ
が入ったり、あるいは最悪の場合は基体が切断したりし
て、安定した基体の移動を確保することができない。従
って、安定した基体の移動を得るためにはどうしても間
隙dを適当量(0,5M前後)とらざるを(aず、良好
な結晶配向を持つ連続膜を形成することは困難であった
。
には、膜形成開始点における基体とマスクとの間隙dを
極力小さくして、この回り込みの影響を抑える努力がな
されてきた。しかしながら、間隙dを小さくし過ぎると
、スパッタリングの途中で基体が熱膨張により微妙に変
形した際に基体がマスクと接触し、磁性膜面に接融キズ
が入ったり、あるいは最悪の場合は基体が切断したりし
て、安定した基体の移動を確保することができない。従
って、安定した基体の移動を得るためにはどうしても間
隙dを適当量(0,5M前後)とらざるを(aず、良好
な結晶配向を持つ連続膜を形成することは困難であった
。
〔発明の目的)
本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたもの
で、移動する基体上にスパッタリング法によりCoとO
rを主成分とした垂直磁化膜を形成する際に使用するマ
スクの配置条件を最適化して、結晶配向性の良好な垂直
磁気記録媒体を製造する装置を提供することを目的とす
る。
で、移動する基体上にスパッタリング法によりCoとO
rを主成分とした垂直磁化膜を形成する際に使用するマ
スクの配置条件を最適化して、結晶配向性の良好な垂直
磁気記録媒体を製造する装置を提供することを目的とす
る。
(発明の概要)
本発明はこの目的を達成するため、CoとCrを主成分
とするターゲットに対向させて垂直磁気記録媒体の基体
を移動させ、この基体に不要なスパッタ粒子を遮蔽する
ためのマスクを介して、スパッタリング法により換向に
垂直な方向に磁化容易軸を有するCoとOrを主成分と
した磁性膜を形成する装置において、磁性膜の形成開始
点における基体とマスクとの間隙をdとし、磁性膜が形
成される領域での基体の移動方向における全長をりとし
たとき、りy’ d≧80というマスク配置条件を選定
4ることにより、回り込みにJ:る初期層の[ワさを実
効的に小さくして、良好な結晶配向性を示す垂直磁気記
録媒体を製)Δするようにしたち−のである。
とするターゲットに対向させて垂直磁気記録媒体の基体
を移動させ、この基体に不要なスパッタ粒子を遮蔽する
ためのマスクを介して、スパッタリング法により換向に
垂直な方向に磁化容易軸を有するCoとOrを主成分と
した磁性膜を形成する装置において、磁性膜の形成開始
点における基体とマスクとの間隙をdとし、磁性膜が形
成される領域での基体の移動方向における全長をりとし
たとき、りy’ d≧80というマスク配置条件を選定
4ることにより、回り込みにJ:る初期層の[ワさを実
効的に小さくして、良好な結晶配向性を示す垂直磁気記
録媒体を製)Δするようにしたち−のである。
〔発明の効果]
本発明によればfi/(j≧80とすることにより、結
晶配向性の良好なCo−Cr垂直磁イヒ模からなる磁性
膜を備えた垂直磁気記録媒体を111造づることかでき
る。
晶配向性の良好なCo−Cr垂直磁イヒ模からなる磁性
膜を備えた垂直磁気記録媒体を111造づることかでき
る。
すなわち、磁性膜の形成開始点における基体とマスクと
の間隙を通してのスパッタ粒子の回り込みにより形成さ
れる初期層の厚さは、磁性膜の形成開始点における基体
とマスクとの間隙および基体の移動速度に依存し、間隙
が大きいほど厚く、また基体の移動速度が速いほど薄く
なる。
の間隙を通してのスパッタ粒子の回り込みにより形成さ
れる初期層の厚さは、磁性膜の形成開始点における基体
とマスクとの間隙および基体の移動速度に依存し、間隙
が大きいほど厚く、また基体の移動速度が速いほど薄く
なる。
一方、基体の移動速度については、磁性膜が形成される
領域での基体の移動方向における全長Qが長いほど速く
することができる。従って、初期層の厚さ、換言すれば
Co−Cr…性膜の結晶配向性に関しては1 /′dを
考慮する必要があることがわかる。このような知見に基
づいて本発明者らが鋭意検問した結果によれば、Cdを
80以上にしたとき実用上モ分な結晶配向性か得られる
ことが確認された。
領域での基体の移動方向における全長Qが長いほど速く
することができる。従って、初期層の厚さ、換言すれば
Co−Cr…性膜の結晶配向性に関しては1 /′dを
考慮する必要があることがわかる。このような知見に基
づいて本発明者らが鋭意検問した結果によれば、Cdを
80以上にしたとき実用上モ分な結晶配向性か得られる
ことが確認された。
また、本発明によるとg/d≧80に選定することによ
り、磁性膜形成開始点における基体マスクとの間1!!
dを基体の安定な移動が得られる程度に大きく設定し
ても、l、/d≧80という条件を満足する範囲で磁性
膜が形成される領域での基体の移動方向における全長2
を大きくとることで、結晶配向性の良好なCo−Cr磁
性膜を得ることができる。
り、磁性膜形成開始点における基体マスクとの間1!!
dを基体の安定な移動が得られる程度に大きく設定し
ても、l、/d≧80という条件を満足する範囲で磁性
膜が形成される領域での基体の移動方向における全長2
を大きくとることで、結晶配向性の良好なCo−Cr磁
性膜を得ることができる。
さらに、このような条件を満たす本発明による製造装置
では、磁性膜が形成される領域での基体の移動方向にお
ける全長2を太き(とることができるため、同一スパッ
タ条件に対して基体p移動速度を大きくすることができ
、量産性の向上という副次的な効果も得られる。
では、磁性膜が形成される領域での基体の移動方向にお
ける全長2を太き(とることができるため、同一スパッ
タ条件に対して基体p移動速度を大きくすることができ
、量産性の向上という副次的な効果も得られる。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図
は本発明の一実施例としてフロッピーディスク形態の垂
直磁気記録媒体を製造する装置の要部構成を概略的に示
したものである。
は本発明の一実施例としてフロッピーディスク形態の垂
直磁気記録媒体を製造する装置の要部構成を概略的に示
したものである。
第1図において、垂直…気記録媒体の基体1は例えば樹
脂性のフィルム状基体であり、図示しない供給ロールか
らガイドローラを経て矢印の方向に回転する主ローラ2
に導かれた後、図示しないガイドローラを経て巻取りロ
ールに至る。このようなフィルム搬送系により基体1を
連続的に移動させながら、主ローラ2上でスパッタリン
グ法により基体1の上にCo−Cr垂直磁化膜を含む磁
性膜を形成する。スパッタリング法としては例えば量産
性に優れた直流マグネトロンスパッタ法が使用される。
脂性のフィルム状基体であり、図示しない供給ロールか
らガイドローラを経て矢印の方向に回転する主ローラ2
に導かれた後、図示しないガイドローラを経て巻取りロ
ールに至る。このようなフィルム搬送系により基体1を
連続的に移動させながら、主ローラ2上でスパッタリン
グ法により基体1の上にCo−Cr垂直磁化膜を含む磁
性膜を形成する。スパッタリング法としては例えば量産
性に優れた直流マグネトロンスパッタ法が使用される。
すなわち、主ローラ2に対向してCoとCrを主成分と
するターゲット3が配置され、これらの間に直流高電圧
が印加されるとともに、スパッタ室(真空容器)内にマ
グネトロンtIl電が励起されることにより、スパッタ
リングガスであるArによって叩き出されたスパッタ粒
子が基体1上に到達し、Co−Cr磁性膜が形成される
。
するターゲット3が配置され、これらの間に直流高電圧
が印加されるとともに、スパッタ室(真空容器)内にマ
グネトロンtIl電が励起されることにより、スパッタ
リングガスであるArによって叩き出されたスパッタ粒
子が基体1上に到達し、Co−Cr磁性膜が形成される
。
基体1とターゲット3との間には、ターゲット3から基
体1へ向かうスパッタ粒子のうち余分のスパッタ粒子を
遮蔽するためのマスク4が配置されている。ここで、基
体1とマスク4の端部との間隙、特に磁性膜の形成開始
点における間隙dと。
体1へ向かうスパッタ粒子のうち余分のスパッタ粒子を
遮蔽するためのマスク4が配置されている。ここで、基
体1とマスク4の端部との間隙、特に磁性膜の形成開始
点における間隙dと。
マスク4の間口部の大きざ、つまり磁性膜が形成される
領域での基体1の移動方向における全長ρは、g/d≧
80の関係が満足する関係に選定されている。
領域での基体1の移動方向における全長ρは、g/d≧
80の関係が満足する関係に選定されている。
マスク4を設けると、基体1がマスク4の長さQの開口
部を通過する間に、基体1上に磁性膜が形成される。こ
の場合、間隙dがOでないためにスパッタ粒子のうちA
rによって散乱されたものは、まずマスク4の端部から
マスク4の裏側に回り込んで基体1上に付着する。この
回り込みによるスパッタ粒子の付着は、マスク4の開口
部を回り込みによらず正面から通過したスパッタ粒子の
付着に先立つものであり、これによって初期層が形成さ
れる。この回り込みによる初期層が厚いと、その上に引
続き形成される垂直磁化唄の成長に悪影響を及ぼすと考
えられる。初期層の厚さは前述したように、磁性膜が形
成される領域での基体1の移動方向における全長りと間
隙dとの比2./dに依存する。
部を通過する間に、基体1上に磁性膜が形成される。こ
の場合、間隙dがOでないためにスパッタ粒子のうちA
rによって散乱されたものは、まずマスク4の端部から
マスク4の裏側に回り込んで基体1上に付着する。この
回り込みによるスパッタ粒子の付着は、マスク4の開口
部を回り込みによらず正面から通過したスパッタ粒子の
付着に先立つものであり、これによって初期層が形成さ
れる。この回り込みによる初期層が厚いと、その上に引
続き形成される垂直磁化唄の成長に悪影響を及ぼすと考
えられる。初期層の厚さは前述したように、磁性膜が形
成される領域での基体1の移動方向における全長りと間
隙dとの比2./dに依存する。
結晶配向性は、一般的にX線回折装置を用いて測定する
ことができる。特にCo−Cr磁性膜の場合には(00
2)面に関してロッキング曲線を測定し、その半値幅(
△θ5oで表わす)を結晶配向性の一つの指標とする。
ことができる。特にCo−Cr磁性膜の場合には(00
2)面に関してロッキング曲線を測定し、その半値幅(
△θ5oで表わす)を結晶配向性の一つの指標とする。
次表1に1./dを種々変えてCo −Cr EFI性
慢を形成した垂直磁気記録媒体の27・dの値と、結晶
配向性(ΔθSO)との関係を示す。この特性は媒体を
適当な大きさの切出し、上述したようにX線回折装置に
より測定したものである。
慢を形成した垂直磁気記録媒体の27・dの値と、結晶
配向性(ΔθSO)との関係を示す。この特性は媒体を
適当な大きさの切出し、上述したようにX線回折装置に
より測定したものである。
この表から、ρ/dが大きくなるほどΔθ5゜が小さく
なって、結晶配向性が向上する。これはβ/dが大きく
なるに従って、回り込みによる初期層の厚さが減少する
と同時に、結晶配向性へ及ぼす悪影響の宴会が小さくな
るためであると考えられる。
なって、結晶配向性が向上する。これはβ/dが大きく
なるに従って、回り込みによる初期層の厚さが減少する
と同時に、結晶配向性へ及ぼす悪影響の宴会が小さくな
るためであると考えられる。
一般的に、フロッピーディスク等として使用される垂直
磁気記録媒体では、十分な垂直磁気異方性を得るために
はΔθ5aは10°以下であることが望ましいとされて
おり、それには表1の結果から本発明のごとくρ/d≧
80とすることが有効であることがわかる。
磁気記録媒体では、十分な垂直磁気異方性を得るために
はΔθ5aは10°以下であることが望ましいとされて
おり、それには表1の結果から本発明のごとくρ/d≧
80とすることが有効であることがわかる。
表1よりa/dと△θ50との関係をプロットしてグラ
フ化したものを第2図に示す。この図からも、/l 、
/ d < 80ではΔθ5aが急激に大きくなるのに
対して、2、/d≧80にするとΔθ5Gが10′以下
となり、良好な結晶配向性が得られることか明らかであ
る。
フ化したものを第2図に示す。この図からも、/l 、
/ d < 80ではΔθ5aが急激に大きくなるのに
対して、2、/d≧80にするとΔθ5Gが10′以下
となり、良好な結晶配向性が得られることか明らかであ
る。
第3図は本発明の他の実施例としてリジッドディスク形
態の垂直磁気記録媒体の製造装置に適用した実施例を示
す。この実施例においては、基体1を矢印に示す方向に
直線的に移動させながらスパッタリング法によりCo−
Crfln性膜を形成するため、回り込みによる影響で
初期層が形成されるが、この場合も℃/d≧80とする
ことにより、先の実施例と同様に良好な結晶配向性を有
する垂直磁気記録媒体を得ることができる。
態の垂直磁気記録媒体の製造装置に適用した実施例を示
す。この実施例においては、基体1を矢印に示す方向に
直線的に移動させながらスパッタリング法によりCo−
Crfln性膜を形成するため、回り込みによる影響で
初期層が形成されるが、この場合も℃/d≧80とする
ことにより、先の実施例と同様に良好な結晶配向性を有
する垂直磁気記録媒体を得ることができる。
第4図は本発明のさらに他の実施例を示したもので、基
体1の移動方向に沿って復数個、この例では2個のター
ゲット3a、3bを配置している。
体1の移動方向に沿って復数個、この例では2個のター
ゲット3a、3bを配置している。
このようにすると磁性膜が形成される領域での基体1の
全長りを大きくとることができ、℃/d≧80という本
発明に基づく条件を達成することが容易となる。特に、
プレーナマグネトロンスパッタ法においては、単一のタ
ーゲットで同様の寸法のものを得ようとすると、大面積
にわたり均一な組成のターゲットを作成しにくいため、
均質なCo−Cr1f!IIを形成することが難しいが
、複数個のターゲットを用いればこのような問題を伴な
わずに2を大きくとることができる。
全長りを大きくとることができ、℃/d≧80という本
発明に基づく条件を達成することが容易となる。特に、
プレーナマグネトロンスパッタ法においては、単一のタ
ーゲットで同様の寸法のものを得ようとすると、大面積
にわたり均一な組成のターゲットを作成しにくいため、
均質なCo−Cr1f!IIを形成することが難しいが
、複数個のターゲットを用いればこのような問題を伴な
わずに2を大きくとることができる。
なお、上記実施例ではg/dの下限については言及しな
かったが、電磁変換特性の観点からR/d≦100が望
ましい。以下、その根拠について説明する。
かったが、電磁変換特性の観点からR/d≦100が望
ましい。以下、その根拠について説明する。
すなわち、前述したように回り込みによる初期層は一般
に結晶配向性が悪く、従って垂直磁気異方性が小さいた
め、面内磁化膜となる。このような面内磁化膜である初
期層を有し、その上に垂直磁化膜が形成された磁性膜は
、いわゆる二層媒体と同様のメカニズムによって電磁変
換特性、特に再生出力が向上する。また、初期層の厚さ
は磁性膜の形成開始点における基体とマスクとの間隙d
に依存し、この間隙が大きいほど厚くなる。一方、磁性
膜が形成される領域での基体の移動方向における全長Q
は、初期層の上に形成される垂直磁化膜の慶ざに影響を
及ぼし、これが大きいほど垂直r社化膿の厚さが増大す
る。面内磁化膜である初期層による電磁変換特性向上の
効果は、初期層が摩いほど大きく、垂直磁化膜が厚いほ
ど小さくなるので、これら両方の厚さの相対的な関係、
換言すればffi /” dを考慮する必要がある。す
なわち、基体1の移動速度をある一定値にした場合、初
期層の厚さは間隙dに依存し、また垂直磁化膜の厚さは
磁性膜が形成される領域での基IA1の移動方向におけ
る全長2に依存するから、結局、再生出力向上効果はf
fi/dが小さいほど高くなる。
に結晶配向性が悪く、従って垂直磁気異方性が小さいた
め、面内磁化膜となる。このような面内磁化膜である初
期層を有し、その上に垂直磁化膜が形成された磁性膜は
、いわゆる二層媒体と同様のメカニズムによって電磁変
換特性、特に再生出力が向上する。また、初期層の厚さ
は磁性膜の形成開始点における基体とマスクとの間隙d
に依存し、この間隙が大きいほど厚くなる。一方、磁性
膜が形成される領域での基体の移動方向における全長Q
は、初期層の上に形成される垂直磁化膜の慶ざに影響を
及ぼし、これが大きいほど垂直r社化膿の厚さが増大す
る。面内磁化膜である初期層による電磁変換特性向上の
効果は、初期層が摩いほど大きく、垂直磁化膜が厚いほ
ど小さくなるので、これら両方の厚さの相対的な関係、
換言すればffi /” dを考慮する必要がある。す
なわち、基体1の移動速度をある一定値にした場合、初
期層の厚さは間隙dに依存し、また垂直磁化膜の厚さは
磁性膜が形成される領域での基IA1の移動方向におけ
る全長2に依存するから、結局、再生出力向上効果はf
fi/dが小さいほど高くなる。
次表2 ニff/dを種々変えてCo−CrE(i性暎
を形成した垂直磁気記録媒体の電磁変換特性(f−50
kBPIにおける再生出力)を示す。
を形成した垂直磁気記録媒体の電磁変換特性(f−50
kBPIにおける再生出力)を示す。
この特性は媒体を3.5インチフロッピーディスクの形
状に打扱いて、フロッピーディスク評価装置により測定
したものである。
状に打扱いて、フロッピーディスク評価装置により測定
したものである。
この表から、l、/dが小さくなるほど再生出力が増加
する。これはλ/dが小さくなるに従って、磁性膜全体
の厚さに占める面内磁化膜としての回り込みによる初期
層の厚さの割合が増加するためと考えられる。一般的に
、フロッピーディスク等として使用される垂直磁気記録
媒体では、エラー率の低減等の観点から再生出力は70
0μV p−p以上必要であるとされている。従って、
表2の結果から本発明のごとく2/d≦100とするこ
とが望まれるのである。
する。これはλ/dが小さくなるに従って、磁性膜全体
の厚さに占める面内磁化膜としての回り込みによる初期
層の厚さの割合が増加するためと考えられる。一般的に
、フロッピーディスク等として使用される垂直磁気記録
媒体では、エラー率の低減等の観点から再生出力は70
0μV p−p以上必要であるとされている。従って、
表2の結果から本発明のごとく2/d≦100とするこ
とが望まれるのである。
表2よりat/4と再生出力との関係をグラフ化したも
のを第5図に示す。この図からも、C76〉1oOでは
再生出力が大きく減少するのに対して、ffi/d≦1
00にすると700μv p−p以上の高出力が得られ
ることが明らかである。
のを第5図に示す。この図からも、C76〉1oOでは
再生出力が大きく減少するのに対して、ffi/d≦1
00にすると700μv p−p以上の高出力が得られ
ることが明らかである。
第1図は本発明の一実施例に係る垂直磁気記録媒体の製
造装置の要部構成を概略的に示す図、第2図は同実施例
におけるffi/dと結晶配向性(ΔθSO)との関係
を示す図、第3図および第4図はそれぞれ本発明の他の
実施例に係る垂直磁気記録媒体の製造装置の要部構成を
概略的に示す図、第5図はd/βと再生出力との関係を
示す図である。 1・・・基体、2・・・主ローラ、3.3a、3b・・
・ターゲット、4・・・マスク。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 桜 第2図 第4図
造装置の要部構成を概略的に示す図、第2図は同実施例
におけるffi/dと結晶配向性(ΔθSO)との関係
を示す図、第3図および第4図はそれぞれ本発明の他の
実施例に係る垂直磁気記録媒体の製造装置の要部構成を
概略的に示す図、第5図はd/βと再生出力との関係を
示す図である。 1・・・基体、2・・・主ローラ、3.3a、3b・・
・ターゲット、4・・・マスク。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 桜 第2図 第4図
Claims (2)
- (1)CoとCrを主成分とするターゲットと、このタ
ーゲットに対向させて垂直磁気記録媒体の基体を移動さ
せる手段と、この基体と前記ターゲットとの間に配置さ
れ、不要のスパッタ粒子を遮蔽するマスクとを備え、ス
パッタリング法により膜面に垂直な方向に磁化容易軸を
有するCoとCrを主成分とした磁性膜を形成する垂直
磁気記録媒体の製造装置において、前記磁性膜の形成開
始点における前記基体とマスクとの間隙をd、前記磁性
膜が形成される領域での前記基体の移動方向における全
長をlとしたとき、l/d≧80に選定することを特徴
とする垂直磁気記録媒体の製造装置。 - (2)前記ターゲットを前記基体の移動方向に複数個配
置したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の垂
直磁気記録媒体の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25320385A JPS62112228A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 垂直磁気記録媒体の製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25320385A JPS62112228A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 垂直磁気記録媒体の製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62112228A true JPS62112228A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17247983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25320385A Pending JPS62112228A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 垂直磁気記録媒体の製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62112228A (ja) |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP25320385A patent/JPS62112228A/ja active Pending
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