JPS62109231A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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JPS62109231A
JPS62109231A JP25016985A JP25016985A JPS62109231A JP S62109231 A JPS62109231 A JP S62109231A JP 25016985 A JP25016985 A JP 25016985A JP 25016985 A JP25016985 A JP 25016985A JP S62109231 A JPS62109231 A JP S62109231A
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JP
Japan
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thin film
film
thin
hard carbon
thermosetting resin
Prior art date
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Pending
Application number
JP25016985A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Shinohara
正喜 篠原
Tomio Kume
久米 富美夫
Katsumi Kiuchi
木内 克己
Shigetomo Sawada
沢田 茂友
Junzo Toda
戸田 順三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 この発明は、連続磁性薄膜上に硬質炭素薄膜と表面が粗
い潤滑性炭素薄膜の二層構造の潤滑保護膜を形成する磁
気記録媒体製造法であり、表面潤滑性と耐久性の優れた
磁気記録媒体を供することができる。
〔産業上の利用分野〕
この発明は、磁気記録媒体の製造方法に係り、特に表面
潤滑性と耐久性の優れた記録媒体構造を供する製造法に
関するものである。
磁気テープや磁気ディスクなどの磁気記録媒体では、磁
気ヘッドとの接触抵抗を軽減するために記録媒体表面に
潤滑膜を設けるのが普通である。
特に、コンタクトスタート・ストップ方式の磁気ディス
ク装置に使用する磁気ディスクでは、この表面潤滑膜は
不可欠なものである。
ところで・磁気ディスク装置にあっては記録密度の向上
が常に要求されており、それに応えるためにはヘッドと
記録媒体との間隙を従来以上に狭く、例えば0.1μm
以下にする必要がある。この場合、前記潤滑膜はその間
隙を増大するので可能な限り薄くする必要があると同時
に、ヘッドと媒体との接触する確率が高くなるため潤滑
性、耐久性ともより優れたものにする必要がある。
〔従来の技術〕
従来、磁気ディスク表面の潤滑膜としては、液体潤滑剤
により形成した潤滑膜が主流である。
しかし最近では炭素の潤滑性を活かして、ディスク表面
に炭素薄膜を形成し潤滑作用を持たせることが提案され
ている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前記液体潤滑剤は、過小の場合には潤滑性が悪くなり、
過剰の場合にはヘッドがディスク表面に吸着しやすくな
り、その塗布量の調整が非常に難しい。特に汎用の液体
潤滑剤は磁性酸化鉄粉塗布型のディスクに適したもので
、今後発展が予想される連続磁性薄膜に対しては次の理
由により不向きであることが明らかとなっている。
すなわち、連続磁性薄膜を用いるディスクでは、前述し
たようにヘッドとディスクとの間隙を小さくし記録密度
を高くしようとしているため、ディスク表面は塗布型デ
ィスクに比べて平滑に仕上げなければならず、表面が平
滑になると少量の潤滑剤でも吸着を起こしやすい。この
ことから潤滑剤の適量範囲が前記塗布型よりも狭くなっ
て適量塗布がより困難となる、つまり製造が困難となる
わけである。
一方、炭素薄膜を表面潤滑膜とした媒体では、炭素膜の
膜質により潤滑性、耐久性が異なる。例えば、グラファ
イト状の膜では良好な潤滑性を示すが、摩耗しやすいた
め耐久性に劣る。一方、iカーボンやダイヤモンド状カ
ーボンは、硬くて摩耗しにく(十分な耐久性を示すが、
潤滑作用に乏しい。したがって、良好な潤滑性と耐久性
を併せもつ炭素膜を得るのはきわめて困難であるという
問題があった。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者らは、後者の炭素潤滑膜について種々試作実験
し、その結果硬質の炭素薄膜13に表面が粗い潤滑性の
炭素薄膜14を重ねた二層構造の炭素薄膜が潤滑性およ
び耐久性ともに優れたものであることを見いだした。第
1図はそのような炭素潤滑薄膜を有した磁気記録媒体の
断面構造を示し、11は非磁性基板、12は連続磁性薄
膜、13′は多孔質の硬質炭素薄膜、14は表面が粗い
潤滑性薄膜である。
この発明では、二層構造の炭素潤滑薄膜を次のような製
造工程により連続磁性薄膜上に形成している。
すなわち、第2図を参照して、 ■炭素ターゲットをスパッタガス圧11〜4Q ntT
orrのもとでスパッタリングして、連続磁性薄膜12
上に硬質炭素薄膜13を形成する。
■熱硬化樹脂またはシリコン系熱硬化樹脂と易蒸発性物
とを溶剤に溶解混合してから前記硬質炭素薄膜13上に
塗布する。
■これを加熱して、塗布した熱硬化樹脂21を硬化させ
るとともに易蒸発性物を蒸発させる。
■加熱により多孔質となった熱硬化樹脂膜21をマスク
として前記硬質炭素薄膜13をエツチングして該炭素薄
膜を多孔質化する。
■炭素ターゲットをスパッタガス圧3〜lQ mTor
rのもとてスパッタリングし、前記多孔質な硬質炭素薄
膜13′上に表面が粗い潤滑性炭素薄膜14を形成する
〔作用〕
11〜40 mTorrの高いスパッタガス圧で連続磁
性薄膜12上に被着形成された炭素薄膜13は、潤滑性
は良くないが耐久性に優れた硬質な膜となる。逆に3〜
10 mTorrの低いスパッタガス圧で硬質炭素薄膜
13上に被着形成された炭素薄膜13は、耐久性は良く
ないが摩擦係数が小さく潤滑性に優れた膜となり、しか
もその表面が粗くされることにより非常に平滑な面を持
つ磁気ヘッドとの接触に際し、接触面積を少なくし接触
抵抗を軽減するとともにヘッド吸着を防ぐ。
一方、溶剤に溶解混合されてから前記硬質炭素薄膜13
上に塗布された物質の内の易蒸発性物は、加熱処理で蒸
発しその塗布構造体すなわち熱硬化樹脂膜21に多数の
空所(孔)を形成する。この多孔質の熱硬化樹脂膜21
をマスクにしてエツチング処理を施すと、前記硬質炭素
薄膜13にはその孔に対応した多数の孔が形成される。
しかしてこの多孔質の硬質炭素薄膜13′上に被着形成
された前記潤滑性炭素薄膜14は、その面形状に対応し
た粗面構造となる。
したがって、この二層構造の潤滑保護膜は、磁気ヘッド
との接触に対し十分耐久するとともに良好な潤滑作用を
呈して連続磁性薄膜12を保護することになる。
〔実施例〕
以下、この発明を磁気ディスクに適用した実施例につき
図面を参照して詳細に説明する。
第2図は本実施例を工程順に示した断面図である。同図
(a)を参照して、11は表面をアルマイト処理したデ
ィスク基板、12はこのディスク基板のアルマイト層上
に特公昭55−14523号の磁性薄膜製造法を適用し
て形成した膜厚0.15μmのCu 、  Co。
Tiを含むγ−Fe2O3より成る連続磁性薄膜である
。本実施例では、まずこの連続磁性薄膜12上に膜厚0
.03μmの硬質カーボン薄膜を形成する。
すなわち、炭素をターゲットにし、Arガス圧20mT
orrのもとてスパッタリングを行い、γ−Fe20a
磁性膜12上に0.03μm厚のカーボン1膜13を付
着形成する。
このスパッタガス圧で形成したカーボン薄膜13は、第
3図のカーボン膜形成時のスパッタガス圧と生成膜の比
抵抗との関係図を参照して比抵抗が10Ω−0111強
でバルクのグラファイトの0.001Ω−cmよりはる
かに高い値を示す。またX線分析においてグラファイト
相が検出されない。したがって、この薄膜は非晶質構造
である。
また第4図の同スパッタガス圧と生成膜の耐久時間(磁
気ヘッドを25g荷重、走行速度2 m/sで摺動テス
トした結果のデータ)との関係図より、60分以上耐久
し耐久性が良いことから硬質構造である。さらに第5図
に示すスパッタガスと生成膜の摩擦係数との関係図より
、摩擦係数μは0.4程度で潤滑性は良くないことが明
らかである。
このような硬質カーボン薄膜13に対し、シリコン樹脂
溶液(東京応化OCD P−5i−Film)と流動パ
ラフィンとイソプロピルアルコールとを混合した混合溶
解液をスピンコード法で塗布する。これを乾燥後300
℃で加熱し、パラフィンを飛散させ多孔質5i02膜2
1を第2図(b)に示すように当該硬質カーボン薄膜1
3上に0.05μm形成する。
次にこれを酸素プラズマ中でエツチング処理し、硬質カ
ーボン薄膜13に多数の孔を形成する。第2図(C)は
この処理後の記録媒体を示す。
次にCF4プラズマ中で前記多孔[SiO□膜21をエ
ツチングし、除去する。第2図Tdlはこの処理後の記
録媒体を示す。
最後に多孔質な硬質カーボン薄膜13′上に、膜厚0.
02μmの潤滑性カーボン薄膜14を表面が粗くなるよ
うに形成する。すなわち、炭素をターゲットにしてAr
ガス圧5 mTorrのもとでスパッタリングを行い、
当該硬質カーボン薄膜13′上に0.03μm厚のカー
ボン薄膜14を付着形成する。この薄膜表面は、第2図
terに示す如く下層の硬質カーボン薄膜13′の構造
に基づき微小な凹凸を有した粗面となる。またこのスパ
ッタガス圧で形成されたカーボン薄膜14は、前記第3
図を参照して比抵抗が0.1Ω−cmでバルクのグラフ
ァイトより高値を示し、かつX線分析からグラファイト
相が検出されないことから前記硬質カーボン薄膜13と
同じ非晶質構造である。一方、耐久性は第4図を参照し
て2分程度しか耐久せず良くないが、摩擦係数μは第5
図を参照して表面が凹凸であることと相まって0.15
と小さ〈従来の液体潤滑剤を用いた潤滑膜の0.13〜
0.17と同じような値を示した。従って、潤滑性は良
好である。
なお、前記二種類のカーボン薄膜を区別する他の目安と
して、比抵抗が1Ω−cm以上のものを硬質カーボン薄
膜13.1Ω−CI11以下のものを潤滑性カーボン薄
膜14と判別できる。
以上のようにして形成した二層構造のカーボン潤滑膜を
有する磁気ディスクに対し、磁気ヘッドを荷重25g、
走行速度2 m/sで摺動テストした結果、60分以上
耐久した。
なお、γ−Fe208連続磁性薄膜に添加する元素とし
ては、前記Co、Cu、Tiの他にNbも適用でき、使
用形態としてCOを主体に残りの元素を少なくとも一つ
加える。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、この発明によれば、耐
久性および表面潤滑性の優れた二層構造の炭素薄膜を連
続磁性薄膜上に簡単に形成することができる。したがっ
て、高密度記録が要求された磁気ディスクの製造に適用
してきわめて有益である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を適用した磁気記録媒体の断面図、 第2図はこの発明の一実施例を製造工程順に示した断面
図、 第3図はカーボン膜形成時のスパッタガス圧とその生成
カーボン薄膜の比抵抗との関係を示す図、第4図は同ス
パッタガス圧と生成カーボン薄膜の耐久時間との関係図
、 第5図は同スパッタガス圧と生成カーボン薄膜の摩擦係
数との関係を示す図である。 第2図において、 11は非磁性基板、 12は連続磁性薄膜、 13は硬質カーボン薄膜、 13’は多孔質な硬質カーボン薄膜、 14は潤滑性カーボン薄膜、 21はSiO□膜をそれぞれ示す。 2F祭E7Wi俟箔包ンkl;よシf【々京ど鐸気幕4
手tヶj打bσ第1図 第2図 Ar か”ズff (mThrr)         
   Ar FlfE  (mThrr)第3図   
   第4図 AyFス/E (mTorr) 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 非磁性基板(11)上に形成した連続磁性薄膜(12)
    上に、硬質炭素薄膜(13)と表面が粗い潤滑性炭素薄
    膜(14)を順次形成する磁気記録媒体の製造方法であ
    って、 炭素をターゲットにしスパッタガス圧11〜40mTo
    rrのもとでスパッタリングを行ない、前記連続磁性薄
    膜(12)上に硬質炭素薄膜(13)を形成する工程と
    、 熱硬化樹脂あるいはシリコン系熱硬化樹脂と易蒸発性物
    とを溶剤に溶解混合してからそれを前記硬質炭素薄膜(
    13)上に塗布する工程と、これを加熱して塗布された
    熱硬化樹脂(21)を硬化させるとともに易蒸発性物を
    蒸発させる工程と加熱により多孔質となった熱硬化樹脂
    膜(21)をマスクとして前記硬質炭素薄膜(13)を
    エッチングし、該炭素薄膜を多孔質化する工程と、 炭素をターゲットにしスパッタガス圧3〜10mTor
    rのもとでスパッタリングを行ない、前記多孔質な硬質
    炭素薄膜(13′)上に表面が粗い潤滑性炭素薄膜(1
    4)を形成する工程とを含むことを特徴とする磁気記録
    媒体の製造方法。
JP25016985A 1985-11-07 1985-11-07 磁気記録媒体の製造方法 Pending JPS62109231A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0194518A (ja) * 1987-10-06 1989-04-13 Hitachi Ltd 磁気記録媒体
KR100396845B1 (ko) * 2000-12-05 2003-09-02 한국전자통신연구원 정보 저장 장치 및 그것에 이용되는 정보 저장 매체 제조방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0194518A (ja) * 1987-10-06 1989-04-13 Hitachi Ltd 磁気記録媒体
KR100396845B1 (ko) * 2000-12-05 2003-09-02 한국전자통신연구원 정보 저장 장치 및 그것에 이용되는 정보 저장 매체 제조방법

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