JPS62103616A - 合焦検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業」−の利用分野〉 本発明は５例えばビデオカメラ等に好適な合焦検出装置
に関する。

（従来の技術〉 従来、ビデオカメラ等において、撮像素子より得られる
画像信号より撮像面」二の被写体像の鮮鋭度を検出し、
鮮鋭度が最も高くなるように光学系を駆動して焦点合わ
せを行う種々の鮮鋭度検出方式が知られている。この方
式のうち第１の方式は基本的にはバイパスフィルター或
いは微分回路等によって画像信号の高周波成分を抽出し
、抽出した高周波成分の大小によって像の鮮鋭度を評価
する方式であって、かかる方式により焦点合わせを行う
際には、光学系を駆動して得られる結像状慝の異なる２
つの像の鮮鋭度を比較することにより光学系の駆動方向
を決定し、鮮鋭度が最大となった位とで光学系を停止し
、光学系の合焦状態を得る様にしていた。

また第２の方式として特公昭５４−４４４１４号公報に
は、被写体の中間濃度域の大きさが合焦の度合に応じて
変化することを利用し、即ちポケだ場合には中間濃度域
が大きくなり、焦点が合った場合には小さくなることを
利用し、かかる中間Ｃ度域が最も小さくなった場合に合
焦と判定する焦点検出装置が開示されている。他に第２
の方式として特公昭５２−３０３２４号公報には、前述
の特公昭５４−４４４１４号公報における中間濃度域の
大きさを検出するのとは逆に被写体の高濃度域或いは低
濃度域の大きさを検出し、かかる蒙域の大きさが合焦の
度合に応じて変化することを利用して高濃度域或いは低
濃度域の大きさが最も大きくなった場合に合焦と判定と
する焦点検出装置が開示されている。

〈発明の解決しようとする問題点〉 前述の第１或いは第２の方式においては、一般に被写体
の種類やコントラストによって検出される像の鮮鋭度の
値が大幅に異なるために、次のような問題が生ずる。＠
えば被写体のわずかな動きや照明条件の変化によっても
検出される鮮鋭度の値が変化してしまうため、光学系の
駆動中に鮮鋭度の誤った極大値を検出し１合焦位こでは
ないのに光学系が停止する場合がある。さらに光学系が
一旦合焦位置に停止してしまうと、比較を行う結像状態
の異なる像が得られなくなるため、もはや実際に光学系
が合焦状態にあるかどうか判断ができなくなる。また前
述の第１の方式、第２の方式に限らず、従来知られてい
た方式では鮮鋭度が最大となる位置を求めるためには、
光学系は必ず一度合焦位置を通りすぎなければならず、
その結果書られる画像はピントが合ってから一度ぼけ、
その後再びピントがあうという見苦しい画像になる。

本発明の目的は、物体の種類やコントラストに影響され
ない新規な像の鮮鋭度の評価方式を用いた合焦検出装置
を提供することにより、上述の欠点を解決することにあ
る。

〈問題点を解決するための手段〉 本発明は上述した従来の問題点を解決するために、物体
像のエッヂ部分の幅を検出する検出手段と、該輻の大き
さに基づいて合焦状態を判別する判別手段とを共闘する
ことを特徴とする。

〈作　用〉 上記において、物体像のエッヂ部分の幅が大きい場合に
は判別手段により非合焦１幅が小さい場合には合焦と判
別する。

〈実施例〉 まず、第１図（ａ）（ｂ）（ｃ）乃至第２図（ａ）（ｂ
）（Ｃ’）を用いて本発明の原理を税引する。第１図（
ａ）のような白黒パターンから成るエッヂ図形が被写体
であったとする。ガは光学系の光軸と直交方向の空間座
標を示す、かかるエッヂ図形の像を光電変換する撮像素
子より得られる画像信号のレベルＩ　（ｘ）は光学系が
合焦の場合には第１図（ｂ）のように鋭いエッヂを持つ
が、非合焦の場合には第１図（Ｃ）のように鋭いエッヂ
になる。なおＸは第１図（ａ）に示したガに対応した撮
像素子の撮像面上の座標である。また画像信号は通常撮
像素子の電気的走査によって時系列信号として取り出さ
れるが、説１月の都合上、ここでは撮像面上の座標Ｘに
関する信号とみなす。

第１図（ｂ）、（ｃ）において、画像信号Ｉ　（ｘ）と
エッヂ部分の輻ΔＸは合焦状態で最も小さな値ΔＸ０と
なり、非合焦になるにつれて増大する。ΔＸは光学系の
錯乱円径、撮像素子の解像力１画像信号処理回路の１：
’ｌ　Ｊ）！ｉ、幅によって定まるが、後者の２つは光
学系の合焦状態に無関係であるから、画像信号のエッヂ
部分の輻ΔＸを検出することにより光学系の合焦・非合
焦を判定できる。即ちΔＸ；Ｘｏなら合焦、ΔＸ〉ΔＸ
ｏなら非合焦であり、この判定は被写体であるエッチ固
形の平均用るさ、或いはコントラストによらない、換言
すれば被写体のエッヂ部分における幅を検出し、該幅が
大きい場合には非合焦、該幅が小さい場合には合焦と判
断することができるわけである・ また、第２図（ａ）に示す一般的な被写体の場合でも、
人物や物体笠の輪郭部分においては不連続な明るさの変
化が生じており、その近傍では第１図のエッヂ図形の場
合と良く似た明るさ分布を持つ、従って第２図（ｂ）、
（ｃ）のように画像信号Ｉ　（ｘ）のエッヂ部分の幅Δ
Ｘを求め、既知の植ΔＸｏ、即ち光学系が合焦時となっ
た際のエッヂ部分の幅の大きさと比較することにより合
焦・非合焦が判断できる。尚、：５３図のように微細な
パターンを持つ被写体においては、第３区（Ｃ）のよう
に非合焦時においても２つのエッヂ部分からの′ａ芋が
重なって被写体においては、：ＪＳ３図（Ｃ）のように
非合焦時においても２つのエッヂ部分からの寄与が１な
ってΔＸが増大せず１合焦検出ができない、従って合焦
検出を行う様にするためにはｇＳ１図に示すように、エ
ッヂを形成する白・黒各部分の輻りがΔｘ６に比して少
し大きいこと、例えばΔｘ０の２倍〜数倍程度必要であ
る。ΔＸｏは光学系の最小錯乱円径程度の大きさである
から、Ｌは全画面の大きさに比してかなり小さく、この
ようなエッヂ部分はほとんどの被写体において存在して
いる。従ってほとんどの場合は合焦検出を行うことが出
来る。

未実施例においては、前述のエッヂ部分の輻ΔＸを求め
るに際して、６電信号Ｉ　（ｘ）よりエッヂ部分の輝度
の勾配ｄ　Ｉ　／　ｄ　ｘと、第１図。

ｉ２図に示すエッヂ部分における輝度差Δ工を算１Ｂし
、その比Ｐ＝（ｃｆＩ／ｃｌｃ）／ΔＩを算出すること
により１間接的にエッヂ部分の輻Δ工ｔｔめる。即ちＰ
はエッヂ部分の輻ΔＸの逆数に相当し、エッヂ部分の鋭
さを表わす、ここで、エッヂ部分における輝度差Δ■は
第１図（ｂ）、（（：）のように、光学系が多少非合焦
であっても合焦時と変わらない偵を持つから、非合焦時
、即ち合焦時のｉｉ像信号の波形がわからない場合にお
いても検出可能であり、このΔＩによって合焦・非合焦
によって鋭敏に変化するエッヂ部分の勾配ｄＩ／ｄｘを
正規化することによって、エッヂ部分の輻ΔＸを求める
ことが出来、更にかかる輻Δ×は被写体の平均用るさや
コントラストに依存せず、光学系の合焦・非合焦を判定
できる。

次に以上の原理にルづいて合焦検出を行う実施例を詳述
する。

第４図は本発明の第１の実施例のブロック図を示す。

この実施例においては、前述のＰ−（ｄＩ／ｄｘ）／Δ
Ｉを求めるに際してｔＪ！像面上の各点Ｘについｒｐ　
（ｘ）−（ｄ　ｒ／ｄｉ　／Δｌ　（ｘ）を求め、これ
を所定の閾値Ｐ。＝１／Δｘ６と比較することにより、
ピントの合ったエッヂの数を計数し、所定数以上あれば
合焦と判断する。又。

ΔＫ　（ｘ）の算出は により行っている。ここでＬは前述のように光学系の最
小錯乱ｒ目゛ｔの２〜数倍程度の大きざであり、従って
この積分は撮像素子の数！！ｉ素〜１０画素程度の領域
で行う、かかるΔＩ　（ｘ）は第１図（ｂ）、（ｃ）に
示したようなエッヂ部分に対してはそのエッヂの１ｉｉ
Ｎ後所定範囲における最高輝度と最低ｊｉＦ度の差ΔＩ
を与えるが、第３Ｖ！Ｊのような鍬細なパターンに対し
ては常にその最高輝度と最低輝度の差より大さい値をと
るため、結果的にＰ（Ｘ）の値が小さくなるので誤って
合焦と１４断されることがない。

第４図において、ｌは撮像素子、２は撮像素子より得ら
れる画像信号１　（Ｌ）を微分して１画電信号の勾配ｄ
　Ｉ／ｄ　ｔを求める微分あるいは差分回路、３は絶対
値回路であり、４はＪｉｉＪ述のΔＩ（Ｘ）に対応する
信号ムＩ　　（Ｌ）を算出する回路である。肖、Ｌは撮
像素子ｌから信号を読み出す際における読み出し開始時
からの時間を示す、第５図にはΔＩ　（Ｌ）算出回路４
の構成を示す、第５図において、１４は時間Ｔだけ信号
を遅延させる遅延回路、１５は減算回路、１Ｂは積分回
路でことにより出力信号 る回路、５．７は対数回路、８はｇｒ１回路であり、対
数の差をとることにより Ｐ　（ｔ）は予め芋えちれた前述の内偵Ｐ０と比較回路
９によって比較され、ワンショット回路１０はｐ　（ｔ
）＞ｐｏのときに比較回路９の出力に基づさパルスを発
生し、そのパルス数がカウンタ１１によって計数される
。１２は撮像素子ｌの駆動クロック及び全系のタイミン
グ信号を発生するタイミング発生回路であり、カウンタ
１１は垂直同期信号によってリセットされ、１フイール
ドあるいは１フレーム内の閾値Ｐｏをこえる鋭さを持つ
エッヂ部分の数を計数し、計数値が所定値以上ならば合
焦、その他のときは非合焦と判断される。閾偵Ｐ０は固
定でも良いが、光学系の結像性俺が絞り値やズーム状態
によってかなり変動する場合には、それらのパラメータ
を検出し、Ｐｏを最適な値に設定する手段を設けること
が望ましい０例えば絞り値が大きくなるほど光学系の性
能が悲化し、錯乱円径が大きくなるときには、絞り値が
大きくなるほど閾値Ｐｏを小さくする。尚通常のＮＴＳ
Ｃ信号の場合、微分ないしは差分回路２の時定数は１０
０　ｎ５ｅｃ　〜５００　ｎ５ｅｃ程度、遅延回路１４
の遅延時間Ｔは５００ｎｓｅｃ〜２ｇ５ｅｃ程度の値が
適当である。またΔＩ　（ｔ）の求め方を例えば い部分はΔＩ　（ｔ）の値にほとんどＮ　’Ｆしなくな
るため、ｆｆ５２図（ｂ）のように多少リップルがのっ
たエッチ部分に対しても、第１図（ｂ）のような理想的
なエッヂの場合と同様にエッヂ部の輝度差Δ■が算出で
きる。この場合には第４図に示した絶対値回路３を２乗
回路にユ換えれば良い。

また、第４図の絶対値回路３とΔＩ　（ｔ）算出回下の
ときにはΔＩ　（Ｌ）算出回路４の入力信号を強制的に
Ｏとすることによっても同様の効果が得られる。

また、Δｘ（ｔ）Ｏ出回路４によって算出されたΔＩ　
（ｔ）の値が小さい場合には、対数回路７成分によって
誤差が含まれているため、検出されるＰ　（ｔ）の精度
が悪化する。これを除去するには、入力信号ΔＩ　（ｔ
）が小さいほど出力信号がｌｏｇΔＩ　（ｔ）より大き
な方向にずれるように、対数回路８の特性を変えて検出
されるＰい→の値が小さくなるようにすればよい。

第６図は本発明の第２の実施例のブロック図であり、自
動合焦装置に適用した場合を示す、尚第゛６図において
は、メモリのアドレスカウンタやメモリ、Ａ／Ｄ変換器
の制御線等はわかりやすくするために省略されている。

第６図において、撮像素子１より得られる画像信号はゲ
ート回路１７によって制御信号Ｇに応じて、画面の所定
の検出領域に対応した部分のみ通過させられる。１８は
バイパスフィルターであり、１９検波回路、２０は積分
回路であり、ｌフレームあるいはｌフィールドにおける
検出領域中の画像信号の高周波成分の強度を検出する。

２１はＡ／Ｄ変換器であり、検出された高周波成分の強
度をＡ／Ｄ変換し、信号Ｂとしてマイクロプロセサ３０
に送出する。１３は第４図に示したエッチの鋭ざＰ　（
ｔ）を算出す、る回路、２２はピークホールド回路であ
り、１水平走査線中のＰ（Ｌ）の最大値Ｐｉを保持し、
１水ｆ走査毎にレベルが切り換わる信号ｆ　ｏによりリ
セットされる。ここでｉは検出領域中の走査線の番号で
ある。２３１まＡ／Ｄ変換器であり、木Ｆ走査ごとのｐ
　（ｔ）の最大値ＰｉをＡ　７　Ｄ　ｆ：検し、メモリ
２４に順次記録していく、メモリ２４の内容は１フレー
ムあるいは１フイールドの垂直帰線期間内にマイクロプ
ロセサ３０によって読み出される。２５〜２９は被写体
像の移動速度を算出するために設けられており、特にビ
デオカメラの場合、Ｌぶれや被写体の動きによって自動
合焦装置が１τミ動作したり、おるいは不安定になった
りするのを防止するために設けられている。即ち。

−トぶれや被写体の移動によってピントの合っていた被
写体が一時的に一■ζ面の検出領域から出てしまうと、
非合焦とＩ断されてモータが駆動されてしまうし、また
被写体が検出領域内にとどまっていても振動したりして
いると、撮像素子１ｃｒ）苔聞作用によって検出される
エッチの鋭さＰ　（ｔ）が減少して合焦であるにもかか
わらず、非合焦と判断してしまうという欠点が生じる。

２５〜２９はかかる欠点を解消するため、像の移動速度
を検出するために設けられた基本的な回路である。２５
は画像信号を２値化することにより画像のパターンを抽
出する２値化回路、２６はマルチプレクサ、２７．２８
は画像のパターンを記憶するメモリであり、抽出された
パターンはｌフレームあるいは１フイールドごとにレベ
ルの切り換わる信％ｆマに応じてマルチプレクサにより
メモリ２７　、２８に交互に記録される。メモリ２７．
２８には継続する２つのフレームないしはフィールドの
画像パターンが記録されているから、速度検出回路２９
によってそのパターン間の相関演算がなされ、１フレー
ムないしは１フイ一ルド間の像の移動ベクトルＶが算出
され、マイクロプロセサ３０へ送出される。尚、本出願
人による＃顆間６０−１１１４７２号では像の移動ベク
トルＶを検出する具体的な手段が詳述されている。

３１は光学系内のフォーカシングレンズを移動させるた
めのモータであり、マイクロプロセサ３０からの信号Ｖ
Ｍによってその速度及び方向が制御される。

次に−ｙイクロブロセサ３０により実行されるフローに
ついて第７図乃至第９図を用いて説明する。

第７図はエッチの幅を評価する評価値ｑを検出し、高周
波成分の強度Ｂ、像の移動ベクトルＶを取り込むサブル
ーチンのフローチャートであり。

第８図は本実施例の自動合焦装置の動作の流れを示すフ
ローチャート、第９図は合焦が検出された際の自動合焦
装置の動作を示すフローチャートである。まず、第７図
に示すサブルーチンについて説明する。

Ｓ−２において設定されている検出領域内の画像信号を
抽出するためにフレームの開始時点でゲート回路１７に
制御信号Ｇを送出する。続いてＳ−３ではフし〆−ムの
終了時点でメモリ２４に記録されるＰｌ、−＝Ｐｉ＋の
値、Ａ／Ｄ変換器２１より高周波成分の強度Ｂ、速度検
出回路２９より像の移動ベクトルＶを入力し１次いでＳ
−４゜Ｓ−５でエッヂの鋭さの評価値ｑを算出する。

かかるステップＳ−３〜Ｓ−５においてはマイクロプロ
セサ３０は以下のような動作を行う。

まずメモリ２４の内容Ｐ１　、Ｐ２、−−−−−、Ｐｎ
を！Ｉｌｌ’ｉ次読み出し、更にＡ／Ｄ変換器２１によ
り高周波成分の強度Ｂ、速度検出回路２９により像の移
動ベクトルＶを入力する。ここでＮは検出領駐中に含ま
れる走査線の数である。これらＰ、、Ｐ２ｉ　＝　Ｍ　
＋　１−　Ｎ　−Ｍについて算出しくＳ　−４）、ざら
にｑｉの最大値ｑを求める（Ｓ−５）、ここでＭはＭ＜
Ｎなる整数である。Ｐｋは第に走査線中で検出されたエ
ッヂの鋭さｐ　（ｔ）の最大値のであるから、ｑｉは連
続するＭ木の走査線各々におけるｐ　（Ｈの最大値の平
均である。従って第１図（ａ）のように画面垂直方向に
ある程度長さをもった最も鋭いエッヂ部分の鋭さがｑと
して算出すれ、このｑを光学系の合焦状ｒＢの尺度とじ
て使用する。換言すればＳ−４で得たエッヂの鋭さの最
大値、換言すれば最もエッヂの幅の小さし・箇所のエッ
ヂの幅を検出することになる。

なお通常のビデオ刀メラの場合、検出領域の走査線の数
Ｎは５０〜１００．平均をとる走査線の数Ｍは５〜１０
程度が適当である。

次いで第８図を用いて自動合焦装置の動作の流れを説明
する。自動合焦装置の動作が開始されると（Ｓ−７）、
まず検出領域として標準値（通常画面の中央部分）を設
こしくＳ　−ａ）即ち前述の第７図に示したＳ−２にお
いてゲート回路における制ｔ３１［号Ｇに応じてゲート
回路１７の動作する範囲を設定し、評価値ｑの値を第７
図に示したフローに基づいて算出しく５−９）、／イズ
レベルｑ２と比較する（Ｓ−１０）、ｑ＜ｑ２ならば即
ち評価値ｑが所定値よりも小さい場合換言すれば被写体
のうちで最も狭いエッヂの幅においても像のボケにより
かかるエッヂが大きい場合にはＳ−１１−５−１６によ
り高周波成分の強度Ｂが増大する方向にＱ＞Ｑ２となる
まで光学系を駆動する、即ちｑの値は光学系が合焦より
はずれるに従い急徴に減少するため、いわゆる大ボケ状
態ではノイズの影響で検出不可能になる。第６図１８〜
２１に示した回路はこの場合のために設けられており、
ｑの値が所定のノイズレベルを示すｑ２以下の場合には
、画像信号の高周波成分の強度Ｂの値を取りこみ、かか
る強度Ｂに基づいて山登り制御が行われる。即ち５−１
１で任意方向にモータを駆動し、次に得らえれたＢの値
を前の値と比較して（Ｓ−１３）、Ｂが減少したならば
モータを逆転させ（Ｓ−１４）、検出されるｑの値が９
２をこえるまでモータの駆動を続け（Ｓ−１５，Ｓ−１
６）、ある程度合焦に近づきＱ　＞　’１２となれば即
ち被写体のうちで最も狭いエッヂ部分の幅が所定よりも
狭くなった場合には５−２７へ移行する。

また一方５−１０においてＱ　＞　Ｑ、　２であった場
合、即ち被写体のうちで最も幅の狭いエッヂの幅が所定
よりも小さい場合には５−１１〜５−１６に示す山登り
制御を行わず５−１７〜５−２６でａ＋価値ｑが大きく
なるように制り１を行う。

まず所定量以」二の移動ベクトルＶが検出された場合に
は５−１７において被写体の移動に追従して移動ベクト
ルＶだけ検出領域が移動されるようマイクロプロセッサ
３０はゲート回路１７に制御信号Ｇをグーえる。続いて
５−１８においては第７図に示すフローを実行し、評価
値ｑ、移動ベクトルＶを検出し１次いで５−１９におい
て移動ベクトルＶに応じて評価値ｑを補正する。即ち像
が水平方向に速度Ｖｌ＋で移動している場合、検出され
るエッチの幅はおおよそＶＨΔｔだけ増大する。

ここでΔｔは撮像素子ｌの蓄植時間である。従っで算出
した（ａ　ｑに対してこの分を補正し、新たにｑとする
。

５−２０においてｑ＞ｑｌであるなら合焦と１４断され
５−３３へ移行し、ｑ＜ｑ＋であるならまず撮影レンズ
のピント位ごを制御するモータを任意方向に駆動しくＳ
−２１）、検出されるｑの値が増加する方向ヘモータを
駆動する（Ｓ−２２〜Ｓ−２６）、尚５−２２〜５−２
４は５−１７〜５−１９と同様のステップである。

５−２７〜５−３２は合焦を検出し、光学系の駆動を停
止させる過程である。５−２７〜５−２９によりｑの値
の検出を行い、ｑ＞　ｑｌとなるか、またはｑがｑｌに
達する以前に最大値が検出された場合には５−３３に移
り、合焦と判定して合焦時の処理を行う、尚この場合に
は５−２１〜Ｓ−。

２６により指定された方向にモータは回転している。他
の場合には５−３２においてｑとｑｌとの差に応じてｑ
が９１に近づくほどモータ速度をｄくなるよう変更し、
再びｑの値の検出を行い。

合焦と判定されるまでは５−２７〜５−３２のステップ
をくり返す。

尚５−３１において合焦され５−３３にフローが進む場
合とは被写体と“してほとんどエッヂ部分を持たないも
のが選ばれた場合である。

この様に本実施例に依ればエッヂ部分がほとんどないよ
うな被写体も合焦状態を検出することが出来る場合もあ
る。

以上のような手順により光学系が合焦状態に達した場合
には、マイクロプロセサ３０は被写体が光軸方向に動い
たり、あるいはパニングによって他の被写体にピントを
合わせ直す必要が生じたかどうかの監視に入る。かかる
監視を行うフローについて第９図を用いて説明する。ま
す合焦となった場合には直ちにモータのｗＪＡ動を停止
する（Ｓ−３４）０次いでマイクロプロセサは合焦時の
ｑの値ｑ′よりやや小さい値１例えばＱ３−０−９Ｑ’
を閾値とする（Ｓ−３５）、次いで像が動いている場合
にはそれに応じて検出領域を変更しくＳ−３６）、前述
の第７図に示す様に評価値を検出しくＳ−３７）、像の
動きに応じてｑの値を補正する（Ｓ−３８）、５−３９
においてｑ＜ｑ３となったときには、再び自動焦点合わ
せ動作を行うが、５−４０においてＱ＞Ｑ２であるとき
にはそれほどぼけていないから、５−４１よりフォーカ
スの修正を行う、埋も第８図に示す５−４１にフローは
進み、　　ｑ＜ｑ２の場合にはぼけ量が大きいから再び
スター）　（Ｓ−７）に戻って焦点合わせをやり直す、
尚ｑのイ〆ｉが閾値ｑ、に達する以前に最大値をとり、
モータを停止させた状態では１次にエッヂ部分を持った
通常の被写体が検出領域に来た場合には多少ぼけていて
も合焦と判断されてしまう、従ってこの場合には所定時
間１例えば１秒ごとにモータを前後に強制的に駆動し、
実際（９の値が最大値をとっているかどうかの確認を行
っても良い、また合焦時に検出領域を光束で移動する物
体が横切ったり、急激なパニングが行わ。

れた場合などでは一時的にｑの値が閾値ｑコを下回り、
必要がないのにピントの合わせ直しのためにモータが駆
動されてしまうことがある。このような状況を避けるた
めにはｑの値が所定値以上変化した場合には所定時間１
例えば０．５秒程度待機し、その間にｑの値が回復され
ないときのみモータの駆動を始めるよう改良しても良い
。

〈発明の効果〉 上述のように１本発明においては、多くの物体に共通し
て現われる物体の輪郭等のエッヂ部分の幅を検出するこ
とにより、物体の種類やコントラストによらず１節便に
光学系の合焦・非合焦の判別が回部で、ビデオカメラ等
の自動合ｊＭ　’Ａ　’１１　ヘ（７）応用に好適であ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図、第３図は本発明の詳細な説明する図で
あり、第１図（ａ）、第２図（ａ）。 第３図（ａ）は各々被写体の様子を示し、第１図（ｂ）
、第２図（ｂ）、ｔ５３図（ｂ）は各被写体に対応して
得られる合焦時の画像信号の波形、第１図（Ｃ）、第２
図（Ｃ）、第３図（Ｃ）は非合焦時の波形を示す。 第４図、第５図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第６図は本発明の一実施例の合焦検出装置を自動合焦装
ａに応用した場合のブロック図を示す。 ｆｆＳ７図〜第９図は第６図に示すマイクロプコセサ３
０の動作のフローチャートである。 Ｌ−−−−一撮像素子 ２−−−−一微分回路 ３−−−−一絶対値回路 ３０−−−−一マイクロプロセサ ＣＱ） （ｂ） ＣＣ）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光電変換面に形成された物体像を電気信号に変換
   する光電変換素子を有する合焦検出装置において、前記
   物体像のエッヂ部分の幅を検出する検出手段と該幅の大
   きさに基づいて合焦状態を判別する判別手段を具備する
   ことを特徴とする合焦検出装置。
2. （２）前記検出手段は前記物体像のエッヂ部分の輝度変
   化の勾配とエッヂ部分における輝度差との比を検出する
   ことによりエッヂ部分の幅を検出することを特徴とする
   特許請求の範囲第１項記載の合焦検出装置。