JPH0754968B2 - 合焦検出装置 - Google Patents
合焦検出装置Info
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- JPH0754968B2 JPH0754968B2 JP60245239A JP24523985A JPH0754968B2 JP H0754968 B2 JPH0754968 B2 JP H0754968B2 JP 60245239 A JP60245239 A JP 60245239A JP 24523985 A JP24523985 A JP 24523985A JP H0754968 B2 JPH0754968 B2 JP H0754968B2
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- Japan
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- focus
- edge portion
- value
- detecting
- photoelectric conversion
- Prior art date
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Landscapes
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、例えばビデオカメラ等に好適な合焦検出装置
に関する。
に関する。
＜従来の技術＞ 従来、ビデオカメラ等において、撮像素子より得られる
画像信号より撮像面上の被写体像の鮮鋭度を検出し、鮮
鋭度が最も高くなるように光学系を駆動して焦点合わせ
を行う種々の鮮鋭度検出方式が知られている。この方式
のうち第１の方式は基本的にはハイパスフイルター或い
は微分回路等によって画像信号の高周波成分を抽出し、
抽出した高周波成分の大小によって像の鮮鋭度を評価す
る方式であって、かかる方式により焦点合わせを行う際
には、光学系を駆動して得られる結像状態の異なる２つ
の像の鮮鋭度を比較することにより光学系の駆動方向を
決定し、鮮鋭度が最大となった位置で光学系を停止し、
光学系の合焦状態を得る様にしていた。
画像信号より撮像面上の被写体像の鮮鋭度を検出し、鮮
鋭度が最も高くなるように光学系を駆動して焦点合わせ
を行う種々の鮮鋭度検出方式が知られている。この方式
のうち第１の方式は基本的にはハイパスフイルター或い
は微分回路等によって画像信号の高周波成分を抽出し、
抽出した高周波成分の大小によって像の鮮鋭度を評価す
る方式であって、かかる方式により焦点合わせを行う際
には、光学系を駆動して得られる結像状態の異なる２つ
の像の鮮鋭度を比較することにより光学系の駆動方向を
決定し、鮮鋭度が最大となった位置で光学系を停止し、
光学系の合焦状態を得る様にしていた。
また第２の方式として特公昭54−44414号公報には、被
写体の中間濃度域の大きさが合焦の度合に応じて変化す
ることを利用し、即ちボケた場合には中間濃度域が大き
くなり、焦点が合った場合には小さくなることを利用
し、かかる中間濃度域が最も小さくなった場合に合焦と
判定する焦点検出装置が開示されている。他に第２の方
式として特公昭52−30324号公報には、前述の特公昭54
−44414号公報における中間濃度域の大きさを検出する
のとは逆に被写体の高濃度域或いは低濃度域の大きさを
検出し、かかる領域の大きさが合焦の度合に応じて変化
することを利用して高濃度或いは低濃度域の大きさが最
も大きくなった場合に合焦と判定する焦点検出装置が開
示されている。
写体の中間濃度域の大きさが合焦の度合に応じて変化す
ることを利用し、即ちボケた場合には中間濃度域が大き
くなり、焦点が合った場合には小さくなることを利用
し、かかる中間濃度域が最も小さくなった場合に合焦と
判定する焦点検出装置が開示されている。他に第２の方
式として特公昭52−30324号公報には、前述の特公昭54
−44414号公報における中間濃度域の大きさを検出する
のとは逆に被写体の高濃度域或いは低濃度域の大きさを
検出し、かかる領域の大きさが合焦の度合に応じて変化
することを利用して高濃度或いは低濃度域の大きさが最
も大きくなった場合に合焦と判定する焦点検出装置が開
示されている。
＜発明の解決しようとする問題点＞ 前述の第１或いは第２の方式においては、一般に被写体
の種類やコントラストによって検出される像の鮮鋭度の
値が大幅に異なるために、次のような問題が生ずる。例
えば被写体のわずかな動きや照明条件の変化によっても
検出される鮮鋭度の値が変化してしまうため、光学系の
駆動中に鮮鋭度の誤った極大値を検出し、合焦位置では
ないのに光学系が停止する場合がある。さらに光学系が
一旦合焦位置に停止してしまうと、比較を行う結像状態
の異なる像が得られなくなるため、もはや実際に光学系
が合焦状態にあるかどうか判断ができなくなる。また前
述の第１の方式，第２の方式に限らず、従来知られてい
た方式では鮮鋭度が最大となる位置を求めるためには、
光学系は必ず一度合焦位置を通りすぎなければならず、
その結果得られる画像はピントが合ってから一度ぼけ、
その後再びピントがあうという見苦しい画像になる。
の種類やコントラストによって検出される像の鮮鋭度の
値が大幅に異なるために、次のような問題が生ずる。例
えば被写体のわずかな動きや照明条件の変化によっても
検出される鮮鋭度の値が変化してしまうため、光学系の
駆動中に鮮鋭度の誤った極大値を検出し、合焦位置では
ないのに光学系が停止する場合がある。さらに光学系が
一旦合焦位置に停止してしまうと、比較を行う結像状態
の異なる像が得られなくなるため、もはや実際に光学系
が合焦状態にあるかどうか判断ができなくなる。また前
述の第１の方式，第２の方式に限らず、従来知られてい
た方式では鮮鋭度が最大となる位置を求めるためには、
光学系は必ず一度合焦位置を通りすぎなければならず、
その結果得られる画像はピントが合ってから一度ぼけ、
その後再びピントがあうという見苦しい画像になる。
本発明の目的は、物体の種類やコントラストに影響され
ない新規な像の鮮鋭度の評価方式を用いた合焦装置を提
供することにより、上述の欠点を解決することにある。
ない新規な像の鮮鋭度の評価方式を用いた合焦装置を提
供することにより、上述の欠点を解決することにある。
＜問題点を解決するための手段＞ 本発明は上述した従来の問題点を解決するために、物体
像のエツヂ部分の幅を検出する検出手段と、該幅の大き
さに基づいて合焦状態を判別する判別手段とを具備する
ことを特徴とする。
像のエツヂ部分の幅を検出する検出手段と、該幅の大き
さに基づいて合焦状態を判別する判別手段とを具備する
ことを特徴とする。
＜作 用＞ 上記において、物体像のエツヂ部分の幅が大きい場合に
は判別手段により非合焦、幅が小さい場合には合焦と判
別する。
は判別手段により非合焦、幅が小さい場合には合焦と判
別する。
＜実施例＞ まず、第１図（ａ）（ｂ）（ｃ）乃至第２図（ａ）
（ｂ）（ｃ）を用いて本発明の原理を説明する。第１図
（ａ）のような白黒パターンから成るエツヂ図形が被写
体であったとする。ｘ′は光学系の光軸と直交方向の空
間座標を示す。かかるエツヂ図形の像を光電変換する撮
像素子より得られる画像信号のレベルＩ（ｘ）は光学系
が合焦の場合には第１図（ｂ）のように鋭いエツヂを持
つが、非合焦の場合には第１図（ｃ）のように鋭いエツ
ヂになる。なおｘは第１図（ａ）に示したｘ′に対応し
た撮像素子の撮像面上の座標である。また画像信号は通
常撮像素子の電気的走査によって時系列信号として取り
出されるが、説明の都合上、ここでは撮像面上の座標ｘ
に関する信号とみなす。
（ｂ）（ｃ）を用いて本発明の原理を説明する。第１図
（ａ）のような白黒パターンから成るエツヂ図形が被写
体であったとする。ｘ′は光学系の光軸と直交方向の空
間座標を示す。かかるエツヂ図形の像を光電変換する撮
像素子より得られる画像信号のレベルＩ（ｘ）は光学系
が合焦の場合には第１図（ｂ）のように鋭いエツヂを持
つが、非合焦の場合には第１図（ｃ）のように鋭いエツ
ヂになる。なおｘは第１図（ａ）に示したｘ′に対応し
た撮像素子の撮像面上の座標である。また画像信号は通
常撮像素子の電気的走査によって時系列信号として取り
出されるが、説明の都合上、ここでは撮像面上の座標ｘ
に関する信号とみなす。
第１図（ｂ），（ｃ）において、画像信号Ｉ（ｘ）とエ
ツヂ部分の幅△ｘは合焦状態で最も小さな値△x0とな
り、非合焦になるにつれて増大する。△ｘは光学系の錯
乱円径，撮像素子の解像力，画像信号処理回路の帯域幅
によって定まるが、後者の２つは光学系の合焦状態に無
関係であるから、画像信号のエツヂ部分の幅△ｘを検出
することにより光学系の合焦・非合焦を判定できる。即
ち△ｘx0なら合焦、△ｘ＞△x0なら非合焦であり、こ
の判定は被写体であるエツヂ図形の平均明るさ、或いは
コントラストによらない。換言すれば被写体のエツヂ部
分における幅を検出し、該幅が大きい場合には非合焦、
該幅が小さい場合には合焦と判断することができるわけ
である。
ツヂ部分の幅△ｘは合焦状態で最も小さな値△x0とな
り、非合焦になるにつれて増大する。△ｘは光学系の錯
乱円径，撮像素子の解像力，画像信号処理回路の帯域幅
によって定まるが、後者の２つは光学系の合焦状態に無
関係であるから、画像信号のエツヂ部分の幅△ｘを検出
することにより光学系の合焦・非合焦を判定できる。即
ち△ｘx0なら合焦、△ｘ＞△x0なら非合焦であり、こ
の判定は被写体であるエツヂ図形の平均明るさ、或いは
コントラストによらない。換言すれば被写体のエツヂ部
分における幅を検出し、該幅が大きい場合には非合焦、
該幅が小さい場合には合焦と判断することができるわけ
である。
また、第２図（ａ）に示す一般的な被写体の場合でも、
人物や物体等の輪郭部分においては不連続な明るさの変
化が生じており、その近傍では第１図のエツヂ図形の場
合と良く似た明るさ分布を持つ。従って第２図（ｂ），
（ｃ）のように画像信号Ｉ（ｘ）のエツヂ部分の幅△ｘ
を求め、既知の値△x0、即ち光学系が合焦時となった際
のエツヂ部分の幅の大きさと比較することにより合焦・
非合焦が判断できる。尚、第３図のように微細なパター
ンを持つ被写体においては、第３図（ｃ）のように非合
焦時においても２つのエツヂ部分からの寄与が重なって
被写体においては、第３図（ｃ）のように非合焦時にお
いても２つのエツヂ部分からの寄与が重なって△ｘが増
大せず、合焦検出ができない。従って合焦検出を行う様
にするためには第１図に示すように、エツヂを形成する
白・黒各部分の幅Ｌが△x0に比して少し大きいこと、例
えば△x0の２倍〜数倍程度必要である。△x0は光学系の
最小錯乱円径程度の大きさであるから、Ｌは全画面の大
きさに比してかなり小さく、このようなエツヂ部分はほ
とんどの被写体において存在している。従ってほとんど
の場合は合焦検出を行うことが出来る。
人物や物体等の輪郭部分においては不連続な明るさの変
化が生じており、その近傍では第１図のエツヂ図形の場
合と良く似た明るさ分布を持つ。従って第２図（ｂ），
（ｃ）のように画像信号Ｉ（ｘ）のエツヂ部分の幅△ｘ
を求め、既知の値△x0、即ち光学系が合焦時となった際
のエツヂ部分の幅の大きさと比較することにより合焦・
非合焦が判断できる。尚、第３図のように微細なパター
ンを持つ被写体においては、第３図（ｃ）のように非合
焦時においても２つのエツヂ部分からの寄与が重なって
被写体においては、第３図（ｃ）のように非合焦時にお
いても２つのエツヂ部分からの寄与が重なって△ｘが増
大せず、合焦検出ができない。従って合焦検出を行う様
にするためには第１図に示すように、エツヂを形成する
白・黒各部分の幅Ｌが△x0に比して少し大きいこと、例
えば△x0の２倍〜数倍程度必要である。△x0は光学系の
最小錯乱円径程度の大きさであるから、Ｌは全画面の大
きさに比してかなり小さく、このようなエツヂ部分はほ
とんどの被写体において存在している。従ってほとんど
の場合は合焦検出を行うことが出来る。
本実施例においては、前述のエツヂ部分の幅△ｘを求め
るに際して、画像信号Ｉ（ｘ）よりエツヂ部分の輝度の
勾配dI/dxと、第１図，第２図に示すエツヂ部分におけ
る輝度差△Ｉを算出し、その比Ｐ＝（dI/dx）／△Ｉを
算出することにより、間接的にエツヂ部分の幅△ｘを求
める。即ちＰはエツヂ部分の幅△ｘの逆数に相当し、エ
ツヂ部分の鋭さを表わす。ここで、エツヂ部分における
輝度差△Ｉは第１図（ｂ），（ｃ）のように、光学系が
多少非合焦であっても合焦時と変わらない値を持つか
ら、非合焦時、即ち合焦時の画像信号の波形がわからな
い場合においても検出可能であり、この△Ｉによって合
焦・非合焦によって鋭敏に変化するエツヂ部分の勾配dI
/dxを正規化することによって、エツヂ部分の幅△ｘを
求めることが出来、更にかかる幅△ｘは被写体の平均明
るさやコントラスト依存せず、光学系の合焦・非合焦を
判定できる。
るに際して、画像信号Ｉ（ｘ）よりエツヂ部分の輝度の
勾配dI/dxと、第１図，第２図に示すエツヂ部分におけ
る輝度差△Ｉを算出し、その比Ｐ＝（dI/dx）／△Ｉを
算出することにより、間接的にエツヂ部分の幅△ｘを求
める。即ちＰはエツヂ部分の幅△ｘの逆数に相当し、エ
ツヂ部分の鋭さを表わす。ここで、エツヂ部分における
輝度差△Ｉは第１図（ｂ），（ｃ）のように、光学系が
多少非合焦であっても合焦時と変わらない値を持つか
ら、非合焦時、即ち合焦時の画像信号の波形がわからな
い場合においても検出可能であり、この△Ｉによって合
焦・非合焦によって鋭敏に変化するエツヂ部分の勾配dI
/dxを正規化することによって、エツヂ部分の幅△ｘを
求めることが出来、更にかかる幅△ｘは被写体の平均明
るさやコントラスト依存せず、光学系の合焦・非合焦を
判定できる。
次に以上の原理に基づいて合焦検出を行う実施例を詳述
する。
する。
第４図は本発明の第１図の実施例のブロツク図を示す。
この実施例においては、前述のＰ＝（dI/dx）／△Ｉを
求めるに際して撮像面上の各点ｘについてＰ（ｘ）＝
（dI/dx）／△Ｉ（ｘ）を求め、これを所定の閾値P01
/△x0と比較することにより、ピントの合ったエツヂの
数を計数し、所定数以上あれば合焦と判断する。又、△
Ｉ（ｘ）の算出は により行っている。ここでＬは前述のように光学系の最
小錯乱円径の２〜数倍程度の大きさであり、従ってこの
積分は撮像素子の数画素〜10画素程度の領域で行う。か
かる△Ｉ（ｘ）は第１図（ｂ），（ｃ）に示したような
エツヂ部分に対してはそのエツヂの前後所定範囲におけ
る最高輝度と最低輝度の差△Ｉを与えるが、第３図のよ
うな微細なパターンに対しては常にその最高輝度と最低
輝度の差より大きい値をとるため、結果的にＰ（ｘ）の
値が小さくなるので誤って合焦と判断されることがな
い。
求めるに際して撮像面上の各点ｘについてＰ（ｘ）＝
（dI/dx）／△Ｉ（ｘ）を求め、これを所定の閾値P01
/△x0と比較することにより、ピントの合ったエツヂの
数を計数し、所定数以上あれば合焦と判断する。又、△
Ｉ（ｘ）の算出は により行っている。ここでＬは前述のように光学系の最
小錯乱円径の２〜数倍程度の大きさであり、従ってこの
積分は撮像素子の数画素〜10画素程度の領域で行う。か
かる△Ｉ（ｘ）は第１図（ｂ），（ｃ）に示したような
エツヂ部分に対してはそのエツヂの前後所定範囲におけ
る最高輝度と最低輝度の差△Ｉを与えるが、第３図のよ
うな微細なパターンに対しては常にその最高輝度と最低
輝度の差より大きい値をとるため、結果的にＰ（ｘ）の
値が小さくなるので誤って合焦と判断されることがな
い。
第４図において、１は撮像素子、２は撮像素子より得ら
れる画像信号Ｉ（ｔ）を微分して、画像信号の勾配dI/d
xを求める微分あるいは差分回路、３は絶対値回路であ
り、４は前述の△Ｉ（ｘ）に対応する信号△Ｉ（ｔ）を
算出する回路である。尚、ｔは撮像素子１から信号を読
み出す際における読み出し開始時からの時間を示す。第
５図には△Ｉ（ｔ）算出回路４の構成を示す。第５図に
おいて、14は時間Ｔだけ信号を遅延させる遅延回路、15
は減算回路、16は積分回路であり、この両回路により入
力信号 の遅延差信号 を積分することにより出力信号 を得る。第４図６は を時間T/2程度遅延させる回路、5,7は対数回路、８は減
算回路であり対数の差をとることにより を得る。
れる画像信号Ｉ（ｔ）を微分して、画像信号の勾配dI/d
xを求める微分あるいは差分回路、３は絶対値回路であ
り、４は前述の△Ｉ（ｘ）に対応する信号△Ｉ（ｔ）を
算出する回路である。尚、ｔは撮像素子１から信号を読
み出す際における読み出し開始時からの時間を示す。第
５図には△Ｉ（ｔ）算出回路４の構成を示す。第５図に
おいて、14は時間Ｔだけ信号を遅延させる遅延回路、15
は減算回路、16は積分回路であり、この両回路により入
力信号 の遅延差信号 を積分することにより出力信号 を得る。第４図６は を時間T/2程度遅延させる回路、5,7は対数回路、８は減
算回路であり対数の差をとることにより を得る。
Ｐ（ｔ）は予め与えられた前述の閾値P0と比較回路９に
よって比較され、ワンシヨツト回路10はＰ（ｔ）＞P0の
ときに比較回路９の出力に基づきパルスを発生し、その
パルス数がカウンタ11によって計数される。12は撮像素
子１の駆動クロツク及び全系のタイミング信号を発生す
るタイミング発生回路であり、カウンタ11は垂直同期信
号によってリセツトされ、１フイールドあるいは１フレ
ーム内の閾値P0をこえる鋭さを持つエツヂ部分の数を計
数し、計数値が所定値以上ならば合焦、その他のときは
非合焦と判断される。閾値P0は固定でも良いが、光学系
の結像性能が絞り値やズーム状態によってかなり変動す
る場合には、それらのパラメータを検出し、P0を最適な
値に設定する手段を設けることが望ましい。例えば絞り
値が大きくなるほど光学系の性能が悪化し、錯乱円径が
大きくなるときには、絞り値が大きくなるほど閾値P0を
小さくする。尚通常のNTSC信号の場合、微分ないしは差
分回路２の時定数は100nsec〜500nsec程度、遅延回路14
の遅延時間Ｔは500nsec〜２μsec程度の値が適当であ
る。また△Ｉ（ｔ）の求め方を例えば と変更しても良い。この場合 が小さい部分は△Ｉ（ｔ）の値にほとんど寄与しなくな
るため、第２図（ｂ）のように多少リツプルがのったエ
ツヂ部分に対しても、第１図（ｂ）のような理想的なエ
ツヂの場合と同様にエツヂ部の輝度差△Ｉが算出でき
る。この場合には第４図に示した絶対値回路３を２乗回
路に置換えれば良い。また、第４図の絶対値回路３と△
Ｉ（ｔ）算出回路４の間にリミツタを設け、 が所定値以下のときには△Ｉ（ｔ）算出回路４の入力信
号を強制的に０とすることによっても同様の効果が得ら
れる。
よって比較され、ワンシヨツト回路10はＰ（ｔ）＞P0の
ときに比較回路９の出力に基づきパルスを発生し、その
パルス数がカウンタ11によって計数される。12は撮像素
子１の駆動クロツク及び全系のタイミング信号を発生す
るタイミング発生回路であり、カウンタ11は垂直同期信
号によってリセツトされ、１フイールドあるいは１フレ
ーム内の閾値P0をこえる鋭さを持つエツヂ部分の数を計
数し、計数値が所定値以上ならば合焦、その他のときは
非合焦と判断される。閾値P0は固定でも良いが、光学系
の結像性能が絞り値やズーム状態によってかなり変動す
る場合には、それらのパラメータを検出し、P0を最適な
値に設定する手段を設けることが望ましい。例えば絞り
値が大きくなるほど光学系の性能が悪化し、錯乱円径が
大きくなるときには、絞り値が大きくなるほど閾値P0を
小さくする。尚通常のNTSC信号の場合、微分ないしは差
分回路２の時定数は100nsec〜500nsec程度、遅延回路14
の遅延時間Ｔは500nsec〜２μsec程度の値が適当であ
る。また△Ｉ（ｔ）の求め方を例えば と変更しても良い。この場合 が小さい部分は△Ｉ（ｔ）の値にほとんど寄与しなくな
るため、第２図（ｂ）のように多少リツプルがのったエ
ツヂ部分に対しても、第１図（ｂ）のような理想的なエ
ツヂの場合と同様にエツヂ部の輝度差△Ｉが算出でき
る。この場合には第４図に示した絶対値回路３を２乗回
路に置換えれば良い。また、第４図の絶対値回路３と△
Ｉ（ｔ）算出回路４の間にリミツタを設け、 が所定値以下のときには△Ｉ（ｔ）算出回路４の入力信
号を強制的に０とすることによっても同様の効果が得ら
れる。
また、△Ｉ（ｔ）算出回路４によって算出された△Ｉ
（ｔ）の値が小さい場合には、対数回路７に入力される の値には画像信号のノイズ成分によって誤差が含まれて
いるため、検出されるＰ（ｔ）の精度が悪化する。これ
を除去するには、入力信号△Ｉ（ｔ）が小さいほど出力
信号がlog△Ｉ（ｔ）より大きな方向にずれるように、
対数回路８の特性を変えて検出されるＰ（ｔ）の値が小
さくなるようにすればよい。
（ｔ）の値が小さい場合には、対数回路７に入力される の値には画像信号のノイズ成分によって誤差が含まれて
いるため、検出されるＰ（ｔ）の精度が悪化する。これ
を除去するには、入力信号△Ｉ（ｔ）が小さいほど出力
信号がlog△Ｉ（ｔ）より大きな方向にずれるように、
対数回路８の特性を変えて検出されるＰ（ｔ）の値が小
さくなるようにすればよい。
第６図は本発明の第２の実施例のブロツク図であり、自
動合焦装置に適用した場合を示す。尚第６図において
は、メモリのアドレスカウンタやメモリ、A/D変換器の
制御線等はわかりやすくするために省略されている。第
６図において、撮像素子１より得られる画像信号はゲー
ト回路17によって制御信号Ｇに応じて、画面の所定の検
出領域に対応した部分のみ通過させられる。18はハイパ
スフイルターであり、19検波回路、20は積分回路であ
り、１フレームあるいは１フイールドにおける検出領域
中の画像信号の高周波成分の強度を検出する。21はA/D
変換器であり、検出された高周波成分の強度をA/D変換
し、信号Ｂとしてマイクロプロセツサ30に送出する。13
は第４図に示したエツヂの鋭さＰ（ｔ）を算出する回
路、22はピークホールド回路であり、１水平走査線中の
Ｐ（ｔ）の最大値Piを保持し、１水平走査毎にレベルが
切り換わる信号fHによりリセツトされる。ここでｉは検
出領域中の走査線の番号である。23はA/D変換器であ
り、水平走査ごとのＰ（ｔ）の最大値PiをA/D変換し、
メモリ24に順次記録していく。メモリ24の内容は１フレ
ームあるいは１フイールドの垂直帰線期間内にマイクロ
プロセサ30によって読み出される。25〜29は被写体像の
移動速度を算出するために設けられており、特にビデオ
カメラの場合、手ぶれや被写体の動きによって自動合焦
装置が誤動作したり、あるいは不安定になったりするの
を防止するために設けられている。即ち、手ぶれや被写
体の移動によってピントの合っていた被写体が一時的に
画面の検出領域から出てしまうと、非合焦と判断されて
モータが駆動されてしまうし、また被写体が検出領域内
にとどまっていても振動したりしていると、撮像素子１
の蓄積作用によって検出されるエツヂの鋭さＰ（ｔ）が
減少して合焦であるにもかかわらず、非合焦と判断して
しまうという欠点が生じる。25〜29はかかる欠点を解消
するため、像の移動速度を検出するために設けられた基
本的な回路である。25は画像信号を２値化することによ
り画像のパターンを抽出する２値化回路、26はマルチプ
レクサ、27,28は画像のパターンを記憶するメモリであ
り、抽出されたパターンは１フレームあるいは１フイー
ルドごとにレベルの切り換わる信号fVに応じてマルチプ
レクサによりメモリ27,28に交互に記録される。メモリ2
7,28には継続する２つのフレームないしはフイールドの
画像パターンが記録されているから、速度検出回路29に
よってそのパターン間の相関演算がなされ、１フレーム
ないしは１フイールド間の像の移動ベクトル が算出され、マイクロプロセサ30へ送出される。尚、本
出願人による特願昭60−111472号では像の移動ベクトル を検出する具体的な手段が詳述されている。
動合焦装置に適用した場合を示す。尚第６図において
は、メモリのアドレスカウンタやメモリ、A/D変換器の
制御線等はわかりやすくするために省略されている。第
６図において、撮像素子１より得られる画像信号はゲー
ト回路17によって制御信号Ｇに応じて、画面の所定の検
出領域に対応した部分のみ通過させられる。18はハイパ
スフイルターであり、19検波回路、20は積分回路であ
り、１フレームあるいは１フイールドにおける検出領域
中の画像信号の高周波成分の強度を検出する。21はA/D
変換器であり、検出された高周波成分の強度をA/D変換
し、信号Ｂとしてマイクロプロセツサ30に送出する。13
は第４図に示したエツヂの鋭さＰ（ｔ）を算出する回
路、22はピークホールド回路であり、１水平走査線中の
Ｐ（ｔ）の最大値Piを保持し、１水平走査毎にレベルが
切り換わる信号fHによりリセツトされる。ここでｉは検
出領域中の走査線の番号である。23はA/D変換器であ
り、水平走査ごとのＰ（ｔ）の最大値PiをA/D変換し、
メモリ24に順次記録していく。メモリ24の内容は１フレ
ームあるいは１フイールドの垂直帰線期間内にマイクロ
プロセサ30によって読み出される。25〜29は被写体像の
移動速度を算出するために設けられており、特にビデオ
カメラの場合、手ぶれや被写体の動きによって自動合焦
装置が誤動作したり、あるいは不安定になったりするの
を防止するために設けられている。即ち、手ぶれや被写
体の移動によってピントの合っていた被写体が一時的に
画面の検出領域から出てしまうと、非合焦と判断されて
モータが駆動されてしまうし、また被写体が検出領域内
にとどまっていても振動したりしていると、撮像素子１
の蓄積作用によって検出されるエツヂの鋭さＰ（ｔ）が
減少して合焦であるにもかかわらず、非合焦と判断して
しまうという欠点が生じる。25〜29はかかる欠点を解消
するため、像の移動速度を検出するために設けられた基
本的な回路である。25は画像信号を２値化することによ
り画像のパターンを抽出する２値化回路、26はマルチプ
レクサ、27,28は画像のパターンを記憶するメモリであ
り、抽出されたパターンは１フレームあるいは１フイー
ルドごとにレベルの切り換わる信号fVに応じてマルチプ
レクサによりメモリ27,28に交互に記録される。メモリ2
7,28には継続する２つのフレームないしはフイールドの
画像パターンが記録されているから、速度検出回路29に
よってそのパターン間の相関演算がなされ、１フレーム
ないしは１フイールド間の像の移動ベクトル が算出され、マイクロプロセサ30へ送出される。尚、本
出願人による特願昭60−111472号では像の移動ベクトル を検出する具体的な手段が詳述されている。
31は光学系内のフオーカシングレンズを移動させるため
のモータであり、マイクロプロセサ30からの信号VMによ
ってその速度及び方向が制御される。
のモータであり、マイクロプロセサ30からの信号VMによ
ってその速度及び方向が制御される。
次にマイクロプロセサ30により実行されるフローについ
て第７図乃至第９図を用いて説明する。
て第７図乃至第９図を用いて説明する。
第７図はエツヂの幅を評価する評価値ｑを検出し、高周
波成分の強度Ｂ、像の移動ベクトル を取り込むサブルーチンのフローチヤートであり、第８
図は本実施例の自動合焦装置の動作の流れを示すフロー
チヤート、第９図は合焦が検出された際の自動合焦装置
の動作を示すフローチヤートである。まず、第７図に示
すサブルーチンについて説明する。
波成分の強度Ｂ、像の移動ベクトル を取り込むサブルーチンのフローチヤートであり、第８
図は本実施例の自動合焦装置の動作の流れを示すフロー
チヤート、第９図は合焦が検出された際の自動合焦装置
の動作を示すフローチヤートである。まず、第７図に示
すサブルーチンについて説明する。
Ｓ−２において設定されている検出領域内の画像信号を
抽出するためにフレームの開始時点でゲート回路17に制
御信号Ｇを送出する。続いてＳ−３ではフレームの終了
時点でメモリ24に記録されるP1,……PNの値、A/D変換器
21より高周波成分の強度Ｂ、速度検出回路29より像の移
動ベクトル を入力し、次いでＳ−4,S−５でエツヂの鋭さの評価値
ｑを算出する。
抽出するためにフレームの開始時点でゲート回路17に制
御信号Ｇを送出する。続いてＳ−３ではフレームの終了
時点でメモリ24に記録されるP1,……PNの値、A/D変換器
21より高周波成分の強度Ｂ、速度検出回路29より像の移
動ベクトル を入力し、次いでＳ−4,S−５でエツヂの鋭さの評価値
ｑを算出する。
かかるステツプＳ−３〜Ｓ−５においてはマイクロプロ
セサ30は以下のような動作を行う。
セサ30は以下のような動作を行う。
まずメモリ24の内容P1,P2,……,PNを順次読み出し、更
にA/D変換器21により高周波成分の強度Ｂ、速度検出回
路29により像の移動ベクトル を入力する。ここでＮは検出領域中に含まれる走査線の
数である。これらP1,P2……,PNに対し、 をｉ＝Ｍ＋１〜Ｎ−Ｍについて算出し（Ｓ−４）、さら
にqiの最大値ｑを求める（Ｓ−５）。ここでＭはＭ＜Ｎ
なる整数である。Pkは第ｋ走査線中で検出されたエツヂ
の鋭さＰ（ｔ）の最大値のであるから、qiは連続するＭ
本の走査線各々におけるＰ（ｔ）の最大値の平均であ
る。従って第１図（ａ）のように画面垂直方向にある程
度長さをもった最も鋭いエツヂ部分の鋭さがｑとして算
出され、このｑを光学系の合焦状態の尺度として使用す
る。換言すればＳ−４で得たエツヂの鋭さの最大値、換
言すれば最もエツヂの幅の小さい箇所のエツヂの幅を検
出することになる。
にA/D変換器21により高周波成分の強度Ｂ、速度検出回
路29により像の移動ベクトル を入力する。ここでＮは検出領域中に含まれる走査線の
数である。これらP1,P2……,PNに対し、 をｉ＝Ｍ＋１〜Ｎ−Ｍについて算出し（Ｓ−４）、さら
にqiの最大値ｑを求める（Ｓ−５）。ここでＭはＭ＜Ｎ
なる整数である。Pkは第ｋ走査線中で検出されたエツヂ
の鋭さＰ（ｔ）の最大値のであるから、qiは連続するＭ
本の走査線各々におけるＰ（ｔ）の最大値の平均であ
る。従って第１図（ａ）のように画面垂直方向にある程
度長さをもった最も鋭いエツヂ部分の鋭さがｑとして算
出され、このｑを光学系の合焦状態の尺度として使用す
る。換言すればＳ−４で得たエツヂの鋭さの最大値、換
言すれば最もエツヂの幅の小さい箇所のエツヂの幅を検
出することになる。
なお通常のビデオカメラの場合、検出領域の走査線の数
Ｎは50〜100、平均をとる走査線の数Ｍは５〜10程度が
適当である。
Ｎは50〜100、平均をとる走査線の数Ｍは５〜10程度が
適当である。
次いで第８図を用いて自動合焦装置の動作の流れを説明
する。自動合焦装置の動作が開始されると（Ｓ−７）、
まず検出領域として標準値（通常画面の中央部分）を設
置し（Ｓ−８）即ち前述の第７図に示したＳ−２におい
てゲート回路における制御信号Ｇに応じてゲート回路17
の動作する範囲を設定し、評価値ｑの値を第７図に示し
たフローに基づいて算出し（Ｓ−９）、ノイズレベルq2
と比較する（Ｓ−10）。ｑ＜q2ならば即ち評価値ｑが所
定値よりも小さい場合換言すれば被写体のうちで最も狭
いエツヂの幅においても像のボケによりかかるエツヂが
大きい場合にはＳ−11〜Ｓ−16により高周波成分の強度
Ｂが増大する方向にｑ＞q2となるまで光学系を駆動す
る。即ちｑの値は光学系が合焦よりはずれるに従い急激
に減少するため、いわゆる大ボケ状態ではノイズの影響
で検出不可能になる。第６図18〜21に示した回路はこの
場合のために設けられており、ｑの値が所定のノイズレ
ベルを示すq2以下の場合には、画像信号の高周波成分の
強度Ｂの値を取りこみ、かかる強度Ｂに基づいて山登り
制御が行われる。即ちＳ−11で任意方向にモータを駆動
し、次に得らえれたＢの値を前の値と比較して（Ｓ−1
3）、Ｂが減少したならばモータを逆転させ（Ｓ−1
4）、検出されるｑの値がq2をこえるまでモータの駆動
を続け（Ｓ−15,S−16）、ある程度合焦に近づきｑ＞q2
となれば即ち被写体のうちで最も狭いエツヂ部分の幅が
所定よりも狭くなった場合にはＳ−27へ移行する。
する。自動合焦装置の動作が開始されると（Ｓ−７）、
まず検出領域として標準値（通常画面の中央部分）を設
置し（Ｓ−８）即ち前述の第７図に示したＳ−２におい
てゲート回路における制御信号Ｇに応じてゲート回路17
の動作する範囲を設定し、評価値ｑの値を第７図に示し
たフローに基づいて算出し（Ｓ−９）、ノイズレベルq2
と比較する（Ｓ−10）。ｑ＜q2ならば即ち評価値ｑが所
定値よりも小さい場合換言すれば被写体のうちで最も狭
いエツヂの幅においても像のボケによりかかるエツヂが
大きい場合にはＳ−11〜Ｓ−16により高周波成分の強度
Ｂが増大する方向にｑ＞q2となるまで光学系を駆動す
る。即ちｑの値は光学系が合焦よりはずれるに従い急激
に減少するため、いわゆる大ボケ状態ではノイズの影響
で検出不可能になる。第６図18〜21に示した回路はこの
場合のために設けられており、ｑの値が所定のノイズレ
ベルを示すq2以下の場合には、画像信号の高周波成分の
強度Ｂの値を取りこみ、かかる強度Ｂに基づいて山登り
制御が行われる。即ちＳ−11で任意方向にモータを駆動
し、次に得らえれたＢの値を前の値と比較して（Ｓ−1
3）、Ｂが減少したならばモータを逆転させ（Ｓ−1
4）、検出されるｑの値がq2をこえるまでモータの駆動
を続け（Ｓ−15,S−16）、ある程度合焦に近づきｑ＞q2
となれば即ち被写体のうちで最も狭いエツヂ部分の幅が
所定よりも狭くなった場合にはＳ−27へ移行する。
また一方Ｓ−10においてｑ＞q2であった場合、即ち被写
体のうちで最も幅の狭いエツヂの幅が所定よりも小さい
場合にはＳ−11〜Ｓ−16に示す山登り制御を行わずＳ−
17〜Ｓ−26で評価値ｑが大きくなるように制御を行う。
体のうちで最も幅の狭いエツヂの幅が所定よりも小さい
場合にはＳ−11〜Ｓ−16に示す山登り制御を行わずＳ−
17〜Ｓ−26で評価値ｑが大きくなるように制御を行う。
まず所定量以上の移動ベクトル が検出された場合にはＳ−17において被写体の移動に追
従して移動ベクトル だけ検出領域が移動されるようマイクロプロセツサ30は
ゲート回路17に制御信号Ｇを与える。続いてＳ−18にお
いては第７図に示すフローを実行し、評価値ｑ、移動ベ
クトル を検出し、次いでＳ−19において移動ベクトル に応じて評価値ｑを補正する。即ち像が水平方向に速度
VHで移動している場合、検出されるエツヂの幅はおおよ
そVHΔｔだけ増大する。ここでΔｔは撮像素子１の蓄積
時間である。従って算出した値ｑに対してこの分を補正
し、新たにｑとする。
従して移動ベクトル だけ検出領域が移動されるようマイクロプロセツサ30は
ゲート回路17に制御信号Ｇを与える。続いてＳ−18にお
いては第７図に示すフローを実行し、評価値ｑ、移動ベ
クトル を検出し、次いでＳ−19において移動ベクトル に応じて評価値ｑを補正する。即ち像が水平方向に速度
VHで移動している場合、検出されるエツヂの幅はおおよ
そVHΔｔだけ増大する。ここでΔｔは撮像素子１の蓄積
時間である。従って算出した値ｑに対してこの分を補正
し、新たにｑとする。
Ｓ−20においてｑ＞q1であるなら合焦と判断されＳ−33
へ移行し、ｑ＜q1であるならまず撮像レンズのピント位
置を制御するモータを任意方向に駆動し（Ｓ−21）、検
出されるｑの値が増加する方向へモータを駆動する（Ｓ
−22〜Ｓ−26）。尚Ｓ−22〜Ｓ−24はＳ−17〜Ｓ−19と
同様のステツプである。
へ移行し、ｑ＜q1であるならまず撮像レンズのピント位
置を制御するモータを任意方向に駆動し（Ｓ−21）、検
出されるｑの値が増加する方向へモータを駆動する（Ｓ
−22〜Ｓ−26）。尚Ｓ−22〜Ｓ−24はＳ−17〜Ｓ−19と
同様のステツプである。
Ｓ−27〜Ｓ−32は合焦を検出し、光学系の駆動を停止さ
せる過程である。Ｓ−27〜Ｓ−29によりｑの値の検出を
行い、ｑ＞q1となるか、またはｑがq1に達する以前に最
大値が検出された場合にはＳ−33に移り、合焦と判定し
て合焦時の処理を行う。尚この場合にはＳ−21〜Ｓ−26
により判定された方向にモータは回転している。他の場
合にはＳ−32においてｑとq1との差に応じてｑがq1に近
づくほどモータ速度を遅くなるよう変更し、再びｑの値
の検出を行い、合焦と判定されるまではＳ−27〜Ｓ−32
のステツプをくり返す。
せる過程である。Ｓ−27〜Ｓ−29によりｑの値の検出を
行い、ｑ＞q1となるか、またはｑがq1に達する以前に最
大値が検出された場合にはＳ−33に移り、合焦と判定し
て合焦時の処理を行う。尚この場合にはＳ−21〜Ｓ−26
により判定された方向にモータは回転している。他の場
合にはＳ−32においてｑとq1との差に応じてｑがq1に近
づくほどモータ速度を遅くなるよう変更し、再びｑの値
の検出を行い、合焦と判定されるまではＳ−27〜Ｓ−32
のステツプをくり返す。
尚Ｓ−31において合焦されＳ−33にフローが進む場合と
は被写体としてほとんどエツヂ部分を持たないものが選
ばれた場合である。
は被写体としてほとんどエツヂ部分を持たないものが選
ばれた場合である。
この様に本実施例に依ればエツヂ部分がほとんどないよ
うな被写体も合焦状態を検出することが出来る場合もあ
る。
うな被写体も合焦状態を検出することが出来る場合もあ
る。
以上のような手順により光学系が合焦状態に達した場合
には、マイクロプロセサ30は被写体が光軸方向に動いた
り、あるいはパニングによって他の被写体にピントを合
わせ直す必要が生じたかどうかの監視に入る。かかる監
視を行うフローについて第９図を用いて説明する。まず
合焦となった場合には直ちにモータの駆動を停止する
（Ｓ−34）。次いでマイクロプロセサは合焦時のｑの値
ｑ′よりやや小さい値、例えばq3＝0.9q′を閾値とする
（Ｓ−35）。次いで像が動いている場合にはそれに応じ
て検出領域を変更し（Ｓ−36）、前述の第７図に示す様
に評価値を検出し（Ｓ−37）、像の動きに応じてｑの値
を補正する（Ｓ−38）。Ｓ−39においてｑ＜q3となった
ときには、再び自動焦点合わせ動作を行うが、Ｓ−40に
おいてｑ＞q2であるときにはそれほどぼけていないか
ら、Ｓ−41よりフオーカスの修正を行う。即ち第８図に
示すＳ−41にフローは進み、ｑ＜q2の場合にはぼけ量が
大きいから再びスタート（Ｓ−７）に戻って焦点合わせ
をやり直す。尚ｑの値が閾値q1に達する以前に最大値を
とり、モータを停止させた状態では、次にエツヂ部分を
持った通常の被写体が検出領域に来た場合には多少ぼけ
ていても合焦と判断されてしまう。従ってこの場合には
所定時間、例えば１秒ごとにモータを前後に強制的に駆
動し、実際にｑの値が最大値をとっているかどうかの確
認を行っても良い。また合焦時に検出領域を光束で移動
する物体が横切ったり、急激なバニングが行われた場合
などでは一時的にｑの値が閾値q3を下回り、必要がない
のにピントの合わせ直しのためにモータが駆動されてし
まうことがある。このような状況を避けるためにはｑの
値が所定値以上変化した場合には所定時間、例えば0.5
秒程度待機し、その間にｑの値が回復されないときのみ
モータの駆動を始めるよう改良しても良い。
には、マイクロプロセサ30は被写体が光軸方向に動いた
り、あるいはパニングによって他の被写体にピントを合
わせ直す必要が生じたかどうかの監視に入る。かかる監
視を行うフローについて第９図を用いて説明する。まず
合焦となった場合には直ちにモータの駆動を停止する
（Ｓ−34）。次いでマイクロプロセサは合焦時のｑの値
ｑ′よりやや小さい値、例えばq3＝0.9q′を閾値とする
（Ｓ−35）。次いで像が動いている場合にはそれに応じ
て検出領域を変更し（Ｓ−36）、前述の第７図に示す様
に評価値を検出し（Ｓ−37）、像の動きに応じてｑの値
を補正する（Ｓ−38）。Ｓ−39においてｑ＜q3となった
ときには、再び自動焦点合わせ動作を行うが、Ｓ−40に
おいてｑ＞q2であるときにはそれほどぼけていないか
ら、Ｓ−41よりフオーカスの修正を行う。即ち第８図に
示すＳ−41にフローは進み、ｑ＜q2の場合にはぼけ量が
大きいから再びスタート（Ｓ−７）に戻って焦点合わせ
をやり直す。尚ｑの値が閾値q1に達する以前に最大値を
とり、モータを停止させた状態では、次にエツヂ部分を
持った通常の被写体が検出領域に来た場合には多少ぼけ
ていても合焦と判断されてしまう。従ってこの場合には
所定時間、例えば１秒ごとにモータを前後に強制的に駆
動し、実際にｑの値が最大値をとっているかどうかの確
認を行っても良い。また合焦時に検出領域を光束で移動
する物体が横切ったり、急激なバニングが行われた場合
などでは一時的にｑの値が閾値q3を下回り、必要がない
のにピントの合わせ直しのためにモータが駆動されてし
まうことがある。このような状況を避けるためにはｑの
値が所定値以上変化した場合には所定時間、例えば0.5
秒程度待機し、その間にｑの値が回復されないときのみ
モータの駆動を始めるよう改良しても良い。
＜発明の効果＞ 上述のように、本発明においては、多くの物体に共通し
て現われる物体の輪郭等のエツヂ部分の幅を検出するこ
とにより、物体の種類やコントラストによらず、簡便に
光学系の合焦・非合焦の判別が可能で、ビデオカメラ等
の自動合焦装置への応用に好適である。
て現われる物体の輪郭等のエツヂ部分の幅を検出するこ
とにより、物体の種類やコントラストによらず、簡便に
光学系の合焦・非合焦の判別が可能で、ビデオカメラ等
の自動合焦装置への応用に好適である。
第１図，第２図，第３図は本発明の原理を説明する図で
あり、第１図（ａ），第２図（ａ），第３図（ａ）は各
々被写体の様子を示し、第１図（ｂ），第２図（ｂ），
第３図（ｂ）は各被写体に対応して得られる合焦時の画
像信号の波形、第１図（ｃ），第２図（ｃ），第３図
（ｃ）は非合焦時の波形を示す。 第４図，第５図は本発明の一実施例を示すブロツク図、 第６図は本発明の一実施例の合焦検出装置を自動合焦装
置に応用した場合のブロツク図を示す。 第７図〜第９図は第６図に示すマイクロプロセサ30の動
作のフローチヤートである。 １……撮像素子 ２……微分回路 ３……絶対値回路 30……マイクロプロセサ
あり、第１図（ａ），第２図（ａ），第３図（ａ）は各
々被写体の様子を示し、第１図（ｂ），第２図（ｂ），
第３図（ｂ）は各被写体に対応して得られる合焦時の画
像信号の波形、第１図（ｃ），第２図（ｃ），第３図
（ｃ）は非合焦時の波形を示す。 第４図，第５図は本発明の一実施例を示すブロツク図、 第６図は本発明の一実施例の合焦検出装置を自動合焦装
置に応用した場合のブロツク図を示す。 第７図〜第９図は第６図に示すマイクロプロセサ30の動
作のフローチヤートである。 １……撮像素子 ２……微分回路 ３……絶対値回路 30……マイクロプロセサ
Claims (2)
- 【請求項１】光電変換面に形成された物体像を電気信号
に変換する光電変換素子を有する光電変換手段と、 前記光電変換手段より出力された前記物体像に相当する
電気信号を微分することによつて前記物体像のエツジ部
分における輝度の勾配を検出する第１の検出手段と、 前記微分によつて検出された前記エツジ部分における輝
度差を検出する第２の検出手段と、 前記第１の検出手段の出力と前記第２の検出手段の出力
とを除算することによつて輝度で正規化された前記エツ
ジ部分の幅に相当する評価値を演算する演算手段と、 前記演算手段によつて演算された前記評価値に基づいて
合焦状態を検出し、前記評価値が前記エツジの幅が最小
となつたことを示すとき合焦状態と判定する判別手段
と、 を備えたことを特徴とする合焦検出装置。 - 【請求項２】光電変換面に形成された物体像を電気信号
に変換する光電変換素子を有する光電変換手段と、 前記光電変換手段より出力された前記物体像に相当する
電気信号を微分することによつて前記物体像のエツジ部
分における輝度の勾配を検出する第１の検出手段と、 前記微分によつて検出された前記エツジ部分における輝
度差を検出する第２の検出手段と、 前記第１の検出手段の出力と第２の検出手段の出力とを
除算することによつて前記エツジ部分の幅に相当する第
１の評価値を演算する演算手段と、 前記光電変換手段より出力された前記電気信号中の高周
波成分を検出し合焦状態に応じた第２の評価値として出
力する第３の検出手段と、 前記第１の評価値が前記エツジの幅が最小となつたこと
を示すとともに、前記第２の評価値が最大となるように
フオーカスレンズを駆動制御する制御手段と、 を備えたことを特徴とする合焦検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60245239A JPH0754968B2 (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | 合焦検出装置 |
| US06/922,740 US4804831A (en) | 1985-10-30 | 1986-10-24 | Focus detecting apparatus independent of object image contrast |
| DE19863636951 DE3636951A1 (de) | 1985-10-30 | 1986-10-30 | Einrichtung zur scharfeinstellungsermittlung |
| US07/497,075 US5055665A (en) | 1985-10-30 | 1990-03-21 | Focus detecting apparatus jointly employing outputs of plural diverse detectors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60245239A JPH0754968B2 (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | 合焦検出装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6288016A Division JP2556671B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 合焦検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62103616A JPS62103616A (ja) | 1987-05-14 |
| JPH0754968B2 true JPH0754968B2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=17130728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60245239A Expired - Lifetime JPH0754968B2 (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | 合焦検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0754968B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0812315B2 (ja) * | 1986-09-10 | 1996-02-07 | 株式会社ロゼフテクノロジー | 自動焦点合わせ方法 |
| JP2832029B2 (ja) * | 1989-04-21 | 1998-12-02 | キヤノン株式会社 | 自動焦点整合装置 |
| EP0441380B1 (en) * | 1990-02-08 | 1996-09-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pick-up device |
| US6989865B1 (en) | 1997-12-19 | 2006-01-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical equipment and it control method, and computer-readable storage medium |
| JP2001141988A (ja) | 1999-08-31 | 2001-05-25 | Canon Inc | 焦点調節装置及びその制御方法及びその制御プログラムを供給する媒体 |
| JP2006064842A (ja) | 2004-08-25 | 2006-03-09 | Canon Inc | ズームレンズシステム及びそれを用いた撮影装置 |
| JP4533286B2 (ja) * | 2005-08-31 | 2010-09-01 | キヤノン株式会社 | 撮像装置および交換レンズシステム |
| JP2011091602A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Canon Inc | 画像表示装置、撮像装置、及び画像表示方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6143876A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-03 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 撮像装置の合焦検出方法 |
-
1985
- 1985-10-30 JP JP60245239A patent/JPH0754968B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62103616A (ja) | 1987-05-14 |
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