JPS62102173U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62102173U JPS62102173U JP19294085U JP19294085U JPS62102173U JP S62102173 U JPS62102173 U JP S62102173U JP 19294085 U JP19294085 U JP 19294085U JP 19294085 U JP19294085 U JP 19294085U JP S62102173 U JPS62102173 U JP S62102173U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit pattern
- conductive circuit
- electrical
- electrical testing
- testing means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000004040 coloring Methods 0.000 claims 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
図面は本考案に係るプリント配線回路基板用検
査装置の一実施例を示すもので、第１図はその要
部断面図、第２図は検査すべきプリント基板を部
分的に例示する概略斜視図である。 １……プリント配線回路基板、３……導電回路
、１０……電気的検査手段、１１……マーキンギ
機構、１２……載置板、１３……上部押え板、１
４……プローブ植設板、１５……プローブ、２０
……マーカ、２１……透孔、２２……駆動手段。
査装置の一実施例を示すもので、第１図はその要
部断面図、第２図は検査すべきプリント基板を部
分的に例示する概略斜視図である。 １……プリント配線回路基板、３……導電回路
、１０……電気的検査手段、１１……マーキンギ
機構、１２……載置板、１３……上部押え板、１
４……プローブ植設板、１５……プローブ、２０
……マーカ、２１……透孔、２２……駆動手段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 基板上に形成された導電回路パターンの導
通、絶縁検査を行なう電気的検査手段と、この電
気的検査手段による検査結果に基づいてその良否
のいずれか一方に該当する導電回路パターン上に
直接マーキングするマーキング機構とを備えてな
ることを特徴とするプリント配線回路基板用検査
装置。 (2) マーキング機構は、着色、穿孔、切傷等に
よる識別性を有するマークを、電気的検査手段か
らの検査信号に応じて基板の対応する導電回路パ
ターン上にマーキングし得るように構成されてい
ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第１
項記載のプリント配線回路基板用検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985192940U JPH0421104Y2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985192940U JPH0421104Y2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62102173U true JPS62102173U (ja) | 1987-06-29 |
| JPH0421104Y2 JPH0421104Y2 (ja) | 1992-05-14 |
Family
ID=31148494
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985192940U Expired JPH0421104Y2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0421104Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009264834A (ja) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5367878A (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-16 | Fujitsu Ltd | Device for inspecting electrode |
| JPS61115982U (ja) * | 1985-01-07 | 1986-07-22 | ||
| JPS61235766A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-21 | Toppan Printing Co Ltd | 翻訳機 |
-
1985
- 1985-12-17 JP JP1985192940U patent/JPH0421104Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5367878A (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-16 | Fujitsu Ltd | Device for inspecting electrode |
| JPS61115982U (ja) * | 1985-01-07 | 1986-07-22 | ||
| JPS61235766A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-21 | Toppan Printing Co Ltd | 翻訳機 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009264834A (ja) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0421104Y2 (ja) | 1992-05-14 |
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