JPS6199873A

JPS6199873A - ２アダプタ式基板検査機

Info

Publication number: JPS6199873A
Application number: JP59221011A
Authority: JP
Inventors: Kazuyoshi Maruo; 丸尾　和好; Masayoshi Toda; 戸田　正義; Takeshi Nishizawa; 西澤　武; Riichi Kano; 加納　利一; Osamu Kai; 治甲斐; Mitsuhiro Hashimoto; 光弘橋本
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1984-10-19
Filing date: 1984-10-19
Publication date: 1986-05-17
Also published as: JPH0477871B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野本発明は、プリント基板の回路パターンの接続状態を検
査する２アダプタ式基板検査機に関する。

（ロ）従来技術従来、この種検査機は、基板に配設された複数のランド
部にコンタクトプローブを接触させ、電圧を印加するこ
とで該コンタクトプロー１間の抵抗値を測定し、断線・
短絡等の有ｊｙ７％を判別するものであるが、該コンタ
クトプローブが配設されるアダプタによって次の３クイ
ブに分類することができる。

即ち、■複数のランド部に対応ずべく　基ｈ　毎にコン
タクトプローブを配設したアダプタを使用する所謂専用
形検査機、■格子の全文３：ｆｉ、　ｊｌにコンタクト
プローブを配設したアダプタを使用する所謂汎用形検査
機、■１つの細しい汎用形アダプタを使用し、該アダプ
タをステップ送りして基板の検査全ｆｉ域を検査する所
謂分割汎用形検査機である。

ところが、■のものは個別にアダプタを作成するため費
用が嵩むという問題があった。また、■のものは多数の
コンタクトプローブが必要で高価になると共に、コンタ
クトプローブの接触圧を大きくする必要があり、そのた
め加圧側の構造が複雑となり、検査ソフトウェアに問題
があった。さらに、■のちのは例えば斜め配線の場合、
アダプタの面積内に中継ランドを必要とするなど基板設
計上の制約が多く、且つ、検査全領域を検査するために
は基板の向きを９０度変えて２回検査しなげればならず
非常に手間がかかるという問題があった。

（ハ）目的本発明はこのような問題点を解決し、基板を１回セット
するのみで容易迅速に検査全領域に亙って検査すること
ができると共に、加圧側の構造の簡素化を図ることがで
き、低価格で且つ高精度の２アダプタ式基板検査機を提
供することを目的とする。

（ニ）構成そこで、本発明の特徴とする処は、検査機本体のベース
プレー１・に設けられたテーブルにプリント基板をセッ
トし、該プリント基板に配設された複数のランド部にコ
ンタクトプローブを接触させて回路パターンの接続状態
を検査する一対のアダプタは、それぞれ別個に移動可能
に構成され、且つ、前記ランド部間の検査直前にＧよ検
査領域を一方向に移動すると共に、双方のアダプタが隣
接した際、該隣接部の前記コンタク１へプローブ間隔が
他のコンタクトプローブ間隔と隙間−寸法に設定された
点にある。

（ホ）実施例以下、図示の実施例に基づき本発明を詳説する。

第１図乃至第３図において、１は検査機本体２の上面に
設けられた平面矩形のベースプレートであり、該ベース
プレート１の略中央部右寄りにはテーブル３が昇陸可能
に配置されている。

４．５ば一対のアダプタであり、ベースプレート１の十
部に配設されたリニアウェイ６に、裏面に固着したガイ
ド部材８が嵌合し、該リニアウェイ６をガイドとしてそ
れぞれ別個に移動可能に構成されている。そして、アダ
プタ４．５は、前記テーブル３に基板−・−ス１４を介
してセットしたプリント基板７の」一方に移動して、該
プリント基板７に配設された複数のランド部にコンタク
トプローブ９を接触させて回路パターンの接続状態を検
査する。

具体的には、前記テーブル３は支柱１０を介してシリン
ダ１１のロッド１２の先端に連結され、該ロッド１２の
往復動に伴って昇降可能に構成されている。

また、前記ベースプレート１には、テーブル３の外周縁
部に対応して複数の逆り字状のストッパ１３が固着され
、該ストッパ１３に対応して設けられたテーブル３の切
欠部３ａが該ストッパ１３に当接してテーブル３の−に
昇が所定高さに規制される。このテーブル３の上昇動作
は、前記アダプタ４．５が所定の位置に水平移動（ステ
ップ送り）された後行われる。

１５．１６はテーブル３の裏面に突設された一対のガイ
ドピンであり、該ガイドピン１５．１６がそれぞれ前記
ベースプレート１に穿設された孔部１７．１８に摺動自
在に嵌挿され、テーブル３の周方向への回動を防止して
いる。１９は前記テーブル３の昇降高さ位置を検出する
ためのスイッチであり、一方のガイドピン１５に関連し
て設けられている。なお、前記テーブル３の対向辺部に
は切欠部２０が形成され、テーブル３への基板ベース１
４の搭載を容易となす。また、前記テーブル３にはコの
字状のクランパ２２が支軸２３廻りに揺動自在に枢着さ
れ、テーブル３にセソトシたプリント基板７をずれない
ように固定する。

また、前記ベースプレート１には、前記リニアウェイ６
に平行してボールネジ２４が設けられると共に、対向辺
部に位置決めバー２５が設けられている。該位置決めバ
ー２５には所定間隔（アダプタ４．５の１ステツプ当た
りの移動距′ｆ４）をもって複数の孔部２５ａが凹設さ
れている。

一方、前記アダプタ４．５は、それぞれ短冊板状の本体
２６の裏面に補強板２７を介して絶縁材３１に固着され
た複数の前記コンタクトプローブ９と、本体２６の裏面
上部に設けられ、前記ボールネジ２４に螺合するナツト
２１と、該ナツト２１をボールネジ２４に対して螺進退
自在に移動させるパルスモータ２８と、本体２６の裏面
下部に設けられ、前記位置決めバー２５の孔部２５ａに
ロッド２９が嵌脱自在に嵌合するシリンダ３０とを備え
ている。このロッド２つの嵌合動作の後、テーブル３の
上昇が開始する。なお、前記ロッド２９が垂直下降し、
正確に孔部２５ａに嵌合するようにガイド片４２が設り
られている。

具体的には、前記コンタクトプローブ９はガラスエポキ
シ等の絶縁材３１に固着され、該絶縁材３１を前記？ｉ
ｌｉ強板２７に取り付げることで本体２６に配設されて
いる。また、該コンタクトプローブ９ば所定間隔（例え
ば２．５４１間隔）をもって配設されると共に、スプリ
ング（図示省略）にて常時下方に付勢され、所定の接触
圧が確保される。なお、アダプタ４．５が隣接する際、
本体２６同志が先に衝突し隣接プローブ間隔が所定寸法
から逸脱するのを防止するために、前記絶縁材３１の対
向端縁側はそれぞれ本体２６より僅かに突出している。

また、前記パルスモータ２８及びナツト２１のプーリ３
２．３３にはタイミングベルト３４がで架され、前記パ
ルスモータ２８の動力をナツト２１に伝達し、アダプタ
４．５を左右に移動可能とする。

さらに、前記本体２６のシリンダ３０例の端部には、Ｌ
字状のガイド片３５が垂設され、前記位置決めバー２５
の側外方に突出したガイド部２５ｈにガイド片３５の折
曲部３５ａが係合して、前記テーブル３の上昇によって
アダプタ４．５が押し上げられるのを規制する。

しかして、３６及び３７はスローダウン用及び停止用の
フォトインクラブタであり、一対の該フォトインクラブ
タ３６．３７が、前記ボールネジ２４の下方所定位置の
２箇所及び一方の前記アダプタ５にそれぞれブラケット
３８を介して取り付けられている。

図例では、右側からアダプタ５用、アダプタ４用、双方
のアダプタ４．５の接触防止用のものであり、それぞれ
のフォトインクラブタ３６．３７に対応してアダプタ４
．５例に遮光板３９が配設されている。

これらのフ第１・インクラブタ３６．３７によって、ア
ダプタ４．５が検査開始値ｗＸに待機する。

また、本体２６のフォトインクラブタ４０に関連して前
記パルスモータ２８の駆動１ｌｉｉｌ＋　２８　ａにデ
ィスク４１が設けられ、図外のパソコン・シーケンサの
制御　５信号に基づきパルスモータ２８・シリンダ３０
のロッド２９・シリンダ１１のロッド１２を作動させ、
前記アダプタ４．５及びテーブル３を予め設定されたプ
ログラム通りに移動させることでプリント基板７の検査
全領域を検査する。なお、前記アダプタ４．５の動作は
、前記ボールネジ２４のバンクラッシュを考慮してプリ
ント基板７のランド部間の検査直前には検査領域を一方
向（図中、右方向）に移動するように設定されている。

また、コンタクトプローブ９は双方のアダプタ４．５が
隣接した際、該隣接部の前記コンタクトプローブ９間隔
が他のコンタクトプローブ９間隔と略同一寸法（２，５
４±０．０５ｍｍ）に設定されるように配設されている
。

次に、本発明の２アダプタ式基板検査機の使用例を第４
図に基づき説明する。

（１）アダプタ４．５は、テーブル３にプリント基板７
をセントするために第１図のように左側に退避している
。　　　　　゛（２）　　プリント基板７のセット完了後、まず、アダ
プタ４．５は検査開始位置Ｘに移動し、テーブル３を上
昇させてコンタクトプローブ９をラン０　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　、Ａ１１部に接触
させ、電圧を印加することで最初の検査が行われる（第
４図（ａ））。

（３）　　検査終了の信号に基づきテーブル３が下降し
、アダプタ４は（２）の位置に待機した状態で、アダプ
タ５がワンステップずつ図中右側に移動していき、その
都度検査が行われる（第４図（ｂ））。

（４）アダプタ５がプリント基板７の最右端部の検査を
終了すると、該アダプタ５が戻って（２）の状態となる
（第４図（Ｃ））。

（５）　アダプタ５がワンステップ右側に移動した後、
アダプタ４が追随して双方のアダプタ４．５が近接した
状態で且つ（２）の状態からワンステップ右側に移動し
た位置にくる。この状態で検査が行われる（第４図ｆｄ
））。

（６）　　この状態から、アダプタ４が待機のままで、
アダプタ５が右側にワンステップずつ移動し、その都度
検査が行われる（第４図（ｅ））。前記同様アダプタ５
が最右端部の検査を終了すると、該アダプタ５が戻って
（５）の状態となる（第４図（ｆ））。

Ｏ（７）上記の動作を繰り返すことで、アダプタ４．５に
よってプリント基板７の検査全領域の検査が行われ（第
４図ｆｇｌ）、アダプタ４．５は第１図の状態に退避し
、次のプリント基板７の検査に備える。

なお、本発明のアダプタ４．５をインサーキットテスタ
のユニバーサルヘッド部に応用し、部品搭載後の基板検
査も同様の動作にて検査することも可能である。また、
コンタクトプローブ９の代わりに視覚センサを取り付け
、フィルム原版などの検査を行うことも可能である。

（へ）効果本発明は上述のように構成したので、基板を１回セット
するのみで検査全領域に亙って容易迅速に検査すること
ができると共に、低価格で、且つ従来の汎用機に比ベコ
ンタクトプローブの数が少なくプリンＩ・基板への接触
圧が小さくてすみ、加圧側の構造の簡素化を図ることが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す平面図、第２図は同断
面側面図、第３図はアダプタの断面正面図、第４図は検
査手順説明図である。 ■・・・ベースプレート、２・・・検査機本体、３・・
・テーブル、４．５・・・アダプタ、７・・・プリン；
〜基板、９・・・コンタクトプローブ。特　許　出　願　人　　株式会社　島注製作所代理人　
　　弁理士　　大　西　　孝　治第３図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）検査機本体のベースプレートに設けられたテーブ
ルにプリント基板をセットし、該プリント基板に配設さ
れた複数のランド部にコンタクトプローブを接触させて
回路パターンの接続状態を検査する一対のアダプタは、
それぞれ別個に移動可能に構成され、且つ、前記ランド
部間の検査直前には検査領域を一方向に移動すると共に
、双方のアダプタが隣接した際、該隣接部の前記コンタ
クトプローブ間隔が他のコンタクトプローブ間隔と略同
一寸法に設定されたことを特徴とする２アダプタ式基板
検査機。