JPS6199846A - ストリツプ側端部の欠陥検出方法 - Google Patents
ストリツプ側端部の欠陥検出方法Info
- Publication number
- JPS6199846A JPS6199846A JP59220875A JP22087584A JPS6199846A JP S6199846 A JPS6199846 A JP S6199846A JP 59220875 A JP59220875 A JP 59220875A JP 22087584 A JP22087584 A JP 22087584A JP S6199846 A JPS6199846 A JP S6199846A
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- JP
- Japan
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- strip
- detector
- side end
- detectors
- meandering
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B2273/00—Path parameters
- B21B2273/04—Lateral deviation, meandering, camber of product
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｃ産業上の利用分野〕
本発明はストリップ側端部の貫通欠陥の検出方法に関す
る。
る。
冷間圧延工程等においては圧延されるストリップの側端
部に欠陥（ピンホール、耳割れ等）があると製品の歩留
が低下し、また品質に悪影響が及ぼされる。さらにスト
リップ側端部に欠陥が生しているままでこのストリップ
の圧延を続けていくと該ストリップが破断するという事
態が生しることもあり、この場合に圧延設備が破損する
こともあり、安全上からも非常に危険な状態になる。
部に欠陥（ピンホール、耳割れ等）があると製品の歩留
が低下し、また品質に悪影響が及ぼされる。さらにスト
リップ側端部に欠陥が生しているままでこのストリップ
の圧延を続けていくと該ストリップが破断するという事
態が生しることもあり、この場合に圧延設備が破損する
こともあり、安全上からも非常に危険な状態になる。
この為、最近では、上記側端部欠陥を圧延前に検査しそ
の結果を焼鈍工程等の前工程にフィートバンクし、上記
側端部欠陥が生しないよう対処する等の対策がとられる
ようになってきた。
の結果を焼鈍工程等の前工程にフィートバンクし、上記
側端部欠陥が生しないよう対処する等の対策がとられる
ようになってきた。
従来上述のごとく圧延前にストリップ側端部の欠陥を検
査する装置としては例えば特開昭５５−７２８５１に示
されている様なものがあった。この装置はストリップ側
端部に、光源と、該光源からの光が欠陥部を通過するこ
とによって生しる干渉光を検出する検出器とをストリッ
プを挟んで対向する位置に設けたものである。しかしこ
のような装置ではストリップが上下方向に揺動するいわ
ゆるパスライン変動又は水平方向の蛇行があった場合に
はこれに基づく検出値の変化を補正する必要が生してく
る。
査する装置としては例えば特開昭５５−７２８５１に示
されている様なものがあった。この装置はストリップ側
端部に、光源と、該光源からの光が欠陥部を通過するこ
とによって生しる干渉光を検出する検出器とをストリッ
プを挟んで対向する位置に設けたものである。しかしこ
のような装置ではストリップが上下方向に揺動するいわ
ゆるパスライン変動又は水平方向の蛇行があった場合に
はこれに基づく検出値の変化を補正する必要が生してく
る。
上記のようなパスライン変動等による検出値の補正方法
としては従来、過去の一定時間の検出値データの平均値
を求めてその定数倍を闇値として算出し、検出値が閾値
より大きくなった場合には欠陥があると判断する方法が
よく用いられてきた。
としては従来、過去の一定時間の検出値データの平均値
を求めてその定数倍を闇値として算出し、検出値が閾値
より大きくなった場合には欠陥があると判断する方法が
よく用いられてきた。
しかしながら上記のような補正方法においては、ゆるや
かなパスライン変動又は蛇行に対しては充分に補正が可
能であるが急激なパスライン変動に対しては補正が充分
に行えないという問題があった。
かなパスライン変動又は蛇行に対しては充分に補正が可
能であるが急激なパスライン変動に対しては補正が充分
に行えないという問題があった。
この問題について第６図、第７図により説明する。
第６図（インはパスラインの変動がゆるやかな場合の検
出値の時間的変化を示しており、第６図（ロ）はその場
合の欠陥検出信号の時間的変化を示している。このよう
な場合には、欠陥部分以外の検出器出力値はゆるやかに
変化するためそれらの平均値はいずれの時の検出器出力
値とも近いのでこのような平均値の定数倍として定めら
れる闇値を欠陥部分以外の検出器出力値がこえることは
ない。従って検出器出力値が闇値をこえた欠陥部（Ａ）
のところでのみ第６図（ロ）で示されているように欠陥
検出信号がハイレヘルとなる。
出値の時間的変化を示しており、第６図（ロ）はその場
合の欠陥検出信号の時間的変化を示している。このよう
な場合には、欠陥部分以外の検出器出力値はゆるやかに
変化するためそれらの平均値はいずれの時の検出器出力
値とも近いのでこのような平均値の定数倍として定めら
れる闇値を欠陥部分以外の検出器出力値がこえることは
ない。従って検出器出力値が闇値をこえた欠陥部（Ａ）
のところでのみ第６図（ロ）で示されているように欠陥
検出信号がハイレヘルとなる。
一方第７図（イ）はパスラインの変動が急激な場合の検
出器出力値の時間的変化を示しており、第７図（ロ）は
その場合の欠陥検出信号の時間的変化を示している。こ
の場合には検出器出力値が激しく変化するため、平均値
はこの変化のピーク値よりも小さな値となり、従ってこ
のような平均値の定数倍として定められる闇値は低く欠
陥部分（Ａ）以外のところで闇値をこえる部分（Ｂ）（
Ｃ）が生じることになる。従って（Ｂ）（Ｃ）がノイズ
として検出され欠陥部分と判断される為に補正が充分に
行えないことになる。
出器出力値の時間的変化を示しており、第７図（ロ）は
その場合の欠陥検出信号の時間的変化を示している。こ
の場合には検出器出力値が激しく変化するため、平均値
はこの変化のピーク値よりも小さな値となり、従ってこ
のような平均値の定数倍として定められる闇値は低く欠
陥部分（Ａ）以外のところで闇値をこえる部分（Ｂ）（
Ｃ）が生じることになる。従って（Ｂ）（Ｃ）がノイズ
として検出され欠陥部分と判断される為に補正が充分に
行えないことになる。
本発明は上述のような問題点に鑑みてなされた ・も
のであって、ストリップの側端部片側に対して２台の貫
通欠陥検出器を設け、これらの検出器からの出力を比較
演算すること番こより急激なパスラインの変動及び急激
に変化する蛇行に対しても充分に貫通欠陥を検出できる
とともに応答性の良いストリップ側端部欠陥検出方法を
提供することを目的としている。
のであって、ストリップの側端部片側に対して２台の貫
通欠陥検出器を設け、これらの検出器からの出力を比較
演算すること番こより急激なパスラインの変動及び急激
に変化する蛇行に対しても充分に貫通欠陥を検出できる
とともに応答性の良いストリップ側端部欠陥検出方法を
提供することを目的としている。
本発明に係るストリップ側端部の欠陥検出方法は、移動
しているストリップの側端部に生じている欠陥を透過光
方式で検、出する方法において、ストリップの蛇行及び
パスラインの変動による［ｅを相殺すべくストリップ側
端部に沿った方向に適長離隔させて２台の欠陥検出器を
配し、両欠陥検出器の出力の差信号を導き、ストリップ
側端部の欠陥を検出することを特徴としている。
しているストリップの側端部に生じている欠陥を透過光
方式で検、出する方法において、ストリップの蛇行及び
パスラインの変動による［ｅを相殺すべくストリップ側
端部に沿った方向に適長離隔させて２台の欠陥検出器を
配し、両欠陥検出器の出力の差信号を導き、ストリップ
側端部の欠陥を検出することを特徴としている。
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す検出器及び被測定鋼板
の配置を示す構成図である。図において１は被測定物で
あるストリップである。該ストリップ１は図中に示す白
抜き矢符の方向に移動している。ストリップ１の移動方
向に沿ってストリップ】の側端１ａの上方には移動方向
上流（ｍｌに上流側検出器２が、同下流側に下流側検出
器３が図示しない支持体に固定されている。そして上流
側検出器２、下流側検出器３の下端部には各々に検出光
を集光するレンズ（図示せず）が嵌挿されており、該レ
ンズの光軸はストリップ１の上面１ｂに直交するように
なっている。そして該光軸はストリップ側端１ａの平均
的位置における側端線と交わるようになっており、雪の
光軸間距ＭＸ （第２図参照）は５〜２０ｍ／■としで
ある。この値はストリップｌのパスライン変動及び蛇行
の周期によって定められる。
の配置を示す構成図である。図において１は被測定物で
あるストリップである。該ストリップ１は図中に示す白
抜き矢符の方向に移動している。ストリップ１の移動方
向に沿ってストリップ】の側端１ａの上方には移動方向
上流（ｍｌに上流側検出器２が、同下流側に下流側検出
器３が図示しない支持体に固定されている。そして上流
側検出器２、下流側検出器３の下端部には各々に検出光
を集光するレンズ（図示せず）が嵌挿されており、該レ
ンズの光軸はストリップ１の上面１ｂに直交するように
なっている。そして該光軸はストリップ側端１ａの平均
的位置における側端線と交わるようになっており、雪の
光軸間距ＭＸ （第２図参照）は５〜２０ｍ／■としで
ある。この値はストリップｌのパスライン変動及び蛇行
の周期によって定められる。
また検出器２．３内で上記レンズの上方には検出素子（
図示せず）がその中心がほぼ光軸上となるように設けら
れている。そしてストリップ１の下側で、該ストリップ
１を挾んで上記レンズと対向する位置には光源４が配設
されている。
図示せず）がその中心がほぼ光軸上となるように設けら
れている。そしてストリップ１の下側で、該ストリップ
１を挾んで上記レンズと対向する位置には光源４が配設
されている。
以上のように構成された検出器２．３により、光源４か
ら投射され移動するストリップ１の側端部に形成された
欠陥部を通過した光が検出され欠陥検査が行われる。
ら投射され移動するストリップ１の側端部に形成された
欠陥部を通過した光が検出され欠陥検査が行われる。
第２図は本実施例による検出装置の構成を示す。
図において５は比較演算回路であり、該比較演算回路５
には検出器２．３で検出された光を電気信号に変換して
なる出力信号が入力され、ここで両信号の差を求めたも
のが差信号として出力され２値化処理回路６に入力れる
ようになっている。そして２値化処理回路６に入力され
た差信号は設定閾値により２値化処理されストリップ側
端部欠陥部分に基づく欠陥信号のみが２値化処理回路６
より出力されるようになっている。
には検出器２．３で検出された光を電気信号に変換して
なる出力信号が入力され、ここで両信号の差を求めたも
のが差信号として出力され２値化処理回路６に入力れる
ようになっている。そして２値化処理回路６に入力され
た差信号は設定閾値により２値化処理されストリップ側
端部欠陥部分に基づく欠陥信号のみが２値化処理回路６
より出力されるようになっている。
次に以上のように構成された検出回路の動作について説
明する。まず第３図で基本動作を説明する。
明する。まず第３図で基本動作を説明する。
第３図（イ） （ロ）はパスライン変動及び蛇行がなく
欠陥部分が存在する場合における上流側検出器２．下流
側検出器３夫々の出力信号の時間的変化を示している。
欠陥部分が存在する場合における上流側検出器２．下流
側検出器３夫々の出力信号の時間的変化を示している。
欠陥部は上流側検出器２の下側を先に通過するため上流
側検出器２出力が先に上昇し下流側検出器３出力が遅れ
て上昇する。
側検出器２出力が先に上昇し下流側検出器３出力が遅れ
て上昇する。
また第３図（ハ）は上流側検出器２と下流側検出器３の
出力信号を比較演算回路５で出力の差として求めた差信
号の時間的変化を示し、第３図（ニ）は２値化処理回路
６の出力信号を示している。第３図（ハ）に一点鎖線で
示す闇値をこえた欠陥部分の信号が２値化処理回路６に
よって検知され第３図（ニ）に示されるようにハイレベ
ルの欠陥検出信号として出力される。
出力信号を比較演算回路５で出力の差として求めた差信
号の時間的変化を示し、第３図（ニ）は２値化処理回路
６の出力信号を示している。第３図（ハ）に一点鎖線で
示す闇値をこえた欠陥部分の信号が２値化処理回路６に
よって検知され第３図（ニ）に示されるようにハイレベ
ルの欠陥検出信号として出力される。
次にストリップ１に急激なパスライン変動又は蛇行があ
った場合について第４図に基づき説明する。
った場合について第４図に基づき説明する。
第４図（イ） （ロ）は夫々上流側検出器２．下流側検
出器３の出力信号の時間的変化を示す。また同（ハ）（
ニ）は夫々比較演算回路５．２値化処理回路６の出力を
示す。第４図（イ）（ロ）において出力の極大値に、に
′部分が同一の欠陥部分に基づく信号であり、他のピー
クはパスライン変動又は蛇行にるものである。ここで上
流検出器 ２と下流側検出器３とは前述の如くし
て定めた距離を隔って設置されているため蛇行、パスラ
イン変動による上流側検出器２．下流側検出器３の出力
の変動は同期する。
出器３の出力信号の時間的変化を示す。また同（ハ）（
ニ）は夫々比較演算回路５．２値化処理回路６の出力を
示す。第４図（イ）（ロ）において出力の極大値に、に
′部分が同一の欠陥部分に基づく信号であり、他のピー
クはパスライン変動又は蛇行にるものである。ここで上
流検出器 ２と下流側検出器３とは前述の如くし
て定めた距離を隔って設置されているため蛇行、パスラ
イン変動による上流側検出器２．下流側検出器３の出力
の変動は同期する。
従って（上流側検出器出力値−下流側検出器出力値）は
第４図（ハ）で示されているように実際の欠陥部分に対
応する部分のみが大きく変動した波形となり、蛇行又は
パスライン変動に対応する部分では検出器２．３の出力
値の変動は相殺される。従って蛇行又はパスライン変動
に基づくノイズは比較演算回路５の出力値に現れずＳ／
Ｎ比が向上することになる。
第４図（ハ）で示されているように実際の欠陥部分に対
応する部分のみが大きく変動した波形となり、蛇行又は
パスライン変動に対応する部分では検出器２．３の出力
値の変動は相殺される。従って蛇行又はパスライン変動
に基づくノイズは比較演算回路５の出力値に現れずＳ／
Ｎ比が向上することになる。
このため第４図（ハ）に一点鎖線で示す２値化回路６の
闇値により２値化回路６の出力が上流側検出器２に欠陥
が検出されたタイミングでノ＼イレベルとなる。
闇値により２値化回路６の出力が上流側検出器２に欠陥
が検出されたタイミングでノ＼イレベルとなる。
第５図は本発明の他の実施例を示す。
この実施例によるストリップ側端部欠陥検出装置はスト
リップ１１の一方の側端部１１ａに対して前述の実施例
と同様に検出器１２．１３を設けるとともにストリップ
１１の他の側端部１１ｂに対しても前述の実施例と同様
な構成で検出器７．８を設けたものである。
リップ１１の一方の側端部１１ａに対して前述の実施例
と同様に検出器１２．１３を設けるとともにストリップ
１１の他の側端部１１ｂに対しても前述の実施例と同様
な構成で検出器７．８を設けたものである。
そして検出器１２．１３及び検出器７．８の出力信号は
各々比較演算回路９ａ、９ｂ 、２値化処理回路１０ａ
１０ｂにより処理されるようになっている。この実施例
の装置によってストリップ１１の両側端部における欠陥
が同時に検出できることになる。
各々比較演算回路９ａ、９ｂ 、２値化処理回路１０ａ
１０ｂにより処理されるようになっている。この実施例
の装置によってストリップ１１の両側端部における欠陥
が同時に検出できることになる。
なお上述の実施例においてはストリップ１．１１の上方
に検出器を設けた場合を示したが、これはストリップ１
．１１の下方に検出器を設はストリ、ツブ１，１１の上
方に光源４を設けたものであってもよい。
に検出器を設けた場合を示したが、これはストリップ１
．１１の下方に検出器を設はストリ、ツブ１，１１の上
方に光源４を設けたものであってもよい。
以上のように本発明はストリップのＩＩＩ ｍ部での耳
割れ等の貫通欠陥を透過光方式で検出する方法において
、ストリップ側端部に対して２台の欠陥検出器を適長離
隔させて配設し、これら２台の欠陥検出器の出力の差を
求めることによって検出することとしたので蛇行又はパ
スライン変動による検出器出力の補正を容易にすること
ができ、比較的時間的変化がゆるやかな蛇行に対しても
充分なＳ／Ｎ比が得られることはもちろんのこと、急激
なパスライン変動又は蛇行に対しても充分なＳ／Ｎ比を
得ることができる。
割れ等の貫通欠陥を透過光方式で検出する方法において
、ストリップ側端部に対して２台の欠陥検出器を適長離
隔させて配設し、これら２台の欠陥検出器の出力の差を
求めることによって検出することとしたので蛇行又はパ
スライン変動による検出器出力の補正を容易にすること
ができ、比較的時間的変化がゆるやかな蛇行に対しても
充分なＳ／Ｎ比が得られることはもちろんのこと、急激
なパスライン変動又は蛇行に対しても充分なＳ／Ｎ比を
得ることができる。
さらに従来では、パスライン変動等による検出器出力の
補正は複雑な演算によるソフトウェアにより行われてい
たが本発明においては複雑なソフトウェアを用いること
なくハードウェア的に補正がなされるので欠陥検出装置
の欠陥に対する応答性が向上できる効果がある。
補正は複雑な演算によるソフトウェアにより行われてい
たが本発明においては複雑なソフトウェアを用いること
なくハードウェア的に補正がなされるので欠陥検出装置
の欠陥に対する応答性が向上できる効果がある。
第１図は本発明方法の実施状態を示す略示斜視図、第２
図は同しく検出装置の回路構成を示す模式的ブロック図
、第３図は本発明に係る検出装置の基本動作を説明する
ための波形図、第４図は急激なパスライン変動等がある
場合の本発明に係る検出装置の動作を説明するための波
形図、第５図は本発明方法の他の実施例を示す模式的ブ
ロック図、第６図はゆるやかなパスライン変動の場合の
従来方法による検出信号を表す波形図の一例、第７図は
急激なパスライン変動の場合の従来方法による検出信号
を表す波形図の一例である。 １．１１・・・ストリップ Ｉａ、 ｌｌａ、 ｌｌ
’ｈ・・・ストリップ側端部 ２，７．１２・・・上
流側検出器３、 ８．１３−・・下流側検出器 ５．
９ａ、９ｂ −比較２１１算回路 ６ 、 ］Ｏａ、
］Ｏｈ・・・２値化処理回路 特許出願人 住友金属工業株式会社 代 理 人 弁理士 河野 登夫 昧十図 （イ） 算６図 （イ） − Ｖ、７１￥］
図は同しく検出装置の回路構成を示す模式的ブロック図
、第３図は本発明に係る検出装置の基本動作を説明する
ための波形図、第４図は急激なパスライン変動等がある
場合の本発明に係る検出装置の動作を説明するための波
形図、第５図は本発明方法の他の実施例を示す模式的ブ
ロック図、第６図はゆるやかなパスライン変動の場合の
従来方法による検出信号を表す波形図の一例、第７図は
急激なパスライン変動の場合の従来方法による検出信号
を表す波形図の一例である。 １．１１・・・ストリップ Ｉａ、 ｌｌａ、 ｌｌ
’ｈ・・・ストリップ側端部 ２，７．１２・・・上
流側検出器３、 ８．１３−・・下流側検出器 ５．
９ａ、９ｂ −比較２１１算回路 ６ 、 ］Ｏａ、
］Ｏｈ・・・２値化処理回路 特許出願人 住友金属工業株式会社 代 理 人 弁理士 河野 登夫 昧十図 （イ） 算６図 （イ） − Ｖ、７１￥］
Claims (1)
- １、移動しているストリップの側端部に生じている欠陥
を透過光方式で検出する方法において、ストリップの蛇
行及びパスラインの変動による誤差を相殺すべくストリ
ップ側端部に沿った方向に適長離隔させて２台の欠陥検
出器を配し、両欠陥検出器の出力の差信号を導き、スト
リップ側端部の欠陥を検出することを特徴とするストリ
ップ側端部の欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59220875A JPS6199846A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | ストリツプ側端部の欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59220875A JPS6199846A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | ストリツプ側端部の欠陥検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199846A true JPS6199846A (ja) | 1986-05-17 |
Family
ID=16757902
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59220875A Pending JPS6199846A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | ストリツプ側端部の欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6199846A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2635871A1 (fr) * | 1988-08-26 | 1990-03-02 | Kodak Pathe | Procede de detection de collures sur une bande en deplacement |
| JP2002255155A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-11 | Ricoh Elemex Corp | 梱包材 |
| JP2011508234A (ja) * | 2007-12-28 | 2011-03-10 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 駆動ベルト製造プロセスにおいて又は駆動ベルト製造プロセスのために製造されたリングコンポーネントを検査するための方法及び装置 |
| JPWO2022038668A1 (ja) * | 2020-08-18 | 2022-02-24 |
-
1984
- 1984-10-19 JP JP59220875A patent/JPS6199846A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2635871A1 (fr) * | 1988-08-26 | 1990-03-02 | Kodak Pathe | Procede de detection de collures sur une bande en deplacement |
| JP2002255155A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-11 | Ricoh Elemex Corp | 梱包材 |
| JP2011508234A (ja) * | 2007-12-28 | 2011-03-10 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 駆動ベルト製造プロセスにおいて又は駆動ベルト製造プロセスのために製造されたリングコンポーネントを検査するための方法及び装置 |
| JPWO2022038668A1 (ja) * | 2020-08-18 | 2022-02-24 | ||
| WO2022038668A1 (ja) * | 2020-08-18 | 2022-02-24 | Ｐｒｉｍｅｔａｌｓ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ Ｊａｐａｎ株式会社 | エッジ割れ検出装置及び圧延設備並びにエッジ割れ検出方法 |
| US11808720B2 (en) | 2020-08-18 | 2023-11-07 | Primetals Technologies Japan, Ltd. | Edge crack detection device, rolling mill facility and edge crack detection method |
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