JPH1063914A - 紙葉類検査装置 - Google Patents

紙葉類検査装置

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JPH1063914A
JPH1063914A JP8213707A JP21370796A JPH1063914A JP H1063914 A JPH1063914 A JP H1063914A JP 8213707 A JP8213707 A JP 8213707A JP 21370796 A JP21370796 A JP 21370796A JP H1063914 A JPH1063914 A JP H1063914A
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JP
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light
paper sheet
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posture
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JP8213707A
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Inventor
Yasuo Kanezashi
康雄 金指
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、紙葉ずれが生じても正確に紙葉類を
良否判別する。 【解決手段】紙葉類1が走査光学系に入る前に、帯状の
光20aを紙葉類1に照射し、この照射された光量のう
ち紙葉類1の姿勢に応じた光量をシフト量センサ21に
より検出して紙葉類1の横ずれ量S及び傾きθを求め、
これら横ずれ量S及び傾きθに基づいて参照データを補
正し、紙葉類1に対して光を走査したときの紙葉類1か
らの透過光又は反射光の光量に応じた実測データと補正
された参照データとに基づいて紙葉類1の良否を判別す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、紙葉類に光を照射
したときの透過光及び反射光を受光して例えば紙葉類の
透かしの良否を判別する紙葉類検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図11は紙葉類検査装置の構成図であ
る。紙葉類1の搬送ライン2には、その搬送ライン2の
上方に複数のレーザ発振器3、例えば半導体レーザが搬
送方向(イ)に対して垂直方向に配列されている。な
お、搬送ライン2の下方にも半導体レーザ等の複数のレ
ーザ発振器4が搬送方向(イ)に対して垂直方向に配列
されている。
【0003】一方、搬送ライン2の下方には、各レーザ
発振器3の各配置位置に対向して複数の受光センサ5a
が配置され、かつ搬送ライン2から見て斜め下方には、
複数の受光センサ6aが各レーザ発振器4の各配置位置
にそれぞれ対応して配置されている。
【0004】このうち、一方の各受光センサ5aは、各
レーザ発振器3から照射され、それぞれ紙葉類1を透過
したレーザ光を受光してその光量に応じた電気信号を出
力するものであり、他方の各受光センサ6aは、レーザ
発振器4からレーザ光が紙葉類1に照射されたときの反
射散乱光を受光してその光量に応じた電気信号を出力す
るものである。
【0005】又、搬送ライン2の上方には、各レーザ発
振器4の各配置位置に対応して複数の受光センサ5bが
配置され、かつ搬送ライン2から見て斜め上方には、複
数の受光センサ6bが各レーザ発振器3の各配置位置に
それぞれ対応して配置されている。
【0006】このうち各受光センサ5bは、レーザ発振
器4から照射され、それぞれ紙葉類1を透過したレーザ
光を受光してその光量に応じた電気信号を出力するもの
であり、又、各受光センサ6bは、それぞれ紙葉類1に
レーザ発振器3からの各レーザ光が照射されたときの紙
葉類1からの反射光を受光してその受光量に応じた各電
気信号を出力するものである。
【0007】なお、これら受光センサ5a、5b、6
a、6bの出力端子は、それぞれアンプリファイヤー8
〜11を介して判別装置に接続されている。このような
構成であれば、紙葉類1が搬送ライン2に一定の速度で
搬送されると、各レーザ発振器3の下方を通過すること
により、紙葉類1に対して各レーザ発振器3から出力さ
れた各レーザ光がそれぞれ走査される。
【0008】これら走査される各レーザ光の紙葉類1上
におけるスポット形状は点状であり、これらレーザ光
は、紙葉類1を透過するとともに紙葉類1で反射する。
これと共に、レーザ発振器4の上方を通過することによ
り、紙葉類1に対して各レーザ発振器4から出力された
各レーザ光がそれぞれ走査される。
【0009】これら走査される各レーザ光の紙葉類1上
におけるスポット形状は点状であり、これらレーザ光
は、紙葉類1を透過するとともに紙葉類1で反射する。
このとき、下方の各受光センサ5aは、各レーザ発振器
3から出力され、紙葉類1を透過した各レーザ光をそれ
ぞれ受光してその光量に応じた各電気信号を出力し、斜
め上方の各受光センサ6bは、紙葉類1にレーザ光が照
射されたときの反射散乱光をそれぞれ受光してその光量
に応じた各電気信号を出力する。
【0010】これと共に、上方の各受光センサ5aは、
各レーザ発振器4から出力され、紙葉類1を透過した各
レーザ光をそれぞれ受光してその光量に応じた各電気信
号を出力し、斜め下方の各受光センサ6aは、紙葉類1
にレーザ光が照射されたときの反射散乱光をそれぞれ受
光してその光量に応じた各電気信号を出力する。
【0011】これら受光センサ5a、5b、6a、6b
から出力された各電気信号は、それぞれアンプリファイ
ヤー8〜11により増幅されて判別装置に送られる。こ
の判別装置は、搬送している紙葉類1に対して各レーザ
発振器3及び4からそれぞれ出力された各レーザ光を紙
葉類1に対して走査したときの各走査ライン毎の透過光
分布、反射光分布を参照データとして記憶しており、各
受光センサ5a、5b、6a、6bからの各電気信号を
入力すると、これら電気信号から各走査ライン毎の実測
データ、すなわち透過光分布、反射光分布を求め、これ
ら分布と参照データの透過光分布、反射光分布とをそれ
ぞれ比較して紙葉類1の良否を判別する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、搬送ラ
イン2では、紙葉類1が図12に示すように正常な姿勢
で搬送されず、紙葉ずれ、すなわち図13に示すように
搬送ライン2に対して横ずれしたり、図14に示すよう
に傾いたり、さらに横ずれ及び傾きが共に生じて搬送さ
れることがある。
【0013】このような紙葉ずれが生じて搬送される
と、実際の紙葉類1に対する各走査ラインは、正常な姿
勢で搬送されたときの紙葉類1に対する各走査ラインと
はずれたものとなる。
【0014】このため、判別装置に記憶されている参照
データは、紙葉類1が正常な姿勢で搬送されたときの透
過光分布、反射光分布であり、この参照データと走査ラ
インのずれた実測データとを比較しても正確な良否判定
を得られず、良否判別の結果に対する信頼度が低下す
る。
【0015】このような紙葉ずれに対応するために、レ
ーザ光の走査スポットを線状或いは楕円状に形成する技
術がある。これは、線状或いは楕円状のレーザスポット
を紙葉類1に照射し、その透過光、反射光を受光して楕
円長軸方向の透過光分布又は反射光分布をある程度平均
化して、紙葉類1の横ずれ発生時の影響を最小限に抑え
ている。
【0016】しかしながら、楕円長軸方向の透過光分布
又は反射光分布をある程度平均化するので、紙葉類1の
良・不良を判定する基準が緩やかになり、例えば不良品
の排除能力に寛容性を持たせるものとなり、不良品を高
い確率で排除することが困難となる。そこで本発明は、
紙葉ずれが生じても正確に紙葉類の良否判別ができる紙
葉類検査装置を提供することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、搬送
される紙葉類に対して光を走査し、紙葉類からの透過光
又は反射光の光量に応じた実測データと参照データとに
基づいて紙葉類の良否を検査する紙葉類検査装置におい
て、搬送される紙葉類の姿勢を検出する姿勢検出手段
と、この姿勢検出手段により検出された紙葉類の姿勢に
基づいて参照データを補正する参照データ補正手段と、
この参照データ補正手段により補正された参照データと
実測データとを比較して紙葉類の良否を判別する判別手
段と、を備えた紙葉類検査装置である。
【0018】このような紙葉類検査装置であれば、搬送
される紙葉類の姿勢を検出し、この紙葉類の姿勢に基づ
いて参照データを補正する。そして、搬送される紙葉類
に対して光を走査し、紙葉類からの透過光又は反射光の
光量に応じた実測データと補正された参照データとに基
づいて紙葉類の良否を検査する。
【0019】請求項2によれば、請求項1記載の紙葉類
検査装置において、姿勢検出手段は、紙葉類に対して光
を走査する走査光学系の前段側に配置されている。この
ような紙葉類検査装置であれば、紙葉類に光を走査する
前に、紙葉類の姿勢を検出して参照データを補正し、こ
の後に紙葉類に対して光を走査し、紙葉類からの透過光
又は反射光の光量に応じた実測データと補正された参照
データとに基づいて紙葉類の良否を検査する。
【0020】請求項3によれば、請求項1記載の紙葉類
検査装置において、姿勢検出手段は、帯状の光を紙葉類
に照射する光源と、この光源から照射された光量のうち
紙葉類の姿勢に応じた光量を検出するシフト量センサ
と、このシフト量センサにより検出された光量に基づい
て紙葉類の横ずれ量及び傾きを求める姿勢推定手段と、
を有する。
【0021】このような紙葉類検査装置であれば、搬送
時の紙葉類の姿勢は、帯状の光を紙葉類に照射し、この
照射された光量のうち紙葉類の姿勢に応じた光量を検出
してその光量に基づいて紙葉類の横ずれ量及び傾きとし
て求める。
【0022】請求項4によれば、請求項3記載の紙葉類
検査装置において、姿勢推定手段は、シフト量センサに
より検出された光量の変化が許容範囲外で時間的に一定
であれば、このときの光量から紙葉類の横ずれ量を求
め、かつシフト量センサにより検出された光量が時間的
に増減すれば、このときの光量変化の割合から紙葉類の
傾きを求める機能を有する。
【0023】このような紙葉類検査装置であれば、搬送
時の紙葉類の姿勢は、帯状の光を紙葉類に照射して紙葉
類の姿勢に応じた光量を検出し、この光量の変化が許容
範囲外で時間的に一定であれば、このときの光量から紙
葉類の横ずれ量を求め、かつ光量が時間的に増減すれ
ば、このときの光量変化の割合から紙葉類の傾きを求め
る。
【0024】請求項5によれば、請求項1記載の紙葉類
検査装置において、紙葉類が正常な姿勢で搬送されたと
きの各走査位置に対応する各透過光分布又は反射光分布
のいずれか一方又は両方を参照データとして保持し、か
つ参照データ補正手段は、紙葉類の横ずれ量及び傾きに
基づいて実際の走査ライン位置を求め、この走査ライン
位置に対応する参照データ上の透過光量又は反射光量を
取り出して紙葉類の姿勢に対応する参照データを生成す
る機能を有する。
【0025】このような紙葉類検査装置であれば、例え
ば帯状の光を紙葉類に照射して紙葉類の姿勢に応じた光
量を検出し、この光量に基づいて紙葉類の横ずれ量、傾
きを求めると、これら横ずれ量及び傾きに基づいて実際
の紙葉類上の走査ライン位置を求め、この走査ライン位
置に対応する参照データ上の透過光量又は反射光量を取
り出して紙葉類の姿勢に対応する参照データを生成す
る。
【0026】請求項6によれば、請求項1記載の紙葉類
検査装置において、判別手段は、補正された参照データ
と実測データとの平均値や標準偏差に基づいてマハラノ
ビスの距離を求め、このマハラノビスの距離と閾値とを
比較して紙葉類の良否を判別する機能を有する。
【0027】このような紙葉類検査装置であれば、搬送
される紙葉類の姿勢を検出し、この紙葉類の姿勢に基づ
いて参照データを補正し、続いて搬送される紙葉類に対
して光を走査して紙葉類からの透過光又は反射光の光量
に応じた実測データを得ると、補正された参照データと
実測データとの平均値や標準偏差に基づいてマハラノビ
スの距離を求め、このマハラノビスの距離と閾値とを比
較して紙葉類の良否を判別する。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図11と同一部分
には同一符号を付してある。図1は紙葉類検査装置の構
成図である。
【0029】搬送ライン2には、その搬送ライン2の上
方に複数のレーザ発振器3、例えば半導体レーザが搬送
方向(イ)に対して垂直方向に配列されている。又、搬
送ライン2の下方にも半導体レーザ等の複数のレーザ発
振器4が搬送方向(イ)に対して垂直方向に配列されて
いる。
【0030】一方、搬送ライン2の下方には、各レーザ
発振器3の各配置位置に対向して複数の受光センサ5a
が配置され、かつ搬送ライン2から見て斜め下方には、
複数の受光センサ6aが各レーザ発振器4の各配置位置
にそれぞれ対応して配置されている。
【0031】又、搬送ライン2の上方には、各レーザ発
振器4の各配置位置に対応して複数の受光センサ5bが
配置され、かつ搬送ライン2から見て斜め上方には、複
数の受光センサ6bが各レーザ発振器3の各配置位置に
それぞれ対応して配置されている。
【0032】なお、これら受光センサ5a、5b、6
a、6bの出力端子は、それぞれアンプリファイヤー8
〜11に接続されている。このような搬送ライン1上に
おいて、走査光学系の前段側には、姿勢検出手段を構成
するスリット光源20とシフト量センサ21とが、図2
に示すように搬送ライン2を挟んで対向配置されてい
る。
【0033】スリット光源20は、正常な姿勢の紙葉類
1の搬送方向(イ)に対して垂直方向の帯状の光20a
を放射するものである。シフト量センサ21は、スリッ
ト光源20から放射され、紙葉類1で遮光されなかった
帯状の光20aを入射し、図3のシフト量センサ21の
入射光量−出力電圧の特性図に示すように、その入射光
量Iに比例した電圧Vを出力する機能を有している。
【0034】すなわち、シフト量センサ21は、紙葉類
1の横ずれ量、傾き量に応じて入射光量Iが異なること
から、これら紙葉類1の横ずれ量、傾き量に応じた出力
電圧Vを得るものとなる。ここで、紙葉類1の横ずれ量
をSとすると、
【0035】
【数1】 となるので、 V=f(as) …(2) の関係が得られる。
【0036】一方、図4は判別処理系の構成図である。
CPU等から成る主制御部30には、各A/D変換器3
1、32、各シフト量データメモリ33、実測データメ
モリ34、参照データメモリ35が接続されると共に、
主制御部30から発する指令により姿勢推定部36、参
照データ補正部37、比較部38及び良否判別部39が
作動するものとなっている。
【0037】このうち、一方のA/D変換器31には、
各アンプリファイヤー8〜11を介して各受光センサ5
a、5b、6a、6bが接続され、他方のA/D変換器
32には、シフト量センサ21が接続されている。
【0038】シフト量データメモリ33には、シフト量
センサ21の出力電圧Vがディジタル変換されて紙葉類
1の姿勢データとして記憶される。実測データメモリ3
4には、各受光センサ5a、5b、6a、6bから出力
された各電気信号がディジタル変換されて透過光分布、
反射光分布の振幅データ(以下、実測データと称する)
として記憶される。
【0039】参照データメモリ35には、紙葉類1が正
常な姿勢で搬送されたときの各レーザ光による各走査位
置に対応する各透過光分布又は反射光分布のいずれか一
方又は両方が参照データDs として記憶されている。
【0040】この参照データDs は、例えば図5に示す
ように各走査ラインs1 、s2 、…sn ごとの透過光分
布又は反射光分布の各振幅データDs1、Ds2、…Dsn
ら形成されている。
【0041】なお、参照データメモリ35に記憶されて
いる参照データDs は、各受光センサ5a、5b、6
a、6bでの受光位置に対応した各透過光分布又は反射
光分布の各振幅データが記憶されている。
【0042】姿勢推定部36は、シフト量センサ21に
より検出された光量、すなわちシフト量データメモリ3
3に記憶された紙葉類1の姿勢データに基づいて紙葉類
1の横ずれ量及び傾きを求める機能を有している。
【0043】具体的に姿勢推定部36は、シフト量デー
タメモリ33に記憶された姿勢データから、シフト量セ
ンサ21により検出された光量の変化が許容範囲外で時
間的に一定であれば、このときの光量から紙葉類1の横
ずれ量を求め、かつシフト量センサ21により検出され
た光量が時間的に増減すれば、このときの光量の変化の
割合から紙葉類1の傾きを求める機能を有している。
【0044】すなわち、上記式(2) のV=f(as)より aS=f-1(v) …(3) であるので、横ずれ量Sは、 S=(1/a)・f-1(v) …(4) により求められる。
【0045】又、紙葉類1に横ずれ、傾きのない正常な
姿勢のときの紙葉類1の横ずれの基準をSo とすると、
t=0時の横ずれ量Ss は、図6に示すように、 Ss =So −(1/a)・f-1(v) …(5) となる。
【0046】紙葉類1の傾きθは、紙葉類1の搬送方向
の長さをl、紙葉類1の終端の横ずれ量をSe とする
と、 θ= tan-1(Se −Ss )/l …(6) により求められる。
【0047】なお、紙葉類1の傾きθは、図9(b) の出
力電圧Vの傾斜、すなわちx/yを算出することによっ
ても求められる。参照データ補正部37は、紙葉類1の
横ずれ量S及び傾きθに基づいて実際の走査ライン位置
を求め、この走査ライン位置に対応する参照データ上の
透過光量又は反射光量を取り出して紙葉類1の姿勢に対
応する参照データを生成する機能を有している。
【0048】比較部38及び良否判別部39は、判別手
段を構成している。このうち比較部38は、参照データ
補正部37により補正された参照データとシフト量デー
タメモリ33に記憶されている実測データとを比較する
もので、この比較には、例えば多変量解析の一手法であ
るマハラノビスの距離Dが用いられる。
【0049】この手法は、紙葉類1から得られた実測デ
ータと参照データとから良品の透かしのクラスタと不良
品の透かしのクラスタとの距離(ノルム)が十分離れる
ようなパラメータを取り出し、以下のような計算を行
う。
【0050】
【数2】
【0051】パラメータには、例えば実測データと参照
データの平均値μや標準偏差σを用いる。又、上記式
(7) において、二つ目の行列は、紙葉類の分散共分散行
列で、より確かな良否判定を行うためにはできるだけ多
くの良品サンプルを用意し、この行列を求めておくこと
になる。この計算によって複数のパラメータを持つサン
プルは、一つの数値で比較を行うことが可能になる。
【0052】良否判別部39は、比較部38により算出
されたマハラノビスの距離Dを受け、このマハラノビス
の距離Dと予め設定された閾値とを比較して紙葉類1の
良否を判定する機能を有している。
【0053】なお、予め設定された閾値は、良品と不良
品とのクラスター間距離が十分であると仮定し、統計的
に許される誤判定率を基に決定される。次に上記の如く
構成された装置の作用について説明する。
【0054】紙葉類1が搬送ライン2に一定の速度で搬
送されると、この紙葉類1は、走査光学系に入る前に、
スリット光源20とシフト量センサ21との間を通過
し、その姿勢が検出される。
【0055】すなわち、紙葉類1が正常な姿勢で搬送ラ
イン2に搬送されると、この紙葉類1は、その一方のエ
ッジが図7(a) に示すようにシフト量センサ21の中間
位置、すなわち帯状の光20aの長手方向の中間位置を
通過する。
【0056】このときのシフト量センサ21の出力電圧
Vは、同図(b) に示すように所定値Va で一定となる。
ところが、紙葉類1に横ずれが生じて搬送されると、こ
の紙葉類1は、例えば図8(a) に示すようにシフト量セ
ンサ21に対して紙葉類1のエッジのかかる部分が少な
くなる。
【0057】なお、紙葉類1が反対方向に横ずれすれ
ば、紙葉類1のシフト量センサ21に対してかかるエッ
ジ部分は多くなる。このように紙葉類1が横ずれして搬
送されると、シフト量センサ21は、紙葉類1の横ずれ
量に応じて入射光量が増減するので、その出力電圧V
は、例えば同図(b) に示すように正常の姿勢の出力電圧
a より高い出力電圧Vb となる。
【0058】又、紙葉類1に傾きが生じて搬送される
と、この紙葉類1は、例えば図9(a)に示すようにシフ
ト量センサ21に対して紙葉類1のエッジのかかる部分
が搬送されるに従って小さくなる。
【0059】なお、紙葉類1が反対方向に傾いていれ
ば、シフト量センサ21に対して紙葉類1のエッジのか
かる部分は搬送されるに従って大きくなる。このように
紙葉類1が傾いて搬送されると、シフト量センサ21
は、紙葉類1の傾き方向に応じて入射光量が紙葉類1の
搬送に従って増減するので、その出力電圧Vは、例えば
同図(b) に示すように一定の割合で高くなる。
【0060】このシフト量センサ21の出力電圧Vは、
A/D変換器32でディジタル変換され、主制御部30
により取り込まれてシフト量データメモリ33に紙葉類
1の姿勢データとして記憶される。
【0061】続いて、紙葉類1が搬送されて走査光学系
に到達し、紙葉類1が搬送ライン2に一定の速度で搬送
されると、各レーザ発振器3の下方を通過することによ
り、紙葉類1に対して各レーザ発振器3から出力された
各レーザ光がそれぞれ走査される。これら走査される各
レーザ光の紙葉類1上におけるスポット形状は点状であ
り、これらレーザ光は、紙葉類1を透過するとともに紙
葉類1で反射する。
【0062】これと共に、レーザ発振器4の上方を通過
することにより、紙葉類1に対して各レーザ発振器4か
ら出力された各レーザ光がそれぞれ走査される。これら
走査される各レーザ光の紙葉類1上におけるスポット形
状は点状であり、これらレーザ光は、紙葉類1を透過す
るとともに紙葉類1で反射する。
【0063】このとき、下方の各受光センサ5aは、各
レーザ発振器3から出力され、紙葉類1を透過した各レ
ーザ光をそれぞれ受光してその光量に応じた各電気信号
を出力し、斜め上方の各受光センサ6bは、紙葉類1に
レーザ光が照射されたときの反射散乱光をそれぞれ受光
してその光量に応じた各電気信号を出力する。
【0064】これと共に、上方の各受光センサ5aは、
各レーザ発振器4から出力され、紙葉類1を透過した各
レーザ光をそれぞれ受光してその光量に応じた各電気信
号を出力し、斜め下方の各受光センサ6aは、紙葉類1
にレーザ光が照射されたときの反射散乱光をそれぞれ受
光してその光量に応じた各電気信号を出力する。
【0065】これら受光センサ5a、5b、6a、6b
からそれぞれ出力された各電気信号は、それぞれアンプ
リファイヤー8〜11により増幅され、A/D変換器3
1でディジタル変換され、主制御部30により取り込ま
れて実測データメモリ34に透過光分布、反射光分布の
実測データ(振幅データ)として記憶される。
【0066】先のようにシフト量データメモリ33に紙
葉類1の姿勢データが記憶されると、姿勢推定部36
は、シフト量データメモリ33に記憶された紙葉類1の
姿勢データに基づいて紙葉類1の横ずれ量S及び傾きθ
を求める。
【0067】すなわち、姿勢データが図7(b) に示す出
力電圧Va であれば、姿勢推定部36は、シフト量セン
サ21により検出された光量の変化が許容範囲内で時間
的に一定であると判断し、紙葉類1は正常な姿勢で搬送
されていると推定する。
【0068】ところが、姿勢データが例えば図8(b) に
示す出力電圧Vb であれば、姿勢推定部36は、シフト
量センサ21により検出された光量の変化が許容範囲外
で時間的に一定であることから、紙葉類1は横ずれして
搬送されていると推定する。
【0069】この場合、姿勢推定部36は、シフト量セ
ンサ21により検出された光量から上記式(4) を演算す
ることにより横ずれ量Sを求める。又、姿勢データが例
えば図9(b) に示すように出力電圧が次第に高く変化し
ていれば、姿勢推定部36は、シフト量センサ21によ
り検出された光量が時間的に紙葉類1の搬送に従って大
きくなることから、紙葉類1は傾いて搬送されていると
推定する。
【0070】この場合、姿勢推定部36は、シフト量セ
ンサ21により検出された光量変化の傾斜、又は上記式
(6) を演算することにより紙葉類1の傾きθを求める。
次に参照データ補正部37は、姿勢推定部36により求
められた紙葉類1の横ずれ量S及び傾きθに基づいて実
際の紙葉類1上の各走査ライン位置を求め、これら走査
ライン位置に対応する参照データ上の透過光量又は反射
光量を取り出して紙葉類1の姿勢に対応する参照データ
を生成する。
【0071】この場合、参照データ補正部37は、紙葉
類1の姿勢が正常であれば、参照データに対する補正は
行わない。これに対して紙葉類1が横ずれしていれば、
参照データ補正部37は、紙葉類1の横ずれ量Sに従っ
て参照データから読み出す透過光量分布又は反射光量分
布の位置をずらすことにより、横ずれした紙葉類1に対
応する参照データを生成する。
【0072】又、紙葉類1が傾いていれば、参照データ
補正部37は、先ず紙葉類1の傾きθに基づいて実際の
紙葉類1上の各走査ライン位置を求める。次に参照デー
タ補正部37は、紙葉類1上の実際の走査ライン位置に
対応する参照データ上の透過光量又は反射光量を取り出
し、これら透過光量又は反射光量を繋げて傾いた紙葉類
1に対応する参照データを生成する。
【0073】例えば、図10に示すように紙葉類1の傾
きにより実際に1つの走査ラインqが走査されると、こ
の走査ラインqと参照データDs 上における各走査ライ
ンs1 、s2 、…sn の各振幅データDs1、Ds2、…D
snと交わるところq1 、q2、q3 …の各値を読み出
し、これらq1 、q2 、q3 …の各値を繋げることによ
り補正した参照データDsaを生成する。
【0074】従って、例えば、図6に示すように傾きの
生じた紙葉類1に対する各走査ラインに対する各参照デ
ータDa 、Db 、Dc 、Dd 、…が生成される。さらに
又、紙葉類1が横ずれしかつ傾いていれば、参照データ
補正部37は、紙葉類1の横ずれ量Sに従って参照デー
タから読み出す透過光量分布又は反射光量分布の位置を
ずらし、かつ紙葉類1の傾きθに基づいて実際の紙葉類
1上の各走査ライン位置を求め、紙葉類1上の実際の走
査ライン位置に対応する横ずらしした参照データ上の透
過光量又は反射光量を取り出し、これら透過光量又は反
射光量を繋げて傾いた紙葉類1に対応する参照データを
生成する。
【0075】次に比較部38は、参照データ補正部37
により補正された参照データとシフト量データメモリ3
3に記憶されている実測データを読み出し、このうち実
測データ(透過光量及び反射光量の各振幅データ)を演
算処理して、紙葉類1の透かし部分を表す特徴的なパラ
メータ、例えば振幅の平均値μや標準偏差σといった統
計量を求める。
【0076】次に比較部38は、これら振幅の平均値μ
や標準偏差σといった統計量に基づいて上記式(7) を演
算してマハラノビスの距離Dを算出する。次に良否判別
部39は、比較部38により算出されたマハラノビスの
距離Dを受け取り、このマハラノビスの距離Dと予め設
定された閾値とを比較して紙葉類1の良否を判定する。
【0077】このように上記一実施の形態においては、
紙葉類1が走査光学系に入る前に、帯状の光20aを紙
葉類1に照射し、この照射された光量のうち紙葉類1の
姿勢に応じた光量を検出して紙葉類1の横ずれ量S及び
傾きθを求め、これら横ずれ量S及び傾きθに基づいて
参照データを補正し、紙葉類1に対して光を走査したと
きの紙葉類1からの透過光又は反射光の光量に応じた実
測データと補正された参照データとに基づいて紙葉類1
の良否を判別するようにしたので、紙葉類1に横ずれや
傾きが生じて搬送されたとしても、これら紙葉類1の横
ずれや傾きに影響されずに安定に紙葉類1に対する良否
判別ができ、例えば不良品の排除能力を高めて、不良品
を高い確率で排除できる。
【0078】特に帯状の光20aを紙葉類1に照射して
シフト量センサ21で入射するので、シフト量センサ2
1での入射光量の変化に基づいて紙葉類1の横ずれ量S
及び傾きθを検出することができ、そのうえこれら紙葉
類1の横ずれ量S及び傾きθから紙葉ずれした紙葉類1
に対応する参照データを生成することができ、この結果
として紙葉類1に対する信頼性の高い良否判別ができ
る。
【0079】又、紙葉類1に対して各レーザ光を走査す
る走査光学系が、ポリゴンミラーなどを使用する光学系
と比較して単純、簡単な構成であり、良否判別の処理速
度の向上や価格の削減が期待できる。
【0080】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく次の通り変形してもよい。例えば、紙
葉類1に走査する光は、レーザ光に限らず、他の光源を
用いてもよい。
【0081】又、紙葉類1の横ずれ量Sの検出には、ラ
インセンサを紙葉類1の搬送方向に対して垂直方向に配
置したり、他の方式を用いても可能である。さらに、参
照データと紙葉類1からの実測データとの比較は、いか
なる手段例えばアダマール変換を用いてもよい。
【0082】
【発明の効果】以上詳記したように本発明の請求項1〜
6によれば、紙葉ずれが生じても正確に安定して紙葉類
の良否判別ができる紙葉類検査装置を提供できる。又、
本発明の請求項1〜6によれば、紙葉類に横ずれや傾き
が生じても、これら紙葉類の横ずれや傾きに対応した参
照データに補正することにより、紙葉類の横ずれや傾き
に影響されずに紙葉類に対する良否判別を正確にでき、
不良品の排除能力を高めて、不良品を高い確率で排除で
きる紙葉類検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる紙葉類検査装置の第1の実施の
形態を示す構成図。
【図2】スリット光源とシフト量センサとの配置図。
【図3】シフト量センサの入射光量−出力電圧の特性
図。
【図4】判別処理系の構成図。
【図5】参照データの模式図。
【図6】紙葉類の横ずれ量及び傾き量の算出を説明する
ための図。
【図7】正常な姿勢での紙葉類の搬送位置及びシフト量
センサの出力電圧を示す図。
【図8】横ずれでの紙葉類の搬送位置及びシフト量セン
サの出力電圧を示す図。
【図9】傾いた紙葉類の搬送位置及びシフト量センサの
出力電圧を示す図。
【図10】補正した参照データを生成を示す模式図。
【図11】従来の紙葉類検査装置の構成図。
【図12】正常な姿勢で搬送される紙葉類を示す図。
【図13】紙葉類の横ずれを示す図。
【図14】紙葉類の傾きを示す図。
【符号の説明】
1…紙葉類、 2…搬送ライン、 3,4…レーザ発振器、 5a,5b,6a,6b…受光センサ、 20…スリット光源、 21…シフト量センサ、 30…主制御部、 33…シフト量データメモリ、 34…実測データメモリ、 35…参照データメモリ、 36…姿勢推定部、 37…参照データ補正部、 38…比較部、 39…良否判別部。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搬送される紙葉類に対して光を走査し、
    前記紙葉類からの透過光又は反射光の光量に応じた実測
    データと参照データとに基づいて前記紙葉類の良否を検
    査する紙葉類検査装置において、 搬送される前記紙葉類の姿勢を検出する姿勢検出手段
    と、 この姿勢検出手段により検出された前記紙葉類の姿勢に
    基づいて前記参照データを補正する参照データ補正手段
    と、 この参照データ補正手段により補正された参照データと
    前記実測データとを比較して前記紙葉類の良否を判別す
    る判別手段と、を具備したことを特徴とする紙葉類検査
    装置。
  2. 【請求項2】 前記姿勢検出手段は、前記紙葉類に対し
    て光を走査する走査光学系の前段側に配置されているこ
    とを特徴とする請求項1記載の紙葉類検査装置。
  3. 【請求項3】 前記姿勢検出手段は、帯状の光を前記紙
    葉類に照射する光源と、 この光源から照射された光量のうち前記紙葉類の姿勢に
    応じた光量を検出するシフト量センサと、 このシフト量センサにより検出された光量に基づいて前
    記紙葉類の横ずれ量及び傾きを求める姿勢推定手段と、
    を有することを特徴とする請求項1記載の紙葉類検査装
    置。
  4. 【請求項4】 前記姿勢推定手段は、前記シフト量セン
    サにより検出された光量の変化が許容範囲外で時間的に
    一定であれば、このときの光量から前記紙葉類の横ずれ
    量を求め、かつ前記シフト量センサにより検出された光
    量が時間的に増減すれば、このときの光量変化の割合か
    ら前記紙葉類の傾きを求める機能を有することを特徴と
    する請求項3記載の紙葉類検査装置。
  5. 【請求項5】 前記紙葉類が正常な姿勢で搬送されたと
    きの各走査位置に対応する各透過光分布又は反射光分布
    のいずれか一方又は両方を前記参照データとして保持
    し、 かつ前記参照データ補正手段は、前記紙葉類の横ずれ量
    及び傾きに基づいて実際の走査ライン位置を求め、この
    走査ライン位置に対応する前記参照データ上の透過光量
    又は反射光量を取り出して前記紙葉類の姿勢に対応する
    参照データを生成する機能を有することを特徴とする請
    求項1記載の紙葉類検査装置。
  6. 【請求項6】 前記判別手段は、補正された前記参照デ
    ータと前記実測データとの平均値や標準偏差に基づいて
    マハラノビスの距離を求め、このマハラノビスの距離と
    閾値とを比較して前記紙葉類の良否を判別する機能を有
    することを特徴とする請求項1記載の紙葉類検査装置。
JP8213707A 1996-08-13 1996-08-13 紙葉類検査装置 Pending JPH1063914A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012178181A (ja) * 2004-08-13 2012-09-13 Engineer Technology (Uk) Ltd 信憑性検証の方法、製品、および装置
JP2013012227A (ja) * 2005-07-27 2013-01-17 Engineer Technology (Uk) Ltd 真正性の検証
CN103761797A (zh) * 2014-01-02 2014-04-30 上海大学 一种光学自适应的文件检验系统
US8892556B2 (en) 2009-11-10 2014-11-18 Ingenia Holdings Limited Optimisation
US8896885B2 (en) 2004-03-12 2014-11-25 Ingenia Holdings Limited Creating authenticatable printed articles and subsequently verifying them based on scattered light caused by surface structure

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8896885B2 (en) 2004-03-12 2014-11-25 Ingenia Holdings Limited Creating authenticatable printed articles and subsequently verifying them based on scattered light caused by surface structure
US9019567B2 (en) 2004-03-12 2015-04-28 Ingenia Holdings Limited Methods and apparatuses for creating authenticatable printed articles and subsequently verifying them
JP2012178181A (ja) * 2004-08-13 2012-09-13 Engineer Technology (Uk) Ltd 信憑性検証の方法、製品、および装置
JP2013012227A (ja) * 2005-07-27 2013-01-17 Engineer Technology (Uk) Ltd 真正性の検証
US8892556B2 (en) 2009-11-10 2014-11-18 Ingenia Holdings Limited Optimisation
CN103761797A (zh) * 2014-01-02 2014-04-30 上海大学 一种光学自适应的文件检验系统

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