JPS6195456A

JPS6195456A - マイクロコンピユ−タの検査装置

Info

Publication number: JPS6195456A
Application number: JP59216401A
Authority: JP
Inventors: Katsuyasu Shimazaki; 島崎　勝康
Original assignee: NIPPON RADIATOR CO Ltd; Nihon Radiator Co Ltd
Current assignee: NIPPON RADIATOR CO Ltd; Marelli Corp
Priority date: 1984-10-17
Filing date: 1984-10-17
Publication date: 1986-05-14

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、マイクロコンピュータの自己診Ｉｔｌｉ装置
に関する。

（従来の技術）従来、マイクロコンピュータをシステムに実装した状態
で検査するには、所定のマイクロコンピュータ検査装置
を使用し、すべてのプログラムを実行させ、その実行結
果が正しいものであればそのマイクロコンピュータが正
常であり、その実行結果がＵ！っていればそのマイクロ
コンピュータが異常であると判断するようにしている。

（発明が解決しようとする問題点）上記従来装置においては、検査しようとするマイクロコ
ンピュータに対して、すべてのプログラムを実行してか
らその良否を判断するために、非常に時間がかかるとい
う問題点がある。特に、そのプログラムの中に、ウェー
トルーチンがある場合にはさらに長時間を有することに
なる。

また、上記従来装置においては、もし測定しようとする
マイクロコンピュータが異常である場合に、その異常の
原因がインターフェースであるのかまたはマイクロコン
ピュータ自体であるのかという判断が困難であるという
問題がある。

本発明は、上記従来の問題点に着目してなされたもので
あり、マイクロコンピュータをシステムに実装した状態
で検査する場合に、その検査時間を短時間にすることが
できるとともに、異常原因を具体的に把握できるマイク
ロコンピュータの検査ｖ４ｆｆｆを提供するものである
。

（問題点を解決するための手段）本発明は、上記目的を達成するために、マイクロコンピ
ュータの入出力ポートをメモリとして扱って検査すると
ともに、入力ポートに抵抗を挿入し、出力ポートに積分
回路を設けたものである。

（実施例）以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。

第１図は、本発明の一実施例を示す図である。

マイクロコンピュータ１０は、メモリ機能１１と、中央
処理機能１２と、入出力橢能１３と、自己診断プログラ
ム１４とを有する。入出力機能１３は、入力ポート１３
ａと出力ポート１３ｂとを有する。

センサ２１とプルアップ抵抗２２との接続点と入力ポー
ト１３ａとの間に抵抗４０が設けられている。上記セン
サ２１とプルアップ抵抗２２とは、マイクロコンピュー
タ１０の外部素子を構成している。抵抗４０は、センサ
２１がオンされた時に入力ポート１３ａに影響すること
を防止するためのものである。

モ〜り３１とトランジスタ３２とが直列に接続され、ト
ランジスタ３２の制ｍ　ｔ’ｓｔ子と出力ポート１３ｂ
との間に積分回路５０が設けられている。

モータ３１は、マイクロコンピュータ１０によってｔｌ
ＩＩＩＩｌされるものである。積分回路５０は、抵抗５
１とコンデンサ５２とによって構成されているが、他の
素子によって構成してもよいものである。

モータ３１とトランジスタ３２とによって、マイクロコ
ンピュータ１０の外部素子が構成されている。積分回路
５０は、入出力機能１３における出力ポート１３ｂを検
査する場合に、その検査データが、モータ３１等の外部
素子に影響することを阻止するためのものである。そし
て、積分回路５０の時定数は、モータ３１が作動しない
ものである必要がある。

自己診断プログラム１４は、入力ポート１３ａに所定デ
ータを書き込み、その書き込んだデータを読出したもの
とその所定データとを比較して、その比較結果を出力さ
せることによって入出力機能の良否を判断するものであ
る。また、自己診断プログラム１４は、メモリ機能１１
におけるＲＯＭの記憶内容を所定手順で加締し、その加
口結果と所定値とを比較することによって、そのＲＯＭ
の良否を判断するものである。さらに、自己診断プログ
ラム１４は、メモリ機能１１に内蔵されたＲＡＭ１．：
１！き込んだ内容とそれを読出した内容とを比較するこ
とによって、そのＲＡＭの良否を判断するものである。

まノζ、自己診断プログラム１４は、マイクロコンピュ
ータ１０が使用するプログラムにおける命令を組合せた
テストプログラムを有し、このテスト用プログラムの実
行結果と所定値とを比較することによって、マイクロコ
ンピュータ１０内の中央処理！ｌ能１２の良否を判断す
るものである。

次に、作用について説明する。

まず、マイクロコンピュータ１０のメモリ機能１３を検
査する場合について説明する。

メモリ機能１１におけるＲＯＭを検査する場合には、ま
ずそのＲＯＭに記憶されている内容を順次加算し、その
加算結果と予め与えられた正しい加算結果とを比較し、
それが一致した場合には、そのＲＯＭが正常なものであ
ると判断する。この場合には、第２図に示す検査結果表
示回路６０において、ＲＯＭが正常であることを表示す
る。

また、メモリ機能１１におけるＲＡＭを検査する場合に
は、まずそのＲＡＭに所定データを書込み、そのデータ
を読出した場合にその両者が一致すれば、そのＲＡＭが
正常であると判断する。この場合にも検査結果表示回路
６０によって、ＲＡＭが正常であることが表示される。

次に、マイクロコンピュータ１０の中央処理機能１２を
検査する場合について説明する。

この場合には、マイクロコンピュータ１０で使用するプ
ログラムの内の所定命令を組合せて、テスト用プログラ
ムを予め作成しておく。このテスト用プログラムを実行
し、その実行結果と予め与えた正しい実行結果とを比較
し、両者が一致すれば中央処理機能１２が正常であると
判断する。この場合にも検査結果表示回路６０に、その
旨表示される。

次に、マイクロコンピュータ１０の入出力機能１３を検
査する場合について説明する。

この場合には、入出力ｌＩＩ能１３における入力ポート
１３ａおよび出力ポート１３ｂをともに、出力ポートと
して扱い、つまり、入力ポート１３ａおよび出力ポート
１３ｋ）に所定データを関込む。

そして、これらのポート１３ａ、１３ｂに書込まれたデ
ータを読出し、書込む前のデータと読出したデータとが
一致した場合には、入力ポート１３ａおよび出力ポート
１３ｂが正常であると判断する。すなわら、入出力機能
１３が正常であると判断する。この場合に、検査結果表
示回路６０がその旨表示する。もらろん、第２図の検査
結果表示回路６０は、上記検査を一括してすべてが正常
である場合にのみマイクロコンピュータが正常であると
いう表示をするようにしてもよい。

入出力機能１３の検査を行なう場合に、マイクロコンピ
ュータ１０は、システムに実装されており、すなわち上
記実施例においては、入力ポート１３ａが、抵抗４０を
介して、センサ２１およびプルアップ抵抗２２に接続さ
れており、出力ポート１３ｂは、積分回路５０を介して
トランジスタ３２およびモータ３１に接続されている。

これらの外部素子の影響をマイクロコンピュータ１０が
受けることは好ましくなく、またマイクロコンピュータ
１０が外部装置に影響を与えることも好ましくない。上
記入出力機能１３を検査する場合に、入力ポート１３ａ
に所定データを棗込むことがあり、この場合に、たとえ
センサ２１がオンされていたとしても、抵抗４０によっ
てセンサ２１からの影響を遮断することができ、出力ポ
ート１３ｂに所定データを書込んでも、積分回路−５０
があるために、所定期間、その所定データはトランジス
タ３２に影響を与えない。

したがって抵抗４０．積分回路５０によって、マイクロ
コンピュータ１０の外部素子からの影響を受けず、また
その外部素子へ影響を与えることがない。

第２図におけるパルス同期検出回路７０は、マイクロコ
ンピュータ１０が全体として正常である場合に、交流出
力であるパルスを発りし、これによって、インジケータ
７１が点滅する。この場合には、マイクロコンピュータ
１０にお（プる自己診断の結果が良好であり、マイクロ
コンピュータ１０のメインプログラムに実行が移ったこ
とを示Ｖものである。

第３図は、上記実施例における動作を示すフローチャー
トである。

上記実施例においては、マイクロコンピュータ１０を検
査する場合に、マイクロコンピュータに内蔵されたシス
テムコントロールプログラムを作動させて検査する従来
方法と比較して、その検査時間が非常に短くて済むとい
う利点がある。また、上記実施例においては、メモリ機
能１１のみならず中央処理機能１２および入出力１Ｎ能
１３をそれぞれ検査することができ、必要に応じて各異
常部分を表示することもできる。さらに、マイクロコン
ピュータ１０に関する回路が異常である場合にマイクロ
コンピュータ自身が異常であるのかまたはインタフェー
スが異常であるかを把握することができる。

また、マイクロコンピュータ１０に電源を投入すると、
直ちに自己診断プログラム１４が作動し、一連の検査を
行なった優にメインプログラムを実行するので、ユーザ
ーはその本来の使用時に、常に自己診断を行なうことが
できる。さらに、上記実施例は自己診断プログラムを改
良するとともに、抵抗４０および積分回路５０を設【プ
るだけで、上記一連の検査を行なうことができるので、
検査装置としては安価なものであると★視点がある。

また、上記実施例においては１つの入力ポート１３ａの
みを使用したが複数の入力ポートを使用する場合には、
抵抗４０と同様の抵抗が所定数必要となり、また複数の
出力ポートを使用する場合には複数の積分回路５ｏが必
要になる。

（発明の効果）本発明は、マイクロコンピュータをシステムに実装した
状態で、そのマイクロコンピュータの検査を短時間で行
なうことができるとともに、もし故障している場合に、
その故障原因がインタフェースかまたはマイクロコンピ
ュータ自身であるかを確実に判別することができるとい
う効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例を示す図、第２図は、上記
実施例の構成を示すブロック図、第３因は、上記実施例
の動作を示すフローチャートである。１０・・・マイクロコンピュータ、１１・・・メモリ機
能、１２・・・中央処１！！！機能、１３・・・入出力
機能、１３ａ・・・入力ポート、１３ｂ・・・出力ポー
ト、１４・・・自己診断プログラム、４０・・・抵抗、
５０・・・積分回路。特許出願人　　　日本ラヂヱーター株式会社塩１酬

Claims

【特許請求の範囲】

（１）　自己診断機能を有するマイクロコンピュータに
おいて；入出力ポートに所定データを書込み、その書込んだデー
タを読出したものと前記所定データとを比較し、この比
較結果を出力させる自己診断プログラムを記憶する記憶
手段と；前記入出力ポートを入力ポートとして使用する場合の前
記入力ポートと外部素子との間に設けられた抵抗と；前記入出力ポートを出力ポートとして使用する場合の前
記出力ポートと外部素子との間に設けられた積分回路と
；を有することを特徴とするマイクロコンピユータの検査
装置。
（２）　特許請求の範囲第１項において、前記自己診断プログラムは、マイクロコンピユータに内
蔵されたＲＯＭの記憶内容を所定手順で加算し、その加
算結果と所定値とを比較することによって、前記ＲＯＭ
の良否を判断するものであることを特徴とするマイクロ
コンピユータの検査装置。
（３）　特許請求の範囲第１項において、前記自己診断プログラムは、マイクロコンピユータに内
蔵されたＲＡＭに書込んだ内容とそれを読出した内容と
を比較することによって、前記ＲＡＭの良否を判断する
ものであることを特徴とするマイクロコンピユータの検
査装置。
（４）　特許請求の範囲第１項において、前記自己診断プログラムは、所定プログラムで使用する
命令を組合せたテスト用プログラムを有し、このテスト
用プログラムの実行結果と所定値とを比較することによ
って、前記マイクロコンピュータ内の中央処理機能の良
否を判断するものであることを特徴とするマイクロコン
ピュータの検査装置。