JPS6170640A - 自己診断機能付端末制御装置 - Google Patents
自己診断機能付端末制御装置Info
- Publication number
- JPS6170640A JPS6170640A JP59191507A JP19150784A JPS6170640A JP S6170640 A JPS6170640 A JP S6170640A JP 59191507 A JP59191507 A JP 59191507A JP 19150784 A JP19150784 A JP 19150784A JP S6170640 A JPS6170640 A JP S6170640A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- terminal
- output port
- microprocessor
- output
- Prior art date
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- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の利用分野」
本発明は、自己診断機能を有する端末制御装置に関する
。
。
端末装置、例えばタイプライタやCRT等の入出力装置
は、端末制御装置の入出力ポートにインターフェイスを
介して接続される。そして、端末制御装置と端末装置と
の間は、通常、半2重伝送方式によりデータが送受され
る。
は、端末制御装置の入出力ポートにインターフェイスを
介して接続される。そして、端末制御装置と端末装置と
の間は、通常、半2重伝送方式によりデータが送受され
る。
このような端末装置が接続された端末制御装置を動作さ
せるときに障害が生じた場合、従来は、この障害が端末
装置側の障害に起因するのか、または端末制御装置側の
障害に起因するのかが判別困難であった。
せるときに障害が生じた場合、従来は、この障害が端末
装置側の障害に起因するのか、または端末制御装置側の
障害に起因するのかが判別困難であった。
〔発明の目的j
本発明の目的は、端末装置側と端末制御装置側との障害
切分けが容易で、障害発生時に迅速な対処をとることが
できる自己診断機能付端末制御装置を提供することにあ
る。
切分けが容易で、障害発生時に迅速な対処をとることが
できる自己診断機能付端末制御装置を提供することにあ
る。
端末装置を接続する入出力ポートと端末装置との間にデ
ータ折返し機能を有するセレクタ装置を設け、端末制御
装置のマイクロプロセッサ(こより各入出力ポートの空
塞状態を監視し、少なくともいずれか2個の入出力ポー
トが空き状態になったとき当該入出力ポートに接続され
た端末装置をアウトオブサービス状態にし、該入出力ポ
ートを介して前記セレクタ装置と前記マイクロプロセッ
サとの間で診断用データを送受させるようにした。
ータ折返し機能を有するセレクタ装置を設け、端末制御
装置のマイクロプロセッサ(こより各入出力ポートの空
塞状態を監視し、少なくともいずれか2個の入出力ポー
トが空き状態になったとき当該入出力ポートに接続され
た端末装置をアウトオブサービス状態にし、該入出力ポ
ートを介して前記セレクタ装置と前記マイクロプロセッ
サとの間で診断用データを送受させるようにした。
以下本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
図は本発明の一実施例に係る自己診断機能付端末制御装
置のブロック回路図である。図において、端末制御装置
Aはマイクロプロセッサ−とル個の入出カポ−) 2,
5. ・・・、4を備えておシ、マイクロプロセッサ
1と各入出力ポート2゜6、 ・、4 とはデータバス
Bによう接続されている。これ等の各入出カポ−1−2
,5,・・・・・・、4には夫々1個づつ端末装置8,
9.・・10が接続され、そして、各入出カポ−1−2
,5,・・、4と含端末装置8,9. ・・・、10
との間に送受セレクタ装置5,6.・・・・・・、7が
夫々接続されている。
置のブロック回路図である。図において、端末制御装置
Aはマイクロプロセッサ−とル個の入出カポ−) 2,
5. ・・・、4を備えておシ、マイクロプロセッサ
1と各入出力ポート2゜6、 ・、4 とはデータバス
Bによう接続されている。これ等の各入出カポ−1−2
,5,・・・・・・、4には夫々1個づつ端末装置8,
9.・・10が接続され、そして、各入出カポ−1−2
,5,・・、4と含端末装置8,9. ・・・、10
との間に送受セレクタ装置5,6.・・・・・・、7が
夫々接続されている。
各入出力ポート、送受セレクタ装置、端末装置相互間の
接続は、本実施例では同じであるため、以下入出力ポー
ト2.送受セレクタ装置5及び端末装置8の相互接続関
係を例に説明するう入出力ポート2の出力端子と端末装
置8の一入力端子とは線11により接続され、端末装置
8の一出力端子に接続された線12と入出力ポート2の
一入力端子に接続された線15との間に送受セレクタ装
置5が接続されている。また、入出力ポート2と送受セ
レクタ装置5の各制御端子とマイクロプロセッサ1の一
出力端子とが制御線14によ)接続されている。
接続は、本実施例では同じであるため、以下入出力ポー
ト2.送受セレクタ装置5及び端末装置8の相互接続関
係を例に説明するう入出力ポート2の出力端子と端末装
置8の一入力端子とは線11により接続され、端末装置
8の一出力端子に接続された線12と入出力ポート2の
一入力端子に接続された線15との間に送受セレクタ装
置5が接続されている。また、入出力ポート2と送受セ
レクタ装置5の各制御端子とマイクロプロセッサ1の一
出力端子とが制御線14によ)接続されている。
そして、人出力ポート3と端末装置9との接続線15.
・・・・2人出力ポート4と端末装置10との接続線1
6とが夫々分岐されて送受セレクタ装置5の池入力端子
に線17.・・・、18によυ接続されている。さらに
、人出力ポート2と端末装置8との接続線11が分岐さ
れ、送受セレクタ6、・・・・・・、7の各他入力端子
に線19. ・・・、20により接続されている。
・・・・2人出力ポート4と端末装置10との接続線1
6とが夫々分岐されて送受セレクタ装置5の池入力端子
に線17.・・・、18によυ接続されている。さらに
、人出力ポート2と端末装置8との接続線11が分岐さ
れ、送受セレクタ6、・・・・・・、7の各他入力端子
に線19. ・・・、20により接続されている。
斯かる構成により、端末制御装置Aから端末装置8にデ
ータ送信するときは、マイクロプロセッサ1が入出力ポ
ート2を制御し、パラレルデータをセントする。入出力
ポート2にデータがセットされると、入出力ポート2は
端末装置8を起動すると共にパラレルデータをシリアル
データに変換してこれを線11を介して端末装置8に送
出する。マイクロプロセッサ1から端末装置8への送信
起動が終了すると、入出力ポート2は端末装置8からの
受信起動を受けつけることができる。このとき、端末装
置8から送出されるシリアルデータは送受セレクタ装置
5を介して入出力ポート2に入力され、ここでパラレル
データに変換されてマイクロプロセッサ1に送出される
。
ータ送信するときは、マイクロプロセッサ1が入出力ポ
ート2を制御し、パラレルデータをセントする。入出力
ポート2にデータがセットされると、入出力ポート2は
端末装置8を起動すると共にパラレルデータをシリアル
データに変換してこれを線11を介して端末装置8に送
出する。マイクロプロセッサ1から端末装置8への送信
起動が終了すると、入出力ポート2は端末装置8からの
受信起動を受けつけることができる。このとき、端末装
置8から送出されるシリアルデータは送受セレクタ装置
5を介して入出力ポート2に入力され、ここでパラレル
データに変換されてマイクロプロセッサ1に送出される
。
マイクロプロセッサ1は各端末装置a、9. ・・・
・・、10 とデータ送受を行なっている。そして、周
期的に各入出力ポート2,3. ・、4の空き塞が9
(空塞)状態を監視しており、いずれか2個の入出力ポ
ート、例えば入出力ポート2と3とが空き状態になった
とき、マイクロプロセッサ1により入出力ポート2を送
信側に設定すると共に入出力ポート3を受信側に設定す
る。そのとき、端末装置8と9とはアウトオブサービス
状態になっており、送受セレクタ装置6はマイクロプロ
セッサ1により制御されて折り返し装置として機能する
ように設定される。
・・、10 とデータ送受を行なっている。そして、周
期的に各入出力ポート2,3. ・、4の空き塞が9
(空塞)状態を監視しており、いずれか2個の入出力ポ
ート、例えば入出力ポート2と3とが空き状態になった
とき、マイクロプロセッサ1により入出力ポート2を送
信側に設定すると共に入出力ポート3を受信側に設定す
る。そのとき、端末装置8と9とはアウトオブサービス
状態になっており、送受セレクタ装置6はマイクロプロ
セッサ1により制御されて折り返し装置として機能する
ように設定される。
マイクロプロセッサ1は診断データ(パラレルデータ)
を入出力ポート2に設定し、入出力ポート2はこれをシ
リアルデータに変換して線11に送出する。この診断デ
ータ(シリアルデータ)は線41 、19及び送受セレ
クタ装置6を介して入出力ポート3に戻てれ、入出力ポ
ート3は起動されてこのシリアルデータをパラレルデー
タに変換し、このパラレルデータがマイクロプロセッサ
1に戻される。
を入出力ポート2に設定し、入出力ポート2はこれをシ
リアルデータに変換して線11に送出する。この診断デ
ータ(シリアルデータ)は線41 、19及び送受セレ
クタ装置6を介して入出力ポート3に戻てれ、入出力ポ
ート3は起動されてこのシリアルデータをパラレルデー
タに変換し、このパラレルデータがマイクロプロセッサ
1に戻される。
マイクロプロセッサ1は送信した診断データと受信した
診断データとを比較し、診町’R1v /−夕を上位装
置に送出したシして端末制御装置Aの正常性を常時チェ
ックする。
診断データとを比較し、診町’R1v /−夕を上位装
置に送出したシして端末制御装置Aの正常性を常時チェ
ックする。
し発明の効果〕
本発明によれば、端末制御装置側のみでデータ送受信の
チェックが可能となり、端末装置等とのインターフェイ
スの正常性の確認が容易となシ、シかも装置の保守性が
向上する。
チェックが可能となり、端末装置等とのインターフェイ
スの正常性の確認が容易となシ、シかも装置の保守性が
向上する。
図は本発明の一実施例に係る自己診断機能付端末制御装
置のブロック回路図である。 A・・・端末制御装置、 1・・・マイクロプロセ
ッサ、2.3.4 人出力ポート、 5.6.7・・・送受セレクタ装置、 8 、9.10 端末装置。
置のブロック回路図である。 A・・・端末制御装置、 1・・・マイクロプロセ
ッサ、2.3.4 人出力ポート、 5.6.7・・・送受セレクタ装置、 8 、9.10 端末装置。
Claims (1)
- 対応する端末装置に一対一に接続される複数の入出力ポ
ートと、各入出力ポートに接続されたマイクロプロセッ
サとを備え、該マイクロプロセッサにより半2重データ
伝送の制御を行なう端末制御装置において、端末装置と
入出力ポートとの間にデータ折返し機能を有するセレク
タ装置を設け、前記マイクロプロセッサにより各入出ポ
ートの空塞状態を監視し、少なくともいずれか2個の入
出力ポートが空き状態になったとき当該入出力ポートに
接続された端末装置をアウトオブサービス状態にし、該
入出力ポートを介して前記セレクタ装置と前記マイクロ
プロセッサとの間で診断用データを送受するようにした
ことを特徴とする自己診断機能付端末制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59191507A JPS6170640A (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 自己診断機能付端末制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59191507A JPS6170640A (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 自己診断機能付端末制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6170640A true JPS6170640A (ja) | 1986-04-11 |
Family
ID=16275799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59191507A Pending JPS6170640A (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 自己診断機能付端末制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6170640A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01184550A (ja) * | 1988-01-20 | 1989-07-24 | Fujitsu Ltd | 中間制御装置のテスト回路 |
-
1984
- 1984-09-14 JP JP59191507A patent/JPS6170640A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01184550A (ja) * | 1988-01-20 | 1989-07-24 | Fujitsu Ltd | 中間制御装置のテスト回路 |
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