JPS6163584A - 貴金属メツキ層を有するセラミツクスセンサ−の処理方法 - Google Patents
貴金属メツキ層を有するセラミツクスセンサ−の処理方法Info
- Publication number
- JPS6163584A JPS6163584A JP18614284A JP18614284A JPS6163584A JP S6163584 A JPS6163584 A JP S6163584A JP 18614284 A JP18614284 A JP 18614284A JP 18614284 A JP18614284 A JP 18614284A JP S6163584 A JPS6163584 A JP S6163584A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- noble metal
- plating layer
- metal plating
- ceramic
- sensor
- Prior art date
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- Pending
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- Chemically Coating (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、貴金属メッキ層を有するセラミックスセンサ
ーの処理方法に関する。本発明は、自動車の内燃機関や
ボイラーの燃焼管理用の酸素センサーなどに利用するこ
とができる。
ーの処理方法に関する。本発明は、自動車の内燃機関や
ボイラーの燃焼管理用の酸素センサーなどに利用するこ
とができる。
[従来の技術]
近時、セラミックスから作製したセラミックスセンサー
が提供されている。このセラミックスセンサーは、第2
図に示すようにセラミックス製の基体10の表面に貴金
属メッキ層11を形成することによって構成されている
。ところでセラミックス製の基体10は一般にセラミッ
クスの粉末粒子の集合体であり、セラミックス製の基体
10の表面には微細な凹凸が形成されている。そのため
第2図に示すように貴金属メッキ層11が基体10に密
着してない部位13があった。
が提供されている。このセラミックスセンサーは、第2
図に示すようにセラミックス製の基体10の表面に貴金
属メッキ層11を形成することによって構成されている
。ところでセラミックス製の基体10は一般にセラミッ
クスの粉末粒子の集合体であり、セラミックス製の基体
10の表面には微細な凹凸が形成されている。そのため
第2図に示すように貴金属メッキ層11が基体10に密
着してない部位13があった。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明は貴金属メッキ層とセラミックス製の基体との密
着性を向上させ、該貴金属メッキ層とセラミックス製基
体との接触抵抗を一層小さくし、これによりセラミック
スセンサーの性能をより一層向上させるものである。
着性を向上させ、該貴金属メッキ層とセラミックス製基
体との接触抵抗を一層小さくし、これによりセラミック
スセンサーの性能をより一層向上させるものである。
[問題点を解決するための手段]
本発明にかかる貴金属メッキ層を有するセラミックスセ
ンサーの処理方法は、センサーを構成するセラミックス
基体の表面に貴金属メッキ層を付着させる第一の工程と
、 該セラミックス基体をHIP焼成炉に入れて該貴金属メ
ッキ層の軟化温度に加熱すると共に加圧することにより
、軟化した該貴金属メッキ層をセラミックス基体の表面
の凹部に入り込ませて密着させる第二の工程とを順に実
施して成ることを特徴とする貴金属メッキ層を有するも
のである。
ンサーの処理方法は、センサーを構成するセラミックス
基体の表面に貴金属メッキ層を付着させる第一の工程と
、 該セラミックス基体をHIP焼成炉に入れて該貴金属メ
ッキ層の軟化温度に加熱すると共に加圧することにより
、軟化した該貴金属メッキ層をセラミックス基体の表面
の凹部に入り込ませて密着させる第二の工程とを順に実
施して成ることを特徴とする貴金属メッキ層を有するも
のである。
第一の工程ではセンサーを構成するセラミックスM体の
表面に貴金属メッキ層を付着させる。貴金属メッキ層は
通常行なわれる手段でセラミックス基体の表面に付着さ
せることができる。例えば化学メッキ法、電気メッキ法
、スパッタリング法、蒸着法、ペイント法などを選択す
ることができる。
表面に貴金属メッキ層を付着させる。貴金属メッキ層は
通常行なわれる手段でセラミックス基体の表面に付着さ
せることができる。例えば化学メッキ法、電気メッキ法
、スパッタリング法、蒸着法、ペイント法などを選択す
ることができる。
基体を構成するセラミックスは、酸素センサーの場合に
は、一般にジルコニアを用いる。ジルコニアは固体電解
質であり、高い酸素イオン伝導性を持つ。ジルコニアに
はイツトリア(Y2O2>、カルシア(CaO)、酸化
鉄(FeO2)を固溶させることができる。
は、一般にジルコニアを用いる。ジルコニアは固体電解
質であり、高い酸素イオン伝導性を持つ。ジルコニアに
はイツトリア(Y2O2>、カルシア(CaO)、酸化
鉄(FeO2)を固溶させることができる。
セラミックス基体の表面に付着された貴金属メッキ層は
、主として、電極としての機能を果す。
、主として、電極としての機能を果す。
貴金属メッキ層は一般に、白金、銀、金を構成材料とす
る。酸素センサーの場合、貴金属メッキ層の厚みはセン
サーの種類、メッキ層の材質などによって異なるが、一
般に0.5〜2μ程度とする。
る。酸素センサーの場合、貴金属メッキ層の厚みはセン
サーの種類、メッキ層の材質などによって異なるが、一
般に0.5〜2μ程度とする。
酸素センサーの場合には貴金属メッキ層の厚みが2μよ
り厚いと、酸素ガスが通りにくくそれだけ応答性が低下
するからである。尚場合によっては貴金属メッキ層は多
孔質とすることができる。
り厚いと、酸素ガスが通りにくくそれだけ応答性が低下
するからである。尚場合によっては貴金属メッキ層は多
孔質とすることができる。
加圧する。HIP焼成炉は、炉本体とヒータとを有し、
不活性ガス、窒素ガス等を圧力媒体としてhn熱と加圧
とを同時に行なう炉である。ここで。
不活性ガス、窒素ガス等を圧力媒体としてhn熱と加圧
とを同時に行なう炉である。ここで。
貴金属メッキ層として白金層を用いた場合には、加熱す
る温度は300〜1000℃にすることができるが、7
00℃程度とするのが通常である。
る温度は300〜1000℃にすることができるが、7
00℃程度とするのが通常である。
加熱により貴金属を軟化させ、加圧することにより、貴
金属メッキ層はセラミックス基体の表面の凹部に入り込
む。この結果貴金属メッキ層とセラミックス基体とは確
実に密着する。貴金属メッキ層を厚み1μの白金層とし
た場合には、圧力は数k(]/ Cm 2〜数10kq
/cm2、特には5kQ/cm2とすることができる。
金属メッキ層はセラミックス基体の表面の凹部に入り込
む。この結果貴金属メッキ層とセラミックス基体とは確
実に密着する。貴金属メッキ層を厚み1μの白金層とし
た場合には、圧力は数k(]/ Cm 2〜数10kq
/cm2、特には5kQ/cm2とすることができる。
また雰囲気温度は数10℃〜1000℃にすることがで
き、特には500℃とすることができる。炉内保持時間
は数分〜数10分間、特には10分間程度とすることが
できる。
き、特には500℃とすることができる。炉内保持時間
は数分〜数10分間、特には10分間程度とすることが
できる。
第二の工程の終了後、貴金属メッキ層にセラミックコー
ディングを行なってもよい。また第二の工程の前でコー
ティングしても良い。このように貴金属メッキ層にセラ
ミックコーティングを行なえば、自動車の排気ガスなど
から貴金属メッキ層を保護することもできる。
ディングを行なってもよい。また第二の工程の前でコー
ティングしても良い。このように貴金属メッキ層にセラ
ミックコーティングを行なえば、自動車の排気ガスなど
から貴金属メッキ層を保護することもできる。
[発明の効果]
本発明においては、貴金属メッキ層を加熱、軟化させる
と同時に加圧することによりセラミックス基体の表面の
凹部に貴金属メッキ層を入り込ませる構成である。従っ
て貴金属メッキ層とセラミックス基体との密着度合を向
上させることができる。故に貴金属メッキ層とセラミッ
クス基体との接触抵抗が従来の場合に比べてより小さく
なり、それだけセンサーの性能を向上させることができ
る。又貴金属メッキ層とセラミックス基体との密着強度
も向上させることができ、従って該111mメッキ層は
セラミックス基体からはがれにくくなる。
と同時に加圧することによりセラミックス基体の表面の
凹部に貴金属メッキ層を入り込ませる構成である。従っ
て貴金属メッキ層とセラミックス基体との密着度合を向
上させることができる。故に貴金属メッキ層とセラミッ
クス基体との接触抵抗が従来の場合に比べてより小さく
なり、それだけセンサーの性能を向上させることができ
る。又貴金属メッキ層とセラミックス基体との密着強度
も向上させることができ、従って該111mメッキ層は
セラミックス基体からはがれにくくなる。
[実施例]
第1図は本発明の1実施例を示す模式図であり、第1図
はセラミックス基体の表面の微細な凹部に貴金属メッキ
層を入り込ませた状態を示す。木例においでは基体1は
、セラミックスとしてのジルコニアの粉末を所定の形状
に成形し、その後焼結することによって形成されている
。なおジルコニア粉末の平均粒径は0.5〜10μとし
た。セラミックス基体1の表面に付着された貴金属メッ
キIFi2は、白金層であり、化学メッキによるプレメ
ッキと、電気メッキとによって1μの厚みで付着されて
いる。上記のようにセラミックス基体1の表面に貴金属
メッキ層2を付着させたら、次に該貴金属メッキ層2を
700℃に加熱し軟化させた。
はセラミックス基体の表面の微細な凹部に貴金属メッキ
層を入り込ませた状態を示す。木例においでは基体1は
、セラミックスとしてのジルコニアの粉末を所定の形状
に成形し、その後焼結することによって形成されている
。なおジルコニア粉末の平均粒径は0.5〜10μとし
た。セラミックス基体1の表面に付着された貴金属メッ
キIFi2は、白金層であり、化学メッキによるプレメ
ッキと、電気メッキとによって1μの厚みで付着されて
いる。上記のようにセラミックス基体1の表面に貴金属
メッキ層2を付着させたら、次に該貴金属メッキ層2を
700℃に加熱し軟化させた。
加圧は窒素ガスにて1−1 I P熟成炉内圧で5 k
o/ cm2とし、炉内保持時間は10分間とした。上
記のように貴金属メッキ層2の表面を加熱、加圧すれば
、第1図に示すように、軟化した貴金属メッキ筈2は0
口圧によってセラミックス基体1の表面の微細な凹部に
入り込む。この結果セラミックス基体1と貴金属メッキ
層2との密着性は向上し、かつ該貴金属メッキ層2はは
がれにくくなり、セラミックス基体1と負金属メッキ層
2との接触抵抗を小さクシ1q、センサー性能の向上を
図り得る。
o/ cm2とし、炉内保持時間は10分間とした。上
記のように貴金属メッキ層2の表面を加熱、加圧すれば
、第1図に示すように、軟化した貴金属メッキ筈2は0
口圧によってセラミックス基体1の表面の微細な凹部に
入り込む。この結果セラミックス基体1と貴金属メッキ
層2との密着性は向上し、かつ該貴金属メッキ層2はは
がれにくくなり、セラミックス基体1と負金属メッキ層
2との接触抵抗を小さクシ1q、センサー性能の向上を
図り得る。
第1図は本発明の1実施例を示すものであり、セラミッ
クス基体の表面の凹部に貴金属メッキ層を入り込ませた
セラミックスセンサーを模式的に示した断面図である。 第2図は従来のセラミックス基体の表面に貴金属メッキ
層を付着させた状態を模式的に示す断面図である。 図中、1はセラミックス基体、2は貴金属メッキ層を示
す。
クス基体の表面の凹部に貴金属メッキ層を入り込ませた
セラミックスセンサーを模式的に示した断面図である。 第2図は従来のセラミックス基体の表面に貴金属メッキ
層を付着させた状態を模式的に示す断面図である。 図中、1はセラミックス基体、2は貴金属メッキ層を示
す。
Claims (3)
- (1)センサーを構成するセラミックス基体の表面に貴
金属メッキ層を付着させる第一の工程と、該セラミック
ス基体をHIP焼成炉に入れて該貴金属メッキ層の軟化
温度に加熱すると共に加圧することにより、軟化した該
貴金属メッキ層をセラミックス基体の表面の凹部に入り
込ませて密着させる第二の工程とを順に実施して成るこ
とを特徴とする貴金属メッキ層を有するセラミックスセ
ンサーの処理方法。 - (2)貴金属メッキ層は、化学メッキおよび電気メッキ
法により形成されている特許請求の範囲第1項記載の貴
金属メッキ層を有するセラミックスセンサーの処理方法
。 - (3)HIP熱成炉による加熱温度は300〜1000
℃であり、加圧力は3〜30kg/cm^2である特許
請求の範囲第1項記載の貴金属メッキ層を有するセラミ
ックスセンサーの処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18614284A JPS6163584A (ja) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | 貴金属メツキ層を有するセラミツクスセンサ−の処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18614284A JPS6163584A (ja) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | 貴金属メツキ層を有するセラミツクスセンサ−の処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6163584A true JPS6163584A (ja) | 1986-04-01 |
Family
ID=16183111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18614284A Pending JPS6163584A (ja) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | 貴金属メツキ層を有するセラミツクスセンサ−の処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6163584A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03126687A (ja) * | 1989-10-11 | 1991-05-29 | Eagle Ind Co Ltd | セラミックスのメタライズ方法 |
-
1984
- 1984-09-04 JP JP18614284A patent/JPS6163584A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03126687A (ja) * | 1989-10-11 | 1991-05-29 | Eagle Ind Co Ltd | セラミックスのメタライズ方法 |
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