JPS6156982A

JPS6156982A - Ｌｓｉテストデ−タ作成方法

Info

Publication number: JPS6156982A
Application number: JP59177565A
Authority: JP
Inventors: Kazuo Tanmachi; 反町　一夫
Original assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 1984-08-28
Filing date: 1984-08-28
Publication date: 1986-03-22

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明はＬＳＩのシミュレーションで使用するテスト
データの作成方法に関する。

（従来の技術）ＬＳＩのテストデータは、ＬＳＩ回路設計者が作成した
タイムチャート（ＬＳＩのビンに対して入力及び出力す
る信号の状態が記入されたもの）を元に作成され、タイ
ムチャートに従ってテストの手順方法を指定するもので
ある。

従来、このようなＬＳＩテストデータは次のごとき方法
により作成されていた。

■タイムチャート作成ＬＳＩ回路設計者がタイムチャートを作成する。

０信号状態コーディングタイムチャートに従って信号状態をコーディングシート
にコーディングする。

Ｏパンチ依頼コーディングシートのテストデータをキー入力によりフ
ロッピーディスク（以下ＦＤという）に入れる。

■ＦＤ入力ＦＤ中のテストデータをＬＳＩのデータファイ、！　　
　　　　　　ルに入力する。

■プリントアウトデータファイルのテストデータをプリントアウトし、タ
イムチャートに従ってチェックを行ない、ミス内容をリ
ストに記入する。

■修正チェック終了後、リストに記入されたミス内容をＴＳＯ
画面にて修正する。

第２図（第２図（＾）及び（Ｂ））はＬＳＩ回路設計者
が作成したタイムチャートの一例である。このタイムチ
ャートは、第１サイクルのときにクロック端子ｌにクロ
ックが入力され、そのときに他の端子例えばＣＬＲ端子
が、“１”の信号状態でありＢＵＳ６が“Ｏ゛の信号状
態であることを示している。同図中■はクロック端子名
、■は観測端子名、■は入出力属性　（Ｉ：入力、Ｏ：
出力、Ｚ：入出力共用）、■はＨ／Ｌ　　（Ｈ：ｌ、Ｌ
：０　）、■はサイクル番号、■はクロック入力波形、
■はクロックマスク波形、■は“ｌ”状態の波形、■は
“Ｏ”状態の波形を示す。また、［相］のＧＯＮＴはペ
ージ内の最終サイクルまで“１゛または“Ｏ°′状態が
継続されることを意味し、■は入出力共用端子の入力波
形の範囲を示し、Ｏは入出力共用端子の入力→出力への
切換え位置を示し、０は入出力共用端子の出力波形の範
囲を示し、Ｏの×は不定状態を示す。

このようにＬＳＩ回路設計者により作成されたタイムチ
ャートは、従来、人手によりコーディングシートに書き
替えられていた。

第３図（第３図（Ａ）及び（Ｂ））はこのようにして書
き替えられたコーディングシートの一例である。同図に
おいてｔＣは１サイクル目のタイミング（なお観測端子
名ＣＬＲよりＢＵＳ７までは同タイミング）、ＣＬＲは
観測端子名、く＝は入力する信号状態、？−は出力する
信号状態をそれぞれ示す。

このシートへの記載は、例えばｌサイクル１ｍ（ＩＣと
書く）のタイミングで観測端子ＣＬＲは信号状態“ｔ”
を入力され、同様に２サイクル目の観測端子ＡＯは出力
信号の期待値“０゛をテストするという意味であるよう
になさ、れている。

次にタイムチャートからコーディングシートへの変換方
法につき第４図に基づいて説明する。

テストデータファイルの作成において、変換のポイント
（第４図中Ｏ印で示す）は、入力端子Ｉの場合には信号
の変化点、出力端子０の場合には各サイクルの信号点（
信号の変化に関係ない各サイクルのポイント）、入出力
共用端子Ｚの場合には入力側のとき信号の変化点、出力
側のとき各サイクルの信号点をそれぞれ変換ポイントと
する。

ここでは第２図より取り出した観測端子名ＷＲ，ＢＵＳ
７、ＩＰＴについて説明する。まずあるタイミングにお
ける観測端子がとる信号状態をポイントに従って調べる
と、例えば１サイクル目（ＩＣ）のとき入力端子Ｗ、Ｒ
はＨすなわち“ｌ”でありテストデータはｒＷＲ＜＝Ｉ
Ｊとなる。なおテストデータの「＜」は入力、「？」は
出力を意味する。同様にＢｔｌＳ７は“１”であり　ｒ
ＢＵｓ７　　＜＝ＩＪ　となる０次にタイミングを２サ
イクル目（２Ｃ）に移し、出力端子の信号状態、入力端
子の順でポイントに従って調べると、ＩＰＴはＬすなわ
ち“０°゛であり、ｒ２ＣＩＦＴ　　？＝ＯＪ　となる
。またＷＲはＬすなわち“０゛でｒＷＲ＜＝ＯＪとなる
。このときの入出力端子ＢＵＳ７は入力端子より出力端
子へ切り換えるための状態値“Ｕ”を取りｒＢＵｓ７く
＝Ｕ」となる。更にタイミングを順次３サイクル目、４
サイクル目、−一一一とし、上記と同様に調ベテストデ
ータファイルを作成する。なお第５図にこのようにして
作成されたテストデータ例を示す。

（発明が解決しようとする問題点）しかしながら、上記のような従来のＬＳＩテストデータ
作成方法にあっては、全ての作業に人が介在しており、
従って作業が進むにつれ、例えばコーディングミス、バ
ンチミス、チェックミス、修正ミス等、ミスも多種多様
となる欠点があった。また場合によっては、ＬＳＩ回路
設計者の納期に応えるため、人海戦術をとらざるをえゞ
！　　　　　　　ないのが実情であった。

従って、この発明は、人手によるコーディングシートの
作成のステップをなくし、すなわちコーディングシート
からのパンチ作業をなくし、テストデータとタイムチャ
ートとの人手によるチェックのステップをなくして、ミ
スのないスピーディなＬＳＩテストデータ作成方法を提
供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段）この発明は、ＬＳＩの端子名と該端子に対する入出力の
信号状態□の時間的変化を表わす波形とがそれぞれ記載
されたタイムチャートから、各サイクル時間毎に各端子
の入出力信号状態が記号により現わされたＬＳＩテスト
データを作成するＬＳＩテストデータ作成方法において
、前記端子名とその端子の入出力属性を対応番号ととも
にキー入力して文字ファイルを作成し、前記信号状態の
波形をデジタイズし対応番号とともに入力して波形ファ
イルを作成し、前記文字ファイルの情報と前記波形ファ
イルの情報とを前記対応番号をもとに対応させて統合フ
ァイルを作成し、該統合ファイルのデータを所定のアル
ゴリズムに従ってＬＳＩテストデータに変換してテスト
データファイルを作成するようにしたものである。

（作用）この発明の方法によれば、人手によるコーディングシー
トの作成、コーディングシートからのパンチ作業、人手
によるテストデータとタイムチャートのチェックを要し
ないで、タイムチャートをもとにキー入力及びデジタイ
ズ入力を使用してＬＳＩテストデータが作成される。従
って、前記従来技術の問題点を解決することが可能とな
る。

（実施例）以下この発明の実施例を第１図に基づいて説明する。

本実施例のＬＳＩテストデータ作成の手順は次の通りで
ある。

＠文字ファイル作成キー入力によりＰＩＮ　ＮＡＭＥ欄のデータ（観測端子
：　ｌ　、　ＣＬＲ等）を対応番号を付して入力し、文
字ファイルを作成する（第６図）、例えばキーより観測
端子名（１，ＣＬＲ，ＷＲ−−−−）、入出力属性（Ｉ
、０．Ｚ）のようにタイムチャート内の英数字だけを入
力する。対応番号はデジタイザにより入力された波形と
の対応づけのためのものである。

Ｏ波形ファイル作成図形入力により該当端子の信号状態の時間的変化を表わ
す波形（クロック波形、入力波形、出力波形等）を順次
デジタイズし対応番号を付して入力し、波形ファイルを
作成する。

Ｏ対応づけ文字ファイルのデータ（Ｉ！ｌ測端子）と波形ファイル
のデータ（波形）を対応番号をもとに統合する。この時
両者の数をチェックし処理結果を統合ファイルに記憶す
る。

、■統合データ出力統合ファイルの内容をプリントアウトしチェッりに使用
する。チェックは、タイムチャートの波形とプリントア
ウトした波形を重ね合わせることにより行なう。

■変換及びテストデータファイル作成・統合ファイル内のデータを所定のアルゴリズムに従っ
てテストデータに変換しテストデータファイルを作成す
る。

■修正タイムチャート１枚ごとキー入力、デジタイズ入力レベ
ルで処理する。

なお、キー入力部のフローチャートを第６図に示す、こ
こではタイムチャートに記載された観測端子名とその端
子の入出力属性とを入力し、文字ファイルを作成する。

この時、観測端子名及び入出力属性をキー入力し、次い
で標準観測端子名ファイル上の対応番号をキー入力する
。ここで作成された文字ファイルは標準観測端子名ファ
イルとし登録する。

：・　　　　　　よえ、１６７、イ７．．よラフファイ
ｔＬｙ（ｙ’＜’；１ル情報）と波形ファイル（波形情
報＝ディジタル　　。

化したアナログ情報）とを統合したものであるが、後の
変換の作業を容易化するためには波形情報はサイクル時
間毎に“０゛および１゛。

のディジタル情報で記憶されているものがよい。

更に、統合ファイルからテストデータファイルに変換す
るアルゴリズムは第４図及びこれに関する記載を参照す
れば理解が容易であるので説明は省略する。

（発明の効果）以上詳細に説明したように、本発明によれば人手によら
ないでＬＳＩテストデータを作成することができるので
、ミスが少なくかつ迅速にＬＳＩテストデータを作成す
ることが加能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の詳細な説明するためのフローチャート
、第２図（Ａ）および第２図（Ｂ）はタイムチャートの
一例を示す図、第３図（Ａ’）および第３図（Ｂ）はコ
ーディングシートの一例を示す図、第４図はテストデー
タへの変換方法を説明す１するための図、第５図はテストデータ例を示す図、第６図
はキー入力部のフローチャートである。特　　許　　出　　願　　人沖電気工業株式会社特許出願代理人弁　理　士　　　　　山　　木　　恵　　−峯４図犯５図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）ＬＳＩの端子名と該端子に対する入出力の信号状
態の時間的変化を表わす波形とがそれぞれ記載されたタ
イムチャートから、各サイクル時間毎に各端子の入出力
信号状態が記号により現わされたＬＳＩテストデータを
作成するＬＳＩテストデータ作成方法において、前記端
子名とその端子の入出力属性を対応番号とともにキー入
力して文字ファイルを作成し、前記信号状態の波形をデ
ジタイズし対応番号とともに入力して波形ファイルを作
成し、前記文字ファイルの情報と前記波形ファイルの情
報とを前記対応番号をもとに対応させて統合ファイルを
作成し、該統合ファイルのデータを所定のアルゴリズム
に従ってＬＳＩテストデータに変換してテストデータフ
ァイルを作成することを特徴とするＬＳＩテストデータ
作成方法。
（２）前記統合ファイルがディジタル情報であることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＬＳＩテストデ
ータ作成方法。
（３）前記アルゴリズムが次の手順からなることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載のＬＳＩテストデータ
作成方法。（イ）観測端子が入力端子であるとき、サイクル毎に変
化点を検出し、変化点毎にテストデータファイルに記憶
する。（ロ）観測端子が出力端子であるとき、サイクル毎にテ
ストデータファイルに記憶する。（ハ）観測端子が入出力共用端子であるとき、前記（イ
）又は（ロ）に従って、テストデータファイルに記憶す
る。