JPH10320440A - 論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認方法及びその装置 - Google Patents
論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH10320440A JPH10320440A JP9130573A JP13057397A JPH10320440A JP H10320440 A JPH10320440 A JP H10320440A JP 9130573 A JP9130573 A JP 9130573A JP 13057397 A JP13057397 A JP 13057397A JP H10320440 A JPH10320440 A JP H10320440A
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- Japan
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- logic
- characteristic data
- circuit
- test pattern
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 単純な人為的ミスを低減し、動作確認工数を
低減する。 【解決手段】 論理シミュレーションライブラリ１０
１、電子回路１０２及びテストパターン１０３をそれぞ
れ論理回路図や真理値表を基に手作業により作成し、回
路シミュレーション用テストパターン１０５をテストパ
ターン１０３を基にテストパターン書式変換手段１０４
によって自動作成し、論理動作特性データ１０８を論理
シミュレーション手段１０６によって作成し、回路動作
特性データ１０９を回路シミュレーション手段１０７に
よって作成し、論理動作特性データ１０８を基に、動作
確認手段１１０によって手作業による動作確認を行い、
同様に、回路動作特性データ１０９を基に、動作確認手
段１１１によって手作業による動作確認を行い、論理シ
ミュレーションライブラリ１０１と電子回路１０２が同
じ論理動作を有しているかを確認する。
低減する。 【解決手段】 論理シミュレーションライブラリ１０
１、電子回路１０２及びテストパターン１０３をそれぞ
れ論理回路図や真理値表を基に手作業により作成し、回
路シミュレーション用テストパターン１０５をテストパ
ターン１０３を基にテストパターン書式変換手段１０４
によって自動作成し、論理動作特性データ１０８を論理
シミュレーション手段１０６によって作成し、回路動作
特性データ１０９を回路シミュレーション手段１０７に
よって作成し、論理動作特性データ１０８を基に、動作
確認手段１１０によって手作業による動作確認を行い、
同様に、回路動作特性データ１０９を基に、動作確認手
段１１１によって手作業による動作確認を行い、論理シ
ミュレーションライブラリ１０１と電子回路１０２が同
じ論理動作を有しているかを確認する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路装
置を構成する半導体集積回路内の論理シミュレーション
ライブラリと論理シミュレーションライブラリに対応し
た電子回路の動作確認方法及びその装置に関するもので
ある。
置を構成する半導体集積回路内の論理シミュレーション
ライブラリと論理シミュレーションライブラリに対応し
た電子回路の動作確認方法及びその装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】一般に、半導体集積回路の設計を行う
際、半導体集積回路の論理検証は、論理回路シミュレー
ションによって行われている。論理回路シミュレーショ
ンでは、半導体集積回路の論理接続情報を格納した論理
ファイルをもとに、半導体集積回路の動作を電子計算機
上に再現し、その半導体集積回路が設計者の期待通りの
動きをするかどうか確認することにより、設計中の論理
に不良があるかどうかを検査する。
際、半導体集積回路の論理検証は、論理回路シミュレー
ションによって行われている。論理回路シミュレーショ
ンでは、半導体集積回路の論理接続情報を格納した論理
ファイルをもとに、半導体集積回路の動作を電子計算機
上に再現し、その半導体集積回路が設計者の期待通りの
動きをするかどうか確認することにより、設計中の論理
に不良があるかどうかを検査する。
【０００３】論理回路シミュレーションを実行するため
には、半導体集積回路を構成している半導体素子（例え
ば、インバータやナンド等）の論理シミュレーションラ
イブラリが必要である。一方、半導体集積回路のマスク
パターンは、半導体集積回路を構成している半導体素子
のトランジスタレベルの接続情報（以下、電子回路と称
する）を基に作成される。
には、半導体集積回路を構成している半導体素子（例え
ば、インバータやナンド等）の論理シミュレーションラ
イブラリが必要である。一方、半導体集積回路のマスク
パターンは、半導体集積回路を構成している半導体素子
のトランジスタレベルの接続情報（以下、電子回路と称
する）を基に作成される。
【０００４】したがって、半導体集積回路を構成してい
る半導体素子の論理シミュレーションライブラリと、そ
れに対応した半導体素子の電子回路が同じ論理動作を有
する必要がある。以下、従来の論理シミュレーションラ
イブラリと電子回路の動作確認装置について説明する。
る半導体素子の論理シミュレーションライブラリと、そ
れに対応した半導体素子の電子回路が同じ論理動作を有
する必要がある。以下、従来の論理シミュレーションラ
イブラリと電子回路の動作確認装置について説明する。
【０００５】図１２は従来の論理シミュレーションライ
ブラリと電子回路の動作確認方式を示す図である。論理
シミュレーションライブラリ１、電子回路２及びテスト
パターン３はそれぞれ、論理回路図や真理値表を基にし
て手作業により作成している。回路シミュレーション用
テストパターン５は、テストパターン３を基にして、手
作業による書式変換手段４によって作成している。
ブラリと電子回路の動作確認方式を示す図である。論理
シミュレーションライブラリ１、電子回路２及びテスト
パターン３はそれぞれ、論理回路図や真理値表を基にし
て手作業により作成している。回路シミュレーション用
テストパターン５は、テストパターン３を基にして、手
作業による書式変換手段４によって作成している。
【０００６】論理動作特性データ８は、論理シミュレー
ションライブラリ１とテストパターン３を基にして、論
理シミュレーション手段６によって作成される。回路動
作特性データ９は、電子回路２と回路シミュレーション
用テストパターン５を基にして、回路シミュレーション
手段７によって作成される。設計者は、論理動作特性デ
ータ８を基にして、動作確認手段１０によって手作業に
よる動作確認を行い、同様に回路動作特性データ９を基
にして、動作確認手段１１によって手作業による動作確
認を行うことにより、論理シミュレーションライブラリ
１と電子回路２が同じ論理動作を有しているかを確認し
ている。
ションライブラリ１とテストパターン３を基にして、論
理シミュレーション手段６によって作成される。回路動
作特性データ９は、電子回路２と回路シミュレーション
用テストパターン５を基にして、回路シミュレーション
手段７によって作成される。設計者は、論理動作特性デ
ータ８を基にして、動作確認手段１０によって手作業に
よる動作確認を行い、同様に回路動作特性データ９を基
にして、動作確認手段１１によって手作業による動作確
認を行うことにより、論理シミュレーションライブラリ
１と電子回路２が同じ論理動作を有しているかを確認し
ている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記従来の
論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認
装置においては、設計者はテストパターン３を基にし
て、手作業による書式変換手段４によって回路シミュレ
ーション用テストパターン５を作成するため、単純な人
為的ミスが起こる可能性が高い作業となっている。
論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認
装置においては、設計者はテストパターン３を基にし
て、手作業による書式変換手段４によって回路シミュレ
ーション用テストパターン５を作成するため、単純な人
為的ミスが起こる可能性が高い作業となっている。
【０００８】また、論理動作特性データ８の書式と、回
路動作特性データ９の書式が異なっているため、設計者
は、論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作
確認をそれぞれ個別に行う必要があり、非常に工数のか
かる作業となっている。このような状況に鑑み、本発明
は、単純な人為的ミスを低減し、動作確認工数を低減す
ることができる論理シミュレーションライブラリと電子
回路の動作確認方法及びその装置を提供することを目的
とする。
路動作特性データ９の書式が異なっているため、設計者
は、論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作
確認をそれぞれ個別に行う必要があり、非常に工数のか
かる作業となっている。このような状況に鑑み、本発明
は、単純な人為的ミスを低減し、動作確認工数を低減す
ることができる論理シミュレーションライブラリと電子
回路の動作確認方法及びその装置を提供することを目的
とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 〔１〕半導体集積回路装置を構成する半導体集積回路内
の論理シミュレーションライブラリと、この論理シミュ
レーションライブラリに対応した電子回路の動作確認方
法において、論理シミュレーションライブラリ１０１を
論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成し、
電子回路１０２を論理回路図や真理値表を基にして手作
業により作成し、テストパターン１０３を論理回路図や
真理値表を基にして手作業により作成し、回路シミュレ
ーション用テストパターン１０５を前記テストパターン
１０３を基にして、テストパターン書式変換手段１０４
によって自動作成し、論理動作特性データ１０８を前記
論理シミュレーションライブラリ１０１とテストパター
ン１０３を基にして、論理シミュレーション手段１０６
によって作成し、回路動作特性データ１０９を前記電子
回路１０２と前記回路シミュレーション用テストパター
ン１０５を基にして、回路シミュレーション手段１０７
によって作成し、論理動作特性データ１０８を基にし
て、動作確認手段１１０によって手作業による動作確認
を行い、同様に、回路動作特性データ１０９を基にし
て、動作確認手段１１１によって手作業による動作確認
を行うことにより、前記論理シミュレーションライブラ
リ１０１と前記電子回路１０２が同じ論理動作を有して
いるかを確認するようにしたものである。
成するために、 〔１〕半導体集積回路装置を構成する半導体集積回路内
の論理シミュレーションライブラリと、この論理シミュ
レーションライブラリに対応した電子回路の動作確認方
法において、論理シミュレーションライブラリ１０１を
論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成し、
電子回路１０２を論理回路図や真理値表を基にして手作
業により作成し、テストパターン１０３を論理回路図や
真理値表を基にして手作業により作成し、回路シミュレ
ーション用テストパターン１０５を前記テストパターン
１０３を基にして、テストパターン書式変換手段１０４
によって自動作成し、論理動作特性データ１０８を前記
論理シミュレーションライブラリ１０１とテストパター
ン１０３を基にして、論理シミュレーション手段１０６
によって作成し、回路動作特性データ１０９を前記電子
回路１０２と前記回路シミュレーション用テストパター
ン１０５を基にして、回路シミュレーション手段１０７
によって作成し、論理動作特性データ１０８を基にし
て、動作確認手段１１０によって手作業による動作確認
を行い、同様に、回路動作特性データ１０９を基にし
て、動作確認手段１１１によって手作業による動作確認
を行うことにより、前記論理シミュレーションライブラ
リ１０１と前記電子回路１０２が同じ論理動作を有して
いるかを確認するようにしたものである。
【００１０】〔２〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、論理シミュレーションライブ
ラリ２０１を論理回路図や真理値表を基にして手作業に
より作成し、電子回路２０２を論理回路図や真理値表を
基にして手作業により作成し、テストパターン２０３を
論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成し、
回路シミュレーション用テストパターン２０５を前記テ
ストパターン２０３を基にして、手作業による書式変換
手段２０４によって作成し、論理動作特性データ２０８
を前記論理シミュレーションライブラリ２０１と、前記
テストパターン２０３を基にして、論理シミュレーショ
ン手段２０６によって作成し、回路動作特性データ２０
９を前記電子回路２０２と前記回路シミュレーション用
テストパターン２０５を基にして、回路シミュレーショ
ン手段２０７によって作成し、動作特性データ２１１を
前記論理動作特性データ２０８と前記回路動作特性デー
タ２０９を基にして、特性データ書式変換手段２１０に
よって作成し、前記動作特性データ２１１を基にして、
手作業による動作確認を行うことにより、前記論理シミ
ュレーションライブラリ２０１と、前記電子回路２０２
が同じ論理動作を有しているかを確認するようにしたも
のである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、論理シミュレーションライブ
ラリ２０１を論理回路図や真理値表を基にして手作業に
より作成し、電子回路２０２を論理回路図や真理値表を
基にして手作業により作成し、テストパターン２０３を
論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成し、
回路シミュレーション用テストパターン２０５を前記テ
ストパターン２０３を基にして、手作業による書式変換
手段２０４によって作成し、論理動作特性データ２０８
を前記論理シミュレーションライブラリ２０１と、前記
テストパターン２０３を基にして、論理シミュレーショ
ン手段２０６によって作成し、回路動作特性データ２０
９を前記電子回路２０２と前記回路シミュレーション用
テストパターン２０５を基にして、回路シミュレーショ
ン手段２０７によって作成し、動作特性データ２１１を
前記論理動作特性データ２０８と前記回路動作特性デー
タ２０９を基にして、特性データ書式変換手段２１０に
よって作成し、前記動作特性データ２１１を基にして、
手作業による動作確認を行うことにより、前記論理シミ
ュレーションライブラリ２０１と、前記電子回路２０２
が同じ論理動作を有しているかを確認するようにしたも
のである。
【００１１】〔３〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、論理シミュレーションライブ
ラリ３０１を論理回路図や真理値表を基にして手作業に
より作成し、電子回路３０２を論理回路図や真理値表を
基にして手作業により作成し、テストパターン３０３を
論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成し、
回路シミュレーション用テストパターン３０５を前記テ
ストパターン３０３を基にして、テストパターン書式変
換手段３０４によって自動作成し、論理動作特性データ
３０８を前記論理シミュレーションライブラリ３０１
と、前記テストパターン３０３を基にして、論理シミュ
レーション手段３０６によって作成し、回路動作特性デ
ータ３０９を前記電子回路３０２と前記回路シミュレー
ション用テストパターン３０５を基にして、回路シミュ
レーション手段３０７によって作成し、動作特性データ
３１１を前記論理動作特性データ３０８と前記回路動作
特性データ３０９を基にして、特性データ書式変換手段
３１０によって作成し、前記動作特性データ３１１を基
にして、動作確認手段３１２によって手作業による動作
確認を行うことにより、前記論理シミュレーションライ
ブラリ３０１と、前記電子回路３０２が同じ論理動作を
有しているかを確認するようにしたものである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、論理シミュレーションライブ
ラリ３０１を論理回路図や真理値表を基にして手作業に
より作成し、電子回路３０２を論理回路図や真理値表を
基にして手作業により作成し、テストパターン３０３を
論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成し、
回路シミュレーション用テストパターン３０５を前記テ
ストパターン３０３を基にして、テストパターン書式変
換手段３０４によって自動作成し、論理動作特性データ
３０８を前記論理シミュレーションライブラリ３０１
と、前記テストパターン３０３を基にして、論理シミュ
レーション手段３０６によって作成し、回路動作特性デ
ータ３０９を前記電子回路３０２と前記回路シミュレー
ション用テストパターン３０５を基にして、回路シミュ
レーション手段３０７によって作成し、動作特性データ
３１１を前記論理動作特性データ３０８と前記回路動作
特性データ３０９を基にして、特性データ書式変換手段
３１０によって作成し、前記動作特性データ３１１を基
にして、動作確認手段３１２によって手作業による動作
確認を行うことにより、前記論理シミュレーションライ
ブラリ３０１と、前記電子回路３０２が同じ論理動作を
有しているかを確認するようにしたものである。
【００１２】〔４〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、論理シミュレーションライブ
ラリ４０１を論理回路図や真理値表を基にして手作業に
より作成し、テストパターン４０２を論理回路図や真理
値表を基にして手作業により作成し、寄生容量・寄生抵
抗抽出手段４０５はマスクパターン４０３から寄生容量
・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７を抽出し、回路シミ
ュレーション用テストパターン４０６を、前記テストパ
ターン４０２を基にして、テストパターン書式変換手段
４０４によって自動作成し、論理動作特性データ４１０
を前記論理シミュレーションライブラリ４０１と前記テ
ストパターン４０２を基にして、論理シミュレーション
手段４０８によって作成し、回路動作特性データ４１１
を前記寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７と前
記回路シミュレーション用テストパターン４０６を基に
して、回路シミュレーション手段４０９によって作成
し、動作特性データ４１３を前記論理動作特性データ４
１０と前記回路動作特性データ４１１を基にして、特性
データ書式変換手段４１２によって作成し、動作特性デ
ータ４１３を基にして、動作確認手段４１４によって手
作業による動作確認を行うことにより、前記論理シミュ
レーションライブラリ４０１と、前記寄生容量・寄生抵
抗を含んだ電子回路４０７が同じ論理動作を有している
かを確認するようにしたものである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、論理シミュレーションライブ
ラリ４０１を論理回路図や真理値表を基にして手作業に
より作成し、テストパターン４０２を論理回路図や真理
値表を基にして手作業により作成し、寄生容量・寄生抵
抗抽出手段４０５はマスクパターン４０３から寄生容量
・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７を抽出し、回路シミ
ュレーション用テストパターン４０６を、前記テストパ
ターン４０２を基にして、テストパターン書式変換手段
４０４によって自動作成し、論理動作特性データ４１０
を前記論理シミュレーションライブラリ４０１と前記テ
ストパターン４０２を基にして、論理シミュレーション
手段４０８によって作成し、回路動作特性データ４１１
を前記寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７と前
記回路シミュレーション用テストパターン４０６を基に
して、回路シミュレーション手段４０９によって作成
し、動作特性データ４１３を前記論理動作特性データ４
１０と前記回路動作特性データ４１１を基にして、特性
データ書式変換手段４１２によって作成し、動作特性デ
ータ４１３を基にして、動作確認手段４１４によって手
作業による動作確認を行うことにより、前記論理シミュ
レーションライブラリ４０１と、前記寄生容量・寄生抵
抗を含んだ電子回路４０７が同じ論理動作を有している
かを確認するようにしたものである。
【００１３】〔５〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、この論理シミュレーションラ
イブラリ５０１を論理回路図や真理値表を基にして手作
業により作成し、電子回路５０２を論理回路図や真理値
表を基にして手作業により作成し、テストパターン５０
３を論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成
し、回路シミュレーション用テストパターン５０５を前
記テストパターン５０３を基にして、テストパターン書
式変換手段５０４によって自動作成し、既に論理シミュ
レーションを実施したかどうか判定する手段５０６を、
動作確認を行うべき半導体素子が、既に論理シミュレー
ションを実施したかどうかを論理動作特性データ格納手
段５０７及び論理動作特性データ群５０８を基にして判
定し、既に論理シミュレーションを実施していれば、論
理シミュレーション手段５０９を介さずに、他方、論理
シミュレーションを実施していなければ、前記論理シミ
ュレーションライブラリ５０１と前記テストパターン５
０３を基にして、前記論理シミュレーション手段５０９
によって、論理動作特性データ５１１を作成し、前記論
理動作特性データ格納手段５０７によって、前記論理動
作特性データ５１１を論理動作特性データ群５０８に格
納し、回路動作特性データ５１２を前記電子回路５０２
と前記回路シミュレーション用テストパターン５０５を
基にして、回路シミュレーション手段５１０によって作
成し、動作特性データ５１４を、前記論理動作特性デー
タ群５０８から抽出した前記論理動作特性データ５１１
と前記回路動作特性データ５１２を基にして、特性デー
タ書式変換手段５１３によって作成し、動作特性データ
５１４を基にして、動作確認手段５１５によって手作業
による動作確認を行うことにより、前記論理シミュレー
ションライブラリ５０１と前記電子回路５０２が同じ論
理動作を有しているかを確認するようにしたものであ
る。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認方法において、この論理シミュレーションラ
イブラリ５０１を論理回路図や真理値表を基にして手作
業により作成し、電子回路５０２を論理回路図や真理値
表を基にして手作業により作成し、テストパターン５０
３を論理回路図や真理値表を基にして手作業により作成
し、回路シミュレーション用テストパターン５０５を前
記テストパターン５０３を基にして、テストパターン書
式変換手段５０４によって自動作成し、既に論理シミュ
レーションを実施したかどうか判定する手段５０６を、
動作確認を行うべき半導体素子が、既に論理シミュレー
ションを実施したかどうかを論理動作特性データ格納手
段５０７及び論理動作特性データ群５０８を基にして判
定し、既に論理シミュレーションを実施していれば、論
理シミュレーション手段５０９を介さずに、他方、論理
シミュレーションを実施していなければ、前記論理シミ
ュレーションライブラリ５０１と前記テストパターン５
０３を基にして、前記論理シミュレーション手段５０９
によって、論理動作特性データ５１１を作成し、前記論
理動作特性データ格納手段５０７によって、前記論理動
作特性データ５１１を論理動作特性データ群５０８に格
納し、回路動作特性データ５１２を前記電子回路５０２
と前記回路シミュレーション用テストパターン５０５を
基にして、回路シミュレーション手段５１０によって作
成し、動作特性データ５１４を、前記論理動作特性デー
タ群５０８から抽出した前記論理動作特性データ５１１
と前記回路動作特性データ５１２を基にして、特性デー
タ書式変換手段５１３によって作成し、動作特性データ
５１４を基にして、動作確認手段５１５によって手作業
による動作確認を行うことにより、前記論理シミュレー
ションライブラリ５０１と前記電子回路５０２が同じ論
理動作を有しているかを確認するようにしたものであ
る。
【００１４】〔６〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ１０１とテストパターン１０３を基にして、論理動
作特性データ１０８を作成する論理シミュレーション手
段１０６と、前記テストパターン１０３を基にして回路
シミュレーション用テストパターン１０５を作成するテ
ストパターン書式変換手段１０４と、電子回路１０２と
前記回路シミュレーション用テストパターン１０５を基
にして回路動作特性データ１０９を作成する回路シミュ
レーション手段１０７と、前記論理動作特性データ１０
８を基にして、動作確認を行う手作業による動作確認手
段１１０と、前記回路動作特性データ１０９を基にし
て、動作確認を行う手作業による動作確認手段１１１と
を具備するようにしたものである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ１０１とテストパターン１０３を基にして、論理動
作特性データ１０８を作成する論理シミュレーション手
段１０６と、前記テストパターン１０３を基にして回路
シミュレーション用テストパターン１０５を作成するテ
ストパターン書式変換手段１０４と、電子回路１０２と
前記回路シミュレーション用テストパターン１０５を基
にして回路動作特性データ１０９を作成する回路シミュ
レーション手段１０７と、前記論理動作特性データ１０
８を基にして、動作確認を行う手作業による動作確認手
段１１０と、前記回路動作特性データ１０９を基にし
て、動作確認を行う手作業による動作確認手段１１１と
を具備するようにしたものである。
【００１５】〔７〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ２０１とテストパターン２０３を基にして、論理動
作特性データ２０８を作成する論理シミュレーション手
段２０６と、テストパターン２０３を基にして、回路シ
ミュレーション用テストパターン２０５を作成する手作
業による書式変換手段２０４と、電子回路２０２と前記
回路シミュレーション用テストパターン２０５を基にし
て、回路動作特性データ２０９を作成する回路シミュレ
ーション手段２０７と、前記論理動作特性データ２０８
と前記回路動作特性データ２０９を基にして、動作特性
データ２１１を作成する特性データ書式変換手段２１０
と、前記動作特性データ２１１を基にして、動作確認を
行う手作業による動作確認手段２１２を具備するように
したものである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ２０１とテストパターン２０３を基にして、論理動
作特性データ２０８を作成する論理シミュレーション手
段２０６と、テストパターン２０３を基にして、回路シ
ミュレーション用テストパターン２０５を作成する手作
業による書式変換手段２０４と、電子回路２０２と前記
回路シミュレーション用テストパターン２０５を基にし
て、回路動作特性データ２０９を作成する回路シミュレ
ーション手段２０７と、前記論理動作特性データ２０８
と前記回路動作特性データ２０９を基にして、動作特性
データ２１１を作成する特性データ書式変換手段２１０
と、前記動作特性データ２１１を基にして、動作確認を
行う手作業による動作確認手段２１２を具備するように
したものである。
【００１６】〔８〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ３０１とテストパターン３０３を基にして、論理動
作特性データ３０８を作成する論理シミュレーション手
段３０６と、前記テストパターン３０３を基にして、回
路シミュレーション用テストパターン３０５を作成する
テストパターン書式変換手段３０４と、電子回路３０２
と前記回路シミュレーション用テストパターン３０５を
基にして回路動作特性データ３０９を作成する回路シミ
ュレーション手段３０７と、前記論理動作特性データ３
０８と前記回路動作特性データ３０９を基にして、動作
特性データ３１１を作成する特性データ書式変換手段３
１０と、前記動作特性データ３１１を基にして、動作確
認を行う手作業による動作確認手段３１２を具備するよ
うにしたものである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ３０１とテストパターン３０３を基にして、論理動
作特性データ３０８を作成する論理シミュレーション手
段３０６と、前記テストパターン３０３を基にして、回
路シミュレーション用テストパターン３０５を作成する
テストパターン書式変換手段３０４と、電子回路３０２
と前記回路シミュレーション用テストパターン３０５を
基にして回路動作特性データ３０９を作成する回路シミ
ュレーション手段３０７と、前記論理動作特性データ３
０８と前記回路動作特性データ３０９を基にして、動作
特性データ３１１を作成する特性データ書式変換手段３
１０と、前記動作特性データ３１１を基にして、動作確
認を行う手作業による動作確認手段３１２を具備するよ
うにしたものである。
【００１７】
〔９〕半導体集積回路装置を構成する半導
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ４０１とテストパターン４０２を基にして、論理動
作特性データ４１０を作成する論理シミュレーション手
段４０８と、前記テストパターン４０２を基にして、回
路シミュレーション用テストパターン４０６を作成する
テストパターン書式変換手段４０４と、マスクパターン
４０３を基にして、寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回
路４０７を作成する寄生容量・寄生抵抗抽出手段４０５
と、前記寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７と
前記回路シミュレーション用テストパターン４０６を基
にして、回路動作特性データ４１１を作成する回路シミ
ュレーション手段４０９と、前記論理動作特性データ４
１０と前記回路動作特性データ４１１を基にして、動作
特性データ４１３を作成する特性データ書式変換手段４
１２と、前記動作特性データ４１３を基にして、動作確
認を行う手作業による動作確認手段４１４を具備するよ
うにしたものである。
体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、こ
の論理シミュレーションライブラリに対応した電子回路
の動作確認装置において、論理シミュレーションライブ
ラリ４０１とテストパターン４０２を基にして、論理動
作特性データ４１０を作成する論理シミュレーション手
段４０８と、前記テストパターン４０２を基にして、回
路シミュレーション用テストパターン４０６を作成する
テストパターン書式変換手段４０４と、マスクパターン
４０３を基にして、寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回
路４０７を作成する寄生容量・寄生抵抗抽出手段４０５
と、前記寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７と
前記回路シミュレーション用テストパターン４０６を基
にして、回路動作特性データ４１１を作成する回路シミ
ュレーション手段４０９と、前記論理動作特性データ４
１０と前記回路動作特性データ４１１を基にして、動作
特性データ４１３を作成する特性データ書式変換手段４
１２と、前記動作特性データ４１３を基にして、動作確
認を行う手作業による動作確認手段４１４を具備するよ
うにしたものである。
【００１８】〔１０〕半導体集積回路装置を構成する半
導体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、
この論理シミュレーションライブラリに対応した電子回
路の動作確認装置において、論理動作特性データ格納手
段５０７及び論理動作特性データ群５０８を基にして、
既に論理シミュレーションを実施したかどうかを判定す
る手段５０６と、半導体素子が論理シミュレーションを
実施していなければ、論理シミュレーションライブラリ
５０１とテストパターン５０３を基にして、論理動作特
性データ５１１を作成する論理シミュレーション手段５
０９と、この論理動作特性データ５１１を、前記論理動
作特性データ群５０８に格納する論理動作特性データ格
納手段５０７と、前記半導体素子が論理シミュレーショ
ンを実施していれば、前記論理動作特性データ群５０８
から、前記論理動作特性データ５１１を抽出する論理動
作特性データ格納手段５０７と、前記テストパターン５
０３を基にして、回路シミュレーション用テストパター
ン５０５を作成するテストパターン書式変換手段５０４
と、電子回路５０２と前記回路シミュレーション用テス
トパターン５０５を基にして、回路動作特性データ５１
２を作成する回路シミュレーション手段５１０と、前記
論理動作特性データ格納手段５０７から抽出された前記
論理動作特性データ５１１と、前記回路動作特性データ
５１２を基にして、動作特性データ５１４を作成する特
性データ書式変換手段５１３と、前記動作特性データ５
１４を基にして、動作確認を行う手作業による動作確認
手段５１５を具備するようにしたものである。
導体集積回路内の論理シミュレーションライブラリと、
この論理シミュレーションライブラリに対応した電子回
路の動作確認装置において、論理動作特性データ格納手
段５０７及び論理動作特性データ群５０８を基にして、
既に論理シミュレーションを実施したかどうかを判定す
る手段５０６と、半導体素子が論理シミュレーションを
実施していなければ、論理シミュレーションライブラリ
５０１とテストパターン５０３を基にして、論理動作特
性データ５１１を作成する論理シミュレーション手段５
０９と、この論理動作特性データ５１１を、前記論理動
作特性データ群５０８に格納する論理動作特性データ格
納手段５０７と、前記半導体素子が論理シミュレーショ
ンを実施していれば、前記論理動作特性データ群５０８
から、前記論理動作特性データ５１１を抽出する論理動
作特性データ格納手段５０７と、前記テストパターン５
０３を基にして、回路シミュレーション用テストパター
ン５０５を作成するテストパターン書式変換手段５０４
と、電子回路５０２と前記回路シミュレーション用テス
トパターン５０５を基にして、回路動作特性データ５１
２を作成する回路シミュレーション手段５１０と、前記
論理動作特性データ格納手段５０７から抽出された前記
論理動作特性データ５１１と、前記回路動作特性データ
５１２を基にして、動作特性データ５１４を作成する特
性データ書式変換手段５１３と、前記動作特性データ５
１４を基にして、動作確認を行う手作業による動作確認
手段５１５を具備するようにしたものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明の
第１実施例を示す論理シミュレーションライブラリと電
子回路の動作確認方式を示す図である。図中、１０１は
論理シミュレーションライブラリ、１０２は電子回路、
１０３はテストパターン、１０４はテストパターン書式
変換手段、１０５は回路シミュレーション用テストパタ
ーン、１０６は論理シミュレーション手段、１０７は回
路シミュレーション手段、１０８は論理動作特性デー
タ、１０９は回路動作特性データ、１１０，１１１は手
作業による動作確認手段を示している。
て図面を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明の
第１実施例を示す論理シミュレーションライブラリと電
子回路の動作確認方式を示す図である。図中、１０１は
論理シミュレーションライブラリ、１０２は電子回路、
１０３はテストパターン、１０４はテストパターン書式
変換手段、１０５は回路シミュレーション用テストパタ
ーン、１０６は論理シミュレーション手段、１０７は回
路シミュレーション手段、１０８は論理動作特性デー
タ、１０９は回路動作特性データ、１１０，１１１は手
作業による動作確認手段を示している。
【００２０】本発明の第１実施例の動作について説明す
る。論理シミュレーションライブラリ１０１、電子回路
１０２及びテストパターン１０３は、それぞれ論理回路
図や真理値表を基にして、手作業により作成している。
回路シミュレーション用テストパターン１０５は、テス
トパターン１０３を基にして、テストパターン書式変換
手段１０４によって自動作成される。
る。論理シミュレーションライブラリ１０１、電子回路
１０２及びテストパターン１０３は、それぞれ論理回路
図や真理値表を基にして、手作業により作成している。
回路シミュレーション用テストパターン１０５は、テス
トパターン１０３を基にして、テストパターン書式変換
手段１０４によって自動作成される。
【００２１】論理動作特性データ１０８は、論理シミュ
レーションライブラリ１０１とテストパターン１０３を
基にして、論理シミュレーション手段１０６によって作
成される。回路動作特性データ１０９は、電子回路１０
２と回路シミュレーション用テストパターン１０５を基
にして、回路シミュレーション手段１０７によって作成
される。
レーションライブラリ１０１とテストパターン１０３を
基にして、論理シミュレーション手段１０６によって作
成される。回路動作特性データ１０９は、電子回路１０
２と回路シミュレーション用テストパターン１０５を基
にして、回路シミュレーション手段１０７によって作成
される。
【００２２】設計者は論理動作特性データ１０８を基に
して、動作確認手段１１０によって手作業による動作確
認を行い、同様に、回路動作特性データ１０９を基にし
て、動作確認手段１１１によって手作業による動作確認
を行うことにより、論理シミュレーションライブラリ１
０１と電子回路１０２が同じ論理動作を有しているかを
確認することができる。
して、動作確認手段１１０によって手作業による動作確
認を行い、同様に、回路動作特性データ１０９を基にし
て、動作確認手段１１１によって手作業による動作確認
を行うことにより、論理シミュレーションライブラリ１
０１と電子回路１０２が同じ論理動作を有しているかを
確認することができる。
【００２３】ここで、本発明の第１実施例のテストパタ
ーン書式変換手段１０４の具体例について説明する。こ
こで、Ｓはステップを示す。図２はそのテストパターン
書式変換フローチャート、図３はそのテストパターン
例、図４は回路シミュレーション用テストパターンを示
している。まず、図２に示すように、 （１）１テストパターンのシミュレーション時間を入力
する（Ｓ１５１）。
ーン書式変換手段１０４の具体例について説明する。こ
こで、Ｓはステップを示す。図２はそのテストパターン
書式変換フローチャート、図３はそのテストパターン
例、図４は回路シミュレーション用テストパターンを示
している。まず、図２に示すように、 （１）１テストパターンのシミュレーション時間を入力
する（Ｓ１５１）。
【００２４】（２）次に、入力端子名及び入力端数を入
力する（Ｓ１５２）。 （３）次に、テストパターン数を入力する（Ｓ１５
３）。 （４）次に、テストパターン処理を開始（ｉ＝１）する
（Ｓ１５４）。 （５）そこで、順次テストパターン書式変換を実行する
（Ｓ１５５）。 （６）Ｓ１５５においてＹＥＳの場合、各テストパター
ンの入力端子の状態値を入力する（Ｓ１５６）。
力する（Ｓ１５２）。 （３）次に、テストパターン数を入力する（Ｓ１５
３）。 （４）次に、テストパターン処理を開始（ｉ＝１）する
（Ｓ１５４）。 （５）そこで、順次テストパターン書式変換を実行する
（Ｓ１５５）。 （６）Ｓ１５５においてＹＥＳの場合、各テストパター
ンの入力端子の状態値を入力する（Ｓ１５６）。
【００２５】（７）回路シミュレーション用テストパタ
ーンを生成する（Ｓ１５７）。 （８）その回路シミュレーション用テストパターンを記
憶する（Ｓ１５８）。 （９）各テストパターンの出力端子の期待値を格納する
（Ｓ１５９）。 （１０）その回路動作期待値データを記憶する（Ｓ１６
０）。 （１１）次のテストパターン処理（ｉ＝ｉ＋１）を行う
ため（Ｓ１５５）へ戻る（Ｓ１６１）。
ーンを生成する（Ｓ１５７）。 （８）その回路シミュレーション用テストパターンを記
憶する（Ｓ１５８）。 （９）各テストパターンの出力端子の期待値を格納する
（Ｓ１５９）。 （１０）その回路動作期待値データを記憶する（Ｓ１６
０）。 （１１）次のテストパターン処理（ｉ＝ｉ＋１）を行う
ため（Ｓ１５５）へ戻る（Ｓ１６１）。
【００２６】ここで、テストパターン例について、図３
を用いて説明する。入力端子名ａ，ｂ、入力端子数２、
出力端子名ｃ、出力端子数１、テストパターン数４の場
合、図３（ａ）に示すように表され、図３（ｂ）に示す
ように、２入力ＡＮＤ回路構成で、入力に入力端子名
ａ，ｂが入力され、出力端子名ｃが出力される。
を用いて説明する。入力端子名ａ，ｂ、入力端子数２、
出力端子名ｃ、出力端子数１、テストパターン数４の場
合、図３（ａ）に示すように表され、図３（ｂ）に示す
ように、２入力ＡＮＤ回路構成で、入力に入力端子名
ａ，ｂが入力され、出力端子名ｃが出力される。
【００２７】また、回路シミュレーション用テストパタ
ーン（Ｓ１５８）は、例えば、図４に示すように表され
る。このように、第１実施例によれば、テストパターン
書式変換手段１０４を設けたことにより、設計者はテス
トパターンを基にして、回路シミュレーション用テスト
パターン１０５を手作業によって作成する必要がなくな
り、手作業による書式変換にかかる工数を削減すること
ができる。また、人為的ミスを低減することができる。
ーン（Ｓ１５８）は、例えば、図４に示すように表され
る。このように、第１実施例によれば、テストパターン
書式変換手段１０４を設けたことにより、設計者はテス
トパターンを基にして、回路シミュレーション用テスト
パターン１０５を手作業によって作成する必要がなくな
り、手作業による書式変換にかかる工数を削減すること
ができる。また、人為的ミスを低減することができる。
【００２８】次に、本発明の第２実施例について説明す
る。図５は本発明の第２実施例を示す論理シミュレーシ
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。図中、２０１は論理シミュレーションライブラリ、
２０２は電子回路、２０３はテストパターン、２０４は
手作業による書式変換手段、２０５は回路シミュレーシ
ョン用テストパターン、２０６は論理シミュレーション
手段、２０７は回路シミュレーション手段、２０８は論
理動作特性データ、２０９は回路動作特性データ、２１
０は特性データ書式変換手段、２１１は動作特性デー
タ、２１２は手作業による動作確認手段を示している。
る。図５は本発明の第２実施例を示す論理シミュレーシ
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。図中、２０１は論理シミュレーションライブラリ、
２０２は電子回路、２０３はテストパターン、２０４は
手作業による書式変換手段、２０５は回路シミュレーシ
ョン用テストパターン、２０６は論理シミュレーション
手段、２０７は回路シミュレーション手段、２０８は論
理動作特性データ、２０９は回路動作特性データ、２１
０は特性データ書式変換手段、２１１は動作特性デー
タ、２１２は手作業による動作確認手段を示している。
【００２９】次に、本発明の第２実施例の動作について
説明する。論理シミュレーションライブラリ２０１、電
子回路２０２及びテストパターン２０３は、それぞれ論
理回路図や真理値表を基にして、手作業により作成して
いる。回路シミュレーション用テストパターン２０５
は、テストパターン２０３を基にして、手作業による書
式変換手段２０４によって作成している。
説明する。論理シミュレーションライブラリ２０１、電
子回路２０２及びテストパターン２０３は、それぞれ論
理回路図や真理値表を基にして、手作業により作成して
いる。回路シミュレーション用テストパターン２０５
は、テストパターン２０３を基にして、手作業による書
式変換手段２０４によって作成している。
【００３０】論理動作特性データ２０８は、論理シミュ
レーションライブラリ２０１と、テストパターン２０３
を基にして、論理シミュレーション手段２０６によって
作成される。回路動作特性データ２０９は、電子回路２
０２と回路シミュレーション用テストパターン２０５を
基にして、回路シミュレーション手段２０７によって作
成される。
レーションライブラリ２０１と、テストパターン２０３
を基にして、論理シミュレーション手段２０６によって
作成される。回路動作特性データ２０９は、電子回路２
０２と回路シミュレーション用テストパターン２０５を
基にして、回路シミュレーション手段２０７によって作
成される。
【００３１】動作特性データ２１１は、論理動作特性デ
ータ２０８と回路動作特性データ２０９を基にして、特
性データ書式変換手段２１０によって作成される。設計
者は動作特性データ２１１を基にして、動作確認手段２
１２によって手作業による動作確認を行うことにより、
論理シミュレーションライブラリ２０１と電子回路２０
２が同じ論理動作を有しているかを確認することができ
る。
ータ２０８と回路動作特性データ２０９を基にして、特
性データ書式変換手段２１０によって作成される。設計
者は動作特性データ２１１を基にして、動作確認手段２
１２によって手作業による動作確認を行うことにより、
論理シミュレーションライブラリ２０１と電子回路２０
２が同じ論理動作を有しているかを確認することができ
る。
【００３２】ここで、本発明の第２実施例の特性データ
書式変換手段２１０の具体例について説明する。図６及
び図７はその特性データ書式変換フローチャート、図８
はその回路動作特性データ例を示している。まず、図６
に示すように、 （１）回路動作特性データを入力する（Ｓ２５１）。
書式変換手段２１０の具体例について説明する。図６及
び図７はその特性データ書式変換フローチャート、図８
はその回路動作特性データ例を示している。まず、図６
に示すように、 （１）回路動作特性データを入力する（Ｓ２５１）。
【００３３】（２）次に、出力端子の電位が１（Ｈｉ）
か０（Ｌｏ）であるか判定を行うための出力端子の電位
のプローブポイントを入力する（Ｓ２５２）。 （３）次に、回路動作特性データ処理を開始（ｉ＝１）
する（Ｓ２５３）。 （４）そこで、順次回路動作特性データ処理を実行する
（Ｓ２５４）。 （５）回路特性データを入力し、各サイクルのプローブ
ポイントの出力電位を入力する（Ｓ２５５）。
か０（Ｌｏ）であるか判定を行うための出力端子の電位
のプローブポイントを入力する（Ｓ２５２）。 （３）次に、回路動作特性データ処理を開始（ｉ＝１）
する（Ｓ２５３）。 （４）そこで、順次回路動作特性データ処理を実行する
（Ｓ２５４）。 （５）回路特性データを入力し、各サイクルのプローブ
ポイントの出力電位を入力する（Ｓ２５５）。
【００３４】（６）出力電位Ｖout に対し、 ｉｆ ０．９×ＶＤＤ≦Ｖout ≦１．１×ＶＤＤ →「１」 ｉｆ ０．１×ＶＤＤ≧Ｖout →「０」（Ｓ２５６） なお、ＶＤＤは電源電圧である。 （７）結果を格納する（Ｓ２５７）。 （８）その回路シミュレーション結果を記憶する（Ｓ２
５８）。
５８）。
【００３５】（９）次の順次回路動作特性データ処理
（ｉ＝ｉ＋１）を行うのため（Ｓ２５４）へ戻る（Ｓ２
５９）。次に、図７に示すように、 （１）回路シミュレーション結果Ａ（Ｓ２５８）、論理
動作特性データＢ（Ｓ２６１）及び回路動作期待値デー
タＣ（Ｓ２６２）を用意する。
（ｉ＝ｉ＋１）を行うのため（Ｓ２５４）へ戻る（Ｓ２
５９）。次に、図７に示すように、 （１）回路シミュレーション結果Ａ（Ｓ２５８）、論理
動作特性データＢ（Ｓ２６１）及び回路動作期待値デー
タＣ（Ｓ２６２）を用意する。
【００３６】（２）そこで、まず、上記ＡとＢを比較す
る（Ｓ２６３）。 （３）次に、上記ＡとＢが一致するか否かをチェックす
る（Ｓ２６４）。 （４）上記（３）において、ＮＯの場合には、結果が不
良を意味するＮＧを格納し、かつ、その時のＡ，Ｂ，Ｃ
のデータを格納する（Ｓ２６５）。 （５）上記（３）において、ＹＥＳの場合には、上記Ａ
とＣを比較する（Ｓ２６６）。
る（Ｓ２６３）。 （３）次に、上記ＡとＢが一致するか否かをチェックす
る（Ｓ２６４）。 （４）上記（３）において、ＮＯの場合には、結果が不
良を意味するＮＧを格納し、かつ、その時のＡ，Ｂ，Ｃ
のデータを格納する（Ｓ２６５）。 （５）上記（３）において、ＹＥＳの場合には、上記Ａ
とＣを比較する（Ｓ２６６）。
【００３７】（６）次に、上記ＡとＣが一致するか否か
をチェックする（Ｓ２６７）。 （７）上記（６）において、ＮＯの場合には、結果が不
良を意味するＮＧを格納し、かつ、その時のＡ，Ｂ，Ｃ
のデータを格納する（Ｓ２６８）。 （８）上記（６）において、ＹＥＳの場合には、結果が
良好を意味するＯＫを格納する（Ｓ２６９）。
をチェックする（Ｓ２６７）。 （７）上記（６）において、ＮＯの場合には、結果が不
良を意味するＮＧを格納し、かつ、その時のＡ，Ｂ，Ｃ
のデータを格納する（Ｓ２６８）。 （８）上記（６）において、ＹＥＳの場合には、結果が
良好を意味するＯＫを格納する（Ｓ２６９）。
【００３８】（９）このようにして、動作特性データが
生成され、記憶される（Ｓ２７０）。ここで、回路動作
特性データ（Ｓ２５１）例は、図８に示すようになり、
この図において、×印はプローブポイントを示し、その
プローブポイントは、 ０．９×Ｔ＋Ｔ×（ｉ−１） ここで、ｉ＝１，２，
３，… このように、第２実施例によれば、特性データ書式変換
手段２１０を設けたことにより、設計者は論理動作特性
データ２０８を基に、手作業による動作確認を行う必要
がなく、かつ、回路動作特性データ２０９を基にして、
手作業による動作確認を行なう必要がなくなり、確認工
数の低減を図ることができる。
生成され、記憶される（Ｓ２７０）。ここで、回路動作
特性データ（Ｓ２５１）例は、図８に示すようになり、
この図において、×印はプローブポイントを示し、その
プローブポイントは、 ０．９×Ｔ＋Ｔ×（ｉ−１） ここで、ｉ＝１，２，
３，… このように、第２実施例によれば、特性データ書式変換
手段２１０を設けたことにより、設計者は論理動作特性
データ２０８を基に、手作業による動作確認を行う必要
がなく、かつ、回路動作特性データ２０９を基にして、
手作業による動作確認を行なう必要がなくなり、確認工
数の低減を図ることができる。
【００３９】次に、本発明の第３実施例について説明す
る。図９は本発明の第３実施例を示す論理シミュレーシ
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。図中、３０１は論理シミュレーションライブラリ、
３０２は電子回路、３０３はテストパターン、３０４は
テストパターン書式変換手段、３０５は回路シミュレー
ション用テストパターン、３０６は論理シミュレーショ
ン手段、３０７は回路シミュレーション手段、３０８は
論理動作特性データ、３０９は回路動作特性データ、３
１０は特性データ書式変換手段、３１１は動作特性デー
タ、３１２は手作業による動作確認手段を示している。
る。図９は本発明の第３実施例を示す論理シミュレーシ
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。図中、３０１は論理シミュレーションライブラリ、
３０２は電子回路、３０３はテストパターン、３０４は
テストパターン書式変換手段、３０５は回路シミュレー
ション用テストパターン、３０６は論理シミュレーショ
ン手段、３０７は回路シミュレーション手段、３０８は
論理動作特性データ、３０９は回路動作特性データ、３
１０は特性データ書式変換手段、３１１は動作特性デー
タ、３１２は手作業による動作確認手段を示している。
【００４０】次に、本発明の第３実施例の動作について
説明する。論理シミュレーションライブラリ３０１、電
子回路３０２及びテストパターン３０３は、それぞれ論
理回路図や真理値表を基に手作業により作成している。
回路シミュレーション用テストパターン３０５は、テス
トパターン３０３を基にして、テストパターン書式変換
手段３０４によって自動作成される。
説明する。論理シミュレーションライブラリ３０１、電
子回路３０２及びテストパターン３０３は、それぞれ論
理回路図や真理値表を基に手作業により作成している。
回路シミュレーション用テストパターン３０５は、テス
トパターン３０３を基にして、テストパターン書式変換
手段３０４によって自動作成される。
【００４１】論理動作特性データ３０８は、論理シミュ
レーションライブラリ３０１と、テストパターン３０３
を基にして、論理シミュレーション手段３０６によって
作成される。回路動作特性データ３０９は、電子回路３
０２と回路シミュレーション用テストパターン３０５を
基にして、回路シミュレーション手段３０７によって作
成される。
レーションライブラリ３０１と、テストパターン３０３
を基にして、論理シミュレーション手段３０６によって
作成される。回路動作特性データ３０９は、電子回路３
０２と回路シミュレーション用テストパターン３０５を
基にして、回路シミュレーション手段３０７によって作
成される。
【００４２】動作特性データ３１１は、論理動作特性デ
ータ３０８と回路動作特性データ３０９を基にして、特
性データ書式変換手段３１０によって作成される。設計
者は動作特性データ３１１を基にして、動作確認手段３
１２によって手作業による動作確認を行うことにより、
論理シミュレーションライブラリ３０１と電子回路３０
２が同じ論理動作を有しているかを確認することができ
る。
ータ３０８と回路動作特性データ３０９を基にして、特
性データ書式変換手段３１０によって作成される。設計
者は動作特性データ３１１を基にして、動作確認手段３
１２によって手作業による動作確認を行うことにより、
論理シミュレーションライブラリ３０１と電子回路３０
２が同じ論理動作を有しているかを確認することができ
る。
【００４３】このように、第３実施例によれば、テスト
パターン書式変換手段３０４と特性データ書式変換手段
３１０を設けたことにより、設計者はテストパターン３
０３を基にして、回路シミュレーション用テストパター
ン３０５を手作業によって作成する必要がなくなり、ま
た、論理動作特性データ３０８を基にした手作業による
動作確認を行う必要がなくなり、かつ回路動作特性デー
タ３０９を基にして、手作業による動作確認を行う必要
がなくなり、論理シミュレーションライブラリ３０１と
電子回路３０２が同じ論理動作を有していることを、途
中中断されることなく、一連の作業内で確認することが
でき、作業効率の向上を図ることができる。
パターン書式変換手段３０４と特性データ書式変換手段
３１０を設けたことにより、設計者はテストパターン３
０３を基にして、回路シミュレーション用テストパター
ン３０５を手作業によって作成する必要がなくなり、ま
た、論理動作特性データ３０８を基にした手作業による
動作確認を行う必要がなくなり、かつ回路動作特性デー
タ３０９を基にして、手作業による動作確認を行う必要
がなくなり、論理シミュレーションライブラリ３０１と
電子回路３０２が同じ論理動作を有していることを、途
中中断されることなく、一連の作業内で確認することが
でき、作業効率の向上を図ることができる。
【００４４】次に、本発明の第４実施例について説明す
る。図１０は本発明の第４実施例を示す論理シミュレー
ションライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図で
ある。図中、４０１は論理シミュレーションライブラ
リ、４０２はテストパターン、４０３はマスクパター
ン、４０４はテストパターン書式変換手段、４０５は寄
生容量・寄生抵抗抽出手段、４０６は回路シミュレーシ
ョン用テストパターン、４０７は寄生容量・寄生抵抗を
含んだ電子回路、４０８は論理シミュレーション手段、
４０９は回路シミュレーション手段、４１０は論理動作
特性データ、４１１は回路動作特性データ、４１２は特
性データ書式変換手段、４１３は動作特性データ、４１
４は手作業による動作確認手段を示している。
る。図１０は本発明の第４実施例を示す論理シミュレー
ションライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図で
ある。図中、４０１は論理シミュレーションライブラ
リ、４０２はテストパターン、４０３はマスクパター
ン、４０４はテストパターン書式変換手段、４０５は寄
生容量・寄生抵抗抽出手段、４０６は回路シミュレーシ
ョン用テストパターン、４０７は寄生容量・寄生抵抗を
含んだ電子回路、４０８は論理シミュレーション手段、
４０９は回路シミュレーション手段、４１０は論理動作
特性データ、４１１は回路動作特性データ、４１２は特
性データ書式変換手段、４１３は動作特性データ、４１
４は手作業による動作確認手段を示している。
【００４５】次に、本発明の第４実施例の動作について
説明する。論理シミュレーションライブラリ４０１とテ
ストパターン４０２は、それぞれ論理回路図や真理値表
を基にして、手作業により作成している。寄生容量・寄
生抵抗抽出手段４０５は、マスクパターン４０３から寄
生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７を抽出する。
説明する。論理シミュレーションライブラリ４０１とテ
ストパターン４０２は、それぞれ論理回路図や真理値表
を基にして、手作業により作成している。寄生容量・寄
生抵抗抽出手段４０５は、マスクパターン４０３から寄
生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路４０７を抽出する。
【００４６】回路シミュレーション用テストパターン４
０６は、テストパターン４０２を基にして、テストパタ
ーン書式変換手段４０４によって自動作成される。論理
動作特性データ４１０は、論理シミュレーションライブ
ラリ４０１と、テストパターン４０２を基にして、論理
シミュレーション手段４０８によって作成される。
０６は、テストパターン４０２を基にして、テストパタ
ーン書式変換手段４０４によって自動作成される。論理
動作特性データ４１０は、論理シミュレーションライブ
ラリ４０１と、テストパターン４０２を基にして、論理
シミュレーション手段４０８によって作成される。
【００４７】回路動作特性データ４１１は、寄生容量・
寄生抵抗を含んだ電子回路４０７と、回路シミュレーシ
ョン用テストパターン４０６を基にして、回路シミュレ
ーション手段４０９によって作成される。動作特性デー
タ４１３は、論理動作特性データ４１０と回路動作特性
データ４１１を基にして、特性データ書式変換手段４１
２によって作成される。
寄生抵抗を含んだ電子回路４０７と、回路シミュレーシ
ョン用テストパターン４０６を基にして、回路シミュレ
ーション手段４０９によって作成される。動作特性デー
タ４１３は、論理動作特性データ４１０と回路動作特性
データ４１１を基にして、特性データ書式変換手段４１
２によって作成される。
【００４８】設計者は動作特性データ４１３を基にし
て、手作業による動作確認を行うことにより、論理シミ
ュレーションライブラリ４０１と寄生容量・寄生抵抗を
含んだ電子回路４０７が同じ論理動作を有しているかを
確認することができる。このように、第４実施例によれ
ば、マスクパターン４０３及び寄生容量・寄生抵抗抽出
手段４０５を設けたことにより、寄生容量・寄生抵抗を
含んだ電子回路４０７と回路シミュレーション用テスト
パターン４０６を基にして、回路シミュレーション手段
４０９によって実デバイスの動作に極めて近い、精度の
良い回路動作特性データ４１１を得ることができる。
て、手作業による動作確認を行うことにより、論理シミ
ュレーションライブラリ４０１と寄生容量・寄生抵抗を
含んだ電子回路４０７が同じ論理動作を有しているかを
確認することができる。このように、第４実施例によれ
ば、マスクパターン４０３及び寄生容量・寄生抵抗抽出
手段４０５を設けたことにより、寄生容量・寄生抵抗を
含んだ電子回路４０７と回路シミュレーション用テスト
パターン４０６を基にして、回路シミュレーション手段
４０９によって実デバイスの動作に極めて近い、精度の
良い回路動作特性データ４１１を得ることができる。
【００４９】次に、本発明の第５実施例について説明す
る。図１１は本発明の第５実施例を示す論理シミュレー
ションライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図で
ある。図中、５０１は論理シミュレーションライブラ
リ、５０２は電子回路、５０３はテストパターン、５０
４はテストパターン書式変換手段、５０５は回路シミュ
レーション用テストパターン、５０６は既に論理シミュ
レーションを実施したかどうかを判定する手段、５０７
は論理動作特性データ格納手段、５０８は論理動作特性
データを格納した論理動作特性データ群、５０９は論理
シミュレーション手段、５１０は回路シミュレーション
手段、５１１は論理動作特性データ、５１２は回路動作
特性データ、５１３は特性データ書式変換手段、５１４
は動作特性データ、５１５は手作業による動作確認手段
を示している。
る。図１１は本発明の第５実施例を示す論理シミュレー
ションライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図で
ある。図中、５０１は論理シミュレーションライブラ
リ、５０２は電子回路、５０３はテストパターン、５０
４はテストパターン書式変換手段、５０５は回路シミュ
レーション用テストパターン、５０６は既に論理シミュ
レーションを実施したかどうかを判定する手段、５０７
は論理動作特性データ格納手段、５０８は論理動作特性
データを格納した論理動作特性データ群、５０９は論理
シミュレーション手段、５１０は回路シミュレーション
手段、５１１は論理動作特性データ、５１２は回路動作
特性データ、５１３は特性データ書式変換手段、５１４
は動作特性データ、５１５は手作業による動作確認手段
を示している。
【００５０】次に、本発明の第５実施例の動作について
説明する。論理シミュレーションライブラリ５０１、電
子回路５０２及びテストパターン５０３は、それぞれ論
理回路図や真理値表を基にして、手作業により作成して
いる。回路シミュレーション用テストパターン５０５
は、テストパターン５０３を基にして、テストパターン
書式変換手段５０４によって自動作成される。
説明する。論理シミュレーションライブラリ５０１、電
子回路５０２及びテストパターン５０３は、それぞれ論
理回路図や真理値表を基にして、手作業により作成して
いる。回路シミュレーション用テストパターン５０５
は、テストパターン５０３を基にして、テストパターン
書式変換手段５０４によって自動作成される。
【００５１】既に論理シミュレーションを実施したかど
うかを判定する手段５０６は、動作確認を行うべき半導
体素子が、既に論理シミュレーションを実施したかどう
かを論理動作特性データ格納手段５０７、及び論理動作
特性データ群５０８を基にして判定し、既に論理シミュ
レーションを実施していれば、論理シミュレーション手
段５０９を介さず、他方、論理シミュレーションを実施
していなければ、論理シミュレーションライブラリ５０
１とテストパターン５０３を基にして、論理シミュレー
ション手段５０９によって、論理動作特性データ５１１
を作成し、論理動作特性データ格納手段５０７によっ
て、論理動作特性データ５１１を論理動作特性データ群
５０８に格納する。
うかを判定する手段５０６は、動作確認を行うべき半導
体素子が、既に論理シミュレーションを実施したかどう
かを論理動作特性データ格納手段５０７、及び論理動作
特性データ群５０８を基にして判定し、既に論理シミュ
レーションを実施していれば、論理シミュレーション手
段５０９を介さず、他方、論理シミュレーションを実施
していなければ、論理シミュレーションライブラリ５０
１とテストパターン５０３を基にして、論理シミュレー
ション手段５０９によって、論理動作特性データ５１１
を作成し、論理動作特性データ格納手段５０７によっ
て、論理動作特性データ５１１を論理動作特性データ群
５０８に格納する。
【００５２】回路動作特性データ５１２は、電子回路５
０２と回路シミュレーション用テストパターン５０５を
基にして、回路シミュレーション手段５１０によって作
成される。動作特性データ５１４は、論理動作特性デー
タ群５０８から抽出した論理動作特性データ５１１と回
路動作特性データ５１２を基にして、特性データ書式変
換手段５１３によって作成される。
０２と回路シミュレーション用テストパターン５０５を
基にして、回路シミュレーション手段５１０によって作
成される。動作特性データ５１４は、論理動作特性デー
タ群５０８から抽出した論理動作特性データ５１１と回
路動作特性データ５１２を基にして、特性データ書式変
換手段５１３によって作成される。
【００５３】設計者は動作特性データ５１４を基にし
て、動作確認手段５１５によって手作業による動作確認
を行うことにより、論理シミュレーションライブラリ５
０１と電子回路５０２が同じ論理動作を有しているかを
確認することができる。このように、第５実施例によれ
ば、既に論理シミュレーションを実施したかどうかを判
定する手段５０６と、論理動作特性データ格納手段５０
７と、論理動作特性データ群５０８を設けたことによ
り、論理シミュレーション手段５０９にかかる工数を削
除することができる。
て、動作確認手段５１５によって手作業による動作確認
を行うことにより、論理シミュレーションライブラリ５
０１と電子回路５０２が同じ論理動作を有しているかを
確認することができる。このように、第５実施例によれ
ば、既に論理シミュレーションを実施したかどうかを判
定する手段５０６と、論理動作特性データ格納手段５０
７と、論理動作特性データ群５０８を設けたことによ
り、論理シミュレーション手段５０９にかかる工数を削
除することができる。
【００５４】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能
であり、それらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能
であり、それらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【００５５】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、次のような効果を奏することができる。 〔１〕請求項１又は６記載の発明によれば、テストパタ
ーン書式変換手段を設けたことにより、設計者はテスト
パターンを基にして、回路シミュレーション用テストパ
ターンを手作業によって作成する必要がなくなり、手作
業による書式変換手段にかかる工数を削減することがで
きる。また、人為的ミスを低減することができる。
よれば、次のような効果を奏することができる。 〔１〕請求項１又は６記載の発明によれば、テストパタ
ーン書式変換手段を設けたことにより、設計者はテスト
パターンを基にして、回路シミュレーション用テストパ
ターンを手作業によって作成する必要がなくなり、手作
業による書式変換手段にかかる工数を削減することがで
きる。また、人為的ミスを低減することができる。
【００５６】〔２〕請求項２又は７記載の発明によれ
ば、特性データ書式変換手段を設けたことにより、設計
者は論理動作特性データを基にした手作業による動作確
認を行う必要がなく、かつ、回路動作特性データを基に
した、手作業による動作確認を行なう必要がなくなり、
確認工数の低減を図ることができる。 〔３〕請求項３又は８記載の発明によれば、テストパタ
ーン書式変換手段と特性データ書式変換手段を設けたこ
とにより、設計者はテストパターンを基にして、回路シ
ミュレーション用テストパターンを手作業によって作成
する必要がなくなり、また、論理動作特性データを基に
した、手作業による動作確認を行う必要がなく、かつ、
回路動作特性データを基にした、手作業による動作確認
を行なう必要がなくなり、論理シミュレーションライブ
ラリと電子回路が同じ論理動作を有していることを、途
中中断されることなく、一連の作業内で確認することが
でき、作業効率の向上を図ることができる。
ば、特性データ書式変換手段を設けたことにより、設計
者は論理動作特性データを基にした手作業による動作確
認を行う必要がなく、かつ、回路動作特性データを基に
した、手作業による動作確認を行なう必要がなくなり、
確認工数の低減を図ることができる。 〔３〕請求項３又は８記載の発明によれば、テストパタ
ーン書式変換手段と特性データ書式変換手段を設けたこ
とにより、設計者はテストパターンを基にして、回路シ
ミュレーション用テストパターンを手作業によって作成
する必要がなくなり、また、論理動作特性データを基に
した、手作業による動作確認を行う必要がなく、かつ、
回路動作特性データを基にした、手作業による動作確認
を行なう必要がなくなり、論理シミュレーションライブ
ラリと電子回路が同じ論理動作を有していることを、途
中中断されることなく、一連の作業内で確認することが
でき、作業効率の向上を図ることができる。
【００５７】〔４〕請求項４又は９記載の発明によれ
ば、マスクバターン及び寄生容量・寄生抵抗抽出手段を
設けたことにより、寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回
路と回路シミュレーション用テストパターンを基にし
て、回路シミュレーション手段によって実デバイスの動
作に極めて近い、精度の良い回路動作特性データを得る
ことができる。
ば、マスクバターン及び寄生容量・寄生抵抗抽出手段を
設けたことにより、寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回
路と回路シミュレーション用テストパターンを基にし
て、回路シミュレーション手段によって実デバイスの動
作に極めて近い、精度の良い回路動作特性データを得る
ことができる。
【００５８】〔５〕請求項５又は１０記載の発明によれ
ば、既に論理シミュレーションを実施したかどうかを判
定する手段と、論理動作特性データ格納手段と論理動作
特性データ群を設けたことにより、論理シミュレーショ
ン手段にかかる工数を削除することができる。
ば、既に論理シミュレーションを実施したかどうかを判
定する手段と、論理動作特性データ格納手段と論理動作
特性データ群を設けたことにより、論理シミュレーショ
ン手段にかかる工数を削除することができる。
【図１】本発明の第１実施例を示す論理シミュレーショ
ンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
ンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
【図２】本発明の第１実施例のテストパターン書式変換
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】本発明の第１実施例のテストパターン例を示す
図である。
図である。
【図４】本発明の第１実施例の回路シミュレーション用
テストパターンを示す図である。
テストパターンを示す図である。
【図５】本発明の第２実施例を示す論理シミュレーショ
ンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
ンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
【図６】本発明の第２実施例の特性データ書式変換フロ
ーチャート（その１）である。
ーチャート（その１）である。
【図７】本発明の第２実施例の特性データ書式変換フロ
ーチャート（その２）である。
ーチャート（その２）である。
【図８】本発明の第２実施例の回路動作特性データ例を
示す図である。
示す図である。
【図９】本発明の第３実施例を示す論理シミュレーショ
ンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
ンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
【図１０】本発明の第４実施例を示す論理シミュレーシ
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
【図１１】本発明の第５実施例を示す論理シミュレーシ
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
ョンライブラリと電子回路の動作確認方式を示す図であ
る。
【図１２】従来の論理シミュレーションライブラリと電
子回路の動作確認方式を示す図である。
子回路の動作確認方式を示す図である。
１０１，２０１，３０１，４０１，５０１ 論理シミ
ュレーションライブラリ １０２，２０２，３０２，５０２ 電子回路 １０３，２０３，３０３，４０２，５０３ テストパ
ターン １０４，３０４，４０４，５０４ テストパターン書
式変換手段 １０５，２０５，３０５，４０６，５０５ 回路シミ
ュレーション用テストパターン １０６，２０６，３０６，４０８，５０９ 論理シミ
ュレーション手段 １０７，２０７，３０７，４０９，５１０ 回路シミ
ュレーション手段 １０８，２０８，３０８，４１０，５１１ 論理動作
特性データ １０９，２０９，３０９，４１１，５１２ 回路動作
特性データ １１０，１１１，２１２，３１２，４１４，５１５
手作業による動作確認手段 １５８ 回路シミュレーション用テストパターン １６０ 回路動作期待値データ ２０４ 手作業による書式変換手段 ２１０，３１０，４１２，５１３ 特性データ書式変
換手段 ２１１，３１１，４１３，５１４ 動作特性データ ２５８ 回路シミュレーション結果 ２６１ 論理動作特性データ ２６２ 回路動作期待値データ ２７９ 動作特性データ ４０３ マスクパターン ４０５ 寄生容量・寄生抵抗抽出手段 ４０７ 寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路 ５０６ 論理シミュレーションを実施したかどうか判
定する手段 ５０７ 論理動作特性データ格納手段 ５０８ 論理動作特性データ群
ュレーションライブラリ １０２，２０２，３０２，５０２ 電子回路 １０３，２０３，３０３，４０２，５０３ テストパ
ターン １０４，３０４，４０４，５０４ テストパターン書
式変換手段 １０５，２０５，３０５，４０６，５０５ 回路シミ
ュレーション用テストパターン １０６，２０６，３０６，４０８，５０９ 論理シミ
ュレーション手段 １０７，２０７，３０７，４０９，５１０ 回路シミ
ュレーション手段 １０８，２０８，３０８，４１０，５１１ 論理動作
特性データ １０９，２０９，３０９，４１１，５１２ 回路動作
特性データ １１０，１１１，２１２，３１２，４１４，５１５
手作業による動作確認手段 １５８ 回路シミュレーション用テストパターン １６０ 回路動作期待値データ ２０４ 手作業による書式変換手段 ２１０，３１０，４１２，５１３ 特性データ書式変
換手段 ２１１，３１１，４１３，５１４ 動作特性データ ２５８ 回路シミュレーション結果 ２６１ 論理動作特性データ ２６２ 回路動作期待値データ ２７９ 動作特性データ ４０３ マスクパターン ４０５ 寄生容量・寄生抵抗抽出手段 ４０７ 寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路 ５０６ 論理シミュレーションを実施したかどうか判
定する手段 ５０７ 論理動作特性データ格納手段 ５０８ 論理動作特性データ群
Claims (10)
- 【請求項１】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認方法において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リを論理回路図や真理値表を基にして作成し、（ｂ）電
子回路を論理回路図や真理値表を基にして作成し、
（ｃ）テストパターンを論理回路図や真理値表を基にし
て作成し、（ｄ）回路シミュレーション用テストパター
ンを前記テストパターンを基にしてテストパターン書式
変換手段によって自動作成し、（ｅ）論理動作特性デー
タを前記論理シミュレーションライブラリと前記テスト
パターンを基にして、論理シミュレーション手段によっ
て作成し、（ｆ）回路動作特性データを前記電子回路と
前記回路シミュレーション用テストパターンを基にし
て、回路シミュレーション手段によって作成し、（ｇ）
論理動作特性データを基にして、動作確認手段によって
動作確認を行い、同様に、回路動作特性データを基にし
て、動作確認手段によって動作確認を行うことにより、
前記論理シミュレーションライブラリと前記電子回路が
同じ論理動作を有しているかを確認するようにしたこと
を特徴とする論理シミュレーションライブラリと電子回
路の動作確認方法。 - 【請求項２】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認方法において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リを論理回路図や真理値表を基にして作成し、（ｂ）電
子回路を論理回路図や真理値表を基にして作成し、
（ｃ）テストパターンを論理回路図や真理値表を基にし
て作成し、（ｄ）回路シミュレーション用テストパター
ンを前記テストパターンを基にして、書式変換手段によ
って作成し、（ｅ）論理動作特性データを前記論理シミ
ュレーションライブラリと前記テストパターンを基にし
て、論理シミュレーション手段によって作成し、（ｆ）
回路動作特性データを前記電子回路と前記回路シミュレ
ーション用テストパターンを基にして、回路シミュレー
ション手段によって作成し、（ｇ）動作特性データを前
記論理動作特性データと前記回路動作特性データを基に
して、特性データ書式変換手段によって作成し、（ｈ）
前記動作特性データを基にして、動作確認を行うことに
より、前記論理シミュレーションライブラリと前記電子
回路が同じ論理動作を有しているかを確認するようにし
たことを特徴とする論理シミュレーションライブラリと
電子回路の動作確認方法。 - 【請求項３】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認方法において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リを論理回路図や真理値表を基にして作成し、（ｂ）電
子回路を論理回路図や真理値表を基にして作成し、
（ｃ）テストパターンを論理回路図や真理値表を基にし
て作成し、（ｄ）回路シミュレーション用テストパター
ンを前記テストパターンを基にして、テストパターン書
式変換手段によって自動作成し、（ｅ）論理動作特性デ
ータを前記論理シミュレーションライブラリと、前記テ
ストパターンを基にして、論理シミュレーション手段に
よって作成し、（ｆ）回路動作特性データを前記電子回
路と前記回路シミュレーション用テストパターンを基に
して、回路シミュレーション手段によって作成し、
（ｇ）動作特性データを前記論理動作特性データと前記
回路動作特性データを基にして、特性データ書式変換手
段によって作成し、（ｈ）前記動作特性データを基にし
て、動作確認手段によって動作確認を行うことにより、
論理シミュレーションライブラリと、前記電子回路が同
じ論理動作を有しているかを確認することを特徴とする
論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認
方法。 - 【請求項４】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認方法において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リを論理回路図や真理値表を基にして作成し、（ｂ）テ
ストパターンを論理回路図や真理値表を基にして作成
し、（ｃ）寄生容量・寄生抵抗抽出手段はマスクパター
ンから寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路を抽出し、
（ｄ）回路シミュレーション用テストパターンを前記テ
ストパターンを基にして、テストパターン書式変換手段
によって自動作成し、（ｅ）論理動作特性データを前記
論理シミュレーションライブラリと、前記テストパター
ンを基にして、論理シミュレーション手段によって作成
し、（ｆ）回路動作特性データを前記寄生容量・寄生抵
抗を含んだ電子回路と前記回路シミュレーション用テス
トパターンを基にして、回路シミュレーション手段によ
って作成し、（ｇ）動作特性データを前記論理動作特性
データと前記回路動作特性データを基にして、特性デー
タ書式変換手段によって作成し、（ｈ）前記動作特性デ
ータを基にして、動作確認手段によって動作確認を行う
ことにより、前記論理シミュレーションライブラリと、
前記寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路が同じ論理動
作を有しているかを確認するようにしたことを特徴とす
る論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確
認方法。 - 【請求項５】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認方法において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リを論理回路図や真理値表を基にして作成し、（ｂ）電
子回路を論理回路図や真理値表を基にして作成し、
（ｃ）テストパターンを論理回路図や真理値表を基にし
て作成し、（ｄ）回路シミュレーション用テストパター
ンを前記テストパターンを基にして、テストパターン書
式変換手段によって自動作成し、（ｅ）既に論理シミュ
レーションを実施したかどうか判定する手段を、動作確
認を行うべき半導体素子が、既に論理シミュレーション
を実施したかどうかを論理動作特性データ格納手段及び
論理動作特性データ群を基にして判定し、（ｆ）既に論
理シミュレーションを実施していれば、論理シミュレー
ション手段を介さずに、他方、論理シミュレーションを
実施していなければ、前記論理シミュレーションライブ
ラリと前記テストパターンを基にして、前記論理シミュ
レーション手段によって、論理動作特性データを作成
し、（ｇ）前記論理動作特性データ格納手段によって、
前記論理動作特性データを論理動作特性データ群に格納
し、（ｈ）回路動作特性データを前記電子回路と前記回
路シミュレーション用テストパターンを基にして、回路
シミュレーション手段によって作成し、（ｉ）動作特性
データを、前記論理動作特性データ群から抽出した前記
論理動作特性データと前記回路動作特性データを基にし
て、特性データ書式変換手段によって作成し、（ｊ）動
作特性データを基にして、動作確認を行うことにより、
前記論理シミュレーションライブラリと前記電子回路が
同じ論理動作を有しているかを確認するようにしたこと
を特徴とする論理シミュレーションライブラリと電子回
路の動作確認方法。 - 【請求項６】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認装置において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リとテストパターンを基にして論理動作特性データを作
成する論理シミュレーション手段と、（ｂ）前記テスト
パターンを基にして回路シミュレーション用テストパタ
ーンを作成するテストパターン書式変換手段と、（ｃ）
電子回路と前記回路シミュレーション用テストパターン
を基にして回路動作特性データを作成する回路シミュレ
ーション手段と、（ｄ）前記論理動作特性データを基に
して、動作確認を行う動作確認手段と、（ｅ）前記回路
動作特性データを基にして、動作確認を行う動作確認手
段とを具備することを特徴とする論理シミュレーション
ライブラリと電子回路の動作確認装置。 - 【請求項７】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認装置において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リとテストパターンを基にして論理動作特性データを作
成する論理シミュレーション手段と、（ｂ）前記テスト
パターンを基にして回路シミュレーション用テストパタ
ーンを作成する書式変換手段と、（ｃ）電子回路と前記
回路シミュレーション用テストパターンを基にして、回
路動作特性データを作成する回路シミュレーション手段
と、（ｄ）前記論理動作特性データと前記回路動作特性
データを基にして、動作特性データを作成する特性デー
タ書式変換手段と、（ｅ）前記動作特性データを基にし
て、動作確認を行う動作確認手段を具備することを特徴
とする論理シミュレーションライブラリと電子回路の動
作確認装置。 - 【請求項８】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認装置において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リとテストパターンを基にして、論理動作特性データを
作成する論理シミュレーション手段と、（ｂ）前記テス
トパターンを基にして、回路シミュレーション用テスト
パターンを作成するテストパターン書式変換手段と、
（ｃ）電子回路と前記回路シミュレーション用テストパ
ターンを基にして、回路動作特性データを作成する回路
シミュレーション手段と、（ｄ）前記論理動作特性デー
タと前記回路動作特性データを基にして、動作特性デー
タを作成する特性データ書式変換手段と、（ｅ）前記動
作特性データを基にして、動作確認を行う動作確認手段
を具備することを特徴とする論理シミュレーションライ
ブラリと電子回路の動作確認装置。 - 【請求項９】 半導体集積回路装置を構成する半導体集
積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理シ
ミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作確
認装置において、（ａ）論理シミュレーションライブラ
リとテストパターンを基にして、論理動作特性データを
作成する論理シミュレーション手段と、（ｂ）前記テス
トパターンを基にして、回路シミュレーション用テスト
パターンを作成するテストパターン書式変換手段と、
（ｃ）マスクパターンを基にして、寄生容量・寄生抵抗
を含んだ電子回路を作成する寄生容量・寄生抵抗抽出手
段と、（ｄ）前記寄生容量・寄生抵抗を含んだ電子回路
と前記回路シミュレーション用テストパターンを基にし
て、回路動作特性データを作成する回路シミュレーショ
ン手段と、（ｅ）前記論理動作特性データと前記回路動
作特性データを基にして、動作特性データを作成する特
性データ書式変換手段と、（ｆ）前記動作特性データを
基にして、動作確認を行う動作確認手段を具備すること
を特徴とする論理シミュレーションライブラリと電子回
路の動作確認装置。 - 【請求項１０】 半導体集積回路装置を構成する半導体
集積回路内の論理シミュレーションライブラリと該論理
シミュレーションライブラリに対応した電子回路の動作
確認装置において、（ａ）論理動作特性データ格納手段
及び論理動作特性データ群を基にして、既に論理シミュ
レーションを実施したかどうかを判定する手段と、
（ｂ）半導体素子が論理シミュレーションを実施してい
なければ、論理シミュレーションライブラリとテストパ
ターンを基にして、論理動作特性データを作成する論理
シミュレーション手段と、（ｃ）前記論理動作特性デー
タを、前記論理動作特性データ群に格納する論理動作特
性データ格納手段と、（ｄ）前記半導体素子が論理シミ
ュレーションを実施していれば、前記論理動作特性デー
タ群から前記論理動作特性データを抽出する論理動作特
性データ格納手段と、（ｅ）前記テストパターンを基に
して、回路シミュレーション用テストパターンを作成す
るテストパターン書式変換手段と、（ｆ）電子回路と前
記回路シミュレーション用テストパターンを基にして、
回路動作特性データを作成する回路シミュレーション手
段と、（ｇ）前記論理動作特性データ格納手段から抽出
された前記論理動作特性データと、前記回路動作特性デ
ータを基にして、動作特性データを作成する特性データ
書式変換手段と、（ｈ）前記動作特性データを基にし
て、動作確認を行う動作確認手段を具備することを特徴
とする論理シミュレーションライブラリと電子回路の動
作確認装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9130573A JPH10320440A (ja) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | 論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9130573A JPH10320440A (ja) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | 論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10320440A true JPH10320440A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=15037474
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9130573A Withdrawn JPH10320440A (ja) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | 論理シミュレーションライブラリと電子回路の動作確認方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10320440A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117391019A (zh) * | 2023-10-18 | 2024-01-12 | 广州市德珑电子器件有限公司 | Emi电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质 |
-
1997
- 1997-05-21 JP JP9130573A patent/JPH10320440A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117391019A (zh) * | 2023-10-18 | 2024-01-12 | 广州市德珑电子器件有限公司 | Emi电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质 |
| CN117391019B (zh) * | 2023-10-18 | 2024-03-22 | 广州市德珑电子器件有限公司 | Emi电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质 |
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