JPH05240745A - テスト仕様生成方式 - Google Patents
テスト仕様生成方式Info
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- JPH05240745A JPH05240745A JP4324192A JP4324192A JPH05240745A JP H05240745 A JPH05240745 A JP H05240745A JP 4324192 A JP4324192 A JP 4324192A JP 4324192 A JP4324192 A JP 4324192A JP H05240745 A JPH05240745 A JP H05240745A
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- test
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 37
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 テスト項目と動作条件，環境条件，判定条件
等の内容は、これらの生成規則と経験則を予め管理・記
憶しておくことにより、被テスト製品の製品規格から得
られるデータが与えられると、上記の規則によって自動
的にテスト項目，テスト条件（プライマリテスト仕様）
の決定が行われる。そして、ここで生成されたプライマ
リテスト仕様に対し、過去に不良となった試験項目，動
作条件，判定条件とその原因と対策結果の来歴データを
用いることによって、最適化処理を施し、より精度が高
く効率の良い最適化されたテスト仕様を生成する。 【効果】 各種製造物の出荷及び受け入れ試験のテスト
内容を指示するテスト仕様書をテスト時間が短く、必要
な試験項目を抜けなく含み、入力，計算ミスのない最適
なテスト仕様として自動生成でき、テスト仕様設計時間
を短縮できる。
等の内容は、これらの生成規則と経験則を予め管理・記
憶しておくことにより、被テスト製品の製品規格から得
られるデータが与えられると、上記の規則によって自動
的にテスト項目，テスト条件（プライマリテスト仕様）
の決定が行われる。そして、ここで生成されたプライマ
リテスト仕様に対し、過去に不良となった試験項目，動
作条件，判定条件とその原因と対策結果の来歴データを
用いることによって、最適化処理を施し、より精度が高
く効率の良い最適化されたテスト仕様を生成する。 【効果】 各種製造物の出荷及び受け入れ試験のテスト
内容を指示するテスト仕様書をテスト時間が短く、必要
な試験項目を抜けなく含み、入力，計算ミスのない最適
なテスト仕様として自動生成でき、テスト仕様設計時間
を短縮できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はテスト仕様生成方式に係
り、特に、製造物の出荷検査において動作試験を行うも
のに対して、製品の良否を判定するための最適なテスト
項目及びテスト条件を生成するテスト仕様生成方式に関
するものである。
り、特に、製造物の出荷検査において動作試験を行うも
のに対して、製品の良否を判定するための最適なテスト
項目及びテスト条件を生成するテスト仕様生成方式に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】製造物の出荷検査においてその動作を試
験する際、通常テスト仕様は、製品の機能とテスト順
序、テスト項目、動作条件、環境条件、良否判定条件、
期待値（試験の結果、期待される動作）により構成され
る。この中で、機能は製品の動作を規定し、その動作試
験の具体的な内容を記述している。また、テスト順序
は、効率よく、かつ、正確なテストが行えるように動作
条件及び環境条件に着目して、テスト項目毎に順序付け
る。そして、各条件を設定し実際に動作させたときの各
条件に対する判定条件を決め、期待値を記述するように
される。
験する際、通常テスト仕様は、製品の機能とテスト順
序、テスト項目、動作条件、環境条件、良否判定条件、
期待値（試験の結果、期待される動作）により構成され
る。この中で、機能は製品の動作を規定し、その動作試
験の具体的な内容を記述している。また、テスト順序
は、効率よく、かつ、正確なテストが行えるように動作
条件及び環境条件に着目して、テスト項目毎に順序付け
る。そして、各条件を設定し実際に動作させたときの各
条件に対する判定条件を決め、期待値を記述するように
される。
【０００３】従来、これらのテスト仕様は、製品の規格
とテスト仕様作成者の経験から照らして抜けがなく、か
つ、短時間に行えることを目的に、人手により作成され
ていたのが一般的であった。なお、このテスト項目を自
動生成する試みとして、特開平１−２２１９６２号公報
に記載のように、通信ノードにおける動作試験につい
て、規格として固定化されている通信プロトコル仕様を
基に、テスト項目を抽出することでテスト項目を生成す
る方式が提案されているも、これは通信プロトコルを実
装した通信ノードにおいて、そのインプリメンテーショ
ンがベースとしたプロトコル仕様に適合しているか否か
を確認するためのテスト項目の生成方法に限定されるも
ので、汎用性の高いものではない。
とテスト仕様作成者の経験から照らして抜けがなく、か
つ、短時間に行えることを目的に、人手により作成され
ていたのが一般的であった。なお、このテスト項目を自
動生成する試みとして、特開平１−２２１９６２号公報
に記載のように、通信ノードにおける動作試験につい
て、規格として固定化されている通信プロトコル仕様を
基に、テスト項目を抽出することでテスト項目を生成す
る方式が提案されているも、これは通信プロトコルを実
装した通信ノードにおいて、そのインプリメンテーショ
ンがベースとしたプロトコル仕様に適合しているか否か
を確認するためのテスト項目の生成方法に限定されるも
ので、汎用性の高いものではない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】テスト仕様は製品の品
質に関わるため、その製品の動作を熟考し、抜けがな
く、テスト時間を短くすることを目的に、前記したよう
に人手によって作成されているのが一般的であった。こ
のため、テスト仕様の作成には厖大な作業量を伴い、開
発工数が増大し、テスト仕様の人的誤りの可能性も多く
なってきており、精度の高いテストをすることが難しく
なっている。また、製品の動作状態数は年々増加してい
るためテスト時間も大きくなり、テストにかかるコスト
も増えている。
質に関わるため、その製品の動作を熟考し、抜けがな
く、テスト時間を短くすることを目的に、前記したよう
に人手によって作成されているのが一般的であった。こ
のため、テスト仕様の作成には厖大な作業量を伴い、開
発工数が増大し、テスト仕様の人的誤りの可能性も多く
なってきており、精度の高いテストをすることが難しく
なっている。また、製品の動作状態数は年々増加してい
るためテスト時間も大きくなり、テストにかかるコスト
も増えている。
【０００５】本発明は上記の点に鑑みなされたもので、
その目的とするところは、動作試験を行う全ての製造物
に対し、そのテスト項目，条件を自動生成し、かつ、こ
れを最適化したテスト仕様として生成し得るテスト仕様
生成方式を提供することにある。
その目的とするところは、動作試験を行う全ての製造物
に対し、そのテスト項目，条件を自動生成し、かつ、こ
れを最適化したテスト仕様として生成し得るテスト仕様
生成方式を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のテスト仕様生成
方式は、上記目的を達成するため、試験項目と試験順序
を経験則として管理・格納する手段と、この経験則を利
用して試験項目を決定する手段と、決定された試験項目
に沿って、製品の製品規格から製品の動作試験のための
動作条件，環境条件，判定条件を決定する手段と、その
生成則の格納・管理手段と、過去に実際に製品の試験を
行った結果、不良となった試験項目，動作条件，判定条
件とその原因と対策結果を格納する手段と、過去の試験
結果の来歴を整理・抽出する手段と、前記試験項目、並
びに前記動作，環境，判定条件の決定手段により生成さ
れたテスト仕様を、前記した過去の試験結果を利用して
最適化する手段とを具備し、被テスト製品の製品規格か
ら得られるデータに基づいてテスト仕様を自動生成して
これを最適化するようにされる。
方式は、上記目的を達成するため、試験項目と試験順序
を経験則として管理・格納する手段と、この経験則を利
用して試験項目を決定する手段と、決定された試験項目
に沿って、製品の製品規格から製品の動作試験のための
動作条件，環境条件，判定条件を決定する手段と、その
生成則の格納・管理手段と、過去に実際に製品の試験を
行った結果、不良となった試験項目，動作条件，判定条
件とその原因と対策結果を格納する手段と、過去の試験
結果の来歴を整理・抽出する手段と、前記試験項目、並
びに前記動作，環境，判定条件の決定手段により生成さ
れたテスト仕様を、前記した過去の試験結果を利用して
最適化する手段とを具備し、被テスト製品の製品規格か
ら得られるデータに基づいてテスト仕様を自動生成して
これを最適化するようにされる。
【０００７】また、本発明のテスト仕様生成方式は、試
験項目と試験順序の経験則と、製品の製品規格から製品
の動作試験のための動作条件，環境条件，判定条件を生
成する生成則と、過去に実際に製品の試験を行った結
果、不良となった試験項目，動作条件，判定条件とその
原因と対策結果を格納する手段を持ち、テスト仕様設計
者が作成したテスト仕様を、前記した規則と過去の結果
に基づき最適化する手段によって、最適化処理するよう
にされる。
験項目と試験順序の経験則と、製品の製品規格から製品
の動作試験のための動作条件，環境条件，判定条件を生
成する生成則と、過去に実際に製品の試験を行った結
果、不良となった試験項目，動作条件，判定条件とその
原因と対策結果を格納する手段を持ち、テスト仕様設計
者が作成したテスト仕様を、前記した規則と過去の結果
に基づき最適化する手段によって、最適化処理するよう
にされる。
【０００８】さらにまた、本発明においては好ましく
は、前記最適化されて生成されたテスト仕様に従って、
製品検査装置の制御プログラムを自動生成するようにさ
れる。
は、前記最適化されて生成されたテスト仕様に従って、
製品検査装置の制御プログラムを自動生成するようにさ
れる。
【０００９】
【作用】テスト項目と動作条件，環境条件，判定条件等
の内容は、これらの生成規則と経験則を予め管理・記憶
しておくことにより、被テスト製品の製品規格から得ら
れるデータが与えられると、上記の規則によって自動的
にテスト項目，テスト条件の決定が行われる。この決定
に用いられる規則は、過去の同種の製品のテストノウハ
ウと各条件値決定のための演算ルールとデータ変換ルー
ルを含み、これらの規則を用いて上述のテスト項目，テ
スト条件を生成する。そして、ここで生成されたテスト
仕様に対し、過去に不良となった試験項目，動作条件，
判定条件とその原因と対策結果の来歴データを用いるこ
とによって、最適化処理を施し、より精度が高く効率の
良いテスト仕様に生成する。これは、過去のテスト実績
から動作試験のテストポイントを抽出し、これに従って
テスト項目，条件を追加もしくは削除することにより、
上述の規則に従って生成されたテスト仕様を、常識及び
経験的な規則だけに捕らわれずに最適化することがで
き、よって、誤りがなく効率の良いテスト仕様を生成す
ることができる。
の内容は、これらの生成規則と経験則を予め管理・記憶
しておくことにより、被テスト製品の製品規格から得ら
れるデータが与えられると、上記の規則によって自動的
にテスト項目，テスト条件の決定が行われる。この決定
に用いられる規則は、過去の同種の製品のテストノウハ
ウと各条件値決定のための演算ルールとデータ変換ルー
ルを含み、これらの規則を用いて上述のテスト項目，テ
スト条件を生成する。そして、ここで生成されたテスト
仕様に対し、過去に不良となった試験項目，動作条件，
判定条件とその原因と対策結果の来歴データを用いるこ
とによって、最適化処理を施し、より精度が高く効率の
良いテスト仕様に生成する。これは、過去のテスト実績
から動作試験のテストポイントを抽出し、これに従って
テスト項目，条件を追加もしくは削除することにより、
上述の規則に従って生成されたテスト仕様を、常識及び
経験的な規則だけに捕らわれずに最適化することがで
き、よって、誤りがなく効率の良いテスト仕様を生成す
ることができる。
【００１０】また、テスト仕様設計者が作成したテスト
仕様を入力し、前記した規則及び不良原因，対策結果と
製品規格により、テスト仕様設計者が作成したテスト仕
様を自動的にチェックし、かつ、最適化することで、テ
スト仕様設計者が作成したテスト仕様書を誤りのない、
かつ、効率の良いテスト仕様書へと更新・訂正すること
ができる。
仕様を入力し、前記した規則及び不良原因，対策結果と
製品規格により、テスト仕様設計者が作成したテスト仕
様を自動的にチェックし、かつ、最適化することで、テ
スト仕様設計者が作成したテスト仕様書を誤りのない、
かつ、効率の良いテスト仕様書へと更新・訂正すること
ができる。
【００１１】また、最適化されたテスト仕様をもとに製
品検査装置の制御プログラムを自動生成することによ
り、誤りのない高速な制御プログラムを生成することが
できる。従って、テスト時間を短くして検査装置の稼働
率を上げることができ、製品コストを下げることができ
る。
品検査装置の制御プログラムを自動生成することによ
り、誤りのない高速な制御プログラムを生成することが
できる。従って、テスト時間を短くして検査装置の稼働
率を上げることができ、製品コストを下げることができ
る。
【００１２】
【実施例】以下、本発明を図１〜図９に示した実施例に
よって説明する。図１は、本実施例のテスト仕様生成方
式を実現するためのシステムの機能構成をブロック化し
て示す説明図である。図１に示すように、本実施例のシ
ステムは、製品規格情報を記憶する製品規格記憶部１０
と、外部入力装置からの入力を管理する入力処理部１１
と、テスト項目生成規則記憶部１３，動作／環境決定規
則記憶部１４，演算規則記憶部１５などをもつデータマ
ネジメント手段１２と、上記の規則，製品規格情報から
実際にテスト項目，テスト条件（動作条件，環境条件，
判定条件）を算出・決定するテスト項目／条件決定処理
部１６と、外部入力やテスタワークステーションからの
入力等によって過去のテストで得られた不良情報を収集
する不良情報収集部２１と、不良情報収集部２１から出
力される不良情報（不良となった試験項目，動作条件，
判定条件とその原因と対策結果）を格納する不良原因／
対策結果記憶部２０と、不良原因／対策結果記憶部２０
に格納された過去の試験結果の来歴データを整理分類し
て抽出する不良情報解析部１８と、不良情報解析部１８
からの出力を利用してテスト項目／条件決定処理部１６
で生成したテスト仕様を最適化する最適化処理部１７
と、出力処理部２２とを備えている。
よって説明する。図１は、本実施例のテスト仕様生成方
式を実現するためのシステムの機能構成をブロック化し
て示す説明図である。図１に示すように、本実施例のシ
ステムは、製品規格情報を記憶する製品規格記憶部１０
と、外部入力装置からの入力を管理する入力処理部１１
と、テスト項目生成規則記憶部１３，動作／環境決定規
則記憶部１４，演算規則記憶部１５などをもつデータマ
ネジメント手段１２と、上記の規則，製品規格情報から
実際にテスト項目，テスト条件（動作条件，環境条件，
判定条件）を算出・決定するテスト項目／条件決定処理
部１６と、外部入力やテスタワークステーションからの
入力等によって過去のテストで得られた不良情報を収集
する不良情報収集部２１と、不良情報収集部２１から出
力される不良情報（不良となった試験項目，動作条件，
判定条件とその原因と対策結果）を格納する不良原因／
対策結果記憶部２０と、不良原因／対策結果記憶部２０
に格納された過去の試験結果の来歴データを整理分類し
て抽出する不良情報解析部１８と、不良情報解析部１８
からの出力を利用してテスト項目／条件決定処理部１６
で生成したテスト仕様を最適化する最適化処理部１７
と、出力処理部２２とを備えている。
【００１３】図２は上記した機能を実現するためのハー
ドウェア構成の一例を示す図である。同図において、３
１は本実施例によるテスト仕様の生成処理を司る計算機
（コンピュータ）で、入出力装置や生成処理を行う中央
処理装置および主記憶等を備えており、該計算機３１に
は外部記憶装置３２が接続されている。そして、この外
部記憶装置３２の中（もしくは場合によっては計算機３
１のメモリ）に、前記した生成規則や不良情報等が格納
される。また、この計算機３１はネットワーク３３を介
して、出力装置（プリンタ）３４や、製品試験装置（製
品検査装置）３６を制御する装置制御コンピュータ（テ
スタワークステーション）３５に繋がっており、計算機
３１と装置制御コンピュータ３５とはネットワーク３３
を利用した通信が容易に行えるようになっている。
ドウェア構成の一例を示す図である。同図において、３
１は本実施例によるテスト仕様の生成処理を司る計算機
（コンピュータ）で、入出力装置や生成処理を行う中央
処理装置および主記憶等を備えており、該計算機３１に
は外部記憶装置３２が接続されている。そして、この外
部記憶装置３２の中（もしくは場合によっては計算機３
１のメモリ）に、前記した生成規則や不良情報等が格納
される。また、この計算機３１はネットワーク３３を介
して、出力装置（プリンタ）３４や、製品試験装置（製
品検査装置）３６を制御する装置制御コンピュータ（テ
スタワークステーション）３５に繋がっており、計算機
３１と装置制御コンピュータ３５とはネットワーク３３
を利用した通信が容易に行えるようになっている。
【００１４】次に、図３によりテスト仕様の生成手法を
ＬＳＩテスト仕様を例にとって説明する。図３はＬＳＩ
のテスト仕様生成のための機能構成ブロックと処理の流
れを示している。同図に示すように、製品規格４１と、
ＬＳＩの動作タイミングマージンの算出条件規則４２
と、印加電圧，電源電圧の演算ルール４３と、テストの
基本的な流れと項目を規定しているテスト仕様テンプレ
ート４４とに、ＬＳＩの製造のばらつきなどのプロセス
データ４５と、回路設計時に使用したシミュレーション
結果４６を加え、ＬＳＩテスト仕様生成処理部４７で、
各ルールとデータに従ってＬＳＩテスト仕様を算出・決
定する。これにより、対象となるＬＳＩの製品規格に応
じた基本的なテスト仕様が生成され、この基本的なテス
ト仕様（プライマリテスト仕様）はテスト仕様生成結果
ファイル４８に転送・格納される。
ＬＳＩテスト仕様を例にとって説明する。図３はＬＳＩ
のテスト仕様生成のための機能構成ブロックと処理の流
れを示している。同図に示すように、製品規格４１と、
ＬＳＩの動作タイミングマージンの算出条件規則４２
と、印加電圧，電源電圧の演算ルール４３と、テストの
基本的な流れと項目を規定しているテスト仕様テンプレ
ート４４とに、ＬＳＩの製造のばらつきなどのプロセス
データ４５と、回路設計時に使用したシミュレーション
結果４６を加え、ＬＳＩテスト仕様生成処理部４７で、
各ルールとデータに従ってＬＳＩテスト仕様を算出・決
定する。これにより、対象となるＬＳＩの製品規格に応
じた基本的なテスト仕様が生成され、この基本的なテス
ト仕様（プライマリテスト仕様）はテスト仕様生成結果
ファイル４８に転送・格納される。
【００１５】一方、ＬＳＩを試験するＬＳＩテスタ４９
とデータの管理を行うテスタワークステーション５０に
より、テスト時の不良データが抽出され管理されてい
る。このデータは不良データ収集部５１により吸い上げ
られて、不良事例データベース５２へ格納される。これ
により、不良事例データベース５２には、過去の不良発
生時の現象，原因，対策結果等の過去の不良来歴情報が
格納される。そして、前記テスト仕様生成結果ファイル
４８に一時格納されたプライマリテスト仕様データは、
テスト仕様最適化処理部５４で、テスト時間を短縮し且
つ抜けのないテスト項目，条件にするための最適化処理
が行われる。このとき、不良事例データベース５２か
ら、不良情報整理／抽出部５３で、最適化処理に合わせ
整理，分類した検索を行ってテスト仕様最適化処理部５
４へ不良来歴データを渡し、テスト仕様最適化処理部５
４ではこれを適宜参照しつつ最適化処理を行う。そし
て、最適化されたテスト仕様はテスト仕様データ出力部
５５から出力される。
とデータの管理を行うテスタワークステーション５０に
より、テスト時の不良データが抽出され管理されてい
る。このデータは不良データ収集部５１により吸い上げ
られて、不良事例データベース５２へ格納される。これ
により、不良事例データベース５２には、過去の不良発
生時の現象，原因，対策結果等の過去の不良来歴情報が
格納される。そして、前記テスト仕様生成結果ファイル
４８に一時格納されたプライマリテスト仕様データは、
テスト仕様最適化処理部５４で、テスト時間を短縮し且
つ抜けのないテスト項目，条件にするための最適化処理
が行われる。このとき、不良事例データベース５２か
ら、不良情報整理／抽出部５３で、最適化処理に合わせ
整理，分類した検索を行ってテスト仕様最適化処理部５
４へ不良来歴データを渡し、テスト仕様最適化処理部５
４ではこれを適宜参照しつつ最適化処理を行う。そし
て、最適化されたテスト仕様はテスト仕様データ出力部
５５から出力される。
【００１６】図４は上記したＬＳＩのテスト仕様生成の
処理フローを示している。図４のステップ６０でテスト
仕様生成指示が与えられると、ステップ６１で、製品規
格と設計時のシミュレーションした結果とＬＳＩの特性
情報等が取り込まれ、ステップ６２で仕様書のテンプレ
ートに従って、マージン条件規則と製品規格により演算
しテンプレートに当てはめ、この結果をステップ６３で
プライマリテスト仕様として出力処理部へ渡し、このプ
ライマリテスト仕様をステップ６６，６７で表示もしく
はプリント出力する。またステップ６４で、プライマリ
テスト仕様を過去の不良情報から、テスト項目を加え条
件を厳しくし、あるいは、必要性のないテスト項目の削
除を行うことにより、質の良いテスト仕様を生成して、
この結果をステップ６５で最適化済みテスト仕様として
出力処理部へ渡し、この最適化済みテスト仕様もステッ
プ６６，６７で表示もしくはプリント出力する。
処理フローを示している。図４のステップ６０でテスト
仕様生成指示が与えられると、ステップ６１で、製品規
格と設計時のシミュレーションした結果とＬＳＩの特性
情報等が取り込まれ、ステップ６２で仕様書のテンプレ
ートに従って、マージン条件規則と製品規格により演算
しテンプレートに当てはめ、この結果をステップ６３で
プライマリテスト仕様として出力処理部へ渡し、このプ
ライマリテスト仕様をステップ６６，６７で表示もしく
はプリント出力する。またステップ６４で、プライマリ
テスト仕様を過去の不良情報から、テスト項目を加え条
件を厳しくし、あるいは、必要性のないテスト項目の削
除を行うことにより、質の良いテスト仕様を生成して、
この結果をステップ６５で最適化済みテスト仕様として
出力処理部へ渡し、この最適化済みテスト仕様もステッ
プ６６，６７で表示もしくはプリント出力する。
【００１７】図５は前記した不良データ収集の処理フロ
ーを示している。ＬＳＩの量産段階では、ステップ８１
のテスタの試験による不良データを、ステップ８２でテ
スタワークステーションに取り込み、これをステップ８
４でデータのフォーマット変換を行った後、不良データ
収集部へ転送し、次にステップ８５で、製品名，現象，
原因，対策方法，対策結果をキーに分類・整理する。ま
たこの時点（ステップ８５）で、ステップ８３において
入力される市場からの情報や回路設計者からの不良情報
なども同時に取り込み、同様に、製品名，現象，原因，
対策方法，対策結果をキーに分類・整理する。そして、
ステップ８６において、吸い上げられた不良が過去にあ
ったかどうかを不良事例データベースを検索して判別
し、過去にない場合にのみ、吸い上げた不良データを不
良事例データベースに追加・格納する。そして、新規不
良事例が登録されると、ステップ８７で、このデータを
上記製品名，現象，原因，対策方法，対策結果をキーし
た仮想テーブル（ビュー）を定義し、以後のステップ８
８の最適化処理時における検索処理の高速化を図るよう
にされる。
ーを示している。ＬＳＩの量産段階では、ステップ８１
のテスタの試験による不良データを、ステップ８２でテ
スタワークステーションに取り込み、これをステップ８
４でデータのフォーマット変換を行った後、不良データ
収集部へ転送し、次にステップ８５で、製品名，現象，
原因，対策方法，対策結果をキーに分類・整理する。ま
たこの時点（ステップ８５）で、ステップ８３において
入力される市場からの情報や回路設計者からの不良情報
なども同時に取り込み、同様に、製品名，現象，原因，
対策方法，対策結果をキーに分類・整理する。そして、
ステップ８６において、吸い上げられた不良が過去にあ
ったかどうかを不良事例データベースを検索して判別
し、過去にない場合にのみ、吸い上げた不良データを不
良事例データベースに追加・格納する。そして、新規不
良事例が登録されると、ステップ８７で、このデータを
上記製品名，現象，原因，対策方法，対策結果をキーし
た仮想テーブル（ビュー）を定義し、以後のステップ８
８の最適化処理時における検索処理の高速化を図るよう
にされる。
【００１８】図６は不良データとプライマリテスト仕様
との関係を示している。不良事例データベース内の不良
分類ビュー９０の内容をもとに、プライマリテスト仕様
９１は最適化される。このとき、不良分類ビュー９０の
キー項目とプライマリテスト仕様９１を依存グラフで表
し、テスト項目のテスト内容と不良分類ビューのキーと
が関係付けられている。この関係を利用して不良分類ビ
ューを、各テスト項目毎に検索し、電圧条件やタイミン
グ値などをチェックし、テスト項目の取捨選択を行うよ
うにされる。
との関係を示している。不良事例データベース内の不良
分類ビュー９０の内容をもとに、プライマリテスト仕様
９１は最適化される。このとき、不良分類ビュー９０の
キー項目とプライマリテスト仕様９１を依存グラフで表
し、テスト項目のテスト内容と不良分類ビューのキーと
が関係付けられている。この関係を利用して不良分類ビ
ューを、各テスト項目毎に検索し、電圧条件やタイミン
グ値などをチェックし、テスト項目の取捨選択を行うよ
うにされる。
【００１９】図７は、前記した動作条件決定規則と演算
規則をグラフを使って実現したアルゴリズムの例を示し
ている。図７では、製品規格９２−１からプライマリテ
スト仕様を生成し、その結果を最適化する処理と、テス
ト設計者が作成したテスト仕様９２−２を入力してその
仕様を最適化する処理とを示している。
規則をグラフを使って実現したアルゴリズムの例を示し
ている。図７では、製品規格９２−１からプライマリテ
スト仕様を生成し、その結果を最適化する処理と、テス
ト設計者が作成したテスト仕様９２−２を入力してその
仕様を最適化する処理とを示している。
【００２０】製品規格からのテスト仕様生成は、過去の
テスト項目を生成則としてグラフで表し、これを主記憶
へ展開して探索することにより生成する。図７の第１層
９２−３は、テスト項目名を表している。第２層９２−
４以降は、各項目と関係のある動作条件をリンクしてい
る。各条件はそれぞれ独立したデータと処理プログラム
とを持つ。実際の生成処理は、生成プログラムと呼ぶプ
ロセスが実行母体となり、各条件のリンクに従って伝搬
して行くことにより、テスト条件を決定していく。この
とき、電源電圧，温度等の環境条件情報は、生成プロセ
スが持ち、この情報と各条件の基本的な因果関係により
伝搬ルートを決定し生成する。生成プロセスは、各条件
グラフの最終の第ｎ層９２−６の“Terminal”まで伝搬
し、そこで１テスト項目の生成が終わる。全ての項目を
終了するとプライマリテスト仕様が完成する。ここで、
各テスト項目を見て、不良事例テーブル９２−８へのポ
インタを探す。このポインタは、不良事例テーブル９２
−８の“検出方法”とリンクしていて、この不良事例テ
ーブル９２−８から９２−７に向けてポインタがあり、
これが検出方法に対応した動作条件決定グラフの起点と
なる。このポインタにより、プライマリテスト仕様に過
去の不良事例を考慮したテスト項目を付加でき、より不
良検出率の高いテスト仕様が生成できることとなる。
テスト項目を生成則としてグラフで表し、これを主記憶
へ展開して探索することにより生成する。図７の第１層
９２−３は、テスト項目名を表している。第２層９２−
４以降は、各項目と関係のある動作条件をリンクしてい
る。各条件はそれぞれ独立したデータと処理プログラム
とを持つ。実際の生成処理は、生成プログラムと呼ぶプ
ロセスが実行母体となり、各条件のリンクに従って伝搬
して行くことにより、テスト条件を決定していく。この
とき、電源電圧，温度等の環境条件情報は、生成プロセ
スが持ち、この情報と各条件の基本的な因果関係により
伝搬ルートを決定し生成する。生成プロセスは、各条件
グラフの最終の第ｎ層９２−６の“Terminal”まで伝搬
し、そこで１テスト項目の生成が終わる。全ての項目を
終了するとプライマリテスト仕様が完成する。ここで、
各テスト項目を見て、不良事例テーブル９２−８へのポ
インタを探す。このポインタは、不良事例テーブル９２
−８の“検出方法”とリンクしていて、この不良事例テ
ーブル９２−８から９２−７に向けてポインタがあり、
これが検出方法に対応した動作条件決定グラフの起点と
なる。このポインタにより、プライマリテスト仕様に過
去の不良事例を考慮したテスト項目を付加でき、より不
良検出率の高いテスト仕様が生成できることとなる。
【００２１】一方また、テスト仕様設計者が作成したテ
スト仕様９２−２の最適化は、そのテスト条件に従っ
て、グラフを探索し、“Terminal”へ達した時点で、ｎ
層と（ｎ−１）層の辿ったルートを切る。この処理を作
成されたテスト仕様の全項目が終わるまで続ける。最終
的に、残ったルートがあれば、このテスト項目をテスト
設計者が作成したテスト仕様に付加する。“Terminal”
まで行けずに条件に合うルートがない場合、冗長なテス
トの恐れがあるため、使用者に対し警告を発する。但
し、新規テスト項目の場合があるため、自動的にそのテ
スト項目を削除することはない。
スト仕様９２−２の最適化は、そのテスト条件に従っ
て、グラフを探索し、“Terminal”へ達した時点で、ｎ
層と（ｎ−１）層の辿ったルートを切る。この処理を作
成されたテスト仕様の全項目が終わるまで続ける。最終
的に、残ったルートがあれば、このテスト項目をテスト
設計者が作成したテスト仕様に付加する。“Terminal”
まで行けずに条件に合うルートがない場合、冗長なテス
トの恐れがあるため、使用者に対し警告を発する。但
し、新規テスト項目の場合があるため、自動的にそのテ
スト項目を削除することはない。
【００２２】図８は最適化されたテストプログラムの生
成フローを示している。ステップ１０１でテスト仕様生
成指示が与えられると、ステップ１０２で、製品規格と
設計時のシミュレーションした結果とＬＳＩの特性情報
が取り込まれ、ステップ１０３で、仕様書のテンプレー
トに従って、マージン条件規則と製品規格により演算
し、テンプレートに当てはめる。この結果をステップ１
０４でプライマリテスト仕様として出力処理部へ渡し
て、このプライマリテスト仕様をステップ１０５，１０
６で表示もしくはプリント出力する。また、ステップ１
０７で、プライマリテスト仕様を、過去の不良情報か
ら、テスト項目を加え条件を厳しく、あるいはまた、必
要性のないテスト項目の削除を行うことにより、質の良
いテスト仕様（最適化されたテスト仕様）を生成し、こ
の結果をステップ１０８で最適化済みテスト仕様として
出力処理部へ渡し、この最適化済みテスト仕様も、ステ
ップ１０５，１０６で表示もしくはプリント出力する。
この後、ＬＳＩのテストを例にすると、作成され最適化
されたテスト仕様をもとにＬＳＩテスタを制御するテス
トプログラムを作成する。すなわち、ステップ１０９で
予め入力されているプログラム構文規則を参照して、ス
テップ１１０において、上記のように最適化されたテス
ト仕様に基づきテストプログラムを自動生成し、これを
ステップ１１１で最適化ＬＳＩテストプログラムとして
出力する。そして、ＬＳＩテスタは、このプログラムに
指定されている、電圧条件，タイミング値をプログラム
に従ってＬＳＩに印加してＬＳＩを動作させ、正常動作
かどうかを判定する。このテストプログラムは、最適化
されたテスト仕様に基づき作成されており、テスト時間
が短く、かつ、テスト必要項目は確実に含んだテストプ
ログラムとなっている。
成フローを示している。ステップ１０１でテスト仕様生
成指示が与えられると、ステップ１０２で、製品規格と
設計時のシミュレーションした結果とＬＳＩの特性情報
が取り込まれ、ステップ１０３で、仕様書のテンプレー
トに従って、マージン条件規則と製品規格により演算
し、テンプレートに当てはめる。この結果をステップ１
０４でプライマリテスト仕様として出力処理部へ渡し
て、このプライマリテスト仕様をステップ１０５，１０
６で表示もしくはプリント出力する。また、ステップ１
０７で、プライマリテスト仕様を、過去の不良情報か
ら、テスト項目を加え条件を厳しく、あるいはまた、必
要性のないテスト項目の削除を行うことにより、質の良
いテスト仕様（最適化されたテスト仕様）を生成し、こ
の結果をステップ１０８で最適化済みテスト仕様として
出力処理部へ渡し、この最適化済みテスト仕様も、ステ
ップ１０５，１０６で表示もしくはプリント出力する。
この後、ＬＳＩのテストを例にすると、作成され最適化
されたテスト仕様をもとにＬＳＩテスタを制御するテス
トプログラムを作成する。すなわち、ステップ１０９で
予め入力されているプログラム構文規則を参照して、ス
テップ１１０において、上記のように最適化されたテス
ト仕様に基づきテストプログラムを自動生成し、これを
ステップ１１１で最適化ＬＳＩテストプログラムとして
出力する。そして、ＬＳＩテスタは、このプログラムに
指定されている、電圧条件，タイミング値をプログラム
に従ってＬＳＩに印加してＬＳＩを動作させ、正常動作
かどうかを判定する。このテストプログラムは、最適化
されたテスト仕様に基づき作成されており、テスト時間
が短く、かつ、テスト必要項目は確実に含んだテストプ
ログラムとなっている。
【００２３】図９はテスト仕様チェックの処理の流れの
様子を示している。テスト設計者がグラフィカルユーザ
ーインターフェイス１２０を使ってテスト仕様を入力す
ると、そのデータはテスト仕様データベース１２１へ格
納される。このデータを使って、図８で述べたようにテ
ストプログラム１２４を生成し、かつ必要に応じ仕様書
１２３として出力される。このとき、テスト仕様データ
ベース内のテスト仕様は、テスト設計者が作成したもの
であり、単純な入力ミスや計算ミス，テストの意味的な
ミスを含んでいる可能性があり、また、テスト項目にも
冗長なものがある可能性もある。これを動作条件決定規
則１２５を参照して、動作条件／項目チェック１２６
で、計算ミス，入力ミスをチェック，修正し、さらに、
誤り（ミス）があった場合はこの旨をテスト設計者へ警
告する。そして、テスト項目については、図６，図７で
述べた最適化処理を行い、これを最適化チェック１２７
で、チェック，修正し、さらに、誤り（ミス）があった
場合はこの旨をテスト設計者へ警告する。
様子を示している。テスト設計者がグラフィカルユーザ
ーインターフェイス１２０を使ってテスト仕様を入力す
ると、そのデータはテスト仕様データベース１２１へ格
納される。このデータを使って、図８で述べたようにテ
ストプログラム１２４を生成し、かつ必要に応じ仕様書
１２３として出力される。このとき、テスト仕様データ
ベース内のテスト仕様は、テスト設計者が作成したもの
であり、単純な入力ミスや計算ミス，テストの意味的な
ミスを含んでいる可能性があり、また、テスト項目にも
冗長なものがある可能性もある。これを動作条件決定規
則１２５を参照して、動作条件／項目チェック１２６
で、計算ミス，入力ミスをチェック，修正し、さらに、
誤り（ミス）があった場合はこの旨をテスト設計者へ警
告する。そして、テスト項目については、図６，図７で
述べた最適化処理を行い、これを最適化チェック１２７
で、チェック，修正し、さらに、誤り（ミス）があった
場合はこの旨をテスト設計者へ警告する。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、各
種製造物の出荷及び受け入れ試験のテスト内容を指示す
るテスト仕様を、テスト時間が短く、必要な試験項目を
抜けなく含み、入力，計算ミスのない最適な仕様として
自動生成でき、テスト仕様設計時間やテスト時間を短縮
でき、また、テストの信頼性を向上させることができ
る。また、人手で作成されたテスト仕様をチェックする
こともでき、さらにはまた、最適化されたテストプログ
ラムの自動生成も可能となり、総じて、テスト仕様作成
およびテスト動作の信頼性，効率が大幅に向上するとい
う顕著な効果を奏する。
種製造物の出荷及び受け入れ試験のテスト内容を指示す
るテスト仕様を、テスト時間が短く、必要な試験項目を
抜けなく含み、入力，計算ミスのない最適な仕様として
自動生成でき、テスト仕様設計時間やテスト時間を短縮
でき、また、テストの信頼性を向上させることができ
る。また、人手で作成されたテスト仕様をチェックする
こともでき、さらにはまた、最適化されたテストプログ
ラムの自動生成も可能となり、総じて、テスト仕様作成
およびテスト動作の信頼性，効率が大幅に向上するとい
う顕著な効果を奏する。
【図１】本発明の実施例によるテスト仕様生成システム
の機能構成をブロック化して示す説明図である。
の機能構成をブロック化して示す説明図である。
【図２】本発明の実施例によるテスト仕様生成システム
を実現するハードウェア構成の一例を示す説明図であ
る。
を実現するハードウェア構成の一例を示す説明図であ
る。
【図３】本発明の実施例によるＬＳＩテスト仕様作成の
ための機能構成ブロックと概略の処理の流れを示す説明
図である。
ための機能構成ブロックと概略の処理の流れを示す説明
図である。
【図４】本発明の実施例によるテスト仕様生成の処理フ
ローを示す説明図である。
ローを示す説明図である。
【図５】本発明の実施例による不良データ収集の処理フ
ローを示す説明図である。
ローを示す説明図である。
【図６】本発明の実施例による不良データとプライマリ
テスト仕様との関係を示す説明図である。
テスト仕様との関係を示す説明図である。
【図７】本発明の実施例による最適化処理の流れと各要
素の関係を示す説明図である。
素の関係を示す説明図である。
【図８】本発明の実施例による最適化されたテストプロ
グラム生成の処理フローを示す説明図である。
グラム生成の処理フローを示す説明図である。
【図９】本発明の実施例による人手によって作成された
テスト仕様をチェックする処理の流れの様子を示す説明
図である。
テスト仕様をチェックする処理の流れの様子を示す説明
図である。
１０ 製品規格記憶部 １１ 入力処理部 １２ データマネジメント手段 １３ テスト項目生成規則記憶部 １４ 動作／環境決定規則記憶部 １５ 演算規則記憶部 １６ テスト項目／条件決定処理部 １７ 最適化処理部 １８ 不良条件解析部 ２０ 不良原因／対策結果記憶部 ２１ 不良情報収集部 ２２ 出力処理部
Claims (5)
- 【請求項１】 製造または受け入れた製品が確実な動作
をするか否かを検査するためのテスト仕様を生成する方
式において、 試験項目と試験順序を経験則として管理・格納する手段
と、 前記経験則を利用して試験項目を決定する手段と、 前記試験項目に沿って、前記製品の製品規格から製品の
動作試験のための動作条件，環境条件，判定条件を決定
する手段と、 その生成則の格納・管理手段と、 過去に実際に製品の試験を行った結果、不良となった試
験項目，動作条件，判定条件とその原因と対策結果を格
納する手段と、 過去の試験結果の来歴を整理・抽出する手段と、 前記試験項目、並びに前記動作，環境，判定条件の決定
手段により生成されたテスト仕様を、前記した過去の試
験結果を利用して最適化する手段とを、具備し、被テス
ト製品の製品規格から得られるデータに基づいてテスト
仕様を自動生成してこれを最適化するようにしたことを
特徴とするテスト仕様生成方式。 - 【請求項２】 製造または受け入れた製品が確実な動作
をするか否かを検査するためのテスト仕様を生成する方
式において、 試験項目と試験順序の経験則と、前記製品の製品規格か
ら製品の動作試験のための動作条件，環境条件，判定条
件を生成する生成則と、過去に実際に製品の試験を行っ
た結果、不良となった試験項目，動作条件，判定条件と
その原因と対策結果を格納する手段を持ち、 テスト仕様設計者が作成したテスト仕様を、前記した規
則と過去の結果に基づき最適化する手段によって、最適
化処理するようにしたことを特徴とするテスト仕様生成
方式。 - 【請求項３】 請求項２記載において、 前記テスト仕様設計者が作成したテスト仕様に誤りがあ
るか否かをチェックするチェック手段を設け、誤りが検
出された場合には、この旨をテスト仕様設計者に認知さ
せるようにしたことを特徴とするテスト仕様生成方式。 - 【請求項４】 請求項１乃至３記載において、 前記最適化されて生成されたテスト仕様に従って、製品
検査装置の制御プログラムを自動生成するようにしたこ
とを特徴とするテスト仕様生成方式。 - 【請求項５】 請求項４記載において、 前記制御プログラムを前記製品検査装置へ送る手段と、 前記制御プログラムに従って前記製品検査装置で実行さ
れるテストの結果を各動作条件に従って分類し収集する
手段と、 この収集されたデータを、不良となった試験項目，動作
条件，判定条件とその原因と対策結果を格納するための
前記格納手段へ転送する手段と、 前記収集されたデータを、テスト仕様のキーワードに従
って分類する手段とを、具備したことを特徴とするテス
ト仕様生成方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4324192A JP3195031B2 (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | テスト仕様生成方法及び半導体装置検査装置及び半導体装置検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4324192A JP3195031B2 (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | テスト仕様生成方法及び半導体装置検査装置及び半導体装置検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05240745A true JPH05240745A (ja) | 1993-09-17 |
| JP3195031B2 JP3195031B2 (ja) | 2001-08-06 |
Family
ID=12658405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4324192A Expired - Fee Related JP3195031B2 (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | テスト仕様生成方法及び半導体装置検査装置及び半導体装置検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3195031B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004287609A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Ricoh Co Ltd | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム |
| WO2005043419A1 (ja) * | 2003-10-31 | 2005-05-12 | Fujitsu Limited | 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラムおよび記録媒体 |
| JP2007147379A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Nec Computertechno Ltd | 半導体装置検査システム、半導体装置検査方法および半導体装置検査プログラム |
| JP2008500515A (ja) * | 2004-05-10 | 2008-01-10 | ニベア クオリティー マネージメント ソリューションズ エルティーディー． | 製品の機能保証と修理案内用の試験スート |
| JP2008509420A (ja) * | 2004-08-09 | 2008-03-27 | エービービー・エスピー．・ゼット．オー．オー． | 技術的装置を診断するための方法及びデバイス |
| KR100853266B1 (ko) * | 2006-12-08 | 2008-08-20 | 한국전자통신연구원 | 리눅스 기반의 임베디드 시스템용 테스팅 환경 정보 리포트생성 방법 및 장치 |
| KR20160076878A (ko) * | 2014-12-23 | 2016-07-01 | 에스케이이노베이션 주식회사 | 보호 계전기 테스트를 위한 설정값 처리 장치 및 방법 |
| WO2018211617A1 (ja) * | 2017-05-17 | 2018-11-22 | 日本電気株式会社 | 実験計画最適化装置、実験計画最適化方法および実験計画最適化プログラム |
-
1992
- 1992-02-28 JP JP4324192A patent/JP3195031B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP4480947B2 (ja) * | 2003-03-19 | 2010-06-16 | 株式会社リコー | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム |
| WO2005043419A1 (ja) * | 2003-10-31 | 2005-05-12 | Fujitsu Limited | 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラムおよび記録媒体 |
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| KR20160076878A (ko) * | 2014-12-23 | 2016-07-01 | 에스케이이노베이션 주식회사 | 보호 계전기 테스트를 위한 설정값 처리 장치 및 방법 |
| WO2018211617A1 (ja) * | 2017-05-17 | 2018-11-22 | 日本電気株式会社 | 実験計画最適化装置、実験計画最適化方法および実験計画最適化プログラム |
| JPWO2018211617A1 (ja) * | 2017-05-17 | 2020-03-19 | 日本電気株式会社 | 実験計画最適化装置、実験計画最適化方法および実験計画最適化プログラム |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3195031B2 (ja) | 2001-08-06 |
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