JP2018067040A - テストショット作成支援装置およびテストショット作成支援方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】システム設計書に関する妥当性確認を確実かつ効率良く実行出来るよう支援する。【解決手段】テストショット作成支援装置100において、目次分類125とキーワードファイル126を格納した記憶装置104と、各設計書から予め抽出された、テスト項目に関連する各目次に、目次分類125を適用して、各テスト項目のテスト分類を特定し、各テスト項目の記載にキーワードファイル126を適用して、各テスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、特定したテスト分類別にテスト項目をグルーピングし、当該グルーピングされたテスト項目間で、特定した特定キーワードが一致するもの同士を1つのテストショット対象と特定する演算装置104を含む構成とする。【選択図】図2
Description
本発明は、テストショット作成支援装置およびテストショット作成支援方法に関するものであり、具体的には、システム設計書に関する妥当性確認を確実かつ効率良く実行出来るよう支援する技術に関する。
システム開発を担うベンダーは、その顧客に対して設計書などの各種文書を作成、提示する。開発対象のシステムが相応の規模となれば、そうした文書類は膨大で複雑な構成となりやすい。この場合、設計書等を利用して作業を行う者にとって、多大な手間と時間が必要となる。
そこで、設計書の利用に際して手間を低減し、作業を効率化する従来技術として、以下のものが提案されている。例えば、ソフトウェア開発プロセスの各工程で作成される設計書等の品質が妥当であるか判定することを目的とした、複数の設計工程を含むソフトウェア開発プロセスの第1設計工程において作成され、複数の要件が規定された第1設計書であって、規定された要件毎に異なる第1タグが割り当てられた第1設計書を入力装置により入力する第1設計書入力部と、前記第1設計工程の下位の第2設計工程で作成された第2設計書であって、前記第1設計書で規定された要件に対応する記載に対して、その要件に割り当てられた第1タグが付された第2設計書を入力装置により入力する第2設計書入力部と、前記第1設計書入力部が入力した前記第1設計書と、前記第2設計書入力部が入力した前記第2設計書とを記憶装置に記憶する成果物記憶部と、前記記憶装置から前記第1設計書と前記第2設計書を読み出して、前記第1設計書で規定された要件に割り当てられた第1タグのうちいくつの第1タグが、前記第2設計書に付与されているかを示すヒット率を処理装置により計算するヒット率計算部と、前記ヒット率計算部が計算したヒット率を出力する出力部とを備える成果物品質管理装置(特許文献1参照)などが提案されている。
上述した設計書は、その作成担当者等が記載した不定型な文章で構成されることが多い。また、開発対象システムにおける各機能の設計内容は、実装のパーツ単位で、運用設計書や信頼性設計書といった設計書別に記載されることとなる。そのため、共通的な設計、設計のコンセプト等が、複数の設計書にばらばらの記載で出現する状況が生うまれる。
実質的には1つの設計内容が不定型文の形で各種設計書に分散する現状において、当該設計内容を1つのテストショットとして纏め、結合テスト等を実行すれば設計の妥当性確認が効率化される。一方、該当設計書の規模や構成が大規模になれば、設計内容をテストショットに纏める場合、その作業に要する手間と時間が膨大となり、かえって工程全体が非効率化してしまう恐れがある。
そこで本発明の目的は、システム設計書に関する妥当性確認を確実かつ効率良く実行出来るよう支援する技術を提供することにある。
上記課題を解決する本発明のテストショット作成支援装置は、所定システムに関する各設計書の目次と当該システムに関して実行するテストの分類との対応関係を規定した目次分類と、前記テストの対象となる機能および機器を示す特定キーワードを規定したキーワードファイルと、を格納した記憶装置と、前記各設計書から予め抽出された、テスト項目に関連する各目次に、前記目次分類を適用して、各テスト項目のテスト分類を特定し、前記各テスト項目の記載に前記キーワードファイルを適用して、各テスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、前記特定したテスト分類別にテスト項目をグルーピングし、当該グルーピングされたテスト項目間で、前記特定した特定キーワードが一致するもの同士を1つのテストショット対象と特定する演算装置と、を備えることを特徴とする。
また、本発明のテストショット作成支援方法は、所定システムに関する各設計書の目次と当該システムに関して実行するテストの分類との対応関係を規定した目次分類と、前記テストの対象となる機能および機器を示す特定キーワードを規定したキーワードファイルと、を格納した記憶装置を備える情報処理装置が、前記各設計書から予め抽出された、テスト項目に関連する各目次に、前記目次分類を適用して、各テスト項目のテスト分類を特定し、前記各テスト項目の記載に前記キーワードファイルを適用して、各テスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、前記特定したテスト分類別にテスト項目をグルーピングし、当該グルーピングされたテスト項目間で、前記特定した特定キーワードが一致するもの同士を1つのテストショット対象と特定する、ことを特徴とする。
本発明によれば、システム設計書に関する妥当性確認を確実かつ効率良く実行出来るよう支援可能となる。
−−−ネットワーク構成−−−
以下に本発明の実施形態について図面を用いて詳細に説明する。図1は、本実施形態の
テストショット作成支援装置100を含むネットワーク構成例を示す図である。本実施形態のテストショット作成支援装置100は、顧客からシステム開発業務を受注し、これを遂行するベンダーが利用する装置である(勿論、上述の顧客が利用するとしてもよい)。
テストショット作成支援装置100を含むネットワーク構成例を示す図である。本実施形態のテストショット作成支援装置100は、顧客からシステム開発業務を受注し、これを遂行するベンダーが利用する装置である(勿論、上述の顧客が利用するとしてもよい)。
こうしたベンダーがシステム開発業務に伴って作成する設計書は、表計算ソフトウェアで作成され、記載内容が一覧化された形式であることが多い。しかしながら公的機関等においては事情が異なっており、文章編集ソフトウェアで作成された文章形式の設計書が求められることが多い。また、同一の機能に対するシステム設計を、実装のパーツ単位で、別々の設計書へと記載することが求められるため、共通的な設計、設計コンセプト等が複数の設計書に点在することとなる。
例えば、サーバのミドルウェアの停止機能にかかる設計書では、次のような記載となる。すなわち、「運用ジョブの全般的なフロー設計:運用設計書A章」、「クラスタ停止対象とするミドルウェア:信頼性設計書B章」、「クラスタ対象ミドルウェアの停止順序の設計:運用設計書C章、信頼性設計書D章の双方」、「クラスタ対象外ミドルウェアの停止順序の設計:運用設計書E章」、などとなる。
従来であれば、複数の設計書に記載が点在している或る機能の設計に関して、ベンダーの所定担当者等がテスト項目同士の関連を逐一確認し、テストショットとして纏めていく作業が必要であった。本実施形態のテストショット作成支援装置100は、こうした事情に対応して、1つのテストショットに纏めるべきテスト項目を効率的かつ的確に特定し、ひいては、システム設計書に関する妥当性確認を確実かつ効率良く実行出来るよう支援する装置となる。
本実施形態のテストショット作成支援装置100は、図1に例示するように、インターネットや専用回線などの適宜なネットワーク10を介して、ユーザ端末200および顧客端末300と通信可能に結ばれている。勿論、図1のネットワーク構成は一例であり、テストショット作成支援装置100の入出力手段によって、必要な情報の入出力が実行される構成、運用を採用する場合、当該テストショット作成支援装置100をスタンドアロンマシンとして構成してもよい。
なお、上述のユーザ端末200は、上述のベンダーの所定担当者等が使用する端末である。また、顧客端末300は、上述のシステム開発業務を当該ベンダーに発注した顧客の端末である。
−−−ハードウェア構成−−−
−−−ハードウェア構成−−−
本実施形態におけるテストショット作成支援装置100のハードウェア構成は以下の如くとなる。すなわち、当該テストショット作成支援装置100は、SSD(Solid State Drive)やハードディスクドライブなど適宜な不揮発性記憶素子で構成される記憶装置101、RAMなど揮発性記憶素子で構成されるメモリ103、記憶装置101に保持されるプログラム102をメモリ103に読み出すなどして実行し装置自体の統括制御を行なうとともに各種判定、演算及び制御処理を行なうCPUなどの演算装置104、ネットワーク10と接続し他装置との通信処理を担う通信装置105、を備える。
なお、記憶装置101内には、本実施形態のテストショット作成支援装置100として必要な機能を実装する為のプログラム102に加えて、設計書ライブラリ125、テスト項目一覧126、目次分類127、およびキーワードファイル128が少なくとも記憶されている。これら設計書ライブラリ125、テスト項目一覧126、目次分類127、およびキーワードファイル128の詳細については後述する。
なお、上述の設計書ライブラリ125、テスト項目一覧126、目次分類127、およびキーワードファイル128らは、本実施形態で例示するように、テストショット作成支援装置100の装置内の記憶装置101にて保持する構成の他、ネットワーク10など適宜な通信経路を介して結ばれた外部装置に保持され、必要に応じてテストショット作成支援装置100による読み書き可能となっている構成であってもよい。
−−−データ構造例−−−
−−−データ構造例−−−
続いて、本実施形態のテストショット作成支援装置100が用いるテーブル類について説明する。図3に、本実施形態における設計書の一例を示す。本実施形態では、開発対象のシステムに関する設計書として、運用設計書125A、信頼性設計書125B、方式設計書125C、情報セキュリティ設計書125D、といった複数種類の設計書を想定している。また、こうした設計書は設計書ライブラリ125に格納されている。設計書ライブラリ125は、上述のベンダーが顧客からの要求を満たすべく、開発対象のシステムに関して設計した各設計書のライブラリファイルである。
ここでは設計書の一例として運用設計書125Aの例を示す。この運用設計書125Aのデータ構造は、各章の目次とその内容を示す記述とがセットになったものであり、テキスト形式のデータから構成されている。
また、図4に本実施形態におけるテスト項目一覧126のデータ構成例を示す。本実施形態のテスト項目一覧126は、例えばベンダーにおいて所定の知見を有する者により、上述の各設計書125A〜125Dから予め抽出された、テスト項目に関連する各目次の情報を格納したテーブルである。
そのデータ構造は、設計書名と目次をキーに、当該設計書および目次が示すテスト項目の情報を対応付けたレコードの集合体となっている。
また、図5に本実施形態における目次分類127のデータ構成例を示す。本実施形態の目次分類127は、開発対象のシステムに関する各設計書の目次と当該システムに関して実行するテストの分類との対応関係を規定したテーブルである。そのデータ構造は、設計書名と目次をキーに、テスト分類を対応付けたレコードの集合体となっている。
また、図6に本実施形態におけるキーワードファイル128のデータ構成例を示す。本実施形態のキーワードファイル128は、開発対象のシステムに関して、テスト対象となる機能および機器を示す特定キーワードを格納したファイルである。当該ファイルは、機能に関して定義されたキーワードのリストと、機器に関して定義されたキーワードのリストとから構成されている。
−−−フロー例−−−
−−−フロー例−−−
以下、本実施形態におけるテストショット作成支援方法の実際手順について図に基づき説明する。以下で説明するテストショット作成支援方法に対応する各種動作は、テストショット作成支援装置100がメモリ等に読み出して実行するプログラムによって実現される。そして、このプログラムは、以下に説明される各種の動作を行うためのコードから構成されている。
図7は、本実施形態におけるテストショット作成支援方法のフロー例を示す図である。まず、テストショット作成支援装置100は、記憶装置101からテスト項目一覧126を読み出し、当該テスト項目一覧126の各レコードが示す目次に、目次分類127を適用して、各目次に対応したテスト項目のテスト分類を特定する(s100)。
例えば、上述のテスト項目一覧126におけるレコードのうち適用対象となった或るレコードの示す目次が「運用設計書XX章(5)」であり、その目次の対応箇所に記載されたテスト項目が「ZZ領域では○○バックアップジョブが、・・・」であったとする。このレコードに目次分類127を適用すると、目次分類127における、目次「運用設計書XX章(5)」のテスト項目「ZZ領域では○○バックアップジョブが、・・・」に関する規定に基づき、テスト分類「運用」を特定出来る。
上述の特定の結果、上述のテスト項目一覧126における各レコードのいずれについても、目次分類127の適用によってテスト分類が特定出来なかった場合(s101:n)、テストショット作成支援装置100は、処理を後述のs108に遷移させる。
他方、上述の特定の結果、上述のテスト項目一覧126における各レコードのいずれかについて、目次分類127の適用によってテスト分類が特定出来た場合(s101:y)、テストショット作成支援装置100は、テスト項目一覧126における該当レコードに対し、s100で特定出来たテスト分類の値を対応付け、当該テスト分類の値をキーに、テスト項目一覧126のレコード分類を行うことで、分類別ファイル1000〜1004(図8参照)を生成する(s102)。
図8では、「運用」、「信頼性」、「インタフェース」、「セキュリティ」、「方式」、のそれぞれのテスト分類に対応付いた、テスト項目一覧126の該当レコードを纏めることで生成した分類別ファイル1000〜1004の例を示している。なお、この図にて示すように、テスト分類の値は、各レコードの末尾に追加された形となっている。
続いて、テストショット作成支援装置100は、上述のs102で生成した分類別ファイル1001〜1004のそれぞれが含む各レコードに関して、キーワードファイル128を適用し、当該レコードにおけるテスト項目の記載が含む特定キーワードを特定する(s103)。上述のキーワードファイル128の適用に際しては、キーワードファイル128が含む、機能に関して定義されたキーワードのリストと、機器に関して定義されたキーワードのリストのそれぞれを適用するものとする。
例えば、上述のテスト分類「運用」に関する分類別ファイル1001の、項番「100」のレコードにおけるテスト項目の記載「ZZ領域では○○バックアップジョブが、・・・」に、キーワードファイル128の機能および機器の各キーワードのリストを適用した場合、機能に関するリストのうち、「バックアップ」なるキーワードがヒットすることとなる。
テストショット作成支援装置100は、上述のs103での特定の結果、機能と機器のいずれかのリストが含む各キーワードに関して、一致するものを特定出来なかった場合(s104:n)、処理を後述のs108に遷移させる。
他方、上述のs103での特定の結果、機能と機器のいずれかのリストが含むいずれかの特定キーワードに関して一致するものを特定出来た場合(s104:y)、テストショット作成支援装置100は、当該レコードに対して、s103で特定出来た特定キーワードの識別情報を、機能と機器に分けて対応付け、重複リスト1100〜1104(図9参照)を生成する(s105)。
図9の例では、上述のテスト分類「運用」に関する分類別ファイル1001の、項番「100」のレコードにおけるテスト項目の記載「ZZ領域では○○バックアップジョブが、・・・」に関して、機能に関する「バックアップ」なる特定キーワードの識別情報「1
」と、他にも機能に関して特定した特定キーワードの識別情報「6」、「25」を対応付けている。同様に、機器に関する特定した特定キーワードの識別情報「8」、「30」、「55」を対応付けている。
」と、他にも機能に関して特定した特定キーワードの識別情報「6」、「25」を対応付けている。同様に、機器に関する特定した特定キーワードの識別情報「8」、「30」、「55」を対応付けている。
次に、テストショット作成支援装置100は、上述のs105で生成した重複リスト1100〜1104のそれぞれにおいて、各レコードの間で、レコードに対応付けた上述の機能および機器の特定キーワードの各識別情報のセットが一致するものを特定する(s106)。
例えば、上述のテスト分類「運用」に関する分類別ファイル1001の、項番「100」のレコードにおける、機能に関する特定キーワードの識別情報「1」、「6」、「25」および、機器に関する特定キーワードの識別情報「8」、「30」、「55」のセットと、同一の識別情報のセットを有するレコードとして、テスト分類「運用」に関する分類別ファイル1001の、項番「200」のレコードを特定する(図10参照)。
なお、上述のs106の処理に際し、例えば機能に関する特定キーワードの識別情報のうち、先頭の値の降順あるいは昇順でレコードをソートし、このソートで整列した上下のレコード間で、識別情報のセットが一致するか判定を行い、この判定の結果に基づき、機能および機器の各識別情報のセットが一致するレコード同士を特定する、とすれば好適である。
続いて、テストショット作成支援装置100は、上述のs106にて、識別情報のセットが一致するとして特定したレコード同士のそれぞれに、同じテストショット番号を対応付け、テストショットリスト1200〜1204(図11参照)を生成する(s107)。
図11で示すテストショットリスト1200の例では、上述した項番「100」および項番「200」の各レコードに、「運用−010」なるテストショット番号を付与している。こうしたテストショット番号の採番は、「001」などの通番の適宜な初期値を、テストショット番号の対応付け機会ごとにインクリメントさせ、当該通番を、該当分類別ファイルのテスト分類の値(上述の例であれば「運用」)にハイフンなどで結合させ、生成するものとできる。
一方、上述のs101における判定の結果、上述のテスト項目一覧126における各レコードのいずれについても、目次分類127の適用によってテスト分類が特定出来なかった場合(s101:n)、或いは、s103の判定の結果、機能と機器のいずれかのリストが含む各キーワードに関して、一致するものを特定出来なかった場合(s104:n)、テストショット作成支援装置100は、当該テスト分類が特定出来なかったレコード、または、いずれの特定キーワードとも一致をみなかったレコードを、未分類ファイル1300(図12参照)としてまとめる(s108)。
続いて、テストショット作成支援装置100は、上述のs108で未分類ファイル1300に収めたレコードのうち、目次分類127の適用によってテスト分類が特定出来なかった各レコードに関して、上述のs103を同様に実行し、当該レコードにおけるテスト項目の記載が含む特定キーワードを特定する(s109)。
次に、テストショット作成支援装置100は、上述のs109において、機能と機器のいずれかのリストが含むいずれかの特定キーワードに関して一致するものを特定出来た場合(s110:y)、当該レコードに対して、s109で特定出来た特定キーワードの識別情報を、機能と機器に分けて対応付け、未分類重複リスト1400(図13参照)を生
成する(s111)。
成する(s111)。
図13の未分類重複リスト1400の例では、上述のテスト分類「運用」に関する分類別ファイル1001の、項番「301」のレコードにおけるテスト項目の記載「ZZ領域では○○バックアップジョブが、・・・」に関して、機能に関する特定キーワードの識別情報「1」、「6」、「25」を対応付けている。同様に、機器に関する特定した特定キーワードの識別情報「8」、「30」、「55」を対応付けている。
他方、上述のs109において、機能と機器のいずれかのリストが含むいずれかの特定キーワードに関して一致するものを特定出来なかった場合(s110:n)、テストショット作成支援装置100は、処理をs115に遷移させる。
続いて、テストショット作成支援装置100は、上述の未分類重複リスト1400の各レコードと、s107で生成しているテストショットリスト1200〜1204の各レコードとの間で、該当レコードに対応付けた上述の機能および機器の各特定キーワードの識別情報のセットが一致するものを特定する(s112)。
例えば、上述のテスト分類「運用」に関するテストショットリスト1200の、項番「100」のレコードにおける、機能に関する特定キーワードの識別情報「1」、「6」、「25」および、機器に関する特定キーワードの識別情報「8」、「30」、「55」のセットと、同一の識別情報のセットを有するレコードとして、未分類重複リスト1400における、項番「301」のレコードを特定する。
上述のs112の結果、機能と機器の各識別情報のセットが一致するレコードを、各テスト分類のテストショットリスト1200〜1204のいずれかで特定出来た場合(s113:y)、テストショット作成支援装置100は、s112で、各テスト分類のテストショットリスト1200〜1204のいずれかのレコードと識別情報のセットが一致するとして特定した、未分類重複リスト1400の該当レコードに、該当テストショットリストの該当レコードに対応付いているテストショット番号と同じテストショット番号を対応付け、該当テスト分類のテストショットリスト(テストショットリスト1200〜1204のいずれかになる)に格納する(s114)。
この時の格納位置は、上述の識別情報のセットが一致しているレコード同士が連続するよう配列する。
一方、上述のs112の結果、機能と機器の各識別情報のセットが一致するレコードを、各テスト分類のテストショットリスト1200〜1204のいずれでも特定出来なかった場合(s113:n)、未分類重複リストの該当レコードを、未分類テスト項目1500(図14参照)のファイルに格納する(s115)。なお、このs115におけるテストショット作成支援装置100は、上述のs109にて、機能と機器のいずれかのキーワードリストが含むいずれかの特定キーワードに関して一致するものを特定出来なかったレコード(未分類重複リスト1400のレコード)についても、未分類テスト項目1500に格納するものとする。
続いて、テストショット作成支援装置100は、ここまでの処理を経てきた、各テスト分類のテストショットリスト1200〜1204を跨がって、全レコードを、その項番の値の昇順でソートし、最終成果物としてのテストショット1210(図15参照)を生成する(s116)。
また、テストショット作成支援装置100は、s116で生成した最終成果物としての
テストショットリスト1210を、顧客端末300またはユーザ端末200に出力し(s117)、処理を終了する。
テストショットリスト1210を、顧客端末300またはユーザ端末200に出力し(s117)、処理を終了する。
以上、本発明を実施するための最良の形態などについて具体的に説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
こうした本実施形態によれば、システム設計書に関する妥当性確認を確実かつ効率良く実行出来るよう支援可能となる。
本明細書の記載により、少なくとも次のことが明らかにされる。すなわち、本実施形態のテストショット作成支援装置において、前記演算装置は、前記テストショット対象として特定した各テスト項目に当該テストショットの識別情報を紐付け、前記各設計書における記載順に対応した順序で各テスト項目をソートした情報を、所定装置に出力するものである、としてもよい。
これによれば、各設計書の記載構成に応じた自然な順序で、テストショットに関する情報を効率良く出力することが可能となる。ひいては、システム設計書に関する妥当性確認を更に確実かつ効率良く実行出来るよう支援可能となる。
また、本実施形態のテストショット作成支援装置において、前記演算装置は、前記各テスト項目のテスト分類を特定する際、テスト分類が特定出来ず未分類となったテスト項目に、前記キーワードファイルを適用して、当該未分類のテスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、当該未分類のテスト項目と、前記グルーピングされたテスト項目との間で、前記特定した特定キーワードを照合し、前記未分類のテスト項目と特定キーワードが一致する前記グルーピングされたテスト項目を特定できた場合、当該グルーピング済みのテスト項目が属するテストショットに、前記未分類のテスト項目を追加する処理を更に実行するものである、としてもよい。
これによれば、目次としてテスト分類が規定されていない設計書に関しても、テストショット対象を精度良く特定することが可能となる。ひいては、システム設計書に関する妥当性確認を更に確実かつ効率良く実行出来るよう支援可能となる。
本実施形態のテストショット作成支援方法において、前記情報処理装置が、前記テストショット対象として特定した各テスト項目に当該テストショットの識別情報を紐付け、前記各設計書における記載順に対応した順序で各テスト項目をソートした情報を、所定装置に出力する、としてもよい。
本実施形態のテストショット作成支援方法において、前記情報処理装置が、前記各テスト項目のテスト分類を特定する際、テスト分類が特定出来ず未分類となったテスト項目に、前記キーワードファイルを適用して、当該未分類のテスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、当該未分類のテスト項目と、前記グルーピングされたテスト項目との間で、前記特定した特定キーワードを照合し、前記未分類のテスト項目と特定キーワードが一致する前記グルーピングされたテスト項目を特定できた場合、当該グルーピング済みのテスト項目が属するテストショットに、前記未分類のテスト項目を追加する処理を更に実行する、としてもよい。
10 ネットワーク
100 テストショット作成支援装置
101 記憶装置
102 プログラム
103 メモリ
104 演算装置
105 通信装置
125 設計書ライブラリ
125A 運用設計書
125B 信頼性設計書
125C 方式設計書
125D 情報セキュリティ設計書
126 テスト項目一覧
127 目次分類
128 キーワードファイル
200 ユーザ端末
300 顧客端末
1000〜1004 分類別ファイル
1100〜1104 重複リスト
1200〜1204 テストショットリスト
1210 テストショット(最終成果物)
1300 未分類ファイル
1400 未分類重複リスト
1500 未分類テスト項目
100 テストショット作成支援装置
101 記憶装置
102 プログラム
103 メモリ
104 演算装置
105 通信装置
125 設計書ライブラリ
125A 運用設計書
125B 信頼性設計書
125C 方式設計書
125D 情報セキュリティ設計書
126 テスト項目一覧
127 目次分類
128 キーワードファイル
200 ユーザ端末
300 顧客端末
1000〜1004 分類別ファイル
1100〜1104 重複リスト
1200〜1204 テストショットリスト
1210 テストショット(最終成果物)
1300 未分類ファイル
1400 未分類重複リスト
1500 未分類テスト項目
Claims (6)
- 所定システムに関する各設計書の目次と当該システムに関して実行するテストの分類との対応関係を規定した目次分類と、前記テストの対象となる機能および機器を示す特定キーワードを規定したキーワードファイルと、を格納した記憶装置と、
前記各設計書から予め抽出された、テスト項目に関連する各目次に、前記目次分類を適用して、各テスト項目のテスト分類を特定し、前記各テスト項目の記載に前記キーワードファイルを適用して、各テスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、前記特定したテスト分類別にテスト項目をグルーピングし、当該グルーピングされたテスト項目間で、前記特定した特定キーワードが一致するもの同士を1つのテストショット対象と特定する演算装置と、
を備えることを特徴とするテストショット作成支援装置。 - 前記演算装置は、
前記テストショット対象として特定した各テスト項目に当該テストショットの識別情報を紐付け、前記各設計書における記載順に対応した順序で各テスト項目をソートした情報を、所定装置に出力するものである、
ことを特徴とする請求項1に記載のテストショット作成支援装置。 - 前記演算装置は、
前記各テスト項目のテスト分類を特定する際、テスト分類が特定出来ず未分類となったテスト項目に、前記キーワードファイルを適用して、当該未分類のテスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、当該未分類のテスト項目と、前記グルーピングされたテスト項目との間で、前記特定した特定キーワードを照合し、前記未分類のテスト項目と特定キーワードが一致する前記グルーピングされたテスト項目を特定できた場合、当該グルーピング済みのテスト項目が属するテストショットに、前記未分類のテスト項目を追加する処理を更に実行するものである、
ことを特徴とする請求項1に記載のテストショット作成支援装置。 - 所定システムに関する各設計書の目次と当該システムに関して実行するテストの分類との対応関係を規定した目次分類と、前記テストの対象となる機能および機器を示す特定キーワードを規定したキーワードファイルと、を格納した記憶装置を備える情報処理装置が、
前記各設計書から予め抽出された、テスト項目に関連する各目次に、前記目次分類を適用して、各テスト項目のテスト分類を特定し、前記各テスト項目の記載に前記キーワードファイルを適用して、各テスト項目の記載が含む特定キーワードを特定し、前記特定したテスト分類別にテスト項目をグルーピングし、当該グルーピングされたテスト項目間で、前記特定した特定キーワードが一致するもの同士を1つのテストショット対象と特定する、
ことを特徴とするテストショット作成支援方法。 - 前記情報処理装置が、
前記テストショット対象として特定した各テスト項目に当該テストショットの識別情報を紐付け、前記各設計書における記載順に対応した順序で各テスト項目をソートした情報を、所定装置に出力する、
ことを特徴とする請求項4に記載のテストショット作成支援方法。 - 前記情報処理装置が、
前記各テスト項目のテスト分類を特定する際、テスト分類が特定出来ず未分類となったテスト項目に、前記キーワードファイルを適用して、当該未分類のテスト項目の記載が含
む特定キーワードを特定し、当該未分類のテスト項目と、前記グルーピングされたテスト項目との間で、前記特定した特定キーワードを照合し、前記未分類のテスト項目と特定キーワードが一致する前記グルーピングされたテスト項目を特定できた場合、当該グルーピング済みのテスト項目が属するテストショットに、前記未分類のテスト項目を追加する処理を更に実行する、
ことを特徴とする請求項4に記載のテストショット作成支援方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016203563A JP2018067040A (ja) | 2016-10-17 | 2016-10-17 | テストショット作成支援装置およびテストショット作成支援方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016203563A JP2018067040A (ja) | 2016-10-17 | 2016-10-17 | テストショット作成支援装置およびテストショット作成支援方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018067040A true JP2018067040A (ja) | 2018-04-26 |
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ID=62087125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2016203563A Pending JP2018067040A (ja) | 2016-10-17 | 2016-10-17 | テストショット作成支援装置およびテストショット作成支援方法 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2018067040A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113407531A (zh) * | 2021-05-24 | 2021-09-17 | 芯天下技术股份有限公司 | 晶圆测试数据的分析方法、平台、电子设备及存储介质 |
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2016
- 2016-10-17 JP JP2016203563A patent/JP2018067040A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113407531A (zh) * | 2021-05-24 | 2021-09-17 | 芯天下技术股份有限公司 | 晶圆测试数据的分析方法、平台、电子设备及存储介质 |
CN113407531B (zh) * | 2021-05-24 | 2023-07-25 | 芯天下技术股份有限公司 | 晶圆测试数据的分析方法、平台、电子设备及存储介质 |
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