JPS6148747A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
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- JPS6148747A JPS6148747A JP59170832A JP17083284A JPS6148747A JP S6148747 A JPS6148747 A JP S6148747A JP 59170832 A JP59170832 A JP 59170832A JP 17083284 A JP17083284 A JP 17083284A JP S6148747 A JPS6148747 A JP S6148747A
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
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- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 7
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
- G01N15/1459—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals the analysis being performed on a sample stream
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
- G01N33/50—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
- G01N33/53—Immunoassay; Biospecific binding assay; Materials therefor
- G01N33/5302—Apparatus specially adapted for immunological test procedures
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分￥ｆ］
本発明は、フローサイトメータ等に用いられ、検体に光
を照射し、発生した散乱光の測定値を照射光の中心位１
市を基に補正する粒子解析装置に関するものである。
を照射し、発生した散乱光の測定値を照射光の中心位１
市を基に補正する粒子解析装置に関するものである。
［従来の技術］
フローサイトメータとは、高速で流れる細胞浮遊溶液に
例えばレーザー光を照射し、その散乱光による光電信号
を検出し細胞の性質・構造を解明する装置であり、細胞
化学、免疫学、血液学。
例えばレーザー光を照射し、その散乱光による光電信号
を検出し細胞の性質・構造を解明する装置であり、細胞
化学、免疫学、血液学。
腫瘍学、遺伝学等の分野で近年使用されつつある。
このフローサイトメータに用いられる従来の粒子解析用
光学系では、第１図に示すようにフローセル１の中央部
の例えば７０ｇｍＸ２０ｇｍの微小な矩形状断面を有す
る流通部２内を、シース液に包まれて通過する血球細胞
などの検体Ｓに、図示しないレーザー光源からの平行光
を第２図に示すようにレンズ３を介して集光し、照射光
の直進方向の前方散乱光をレンズ４を介して光電検出器
５で受光し、検体Ｓの大きさの情報を得る。また、照射
光の直進方向に対して直交する方向の側方散乱光は、レ
ンズ６と光電検出器７により検出し、検体Ｓの内部状態
の情報を得ることができる。また、細胞に蛍光標識を施
して細胞化学的な解析を行う場合には、図示しないバリ
アフィルタ、集光レンズ６、光電検出器７の組み合わせ
により測光が可能である。
光学系では、第１図に示すようにフローセル１の中央部
の例えば７０ｇｍＸ２０ｇｍの微小な矩形状断面を有す
る流通部２内を、シース液に包まれて通過する血球細胞
などの検体Ｓに、図示しないレーザー光源からの平行光
を第２図に示すようにレンズ３を介して集光し、照射光
の直進方向の前方散乱光をレンズ４を介して光電検出器
５で受光し、検体Ｓの大きさの情報を得る。また、照射
光の直進方向に対して直交する方向の側方散乱光は、レ
ンズ６と光電検出器７により検出し、検体Ｓの内部状態
の情報を得ることができる。また、細胞に蛍光標識を施
して細胞化学的な解析を行う場合には、図示しないバリ
アフィルタ、集光レンズ６、光電検出器７の組み合わせ
により測光が可能である。
一般に、照射光としてはレーザー光を使用することが多
いか、レーザー光の場合にはその強度分布は、第３図に
示す特性Ａのようにガウス分布を呈している。一方、検
体Ｓを構成しシース液で包まれた粒子は、流通部２の中
央部を通過するから、レーザー光の光軸位置が流通部２
の中央部に一致すれば、粒子には強度ａの最も強い光が
照射され、効率の良い測定ができる。ところが、レーザ
ー光の光軸が流通部２の中央部から第３図のＢに示すよ
うにずれると、流通部２の中央部を通過する粒子に照射
されるレーザー光の強さは、ガウス分布に従って強度す
のように弱いものとなり、得られる散乱光も弱くなる。
いか、レーザー光の場合にはその強度分布は、第３図に
示す特性Ａのようにガウス分布を呈している。一方、検
体Ｓを構成しシース液で包まれた粒子は、流通部２の中
央部を通過するから、レーザー光の光軸位置が流通部２
の中央部に一致すれば、粒子には強度ａの最も強い光が
照射され、効率の良い測定ができる。ところが、レーザ
ー光の光軸が流通部２の中央部から第３図のＢに示すよ
うにずれると、流通部２の中央部を通過する粒子に照射
されるレーザー光の強さは、ガウス分布に従って強度す
のように弱いものとなり、得られる散乱光も弱くなる。
このように、従来装置ではレーザー光の光１ｌｊｌ＋が
流通部２の中央部からずれると、同一粒子を測定しても
同一の光検出信号が７４Ｈられなくなり、測定精度には
限界がある。
流通部２の中央部からずれると、同一粒子を測定しても
同一の光検出信号が７４Ｈられなくなり、測定精度には
限界がある。
［発明の目的〕
本発明の目的は、前述の照射光の入射位置の変動による
測定値のばらつきを除去するために、得られたｌｆ＆乱
光の検出信号を照射光の入射位置の検出信号により補正
することにより、精度の良い安定した測定が可能な粒子
解析装、′ｔを提供することにある。
測定値のばらつきを除去するために、得られたｌｆ＆乱
光の検出信号を照射光の入射位置の検出信号により補正
することにより、精度の良い安定した測定が可能な粒子
解析装、′ｔを提供することにある。
〔発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、検体を通
過させる流通部を有するフローセルと、光源からの照射
光により検体で散乱された光を測光するための光電検出
器と、前記照射光の中心位置を検出する位置検出器と、
前記光電検出器からの出力信号を前記位置検出器からの
出力信号により補正するための演算処理回路とを具備す
ることを特徴とする粒子解析装置である。
過させる流通部を有するフローセルと、光源からの照射
光により検体で散乱された光を測光するための光電検出
器と、前記照射光の中心位置を検出する位置検出器と、
前記光電検出器からの出力信号を前記位置検出器からの
出力信号により補正するための演算処理回路とを具備す
ることを特徴とする粒子解析装置である。
［発明の実施例］
本発明を第４図以下に図示の実施例を基に詳細に説明す
る。ここで、第４図は構成図、第５図は散乱光検出器の
信号波形図、第６図は位ｊδ検出器の信号波形図である
。なお、第２図と同一の符号は同一の部材を表している
。
る。ここで、第４図は構成図、第５図は散乱光検出器の
信号波形図、第６図は位ｊδ検出器の信号波形図である
。なお、第２図と同一の符号は同一の部材を表している
。
第４図において、図示しないレーザー光源からの平行光
かレンズ３により流通部２の検体Ｓを照射し、その前方
散乱光をレンズ４、光電検出器５により受光し、側方１
ｉｋ乱光をレンズ６、光電検出器７により受光すること
は第２図の場合と同様である。ここで、レンズ３とフロ
ーセル１との間に光分割器８が斜設され、レーザー照射
光の一部をレンズ９を介して位置検出器１０に導くよう
になっている。光電検出器５、光電検出器７、位置検出
器１０の出力は、補正回路１１に入力され。
かレンズ３により流通部２の検体Ｓを照射し、その前方
散乱光をレンズ４、光電検出器５により受光し、側方１
ｉｋ乱光をレンズ６、光電検出器７により受光すること
は第２図の場合と同様である。ここで、レンズ３とフロ
ーセル１との間に光分割器８が斜設され、レーザー照射
光の一部をレンズ９を介して位置検出器１０に導くよう
になっている。光電検出器５、光電検出器７、位置検出
器１０の出力は、補正回路１１に入力され。
更に記憶回路１２、表示部１３に接続されている。
本発明の実施例は上述の構成を有するので、フローセル
ｌの流通部２中を検体Ｓが通過すると、検体Ｓによる前
方散乱光はレンズ４、光電検出器５により、側方散乱光
はレンズ６、光電検出器７により検出され、両者の出力
は共に補正回路１１に入力される。一方、照射光は光分
割器８で分割され、レンズ９を介して位置検出器１０に
おいてレーザー光の中心の流通部２の中央部からの位置
ずれが検出され、補正回路１１にその測定値が入力され
、光電検出器５．７で得られた値を補正し、その結果は
記憶回路１２に刻々と記憶され、最終的には正規化され
た前方散乱光、側方散乱光による情報が例えばヒストグ
ラムデータとして表示部１３に表示される。
ｌの流通部２中を検体Ｓが通過すると、検体Ｓによる前
方散乱光はレンズ４、光電検出器５により、側方散乱光
はレンズ６、光電検出器７により検出され、両者の出力
は共に補正回路１１に入力される。一方、照射光は光分
割器８で分割され、レンズ９を介して位置検出器１０に
おいてレーザー光の中心の流通部２の中央部からの位置
ずれが検出され、補正回路１１にその測定値が入力され
、光電検出器５．７で得られた値を補正し、その結果は
記憶回路１２に刻々と記憶され、最終的には正規化され
た前方散乱光、側方散乱光による情報が例えばヒストグ
ラムデータとして表示部１３に表示される。
ここで、流通部２の中央部からのレーザー光の中心の位
置ずれによって、散乱光強度を補正する方法を第５図、
第６図により説明する。前述したように、し、−ブー光
の中心の位置ずれに応じて検体Ｓに照射する光の強さは
ガウス分布状に変化するので、光電検出器５．７から得
られる散乱光の検出信号もガウス分布状に変化すること
になる。
置ずれによって、散乱光強度を補正する方法を第５図、
第６図により説明する。前述したように、し、−ブー光
の中心の位置ずれに応じて検体Ｓに照射する光の強さは
ガウス分布状に変化するので、光電検出器５．７から得
られる散乱光の検出信号もガウス分布状に変化すること
になる。
第５図に示すように、レーザー光の中心がＪＱ通郡部２
中央部にあるときに得られる散乱光の検出強度工を■０
、レーザー光の中心が流通部２の中央部からの距離Ｒが
ｄだけずれた時の信号をＩｄとすると、ＩｄにＩｏ／Ｉ
ｄなる係数を乗ずればＩａが求まる。また、Ｉｏ／Ｉｄ
はｄを知ることができればガウス分’ｌ（５から直ちに
知り得る値であるから、レーザー光の中心の流通部２の
中央部からのずれｄが測定できれば、容易に正しい強度
■０が得られる。
中央部にあるときに得られる散乱光の検出強度工を■０
、レーザー光の中心が流通部２の中央部からの距離Ｒが
ｄだけずれた時の信号をＩｄとすると、ＩｄにＩｏ／Ｉ
ｄなる係数を乗ずればＩａが求まる。また、Ｉｏ／Ｉｄ
はｄを知ることができればガウス分’ｌ（５から直ちに
知り得る値であるから、レーザー光の中心の流通部２の
中央部からのずれｄが測定できれば、容易に正しい強度
■０が得られる。
このずれｄは第６図に示すように流通部２の中央部にレ
ーザー光の中心があるとき、中心に光が当るように電荷
結合素子（ＣＯＤ）等の光センサから成る位置検出器１
０を配置して測定する。即ち、第３図に示すように分布
がＡからＢにずれると、位置検出器１０上の光強度分布
は第６図に示すＡ′からＢ′へと変化する。ピークの位
置はレーザー光の中心位置に対応しているので、光強度
の検出によってずれｄを測定できる。このようにして、
レーザー光の中心の位置ずれを検出して散乱光の測定値
を補正する。
ーザー光の中心があるとき、中心に光が当るように電荷
結合素子（ＣＯＤ）等の光センサから成る位置検出器１
０を配置して測定する。即ち、第３図に示すように分布
がＡからＢにずれると、位置検出器１０上の光強度分布
は第６図に示すＡ′からＢ′へと変化する。ピークの位
置はレーザー光の中心位置に対応しているので、光強度
の検出によってずれｄを測定できる。このようにして、
レーザー光の中心の位置ずれを検出して散乱光の測定値
を補正する。
ト述の実施例の他に、例えば位置検出器１０に入射する
光をレンズ３の前から取り出すことも可能であるし、或
いは検体Ｓもレーザー光の中心に対して多少ずれること
があるから、レーザー光の位１１５検出だけでなく検体
Ｓの位置検出も同時に行い、双方の位置検出信号により
散乱光の検出信号に補正を施すことも可能である。この
ようにすれば、実施例より更に精度の良い測定値が１１
（られる。
光をレンズ３の前から取り出すことも可能であるし、或
いは検体Ｓもレーザー光の中心に対して多少ずれること
があるから、レーザー光の位１１５検出だけでなく検体
Ｓの位置検出も同時に行い、双方の位置検出信号により
散乱光の検出信号に補正を施すことも可能である。この
ようにすれば、実施例より更に精度の良い測定値が１１
（られる。
［発明の効果コ
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、照射
光の中心位置を検出することにより散乱光の出力を補正
し、光源の不安定性による影響を排除し、精度の高い安
定した解析を行うことか可能である。
光の中心位置を検出することにより散乱光の出力を補正
し、光源の不安定性による影響を排除し、精度の高い安
定した解析を行うことか可能である。
第１図はフローセルの斜視図、第２図は従来装置の構成
図、第３図は流通部内の粒子とレーザー光の強度分布図
、第４図以下は本発明に係る粒子解析装置の一実施例を
示し、第４図はその構成図、第５図は散乱光検出器の信
号波形図、第６図は位置検出器の信号波形図である。 符号ｌはフローセル、２は流通部、３．４．６．９はレ
ンズ、５．７は光電検出器、８は光分′ｌ！、’ｌ器、
１０は位置検出器、１１は補正回路、１２は記４ｇ回路
、１３は表示部である。 特許出願人 キャノン株式会社 代 理 人 弁理士 日 比 谷 征 彦、／、、’、
、’、ｉ１゛に・−゛ 第２図 第３図 第４図 第５図 工 第６図
図、第３図は流通部内の粒子とレーザー光の強度分布図
、第４図以下は本発明に係る粒子解析装置の一実施例を
示し、第４図はその構成図、第５図は散乱光検出器の信
号波形図、第６図は位置検出器の信号波形図である。 符号ｌはフローセル、２は流通部、３．４．６．９はレ
ンズ、５．７は光電検出器、８は光分′ｌ！、’ｌ器、
１０は位置検出器、１１は補正回路、１２は記４ｇ回路
、１３は表示部である。 特許出願人 キャノン株式会社 代 理 人 弁理士 日 比 谷 征 彦、／、、’、
、’、ｉ１゛に・−゛ 第２図 第３図 第４図 第５図 工 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、検体を通過させる流通部を有するフローセルと、光
源からの照射光により検体で散乱された光を測光するた
めの光電検出器と、前記照射光の中心位置を検出する位
置検出器と、前記光電検出器からの出力信号を前記位置
検出器からの出力信号により補正するための演算処理回
路とを具備することを特徴とする粒子解析装置。 ２、前記照射光をレーザー光とした特許請求の範囲第１
項に記載の粒子解析装置。 ３、前記照射光の中心位置の検出は、照射光路中に光分
割器を介在して照射光の一部を取り出すことにより行う
ようにした特許請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置
。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59170832A JPS6148747A (ja) | 1984-08-16 | 1984-08-16 | 粒子解析装置 |
| US06/753,871 US4643566A (en) | 1984-07-20 | 1985-07-11 | Particle analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59170832A JPS6148747A (ja) | 1984-08-16 | 1984-08-16 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6148747A true JPS6148747A (ja) | 1986-03-10 |
| JPH0262180B2 JPH0262180B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=15912156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59170832A Granted JPS6148747A (ja) | 1984-07-20 | 1984-08-16 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6148747A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11273334B2 (en) | 2015-10-22 | 2022-03-15 | Scott Technologies, Inc. | Respirator mask with voice transmittal feature |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7006857B1 (ja) | 2020-07-14 | 2022-01-24 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 脱水素装置及び鋼板の製造システム、並びに鋼板の製造方法 |
-
1984
- 1984-08-16 JP JP59170832A patent/JPS6148747A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11273334B2 (en) | 2015-10-22 | 2022-03-15 | Scott Technologies, Inc. | Respirator mask with voice transmittal feature |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0262180B2 (ja) | 1990-12-25 |
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