JPS6145320B2 - - Google Patents

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JPS6145320B2
JPS6145320B2 JP56125074A JP12507481A JPS6145320B2 JP S6145320 B2 JPS6145320 B2 JP S6145320B2 JP 56125074 A JP56125074 A JP 56125074A JP 12507481 A JP12507481 A JP 12507481A JP S6145320 B2 JPS6145320 B2 JP S6145320B2
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JP
Japan
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output
memory
logic
terminal
signal
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Application number
JP56125074A
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English (en)
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JPS5826398A (ja
Inventor
Tadashi Azegami
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Hokushin Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Hokushin Electric Corp filed Critical Yokogawa Hokushin Electric Corp
Priority to JP56125074A priority Critical patent/JPS5826398A/ja
Priority to US06/403,195 priority patent/US4573142A/en
Priority to DE19823229772 priority patent/DE3229772A1/de
Priority to FR828213924A priority patent/FR2511173B1/fr
Publication of JPS5826398A publication Critical patent/JPS5826398A/ja
Publication of JPS6145320B2 publication Critical patent/JPS6145320B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G11C27/026Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Recording Measured Values (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えばマイクロコンピユータを利用
した調節計の出力回路に用いることができるメモ
リ回路に関し、特に簡単な構成により長期にわた
つてアナログ量を安定に保持するとができるメモ
リ回路を提供しようとするものである。
信号量を記憶する回路は一般にサンプルホール
ド回路等と呼ばれ、例えば第1図に示すような回
路がよく知られている。このサンプルホールド回
路は周知のように入力端子101に与えられたア
ナログ信号をサンプルスイツチ102によつてサ
ンプリングし、そのサンプル値をホールド用コン
デンサ103に記憶させ、その記憶電圧をバツフ
ア増幅器104を通じて出力端子105に取出す
構造となつている。
この構造のサンプルホールド回路においてコン
デンサ103に記憶した電圧値を長期に保つには
コンデンサ103としてリーク電流の少ない特性
を持つコンデンサを用い、更にバツフア増幅器1
04は入力インピーダンスが充分大きい増幅器を
用いるように考慮する必要がある。
然し乍らリーク電流の少ないコンデンサと、入
力インピーダンスが高い増幅器を用いたとしても
それには限度があり、コンデンサ103に記憶し
た電圧を長期にわたつて不変のまま保持すること
はむずかしい。
この発明の目的は与えられた信号量を長期にわ
たつて保持することができる信号保持回路を提供
するにある。
この発明では例えばシフトレジスタ或はランダ
ムアクセスメモリのように書込が可能なメモリに
アナログ信号量に対応した数のH論理又はL論理
を記憶し、その記憶したH論理又はL論理から成
る2値符号を循環的に読出してアナログ信号量を
再現するように構成したものである。
従つてこの発明の信号保持回路によればメモリ
に一旦アナログ信号量を記憶すると、再現される
信号量はドリフトすることがなく、半永久的にそ
の信号量を出力し続けることができる。
以下にこの発明の一実施例を図面を用いて詳細
に説明する。
第2図はこの発明の基本的となつた考え方を説
明する図である。この図において201は循環的
に読出可能なメモリを示す。この例ではシフトレ
ジスタを用いた場合を示し、メモリ201の出力
はオアゲート202を通じて入力側に帰環され、
クロツクパルス源203のクロツクパルスにより
メモリ201の内容は出力端子Q0から読出さ
れ、その読出された各ビツトの2値データはオア
ゲート202を通じて先頭ビツト位置に再書込み
されデータは循環的に読出される。この読出出力
を平滑回路204により平滑することによりメモ
リ201に記憶された2値符号のH論理とL論理
の数の比率で決まるアナログ電圧を再現すること
ができる。平滑回路204から出力されるアナロ
グ電圧は必要に応じてバツフア増幅器205を通
じて出力端子206に出力される。
出力端子206に出力されるアナログ電圧値を
変更するにはメモリ201内のH論理とL論理の
数の比率を変化させればよい。そのためには例え
ば207に示すような書込手段が考えられる。こ
の書込手段207は常時は中立に保持されるスイ
ツチ208と、スイツチ208の一方の接点UP
にH論理を与える電圧源211と、他方の接点
DOWNにL論理を与える電圧源212とによつ
て構成することができる。
スイツチ208を接点UP側に倒すとメモリ2
01にH論理が与えられ、メモリ201にH論理
が書込まれ、メモリ201内のH論理の数が増加
する。メモリ201内のH論理の数が増加すると
平滑回路204から出されるアナログ電圧値は正
方向に上昇する。一方スイツチ208を接点
DOWN側に倒すとメモリ201にはL論理が与
えられ、メモリ201にL論理が書込まれる。メ
モリ201内のL論理の数が増加すると平滑回路
204から出力されるアナログ電圧値は降下す
る。
従つてスイツチ208を適当に操作することに
より出力端子206に出力されるアナログ電圧値
を任意の電圧値に設定でき、スイツチ208を中
立位置を戻すことによりその出力値はドリフトす
ることなく半永久的に保持することができる。こ
のメモリ回路の応用としては例えば流量制御弁の
手動操作器、或は後述するように調節計の出力回
路等として利用することができる。
第3図は第2図の変形例を示す図である。この
例ではメモリ201としてランダムアクセスメモ
リを用いた場合を示す。ランダムアクセスメモリ
を用いる場合にはクロツクパルス源203のクロ
ツクパルスをアドレスカウンタ301に供給し、
アドレスカウンタ301の計数出力をメモリ20
1のアドレス端子に与え、メモリ201の先頭番
地から最終番地までを循環的に読出すように構成
する。メモリ201の読出出力は第2図の場合と
同様に平滑回路204により平滑しバツフア増幅
器205を通じて出力端子206に出力される。
メモリ201のリード/ライト端子R/Wは通常
は抵抗器302を通じて共通電位、つまりL論理
が与えられ、読出状態に保持される。
ここで書込手段207のスイツチ208を接点
UP又はDOWNに転換するとスイツチ208と連
動するスイツチ303によりリード/ライト端子
R/Wに書込指令信号源304からH論理が与え
られ書込状態に切換られる。これによりスイツチ
208によつて選択されたH論理又はL論理がメ
モリ201に書込まれる。
従つてランダムアクセスメモリを用いた場合も
そのメモリを循環的に読出すことによりそのメモ
リに記憶されたH論理をL論理の数に対応したア
ナログ電圧を平滑回路204から得ることができ
る。出力電圧を変化させるにはスイツチ208を
接点UP又はDOWNに接触させメモリ201内に
記憶されているH論理とL論理の数を変化させる
ことにより平滑回路204の出力電圧を変化させ
ることができる。
尚上述ではメモリ201の読出出力を平滑回路
204によつて平滑しアナログ電圧に変換して出
力した例を説明したが、例えばパルス制御形の流
量制御便に対してはメモリ201の出力をそのま
ま与えるようにすればよい。以上によりこの出願
の基本的な技術思想が理解できよう。この発明で
は、アナログ電圧を与え、そのアナログ電圧に対
応したH論理とL論理の数をメモリに記憶させ
る。
第4図はその実施例を示す。この実施例では手
動操作による書込手段207に対して自動書込手
段401が設けられる。自動書込手段401はこ
の例では比較器402によつて構成した場合を示
す。この比較器402は非反転入力端子(+)の
電位が反転入力端子(−)より高いときはH論理
を出力し、反転入力端子(−)の電位が非反転入
力端子(+)より高い場合はL論理を出力し、両
方の入力端子の電位が等しいとき出力端子が高イ
ンピーダンスの状態となるようないわゆるスリー
ステート出力形の比較器であるものとする。
自動書込手段401と手動書込手段207との
切換えはモード切換スイツチ403によつて行わ
れる。スイツチ403が接点A側に切換られてい
る状態をここでは自動モードと呼ぶこととし、接
点M側に切換られている状態を手動モードと呼ぶ
こととする。
自動モードでは自動書込手段401がオアゲー
ト202に接続される。自動書込手段401を構
成する比較器402の非反転入力端子(+)をア
ナログ入力端子404に導出し、反転入力端子
(−)にメモリ201の読出出力を与える。この
例ではバツフア増幅器205の出力側からメモリ
201の読出出力を反転入力端子(−)に与えた
場合を示す。
このように構成したことによりモード切換スイ
ツチ403が自動モード側Aに切換られている状
態ではメモリ201には入力端子404に与えら
れるアナログ電圧値に対応した数のH論理データ
が自動的に書込まれ、そのデータが常時循環して
読出される。つまり入力端子404に与えられる
アナログ信号に対し出力端子206に出力される
出力アナログ信号が常に追従に平衡するようにメ
モリ201にH論理(又はL論理)が記憶され
る。
この自動書込の動作を更に詳しく説明するなら
ばメモリ201の記憶内容が全てのビツトにおい
てL論理であつたとすると、平滑出力電圧はゼロ
である。このとき入力端子404に或る正電圧が
入力されると自動書込手段401はH論理を出力
する。このH論理がメモリ201の一部のビツト
位置に書込まれ、これが読出されて平滑されて比
較器402の反転入力端子に帰環される。比較器
402の反転入力端子と非反転入力端子の電圧が
等しくなると比較器402の出力は高インピーダ
ンス状態となり、H論理の書込みが停止される。
入力端子404に与えられるアナログ入力電圧
が先の出力電圧より低下すると比較器402の出
力はL論理となる。よつてメモリ201の一部の
ビツト位置にL論理が書込まれ、その読出出力を
平滑した電圧がアナログ入力電圧と等しくなつた
状態でL論理の書込みが停止される。このように
この自動書込手段401によればメモリ201に
H論理とL論理の数の比の形態でアナログ量を保
持することができる。この状態でモード切換スイ
ツチ403を手動側Mに切換えることにより比較
器402とメモリ201を切離すことができる。
比較器402とメモリ201を切離すことによ
り、書込禁止状態に切換えることができメモリ2
03に記憶したアナログ信号量は半永久的に保存
されドリフトが起きるおそれはない。モード切換
スイツチ403の切換により手動書込手段207
がメモリ201に接続され、この手動書込手段2
07から手動操作スイツチ208の切換状態によ
りH論理とL論理の信号を選択的にメモリ201
の入力側に与えることにより出力端子206のア
ナログ電圧値を手動で増減することができる。
第5図は書込手段の更に他の実施例を示す。こ
の実施例は自動書込手段401と手動書込手段2
07に加えてメモリ201を複数の領域に分割
し、その分割された容領域にデータを書込む手段
701を設けた実施例を示す。この書込領域分割
手段701は例えば第ID形フリツプフロツプ7
02と、第2D形フリツプフロツプ703と、第
1ゲート704と第2ゲート705と、オアゲー
ト706とにより構成することができる。
メモリ201はこの例ではシフトレジスタの場
合を示す。メモリ201は端子707から供給さ
れる第6図Aに示すクロツク801によつて駆動
される。メモリ201の読出出力は第2図以下の
実施例と同様に平滑回路204とバツフア増幅器
205を通じて出力端子206に出力される。第
ID形フリツプフロツプ702はメモリ201と
同期してその読出出力をラツチし、そのラツチ出
力をメモリ201に再書込する。この再書込は端
子709から与えられる第6図Cに示すクロツク
パルス803に同期して行なわれる。クロツクパ
ルス803の周期T2を駆動クロツクパルス80
1の周期T1の例えば16倍に選定したとすると、
その再書込はメモリ201の循環速度の1/16の速
度で行われる。つまりメモリ201内を16ビツト
毎に分割し、この16ビツトの領域内にH論理とL
論理の比で決まるこの例ではデユーテイ比として
アナログ量を記憶する。
ここでメモリ201に対する書込に当つて自動
書込手段401及び手動書込手段207の何れか
ら書込むにしてもその書込指令がアナログ信号量
を増加させる指令の場合において、メモリ201
からH論理が読出されたとすると、そのH論理の
ビツト位置に再度H論理を書込むだけではメモリ
201内のH論理の数が増加しないことになる。
このためこの回路701ではメモリ201から
L論理が読出されるまで書込指令に基づくH論理
の書込を待機させL論理が読出されたとき、その
L論理が書込まれていたビツト位置にH論理を書
込むようにしている。逆に書込指令がアナログ信
号量を減少させる指令の場合にはメモリ201か
らH論理が読出されたときだけそのH論理が書込
まれていたビツト位置をL論理に書換えるように
動作する。
この制御動作は主にゲート704と705によ
つて行なわれる。ゲート704と705は自動書
込手段401及び手動書込手段207の何れの出
力によつても互に開と閉の互に逆の状態に制御さ
れる。ゲート704の一つの入力端子に第ID形
フリツプフロツプ702の出力端子の出力を与
えると共に他の一つの入力端子にモード切換スイ
ツチ403aを通じて自動及び手動書込手段40
1及び207から出力されるアナログ信号の増加
指令信号を与える。また更に他の一つの入力端子
に第6図Bに示すクロツクパルス802を与え
る。このクロツクパルス802はクロスパルス8
01と90゜位相が異なり、端子708から供給さ
れる。更に他の一つの入力端子に第2D形フリツ
プフロツプ703の出力端子Qの出力信号を与え
る。ゲート704の出力は第ID形フリツプフロ
ツプ702のプリセツト端子PSに供給すると共
にオアゲート706を通じて第2D形フリツプフ
ロツプ703のクロツク端子CLに与える。
ゲート705の一つの入力端子に第1フリツプ
フロツプ702の出力端子Qの出力を与え、他の
一つの入力端子に自動及び手動書込手段401及
び207からアナログ信号の減少指令信号を与え
る。更に他の一つの入力端子に端子708から第
6図Bに示すクロツクパルス802を与え、更に
他の入力端子に第2D形フリツプフロツプ703
の出力端子Qの出力を与える。
ゲート705の出力は第ID形フリツプフロツ
プ702のクリヤ端子CRに供給し、更にオアゲ
ート706を通じて第2D形フリツプフロツプ7
03のクロツク端子CLに与える。第2D形フリツ
プフロツプ703のプリセツト端子PSには第6
図Cに示すクロツクパルス803を与える。この
クロツクパルス803の周波数はクロツクパルス
801,802の周波数より低い周波数に選定す
る。このクロツクパルス803は端子709より
供給され、メモリ201に対する書込周期を規定
する。
また自動書込手段401と手動書込手段207
の切換はモード切換スイツチ403a,403b
によつて行なわれ、接点Aが自動書込モード、M
が手動書込モードである点は第4図の実施例と同
様である。モード切換スイツチ403a及び40
3bを自動Aから手動Mに切換ることにより比較
器402とメモリ201を含む閉ループが解か
れ、メモリ201の内容はその状態に維持され
る。
第5図の構成においてクロツクパルス803は
第2D形フリツプフロツプ703のプリセツト端
子PSに与えられ、第2D形フリツプフロツプ70
3の出力端子QをH論理に反転させる。この反転
によりゲート704,705の各一つの入力端子
にH論理が与えられる。第2D形フリツプフロツ
プ703からゲート704及び705に出力され
るH論理信号は書込許可信号として作用し、ゲー
ト704,705は他の条件が揃えば信号を出力
する状態に保持される。ゲート704又は705
から信号が出力されるとその出力信号は第2D形
フリツプフロツプ703のクロツク端子CLに与
えられる。第2D形フリツプフロツプ703のデ
ータ端子DはL論理電位に接続したから、ゲート
704又は705からH論理のパルスが出力され
ると第2D形フリツプフロツプ703の出力端子
QはL論理状態となる。よつて次にクロツクパル
ス803が供給されるまでの間はゲート704と
705は閉に保持され書込禁止状態とされメモリ
201のデータの書換は行なわれない。
ゲート704から信号が出力される条件は、 (1) 自動又は手動書込手段401,207の出力
がH論理であること、つまり信号増加指令であ
ること、 (2) メモリ201の読出出力がL論理であるこ
と、 (3) 第2D形フリツプフロツプ703がセツト状
態にあること、 (4) クロツクパルス802が存在すること、 この条件が揃つたときゲート704からクロツ
クパルス802と同期したパルスが出力され、こ
の出力パルスが第1フリツプフロツプ702をプ
リセツトし、出力端子QをH論理に反転させる。
この反転によりメモリ201のL論理が記憶され
ていたビツト位置にH論理を書込む。このように
して自動又は手動書込手段401又は207の出
力が信号増加指令の状態であればメモリ201内
のH論理のビツト数を増加させるように動作し、
平滑出力電圧を増加させる方向にメモリ201の
内容を書換える。
ゲート705から信号が出力される条件は、 (1) 自動又は手動書込手段401又は207の出
力が信号減少指令であること、 (2) メモリ201の読出出力がH論理であるこ
と、 (3) 第2D形フリツプフロツプ703がセツト状
態にあること、 (4) クロツクパルス802が存在すること、 この条件が揃つたときゲート705からクロツ
クパルス802と同期したパルスが出力され、こ
のパルスにより第ID形フリツプフロツプ702
はリセツトされその出力端子Qの出力をL論理に
反転させる。この反転によりメモリ201のH論
理が書込まれていたビツト位置にL論理を書込
み、メモリ201内のL論理が書込まれたビツト
の数を1ビツトずつ増加させ、その平滑出力電圧
の値を減少させるように動作する。
この書込の様子を第6図D,E,F,Gに示
す。第6図Dに示す804はメモリ201の読出
データ、Eは比較器402に供給される二つの入
力信号を示す。E図において805は入力端子4
04に与えられるアナログ信号、806は平滑回
路204から与えられる信号を示す。この図では
時点t0までの間は平滑回路204の出力電圧80
6が、アナログ入力信号805より大きい状態を
示す。よつて時点t0までは比較器402の出力は
同図Fに示すようにL論理(信号減指令)となつ
ている。同図Gは書換られたメモリ201内のデ
ータを示す。このG図に示すように時点t0までの
間はメモリ201の読出信号804がH論理の部
分にL論理の信号807が書込まれる。また時点
t0以後では比較器402の出力はH論理(信号増
加指令)となり、このときはメモリ201の読出
出力804がL論理の部分にH論理の信号808
が1ビツトずつ書込まれる。
クロツクパルス803の周期T2は第6図の例
ではクロツクパルス801の周期T1の16倍に選
定した場合を示す。メモリ201が例えば256
ビツトのシフトレジスタの場合はクロツクパルス
803によりメモリ201の全ビツトを16等分す
る領域に分割し、その16等分された領域内にH論
理とL論理の比の形態でアナログ量を記憶する。
このようにメモリ201の記憶領域を複数に分割
することにより、読出信号804(第6図D)の
周波数を高く採ることができる。よつて平滑回路
204の時定数を小さく設定することができる。
平滑回路204の時定数を小さく設定できること
によりメモリ201のデータの書換に対し出力端
子206の出力電圧の遅れを小さくすることがで
きる。つまり応答速度を速くすることができる利
点が得られる。
モード切換スイツチ403a,403bを手動
M側に切換えるとメモリ201と自動書込手段4
01とによつて構成される閉ループは開放され、
メモリ201に記憶されたアナログデータは不変
のまま循環し続け、出力端子206の平滑出力電
圧はドリフトすることなく、長期にわたつて安定
に保持される。ここで手動操作スイツチ208を
接点UP側に倒すと、ゲート704にH論理が与
えられる。よつてメモリ201には先に説明した
動作により今までL論理が記憶されていたビツト
位置にクロツク803の周期でH論理を書込み、
メモリ201内のH論理のビツト数を漸次増加さ
せる。また操作スイツチ208を接点DOWN側
に倒すとゲート705にH論理が与えられ、メモ
リ201のH論理が書込まれていたビツト位置に
L論理を書込む。よつて出力電圧は漸次減少す
る。
この手動操作時の出力電圧の上昇速度及び下降
速度はクロツクパルス803の周波数によつて決
まり、指示計(特に図示しない)を見ながらその
所定値に出力値を合致させる操作が最も容易に行
なえる周波数に選定すればよい。或は端子709
と第2D形フリツプフロツプ703の間に可変分
周器711を挿入し、この可変分周器711によ
つて第2D形フリツプフロツプ703に供給する
クロツクパルス803の周波数を変更できるよう
に構成すれば手動操作時の信号の上昇及び下降速
度を変化させることができる。
第7図はこの発明の他の実施例を示す。この例
ではメモリ201としてランダムアクセスメモリ
(以下RAMと称す)を用いた場合を示す。メモリ
201としてRAMを用いた場合にはクロツクパ
ルス801をアドレスカウンタ901に与え、こ
のアドレスカウンタ901の計数出力によりメモ
リ201の先頭アドレスから最終アドレスまでを
循環的にアクセスする。これと共にクロツクパル
ス801をリード/ライト端子R/Wに与え、そ
のパルス801のH論理によりそのアドレスの内
容を読出し、その読出出力を第3D形フリツプフ
ロツプ902にラツチし、更に第1D形フリツプ
フロツプ702にラツチする。クロツクパルス8
01がL論理に立下るとメモリ201は書込状態
となる。その他の構成及び動作は第5図の場合と
全く同様であるからこれ以上の詳細な説明は省略
する。
第8図以下にこの発明による信号保持回路を調
節計に応用した実施例を説明する。第8図は先に
第4図で説明したこの発明の信号保持回路を調節
計に応用した例を示す1001は調節計の入力端
子である。この入力端子1001にプロセスから
流量測定信号或は圧力測定信号、温度測定信号等
が供給される。この測定信号は比較器1002の
一方の入力端子に与えられる。1003はマイク
ロコンピユータであり、このマイクロコンピユー
タ1003の出力側にD―A変換器1004が接
続される。D―A変換器1004の出力を比較器
1002の他方の入力端子に与え、この比較器1
002と、マイクロコンピユータ1003と、D
―A変換器1004によつて周知のようにA―D
変換器が構成され、入力端子1001に入力され
た測定値はA―D変換されてマイクロコンピユー
タ1003に取込まれる。1005は設定器であ
り、この設定器1005の設定値も比較器100
6と、マイクロコンピユータ1003及びD―A
変換器1004によつてデイジタル値に変換さ
れ、マイクロコンピユータ1003に取込まれ
る。
マイクロコンピユータ1003では入力された
測定値とを比較し、その偏差値を周知のように
PID演算し、その演算処理結果をD―A変換器1
004とサンプリングスイツチ1007を通じて
サンプルホールドコンデンサ1008に周期的に
出力し、このコンデンサ1008に調節計出力を
保持させる。コンデンサ1008に保持した調節
計出力は第4図で説明したこの発明の信号保持回
路の入力端子404に与えられ、その保持電圧値
に対応したH論理とL論理の数が自動書込手段4
01を通じてメモリ201に書込まれる。つまり
先にも説明したようにメモリ201の読出出力が
平滑回路204で平滑されて自動書込手段401
の比較器の402の他方の入力端子に与えられる
から入力端子404に与えられる調節計出力値
と、平滑回路204の出力とが平衡するようにメ
モリ201内にH論理とL論理が書込まれる。
モード切換スイツチ403を手動モードMに切
換ると出力端子206にはメモリ201に記憶さ
れた調節計出力値が出力され続け、その値は半永
久的に保持されドリフトすることはない。
よつてこの発明による信号保持回路を調節計の
出力回路に利用することにより長時間手動モード
に放置しても出力がドリフトしない。よつて信頼
性の高い調節計を得ることができる。更にマイク
ロコンピユータ1003が故障した場合にも手動
モードに切換えることにより出力端子206には
故障前の電圧を出し続けることができ、この点で
も信頼性の高い調節計を提供できる。
換言すれば従来のマイクロコンピユータを利用
した調節計では第9図に示すように手動モードで
はサンプルホールド回路1101の出力を入力側
の比較器1102に帰還し、この比較器1102
とマイクロコンピユータ1003と、D―A変換
器1004によつてサンプルホールド回路110
1のドリフト分をA―D変換してマイクロコンピ
ユータに取込み、マイクロコンピユータ1003
の演算機能を利用してそのドリフトを補正するよ
うにしている。このためマイクロコンピユータ1
003が故障すると手動モードにおいて出力がド
リフトしてしまう欠点がある。
この従来のドリフト補正方式に対してこの発明
の信号保持回路が信号保持機能の点で優れている
ことと、マイクロコンピユータの故障に対しても
プロセスを手動操作によつて長期にわたつて安全
に操作できる点で優れていることが理解できよ
う。
第10図に第5図で説明した書込手段を調節計
に応用した例を示す。この例でも自動書込手段4
01の入力端子404にホールド用コンデンサ1
008を接続し、その前段にサンプリングスイツ
チ1007を介してD―A変換器1004と、マ
イクロコンピユータ1003、A―D変換用比較
器1002、設定電圧源1005が接続される点
は第8図と同様である。そして調節計としての作
用効果は第8図で説明したのと全く同様に手動モ
ードでの信号の不変性と、マイクロコンピユータ
1003の故障に対してもその影響がプロセスに
及ばない点で優れた作用効果が得られる。
第11図は第9図で説明したメモリ201とし
てRAMを用いた場合の信号保持回路を調節計に
応用した場合を示す。この実施例で他の実施例と
の違いはモード切換スイツチ403cを平滑回路
204の出力側に設け、自動モードではサンプル
ホールドコンデンサ1008にホールドされた調
節計出力を直接バツフア増幅器205を通じて出
力端子206に出力するようにし、手動モードの
場合だけメモリ201の読出出力を利用するよう
にした点である。その他の構成はメモリ201が
RAMである点の外は第10図の場合と全く同じ
である。
以上説明したようにこの発明によればアナログ
信号量を長期にわたつて一定不変のまま保持する
ことができるメモリ回路を提供することができ
る。よつてそのメモリ回路を例えば調節計に応用
することにより信頼性の高い調節計を得ることが
できる。また単に手動操作器として利用してもそ
の説定値が長期にわたつて一定不変に保持できる
ことから信頼性の高い手動操作器を提供できる。
然もこの発明のメモリ回路はメモリ201に平滑
回路204と、その他に書込手段401,207
を付加しただけの構成であるため構成が簡単で安
価に作ることができる利点もあり、その効果は実
用に供して頗る大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のサンプルホールド回路を説明す
るための接続図、第2図及び第3図はこの発明の
基本となつた考え方を説明するための接続図、第
4図、第5図及び第7図はこの発明の実施例を示
す接続図、第6図は第5図の動作の説明に供する
波形図、第8図乃至第11図はこの発明の応用例
を説明するための接続図である。 201……循環的に読出し可能なメモリ、20
4……平滑回路、207……手動書込手段、40
1……自動書込手段、403……モード切換スイ
ツチ、701……メモリを複数の領域に分割して
記憶する手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力アナログ信号が一方の入力端子に供給さ
    れ他方の入力端子にアナログ出力が供給される比
    較器と、この比較器の出力の状態により2値符号
    の何れか一方が書込まれ、その書込まれたデータ
    を循環的に読出すメモリと、このメモリの読出出
    力を平滑し、その平滑出力を上記アナログ出力と
    して取出す平滑回路とより成り、この平滑回路の
    出力信号を上記入力アナログ信号に追従させるよ
    うに構成したメモリ回路。
JP56125074A 1981-08-10 1981-08-10 メモリ回路 Granted JPS5826398A (ja)

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DE19823229772 DE3229772A1 (de) 1981-08-10 1982-08-10 Speicherschaltung
FR828213924A FR2511173B1 (fr) 1981-08-10 1982-08-10 Circuit de memoire

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JPS5826398A (ja) 1983-02-16
DE3229772C2 (ja) 1987-04-30
FR2511173B1 (fr) 1990-08-31
US4573142A (en) 1986-02-25
FR2511173A1 (fr) 1983-02-11

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