JPS6135328A - レ−ザダイオ−ドユニツトの調整及び発振波長測定用光学装置 - Google Patents
レ−ザダイオ−ドユニツトの調整及び発振波長測定用光学装置Info
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- JPS6135328A JPS6135328A JP15549284A JP15549284A JPS6135328A JP S6135328 A JPS6135328 A JP S6135328A JP 15549284 A JP15549284 A JP 15549284A JP 15549284 A JP15549284 A JP 15549284A JP S6135328 A JPS6135328 A JP S6135328A
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- G01J1/02—Details
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- G01J1/02—Details
- G01J1/0266—Field-of-view determination; Aiming or pointing of a photometer; Adjusting alignment; Encoding angular position; Size of the measurement area; Position tracking; Photodetection involving different fields of view for a single detector
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明はレーザプリンタ等に使用されるレーザダイオー
ドとカップリングレンズとを一体に組立てて成るレーザ
ダイオードユニットの光軸調整とコリメート調整ならび
にレーザダイオードの発振波長測定を行なうための光学
装置に関する。
ドとカップリングレンズとを一体に組立てて成るレーザ
ダイオードユニットの光軸調整とコリメート調整ならび
にレーザダイオードの発振波長測定を行なうための光学
装置に関する。
従来技術
レーザプリンタ等の記録装置では、レーザダイオード（
１ａｓｅｒ ｄｉｏｄｅ、 以下ＬＤと略する）より画
像情報信号に応じて変調されて出射された画像情報再生
用レーザ光を画像幅に対応した角度範囲偏向させて感光
体を走査し画像情報の光書き込みを行なう。
１ａｓｅｒ ｄｉｏｄｅ、 以下ＬＤと略する）より画
像情報信号に応じて変調されて出射された画像情報再生
用レーザ光を画像幅に対応した角度範囲偏向させて感光
体を走査し画像情報の光書き込みを行なう。
ＬＤは発散角が大であるので、記録装置に用いる際には
カップリングレンズではソ平行なビームに整形される。
カップリングレンズではソ平行なビームに整形される。
ＬＤとカップリングレンズとは一体のユニットとして組
立てられ、あらかじめＬＤとカップリングレンズ相互間
の光軸調整及びコリメート調整を行った上、記録装置に
使用される。
立てられ、あらかじめＬＤとカップリングレンズ相互間
の光軸調整及びコリメート調整を行った上、記録装置に
使用される。
又、再生用レーザ光の偏向手段として、ディスク上に円
周方向に連続的に格子間隔を変化させたホログラム回折
格子のファセットを複数個同一円周上に配列して成るホ
ロスキャナを使用し、これを一定の角速度で回転させな
がら再生用レーザ光を一定の入射角で一定の位置でファ
セットに入射させて、回折格子の間隔に応じて順次変化
する回折角度で回折光を出射させ、１つのファセット毎
に一定の角度範囲を偏向させるようにした装置が最近利
用されるようになった。しかし回折格子でレーザ光を回
折させる場合、回折角はレーザ光の波長によって変化す
る。ＬＤの発振波長は個々の製品毎にばらつきがあり、
そのため回折格子による回折角が変化し走査幅が変化す
る。これを補正するためにレーザ光を変調させる画像情
報信号をレーザ光に打込むクロックの周波数をＬＤの発
振波長に応じて変化させ、感光体上に書込まれるドツト
間隔が常に一定になるようにして走査幅を所定の幅に一
致させるようにしている。
周方向に連続的に格子間隔を変化させたホログラム回折
格子のファセットを複数個同一円周上に配列して成るホ
ロスキャナを使用し、これを一定の角速度で回転させな
がら再生用レーザ光を一定の入射角で一定の位置でファ
セットに入射させて、回折格子の間隔に応じて順次変化
する回折角度で回折光を出射させ、１つのファセット毎
に一定の角度範囲を偏向させるようにした装置が最近利
用されるようになった。しかし回折格子でレーザ光を回
折させる場合、回折角はレーザ光の波長によって変化す
る。ＬＤの発振波長は個々の製品毎にばらつきがあり、
そのため回折格子による回折角が変化し走査幅が変化す
る。これを補正するためにレーザ光を変調させる画像情
報信号をレーザ光に打込むクロックの周波数をＬＤの発
振波長に応じて変化させ、感光体上に書込まれるドツト
間隔が常に一定になるようにして走査幅を所定の幅に一
致させるようにしている。
ＬＤの発振波長は、ＬＤの周囲温度によっても変化し、
しかもその変化の態様は第６図に示す如く温度の変化に
対して階段的にシフトする。この現象をモードジャンプ
又は波長とびと云う。波長とびのシフト幅は狭いが感光
体上に書込まれるドツトの間隔が不規則になったり、ド
ツトが抜けたシするので、ＬＤの使用温度は波長とびの
発生する温度の中間の安定領域に制御する必要がある。
しかもその変化の態様は第６図に示す如く温度の変化に
対して階段的にシフトする。この現象をモードジャンプ
又は波長とびと云う。波長とびのシフト幅は狭いが感光
体上に書込まれるドツトの間隔が不規則になったり、ド
ツトが抜けたシするので、ＬＤの使用温度は波長とびの
発生する温度の中間の安定領域に制御する必要がある。
そのため、各ＬＤ毎に発振波長を温度を変化させて測定
することが必要である。
することが必要である。
ＬＤユニットは、第７図に示す如く、ＬＤｌを固定保持
するＬＤホルダー２と、カップリングレンズ３が螺着さ
れたカップリングレンズホルダー４とが、ＬＤｌ及びカ
ップリングレンズ３の光軸に対して直角な平面内で直交
２軸（Ｘ、Ｙ）のいずれの方向にも摺動させて調整し固
定できるようになっている。さらにＬＤユニットにはペ
ルチェ素子５が組込まれ、これに通電することによりＬ
Ｄ周囲温度を制御することが可能となっておし、ＬＤ周
囲温度はユニット内に設けられたサーミスタ６により検
出されるようになっている。
するＬＤホルダー２と、カップリングレンズ３が螺着さ
れたカップリングレンズホルダー４とが、ＬＤｌ及びカ
ップリングレンズ３の光軸に対して直角な平面内で直交
２軸（Ｘ、Ｙ）のいずれの方向にも摺動させて調整し固
定できるようになっている。さらにＬＤユニットにはペ
ルチェ素子５が組込まれ、これに通電することによりＬ
Ｄ周囲温度を制御することが可能となっておし、ＬＤ周
囲温度はユニット内に設けられたサーミスタ６により検
出されるようになっている。
ＬＤユニットのＬＤ １とカップリングレンズ３との光
軸調整は、調整装置台板上の一定の位置にＬＤユニット
を光軸方向を所定の方向に合せて設置し、台板上に所定
の光軸上に予め設置さ糺たポジションセンサにＬＤユニ
ットから出射されたレーザ光を入射させ、入射位置が所
定の位置にくるように、ＬＤユニットのＬＤホルダー２
とカップリングレンズホルダー４とを互いにＸ、Ｙ両方
向に摺動させて調整する。
軸調整は、調整装置台板上の一定の位置にＬＤユニット
を光軸方向を所定の方向に合せて設置し、台板上に所定
の光軸上に予め設置さ糺たポジションセンサにＬＤユニ
ットから出射されたレーザ光を入射させ、入射位置が所
定の位置にくるように、ＬＤユニットのＬＤホルダー２
とカップリングレンズホルダー４とを互いにＸ、Ｙ両方
向に摺動させて調整する。
次にＬＤユニットのカップリングレンズのコリメート調
整は、出射光束の光路に焦点距離が既知のレンズを置き
、その焦点位置にＣＣＤ （Ｃｈａｒｇｅ −ｃｏｕｐ
ｌｅｄ ｄｅｖｉｃｅ ）を設置しておし、調整すべき
ＬＤユニットから出射されるレーザ光を上記レンズを介
してＣＣＤ上にスポットを投影し、スポット径を測定し
、ビームウェストがＣＣＤ上にくる迄カップリングレン
ズとそのホルダーとのねじ込み量を変化させ、カップリ
ングレンズをＬＤに対して光軸方向（Ｚ方向）に移動し
て調整する。なお、コリメすることができる。
整は、出射光束の光路に焦点距離が既知のレンズを置き
、その焦点位置にＣＣＤ （Ｃｈａｒｇｅ −ｃｏｕｐ
ｌｅｄ ｄｅｖｉｃｅ ）を設置しておし、調整すべき
ＬＤユニットから出射されるレーザ光を上記レンズを介
してＣＣＤ上にスポットを投影し、スポット径を測定し
、ビームウェストがＣＣＤ上にくる迄カップリングレン
ズとそのホルダーとのねじ込み量を変化させ、カップリ
ングレンズをＬＤに対して光軸方向（Ｚ方向）に移動し
て調整する。なお、コリメすることができる。
次にＬＤの発振波長の測定は、第８図に示す如く、ＬＤ
ユニット１０より出射されたレーザ光束の光路に回折格
子１１を配置し、これによる回折光の光路にポジション
センサ、ＣＣＤ等の入射位置測定手段１２を設けて、回
折光を入射させる。その場合、入射角α、回折角β、回
折格子の格子間隔ｄル−ザ光線の発振波長λとの間には λ ｓｉｎα十癲β＝１ なる関係があることから、格子間隔ｄが既知の回折格子
を用い、レーザ光線の入射角α、回折角βを測定すれば
波長を求めることができる。そこで２つのＬＤについて
波長を求め、この２つのＬＤの回折格子１１による回折
光のポジジョンセンサ等１２への入射点をＰ、Ｑとし、
その間を等分してり二゛ア−に波長の目盛シを打ってお
けば、測定しようとするＬＤユニットを定位置に設置し
、その出射光束の回折格子１１による回折光のポジショ
ンセンサ等１２への入射点を検知すればＬＤの発振波長
は直ちに知ることができる。
ユニット１０より出射されたレーザ光束の光路に回折格
子１１を配置し、これによる回折光の光路にポジション
センサ、ＣＣＤ等の入射位置測定手段１２を設けて、回
折光を入射させる。その場合、入射角α、回折角β、回
折格子の格子間隔ｄル−ザ光線の発振波長λとの間には λ ｓｉｎα十癲β＝１ なる関係があることから、格子間隔ｄが既知の回折格子
を用い、レーザ光線の入射角α、回折角βを測定すれば
波長を求めることができる。そこで２つのＬＤについて
波長を求め、この２つのＬＤの回折格子１１による回折
光のポジジョンセンサ等１２への入射点をＰ、Ｑとし、
その間を等分してり二゛ア−に波長の目盛シを打ってお
けば、測定しようとするＬＤユニットを定位置に設置し
、その出射光束の回折格子１１による回折光のポジショ
ンセンサ等１２への入射点を検知すればＬＤの発振波長
は直ちに知ることができる。
ところで、上記の光軸調整とコリメート調整とは、従来
よりＬＤユニットを台板の一定点に設置し、その出射光
束の光路にハーフミラ−を設けて、２つの光束に分割し
、その一方の光路にポジションセンサを設けて光軸調整
を行ない、他方の光路にレンズ及びＣＣＤ又はその他の
ビームスポット径測定手段を設けてコリメート調整を行
なうことは行なわれていたが、ＬＤの発振波長の測定は
、別の測定装置で行なうのが通常であった。そのため、
光軸調整及びコリメート調整のため台板に位置方向を精
度高く合わせて設置したＬＤユニットを、発振波長測定
のために取シ外して再び別の測定用台板上に設置する必
要があし、そのための手数が非常に掛る欠点があった。
よりＬＤユニットを台板の一定点に設置し、その出射光
束の光路にハーフミラ−を設けて、２つの光束に分割し
、その一方の光路にポジションセンサを設けて光軸調整
を行ない、他方の光路にレンズ及びＣＣＤ又はその他の
ビームスポット径測定手段を設けてコリメート調整を行
なうことは行なわれていたが、ＬＤの発振波長の測定は
、別の測定装置で行なうのが通常であった。そのため、
光軸調整及びコリメート調整のため台板に位置方向を精
度高く合わせて設置したＬＤユニットを、発振波長測定
のために取シ外して再び別の測定用台板上に設置する必
要があし、そのための手数が非常に掛る欠点があった。
目 的
本発明は、レーザプリンタ等に使用されるＬＤユニット
の光軸調整、コリメート調整及びＬＤの波長測定の従来
の調整、測定方法の上述の問題点にかんがみ、調整・測
定を行なうべきＬＤユニットを一度台板に設置するだけ
で、光軸調整、コリメート調整及び発振波長測定を簡単
にかつ精度高く行なうことのできる光学装置を提供する
ことを目的とする。
の光軸調整、コリメート調整及びＬＤの波長測定の従来
の調整、測定方法の上述の問題点にかんがみ、調整・測
定を行なうべきＬＤユニットを一度台板に設置するだけ
で、光軸調整、コリメート調整及び発振波長測定を簡単
にかつ精度高く行なうことのできる光学装置を提供する
ことを目的とする。
構 成
本発明は、上記目的を達成させるため、調整及び測定を
行なうべきＬＤユニットを一定位置に設置するとともに
、調整及び測定のための光学要素を固定する台板と、該
台板上に設置された上記」ユニットより出射される光束
の光路に設けられたハーフミラ−と、該ハーフミラ−に
より分割された一方の光束の光路に設けられた光軸調整
用ポジションセンサと、他方の光束の光路に設けられた
コリメート調整用ビームスポット径測定手段と、いずれ
か一方の光路に設けられた回折格子と該回折格子による
回折光の光路に設けら゛れた波長測定用入射位置検出手
段とを有することを特徴とする。
行なうべきＬＤユニットを一定位置に設置するとともに
、調整及び測定のための光学要素を固定する台板と、該
台板上に設置された上記」ユニットより出射される光束
の光路に設けられたハーフミラ−と、該ハーフミラ−に
より分割された一方の光束の光路に設けられた光軸調整
用ポジションセンサと、他方の光束の光路に設けられた
コリメート調整用ビームスポット径測定手段と、いずれ
か一方の光路に設けられた回折格子と該回折格子による
回折光の光路に設けら゛れた波長測定用入射位置検出手
段とを有することを特徴とする。
上記のハーフミラ−以降の光路に適当に挿入退避可能に
ミラー及び要すれば遮光部材を設けることにより、光軸
調整用ポジションセンサと波長測定用入射位置検出手段
とを単一のポジションセンサにて兼用させることができ
る。
ミラー及び要すれば遮光部材を設けることにより、光軸
調整用ポジションセンサと波長測定用入射位置検出手段
とを単一のポジションセンサにて兼用させることができ
る。
以下、本発明の実施例を図面に基いて詳細に説明する。
第１図に示す実施例では、調整・測定用台板１３上の一
定の位置に設置されたＬＤユニツ） １０より出射され
るレーザ光束の光路にハーフミ５−１４が設けられ、そ
の透過光束の光路には光軸調整用ポジションセンサ１５
が設けられている。ハーフミラ−１４による反射光束の
光路にはレンズ１６を設け、その焦点の位置にコリメー
ト調整用ＣＣＤ １７が設けられている。
定の位置に設置されたＬＤユニツ） １０より出射され
るレーザ光束の光路にハーフミ５−１４が設けられ、そ
の透過光束の光路には光軸調整用ポジションセンサ１５
が設けられている。ハーフミラ−１４による反射光束の
光路にはレンズ１６を設け、その焦点の位置にコリメー
ト調整用ＣＣＤ １７が設けられている。
こ＼迄の構成は従来の光軸及びコリメート調整用光学装
置と変る所はない。
置と変る所はない。
しかし、本実施例では、さらに、ＬＤの波長及び波長と
びを測定するための手段として、ハーフミラ−１４から
光軸調整用ポジションセンサ１５に至る光路の途中に格
子間隔が既知の回折格子１１が設けられており、ハーフ
ミラ−１４を透過したレーザ光束のこれによる回折光の
光路には発振波長測定用ポジションセンサ１２が設けら
れている。ポジションセンサ１２はＣＣＤとしてもよい
。その場合は回折光の光路にレンズ１８を設けて収束さ
せてＣＣＤに入射する方がよい。ポジションセンサを使
用する場合も回折光の光路にレンズを設けてもよい。
びを測定するための手段として、ハーフミラ−１４から
光軸調整用ポジションセンサ１５に至る光路の途中に格
子間隔が既知の回折格子１１が設けられており、ハーフ
ミラ−１４を透過したレーザ光束のこれによる回折光の
光路には発振波長測定用ポジションセンサ１２が設けら
れている。ポジションセンサ１２はＣＣＤとしてもよい
。その場合は回折光の光路にレンズ１８を設けて収束さ
せてＣＣＤに入射する方がよい。ポジションセンサを使
用する場合も回折光の光路にレンズを設けてもよい。
本実施例の調整、測定光学装置は以上の如く構成されて
いるので、ＬＤユニツ） １０を調整、測定台板１３上
に一度設置するだけで、ハーフミラーエ４を透過し、回
折格子工１で回折されない光束（零次回折光束）のポジ
ションセンサ１５への入射位置を測定することにより光
軸調整が、又、ハーフミラ−１４で反射され、レンズ１
６で収束された光束のビーム径をＣＣＤにより測定する
ことによりコリメー４調整が、さらに、回折格子１１に
よる回折光のポジションセンサ１２への入射位置を測定
することによ□す、ＬＤの波長及び波長とびの測定が簡
単にできる。
いるので、ＬＤユニツ） １０を調整、測定台板１３上
に一度設置するだけで、ハーフミラーエ４を透過し、回
折格子工１で回折されない光束（零次回折光束）のポジ
ションセンサ１５への入射位置を測定することにより光
軸調整が、又、ハーフミラ−１４で反射され、レンズ１
６で収束された光束のビーム径をＣＣＤにより測定する
ことによりコリメー４調整が、さらに、回折格子１１に
よる回折光のポジションセンサ１２への入射位置を測定
することによ□す、ＬＤの波長及び波長とびの測定が簡
単にできる。
第２図乃至第４図に夫々示す実施例では、光軸調整用の
ポジションセンサ１５が、波長及び波長とび測定用のポ
ジションセンサを兼ねておし、波長及び波長とび測定用
ポジションセンサは省略されている。そのため回折格子
１１はポジションセンサ１５に入射する光路上に、これ
による回折光がそのポジションセンサ１５に入射するよ
うな位置、姿勢に設置され、ハーフミラ−１４以降の光
路上の適当な位置に光路に挿入、退避可能にミラー、及
び必要により遮光手段を設け、これらのミラー及び遮光
手段の位置を適宜切換えて、光軸調整時にはハーフミラ
−１４で分割された一方の光束が回折格子１１ｅ透過し
てポジションセンサ１５に入射し、回折格子１１による
回折光がポジションセンサ１５に向うような方向に回折
格子１１に入射する光束は遮断され、波長及び波長とび
測定時には、回折格子１１を透過してポジションセンサ
１５に入射するような光束を回折格子１１の手前で遮光
し、かつ回折格子１１による回折光がポジションセンサ
１５に入射するような光束が回折格子１１に入射するよ
うにする。
ポジションセンサ１５が、波長及び波長とび測定用のポ
ジションセンサを兼ねておし、波長及び波長とび測定用
ポジションセンサは省略されている。そのため回折格子
１１はポジションセンサ１５に入射する光路上に、これ
による回折光がそのポジションセンサ１５に入射するよ
うな位置、姿勢に設置され、ハーフミラ−１４以降の光
路上の適当な位置に光路に挿入、退避可能にミラー、及
び必要により遮光手段を設け、これらのミラー及び遮光
手段の位置を適宜切換えて、光軸調整時にはハーフミラ
−１４で分割された一方の光束が回折格子１１ｅ透過し
てポジションセンサ１５に入射し、回折格子１１による
回折光がポジションセンサ１５に向うような方向に回折
格子１１に入射する光束は遮断され、波長及び波長とび
測定時には、回折格子１１を透過してポジションセンサ
１５に入射するような光束を回折格子１１の手前で遮光
し、かつ回折格子１１による回折光がポジションセンサ
１５に入射するような光束が回折格子１１に入射するよ
うにする。
このようにすることにより、一度ＬＤユニット１０を台
板１３上にセットすれば、ミラーと必要により設けられ
た遮光手段の位置を切換えるだけで、所要の調整及び測
定を簡単に実施することができ、かつポジションセンサ
等の入射位置測定手段を１つ省略することが可能となる
。
板１３上にセットすれば、ミラーと必要により設けられ
た遮光手段の位置を切換えるだけで、所要の調整及び測
定を簡単に実施することができ、かつポジションセンサ
等の入射位置測定手段を１つ省略することが可能となる
。
第２図に示す実施例では、ハーフミラ−１４による反射
光束の光路に４５°の方向に挿入、退避可能なミラー１
９が設けられ、これが挿入された場合のこれによる反射
光の光路に、回折格子１１によりポジションセンサ１５
に向って回折するような光束が反射される位置と姿勢に
ミラー２０が固定的に設置され、又、ハーフミラ−Ｉ４
を透過した光束の光路の回折格子１１の手前には、光路
に挿入、退避可能な遮光板２１が設けられている。
光束の光路に４５°の方向に挿入、退避可能なミラー１
９が設けられ、これが挿入された場合のこれによる反射
光の光路に、回折格子１１によりポジションセンサ１５
に向って回折するような光束が反射される位置と姿勢に
ミラー２０が固定的に設置され、又、ハーフミラ−Ｉ４
を透過した光束の光路の回折格子１１の手前には、光路
に挿入、退避可能な遮光板２１が設けられている。
この光学装置により光軸調整及びコリメート調整を行な
う場合は、可動のミラー１９及び遮光板２１を図中に鎖
線で示す位置に保持し、波長及び波長とび測定時にはミ
ラー１９及び遮光板２１を図中に実線で示す位置に保持
することにより、第１図に示す装置と同様に調整、測定
を行なうことができる０ 第３図に示す実施例では、ハーフミラ−１４を透過した
光束の光路に対して４５°の方向に挿入退避可能なミラ
ー２２が設けられ、これが挿入された場合のその反射光
の光路にその反射光を回折格子１１に対してポジション
センサ１５の方に回折させる光束を反射させるように２
枚のミラー２３ 、２４が固定的に設けられている。
う場合は、可動のミラー１９及び遮光板２１を図中に鎖
線で示す位置に保持し、波長及び波長とび測定時にはミ
ラー１９及び遮光板２１を図中に実線で示す位置に保持
することにより、第１図に示す装置と同様に調整、測定
を行なうことができる０ 第３図に示す実施例では、ハーフミラ−１４を透過した
光束の光路に対して４５°の方向に挿入退避可能なミラ
ー２２が設けられ、これが挿入された場合のその反射光
の光路にその反射光を回折格子１１に対してポジション
センサ１５の方に回折させる光束を反射させるように２
枚のミラー２３ 、２４が固定的に設けられている。
この光学装置で、光軸調整及びコリメート調整を行なう
場合はミラーｎを破線で示す如く光路より退避させ、波
長及び波長とび測定時には実線で示す如く挿入すればよ
い。
場合はミラーｎを破線で示す如く光路より退避させ、波
長及び波長とび測定時には実線で示す如く挿入すればよ
い。
第４図に示す実施例では、ノーーフミラー１４の透過光
束の光路に設けられた回折格子１１の零次回折光の光路
にポジションセンサ１５が設けられ、回折格子１１によ
る回折光の光路に３枚のミラー２５゜２６ 、２７が設
けられ、このうち２枚のミラー２５゜２６は固設され、
あとの１つのミラー２７は前記零次回折光の光路上に光
路に挿入、退避可能に設けられて挿入されたときはその
反射光はポジションセンサ１５に入射するような姿勢に
設けられている。
束の光路に設けられた回折格子１１の零次回折光の光路
にポジションセンサ１５が設けられ、回折格子１１によ
る回折光の光路に３枚のミラー２５゜２６ 、２７が設
けられ、このうち２枚のミラー２５゜２６は固設され、
あとの１つのミラー２７は前記零次回折光の光路上に光
路に挿入、退避可能に設けられて挿入されたときはその
反射光はポジションセンサ１５に入射するような姿勢に
設けられている。
したがって、この光学装置で光軸調整及びコリメート調
整を行かう場合はミラー２７を光路より退避させ、波長
及び波長とび測定を行なうときはミラー２７を光路に挿
入した状態で行なえばよい。
整を行かう場合はミラー２７を光路より退避させ、波長
及び波長とび測定を行なうときはミラー２７を光路に挿
入した状態で行なえばよい。
なお、ミラー２５及び２７の面の方向を適当に変えるこ
とにより、ミラー２６を省略することも可能である。
とにより、ミラー２６を省略することも可能である。
第５図に示す他の実施例では、ＬＤユニツ） １０から
出射される光束の光路にハーフミラ−１４と回折格子１
１とを選択的に挿入可能に設け、ハーフミラ−１４が挿
入された場合の反射光束の光路に光軸調整用蓋、波長及
び波長とび測定用ポジションセンサ１５を、透過光束の
光路にコリメート調整用のレンズエ６及びＣＣＤ１７が
設けられている。回折格子１１が光路に挿入された場合
の回折格子１１による回折光はポジションセンサ１５に
入射するようにされている。
出射される光束の光路にハーフミラ−１４と回折格子１
１とを選択的に挿入可能に設け、ハーフミラ−１４が挿
入された場合の反射光束の光路に光軸調整用蓋、波長及
び波長とび測定用ポジションセンサ１５を、透過光束の
光路にコリメート調整用のレンズエ６及びＣＣＤ１７が
設けられている。回折格子１１が光路に挿入された場合
の回折格子１１による回折光はポジションセンサ１５に
入射するようにされている。
この光学装置の作用は自明であるから説明を省略する。
効 果
以上の如く、本発明によればレーザプリンタ等の記録装
置に使用されるレーザダイオードユニットの光軸調整、
コリメート調整及びそのユニットのレーザダイオードの
発振波長と波長とびの測定を調整・測定用装置台板にレ
ーザダイオードユニットを一度設置するだけで簡単にか
つ高精度に実施することができる。
置に使用されるレーザダイオードユニットの光軸調整、
コリメート調整及びそのユニットのレーザダイオードの
発振波長と波長とびの測定を調整・測定用装置台板にレ
ーザダイオードユニットを一度設置するだけで簡単にか
つ高精度に実施することができる。
第１図は本発明の実施例の光学装置の構成を示す図式図
、第２図乃至第５図は夫々本発明の他の実施例の構、成
を示す図式図、第６図はレーザダイオードの周面温度変
化に対する発振波長の波長とび現象を説明する曲線図、
第７図はレーザプリンタ等に使用されるレーザダイオー
ドユニットの構成の一例を示す断面図、第８図はレーザ
ダイオードの発振波長及び波長とび測定方法の理論を説
明する図式図である。 ■・・・レーザダイオード ３・・・カップリングレンズ ｌＯ・・・レーザダイオードユニット １１・・・回折格子 １２・・・ポジションセンサ（波長測定用入射位置計測
手段） １３・・・調整測定光学装置台板 １４・・・ハーフミラ− １５・・・ポジションセンサ １７・・・ＣｃＤ （コリメート調整用ビームスポット
径測定手段） １９〜２０ 、２２〜２７・・・ミラー２１・・・遮光
部材 第８ 第７図 す 図
、第２図乃至第５図は夫々本発明の他の実施例の構、成
を示す図式図、第６図はレーザダイオードの周面温度変
化に対する発振波長の波長とび現象を説明する曲線図、
第７図はレーザプリンタ等に使用されるレーザダイオー
ドユニットの構成の一例を示す断面図、第８図はレーザ
ダイオードの発振波長及び波長とび測定方法の理論を説
明する図式図である。 ■・・・レーザダイオード ３・・・カップリングレンズ ｌＯ・・・レーザダイオードユニット １１・・・回折格子 １２・・・ポジションセンサ（波長測定用入射位置計測
手段） １３・・・調整測定光学装置台板 １４・・・ハーフミラ− １５・・・ポジションセンサ １７・・・ＣｃＤ （コリメート調整用ビームスポット
径測定手段） １９〜２０ 、２２〜２７・・・ミラー２１・・・遮光
部材 第８ 第７図 す 図
Claims (3)
- （１）レーザダイオードより発散されカップリングレン
ズでほゞ平行なビームに整形されたレーザ光をホログラ
フィックスキャナにより偏向して感光体を書込み走査す
るレーザプリンタ用の上記レーザダイオードとカップリ
ングレンズとを一体に組立てゝ成るレーザダイオードユ
ニットの光軸調整とコリメート調整及び上記レーザダイ
オードの発振波長測定光学装置において、上記の調整及
び測定を行なうべきレーザダイオードユニットを一定位
置に設置するとともに調整及び測定のための光学要素を
固定する台板と、該台板の一定位置に設置された上記レ
ーザダイオードユニットより出射される光束の光路に設
けられたハーフミラーと、該ハーフミラーにより分割さ
れた一方の光束の光路に設けられた光軸調整用ポジショ
ンセンサと、他方の光束の光路に設けられたコリメート
調整用ビームスポット径測定手段と、ハーフミラーで分
割された光束のいずれか一方の光路に設けられた回折格
子と、該回折格子による回折光の光路に設けられた波長
測定用入射位置計測手段とを有することを特徴とする光
学装置。 - （２）上記の光軸調整用ポジションセンサと波長測定用
入射位置測定手段とが単一のポジションセンサにて兼用
され、上記ハーフミラー以後の光路に挿入退避可能にミ
ラー及び必要により遮光部材を設け、これらのミラー及
び遮光部材を変位させることにより光軸調整時には光軸
調整用光束のみが上記のポジションセンサに入射し、波
長測定時には光軸調整用光束の上記ポジションセンサに
達する光路が遮断されるとともに、上記回折格子の回折
光のみが上記ポジションセンサに入射するようにしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光学装置
。 - （３）上記の光軸調整用ポジションセンサと波長測定用
入射位置測定手段とが単一のポジションセンサにて兼用
され、上記のハーフミラーと回折格子とが上記レーザダ
イオードユニットから出射される光束の光路に選択的に
挿入可能に設けられ、光軸調整及びコリメート調整時に
はハーフミラーを光路に挿入し、波長測定時には回折格
子を光路に挿入して、これによる回折光が上記ポジショ
ンセンサに入射されるようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第１項に記載の光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15549284A JPS6135328A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | レ−ザダイオ−ドユニツトの調整及び発振波長測定用光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15549284A JPS6135328A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | レ−ザダイオ−ドユニツトの調整及び発振波長測定用光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6135328A true JPS6135328A (ja) | 1986-02-19 |
Family
ID=15607227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15549284A Pending JPS6135328A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | レ−ザダイオ−ドユニツトの調整及び発振波長測定用光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6135328A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4758090A (en) * | 1986-09-25 | 1988-07-19 | Allied-Signal Inc. | Optical wavelength monitor using blazed diffraction grating |
| JPH0378230U (ja) * | 1989-12-01 | 1991-08-07 | ||
| JPH1158825A (ja) * | 1997-08-26 | 1999-03-02 | Nec Niigata Ltd | 露光位置補正手段を有する電子写真印刷装置 |
-
1984
- 1984-07-27 JP JP15549284A patent/JPS6135328A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4758090A (en) * | 1986-09-25 | 1988-07-19 | Allied-Signal Inc. | Optical wavelength monitor using blazed diffraction grating |
| JPH0378230U (ja) * | 1989-12-01 | 1991-08-07 | ||
| JPH1158825A (ja) * | 1997-08-26 | 1999-03-02 | Nec Niigata Ltd | 露光位置補正手段を有する電子写真印刷装置 |
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