JPS61296578A - 磁気記録デ−タの分析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、周波数変調方式により磁気記録媒体に連続的
に記録されたデータが所定の規格で記録されているか否
かを判定する磁気記録データの分析方法に関する。

〔従来技術とその問題点〕

近年、キャッシュカード、身分証明用のＩＤカード、タ
イムカード、入室管理カードあるいは各種会員カード等
として、磁気カードが広く用いられており、この磁気カ
ードの磁気記録媒体となる磁気ストライプに書き込まれ
た社名１個人名あるいは登録番号等の磁気記録データを
磁気カードリーダで読み取って所定のデータ処理を行う
ようになされている。

ところで、磁気カードの磁気ストライプに、前記社名２
個人名等を書き込む場合には、所定のキャラクタを２進
符号ｒＯＪ　　ｒｌＪに置き換えて、周波数変調方式に
より記録することとしている。

この周波数変調方式は、データの記録に際し、各データ
ビットを区切る刻時信号と、２進符号「１」を示すデー
タビット中において夫々磁束反転を与えるものであり、
刻時信号の磁束反転を一定の間隔で与えることによって
各データビットを示し、該データビット中に磁束反転が
存在しない場合は２進符号「０」を示し、データビット
の中央に磁束反転が存在する場合は２進符号「１」を示
すこととしている。

これら各データピットの記録間隔は、ＪＩＳ規格によっ
て８．２６８ｂｉｔ／　ｍ±４％以内に規制されており
、１ビント当たりのデータ記録間隔は約０．１２ｍとさ
れている（ＪＩＳ−８　９５６１）。

したがって、磁気カードにデータを記録する際に、何等
かの原因で前記データ記録間隔に大きな誤差が生じた場
合には、磁気カードリーグはそのデータを読み取ること
ができないため、当該磁気カードは使用不能となるが、
このような場合、その原因を発見することは困難であっ
た。

そこで従来では、磁気カードの磁気記録媒体に記録され
たデータピットのデータ記録間隔の偏差を測定すること
により当該磁気カードにデータが正確な間隔で記録され
ているか否かを判定して、使用不能となった原因を究明
する手掛りとしていた。

このような従来の判定方法を、第１図を参酌して説明す
ると、各データピットのデータ記録間隔Ｔ，を測定し、
該データ記録間隔Ｔｉを所定の基準データ記録間隔Ｔｋ
と比較して、各データ記録間隔Ｔｉの偏差ＲＴｉを、 ＲＴｌ　−　（Ｔ五−Ｔｋ）／Ｔｋ により求めていた。

この基準データ記録間隔Ｔ．とじて、通常、全データビ
ットのデータ記録間隔の平均値Ｔ　ａ　Ｖと、直前のデ
ータピットのデータ記録間隔’ｒｔ−＋の二種類の値が
用いられる。これは、電動式のカード゛リーダと手動式
のカードリーグとでデータの読み取り方が異なることに
基づくものである。

即ち、電動式のカードリーグにあってはカード搬送速度
が略一定しているので、全データピットのデータ記録間
隔の平均値Ｔ　ｓ　ｖを基準としてデータを読み込むこ
ととしており、手動式のカードリーグにあってはカード
の搬送速度が一定しないので、直前のデータピットのデ
ータ記録間隔Ｔ１−，を基準としてデータを読み込むこ
ととしている。

したがって、前者による偏差Ｒ　Ａ　ｉは、ＲＡｉ　　
＝　　（Ｔｔ　　　Ｔｍｖ）／Ｔａｖ　　　　（ｔ　≧
１〕で表され、後者による偏差ＲＢｉ　は、ＲＢ＋　＝
　（Ｔｌ−Ｔえ−＋）／Ｔ＝−＋（ｉ≧２〕で表される
。

そして、上記偏差ＲＡ，及びＲＢ．が、所定の許容範囲
内にあるか否かを判断することにより、各データピット
が磁気カードの磁気記録媒体に正確な間隔で記録されて
いるか否かを判定していた。

しかしながら、上記の方法により正常であると判断され
た磁気カードであっても、実際に使用できないというト
ラブルが発生した。

即ち、周波数変調方式によれば、データビットに２進符
号「１」が記録される場合には、データ記録間隔の半分
の間隔（０．０６ｍ）で磁束反転を与えることとしてい
るが、従来の判定方法ではデータ記録間隔Ｔｉの偏差の
みを測定することとしているから、各データピットの略
中夫において与えられる２進符号「１」の磁束反転の位
置がずれていたとしても、これを検出することができな
かった。

例えば、第１図に示す如く２番目のデータビットに２進
符号「１」が記録されているときに、中央の磁束反転位
置Ｐが破線で示すＰ′位置に偏移して、許容範囲を超え
る偏差（約±１０％以上）が生じている場合であっても
、そのデータビットのデータ記録間隔Ｔ２が許容範囲内
にあれば、当該磁気カードは、実際に使用不可能であっ
ても正常であるという判定結果が出てしまうから、磁気
カードに記録されているデータの良否を正確に判定する
ことができないという問題があった。

・〔発明の目的〕 そこで、本発明は、上記の如き従来の方法に加えて、２
進符号「１」において与えられる磁束反転位置の偏りに
よるデータ不良をも検出することにより、当該磁気記録
媒体にデータが所定の規格で記録されているか否かを確
実に判定することのできる磁気記録情報の分析方法を提
供せんとするものである。

〔発明の構成〕

この目的を達成するために、本発明は、周波数変調方式
により磁気記録媒体に連続的に記録されたデータが所定
の規格で記録されているか否かを判定する磁気記録デー
タの分析方法であって、磁気記録媒体に記録された各デ
ータビットのデータ記録間隔を、所定の基準データ記録
間隔と比較してその偏差を測定すると共に、２進符号「
１」が記録されているデータビットの磁束反転間隔を所
定の基準磁束反転間隔と比較してその偏差を測定するこ
とによって磁気記録媒体に記録されたデータの異常を検
出することを特徴とする。

〔発明の作用〕

本発明方法によれば、磁気記録媒体に記録された各デー
タビットのデータ記録間隔の偏差を測定すると共に、２
進符号ｒｌＪにおいて与えられる磁束反転間隔の偏差を
も測定することとしているので、従来行っていたデータ
記録間隔の大小に起因するデータの異常を検出すること
ができるのは勿論のこと、２進符号「１」が記録された
データビット中で与えられる磁束反転位置の偏りに起因
するデータの異常をも検出することができる。

〔実施例〕

以下、本発明方法を図面に基づいて具体的に説明する。

第１図は、周波数変調方式により磁気記録媒体となる磁
気ストライプに記録されたデータと磁束との関係を示す
説明図である。

図中、Ｓは磁気カードの磁気ストライプに記録された磁
気記録情報の信号波形の一例である。

Ｉ　、、　Ｉ　、−１，・・−・は、磁気カードに記録
された磁束反転間隔であって、データビットに２進符号
「０」が記録されているときは、該磁束反転間隔■７が
データ記録間隔Ｔｉと等しくなり、またデータビットに
２進符号「１」が記録されているときは、該磁束反転間
隔■７及びＩ　ｎ＋１が夫々Ｚ。

及びＫｉ　となって該データビットのデータ記録間隔Ｔ
工は、 Ｔ五＝１，１＋Ｉ、や、 で表される。

なお、Ｚ□及びに、は、夫々１番目のデータビットに２
進符号「１」が記録されている場合の前半及び後半の磁
束反転間隔である。

２進符号「１」が記録されたデータ記録間隔の偏差ＲＨ
＝は、そのデータビットにおける前半の磁束反転間隔Ｚ
ｉを基準磁束反転間隔として、ＲＨｉ　＝　（Ｋ、−Ｚ
ｉ　）／Ｚｉ で定義する。

なお、Ｆ、は、データビットに「０」が記録されている
場合のビットの磁束反転間隔であって、各データビット
の磁束反転間隔に等しい。

第２図は本発明方法を使用した磁気記録データ分析装置
の基本的構成を示すブロック図、第３図はその処理手順
を示すフローチャートである。

磁気記録データ分析装置には、少なくとも、インターフ
ェイス回路１．演算処理装置２及び記憶装置３を有する
マイクロコンピュータで成る制御装置４が配設されてい
る。

ここで、インターフェイス回路１には、その入力側に磁
気カードＣの磁気ストライプ６に摺接されて該磁気スト
ライプ６に記録された磁束反転位置を読み取る磁気ヘッ
ド７と、該ヘッド７に磁気カードＣが摺接されているか
否かを検出する光学センサ８が接続されており、その出
力側に磁気カードＣを前記磁気ヘッド７に対し一定の速
度で摺接させる搬送装置９と、ＣＲＴディスプレイ１０
と、プリンタ１１等が接続されている。

そして、搬送装置９．により磁気カードＣを一定速度（
例えば１９ＣＩｌ／　Ｓ　”）で搬送しながら、該磁気
ヘッド７で磁束反転を検出するたびごとにクロック（図
示せず）を作動させて計時すれば、磁束反転間隔Ｉ７は
時間で表されることになる。なお、磁気カードＣを１９
ｃｍ／ｓで搬送したときに、ＪＩＳ規格通りに信号が記
録されていれば、データビット間隔Ｔ１は約６３７μｓ
であり、２進符号「１」が記録されたデータビットの磁
束反転間隔Ｚ、及びＫ、は約３１８μｓである。

演算処理装置２は、前記ヘッド７から読み取られた全て
の磁束反転間隔■７に基づいて所定の演算処理を実行し
、データ記録間隔の偏差ＲＡ、。

ＲＢｉ及び２進符号「１」が記録されたデータビットの
磁束反転間隔の偏差ＲＨｊを算出してこれらの値に基づ
いて磁気カードに記録されたデータの異常を検出し、そ
の結果を出力する。

記憶装置３は、前記演算処理装置２の演算処理に必要な
処理プログラムと演算処理過程で必要な処理データを記
憶し、また演算処理結果を一時記憶する。

以下、第３図に示すフローチャートに基づいて演算処理
装置２の処理手順を説明する。

ここで、ステップ■からステップ０までが、磁気カード
Ｃの磁気ストライプ６に記録された信号波形Ｓの磁束反
転間隔Ｉ７の読取手段であり、ステップ０からステップ
［相］までが２進符号判定手段であり、ステップ０から
ステップ■までがデータネ良検出手段である。

スイッチ（図示せず）をオンすると、前記分析装置が起
動されて第２図に示す処理の実行が開始され、まずステ
ップのにおいて分析する磁気カードＣが挿通口（図示せ
ず）に挿通されたか否かを判定し、磁気カードＣが挿通
されたときはステップ■に移行し、磁気カードＣが挿通
されないときは挿通されるまで待機する。

次いで、ステップ■では、磁束反転間隔Ｉ、、のインデ
ックスｎ＝ｌと置いた後、ステップ■に移行して搬送装
置９を駆動させ磁気カードＣを一定速度（例えば１９Ｃ
Ｉｌ／　ｓ　）で搬送し、ステップ■に移行する。

ステップ■で磁気へフド７により磁束反転を検出すると
、ステップ■に移行し、制御装置４内に配設されたクロ
ック（図示せず）を作動させて磁束反転間隔Ｉｎを表す
時間の計時を開始する。

次いで、ステップ■で次の磁束反転を検出したときは、
ステップ■に移行してクロックによる計時を一旦停止し
、そのときの時間を磁、東反転間隔■７として記憶装置
の所定の記憶領域に記憶させる。そして、ステップ■で
クロックをリセットし、ステップ■でインデックスｎ＝
ｎ＋ｌと置き換えた後、再びステップ■に戻って、次の
磁束反転間隔■７の計時を開始する。

なお、ステップ■で磁束反転を検出しないときは、ステ
ップ０に移行して磁束反転間隔■７の読み込みが終了し
たか否かを判定する。

この判定は、光学センサ８の出力によって、磁気カード
Ｃの磁気ストライプ６が磁気ヘッド７に摺接されている
か否かを判断することによって行う。そして、磁気スト
ライプ６がまだ磁気ヘッド７に摺接されているときはス
テップ■に戻り、また磁気カードＣが磁気ヘッド６を通
過して磁束反転間隔Ｉ、、の読み取りが終了したときは
、ステップ■に移行して、前記搬送装置９の駆動を停止
すると共にクロックの作動を停止し、ステップ＠に移行
して最後の磁束反転間隔■７のインデックスｎの値ｎｅ
を記憶した後、ステップ＠以下の２進符号判定手段に移
行する。

即ち、磁束反転間隔Ｉ、、は、記録されている２進符号
ｒＯＪ　　ｒｌＪの別に拘わらず読み取っているので、
その読み取ったデータに基づいてデータビットに記録さ
れたデータが「０」か「１」かを判断し、各データビッ
トについてデータ記録間隔Ｔ、及び２進符号「１」が記
録されている場合の磁束反転間隔Ｚ、、に、等を求める
。

まず、ステップ０でデータ記録間隔Ｔ、のインデックス
ｉ＝ｏ、ｒＯＪが記録されたデータビットの磁束反転間
隔Ｆｊのインデックスｊ＝０．１６１束反転間隔Ｉ□の
インデックスｎ＝１と置くと共に、ｓ＝１と設定した後
、ステップ０に移行して記憶装置３に記憶した磁束反転
間隔Ｉ。を呼び出す。

次いで、ステップ＠において当該磁束反転間隔■７を含
むデータビットが「０」であるか「１」であるかを判定
する。この判定は、磁束反転間隔■７と予め設定された
間隔１（６３７μｓ）とを比較し、例えばＩ、ｌ＞０．
７１であれば「０」、■、。

≦０．７１であれば「１」と判断する。

そして、「０」と判断された場合は、ステップ［相］に
移行してインデックスｉ＝ｉ＋ｌ、ｊ＝ｊ＋１と置き換
えると共にｓ＝１と置いた後、ステップＯに移行し、デ
ータ記録間隔Ｔ、＝１．及び「０」が記録されたデータ
ビットの磁束反転間隔Ｆｊ＝Ｉｎとして、前記Ｔｉ及び
Ｆ、を記憶装置３の所定の記憶領域に記憶する。

また、前記ステップ［相］において「１」と判断された
ときは、ステップ［相］に移行し、当該磁束反転間隔Ｉ
７が、該データビットの前半の磁束反転間隔２、である
か後半の磁束反転間隔Ｋｔであるかを判定する。この判
定は、Ｓの値によって判断し、ｓ＝１のときは前半、ｓ
ｗ　２のときは後半とする。

そして、ｓ＝ｌと判断されたときはステップ［相］に移
行してインデックスｉｗｉ＋ｌと置き換えた後、ステッ
プ０で前半の磁束反転間隔Ｚｉ＝Ｉ。

と置いて記憶装置３の所定の記憶領域に記憶し、ステッ
プ０でｓ＝２と置き換える。

さらに、前記ステップ［相］でｓ＝２と判断されたとき
は、ステップ０で後半の磁束反転間隔に、＝■、、と置
き、ステップ０で当該データビットのデータ記録間隔Ｔ
、＝Ｚ、＋に、を算出すると共にｓ＝１と置き換えて、
前記に、及びＴｉを所定の記憶領域に記憶する。

次いで、前記ステップＯ９■又は■からステップ［相］
に移行し、全ての磁束反転間隔■７に対して処理を終了
したか否かを判定する。この判定は、インデックスｎの
値がステップ＠で記憶した最終値ｎｅと等しいか否かを
判断することにより行い、ｎ≠ｎｅのときはステップ■
に移行してｎ＝ｎ＋１と置き換えた後ステップ■に戻っ
て処理を継続し、ｎ”ｎｅに達したときはステップ［相
］に移行してインデックスｉの最終値ｉｅを記憶した後
、ステップ０以下のデータネ良検出手段に移行する。

まず、ステップ０では、全データビットのデータ記録間
隔Ｔｉ（１≦ｉ≦ｔｅ）の平均値Ｔ　ｍ　ｖを算出し、
ステップ［相］に移行して、データ記録間隔の偏差ＲＡ
ｚ　、ＲＢｉ及び２進符号「１」が記録されたデータビ
ットの磁束反転間隔の偏差ＲＨ，を算出する。

次に、ステップ［相］に移行して前記各偏差ＲＡ、。

ＲＢ、及びＲＨ，が所定の許容範囲以内（例えば±１０
〜１５％以内）であるか否かを判定し、許容範囲を超え
る偏差がある場合は、ステップ［相］に移行し、所定の
エラーメツセージをＣＲＴディスプレイ１０又はプリン
タ１１に出力することにより、または所定のブザー音を
発し、あるいはＬＥＤを点灯表示するなどして、当該カ
ードＣにデータ異常があることを報知してステップ■に
移行する。

また、許容範囲をこえる偏差がない場合はステップ■に
移行し、スイッチあるいはキーボード（図示せず）等か
らの指示により所定のデータを出力して処理を終了する
。

なお、ステップ０の出力内容として、例えば偏差ＲＡｉ
　、ＲＢｉ及びＲＨｉの分布状態が一目でわかるように
、第４図に示す如く各偏差を、Ｘ軸にデータビットの記
録位置、Ｙ軸に偏差の値（％）を取ったグラフ上にドツ
ト表示する。このとき、グラフの表示範囲を超える偏差
を生じた場合は該グラフの上限ラインＵ又は下限ライン
Ｄ上に出力されるようになされている。

また、「０」が記録されたデータビットの磁束反転間隔
ＦＪと、「１」が記録された磁束反転間隔Ｚ、及びに、
と、データ記録間隔Ｔｉの夫々について最大値、最小値
及び平均値がμＳ単位で出力される。

更に、各データビットに記録されているデータが、２進
符号ｒＯＪ　　ｒｌＪに置き換えて出力される。

以下、上記の如く構成された記録情報分析装置による本
発明方法を第１図に基づいて説明する。

まず、スイッチ（図示せず）をオンして、信号波形Ｓが
記録された磁気カードＣを分析装置の挿通口に挿入する
と搬送装置９が駆動され、磁気ヘッド７で信号波形Ｓ磁
束反転を検出するたびごとに、クロックが作動゛されて
磁束反転間隔Ｉｎを時間で測定し、記憶装置３に記憶す
る〔ステップ■〜［相］〕。

信号波形Ｓにおいて、最初のデータビットには「０」が
記録されているので最初の磁束反転間隔１１＝Ｉである
。したがって、Ｉｔ＞０．７Ｉとなり該磁束反転間隔Ｉ
、は「０」のデータビットを構成する磁束反転間隔とし
て取り扱われ〔ステップ［相］〕、■、はそのまま該デ
ータビットのデータ記録間隔Ｔ１及び「０」が記録され
たデータビットの磁束反転間隔Ｆｌとして記憶装置３に
記憶される〔ステップ０〕 次に、２番目のデータビットには「１」が記録されてい
るから、その磁束反転間隔１．＝Ｉ／２である。したが
って、Ｉ２≦０．７１となり該磁束反転間隔■２は「１
」のデータビットを構成する磁束反転間隔として取り扱
われる〔ステップ■）〕。このとき、Ｓの値はステップ
◎でｓ＝ｌと設定されたままなので、磁束反転間隔■２
は該データビットの前半の磁束反転間隔Ｚｚ＝Ｉｔとし
て記憶される〔ステップ［相］〕。

そして、次の磁束反転間隔■３も同様に「１」のデータ
ビットを構成する磁束反転間隔として取り扱われるが〔
ステップ■〕、このときＳの値はステップ■でｓ＝２と
設定されているので、磁束反転間隔■３は該データビッ
トの後半の磁束反転間隔に２として記憶され〔ステップ
０〕、更に該データビットのデータ記録間隔Ｔｔは’ｒ
、＝ｚ。

＋に２として記憶される〔ステップ０〕。

そして、入力された全ての磁束反転間隔Ｉｎ　（ｎ＝ｌ
〜ｎｅ）に対し以上の処理を繰り返し、前記データ記録
間隔Ｔｉに基づいてその平均値Ｔ□を算出〔ステップ◎
〕すると同時に・、該平均値Ｔ　ｍ　ｖ、データ記録間
隔Ｔｉ及び磁束反転間隔に、、Ｚ。

に基づいて偏差ＲＡム、ＲＢ、及びＲＨ，を、ＲＡｔ　
＝　（Ｔｔ　　Ｔ、ｖ）／Ｔ、。

ＲＢｔ　＝　（Ｔｉ　　Ｔｉ−＋　）／Ｔ！−１ＲＨ！
＝（Ｋｉ　　Ｚｔ）／Ｚｉ により算出し〔ステップ［相］〕、各偏差が許容範囲（
例えば±１０〜１５％）を超える場合は、所定のエラー
メツセージを出力して、該磁気カードＣにデータ異常が
あることを検出する〔ステップ０〜［相］〕。

このように、本発明による磁気記録データ分析方法によ
れば、従来より測定されていた各データビットのデータ
記録間隔の偏差ＲＡ、及びＲＢ。

だけでなく、２進符号「１」が記録されたデータビット
の磁束反転間隔の偏差ＲＨ，をも測定することとしてい
るので、データ記録間隔Ｔ、の誤差に起因するデータネ
良は勿論のこと、従来の分析方法では検出することがで
きながった２進符号「１」の磁束反転位置のずれに起因
するデータネ良をも検出することができ、したがって、
当該磁気カードが正常に使用し得るものであるか否かを
正しく判定することができる。

また、本実施例によれば、各偏差の分布状態がグラフ等
によって可視表示されるので、当該磁気カードが正常で
ないと判断された場合に、データの不良箇所及びその程
度を一目で判断することができる。また、データ異常が
ない場合でも、その結果を検討することにより磁気カー
ドＣにデータを入力するエンコーダの性能等を知ること
ができる。

さらに、磁気カードＣに記録された信号波形Ｓの磁束反
転を検出して磁束反転間隔■。を測定する際に、磁束反
転の方向及びパルス高さをも検出することとすれば、信
号波形の連続性及び記録された磁界の強度不足に基づく
データネ良を判定することができる。

また、読み取った磁束反転間隔■。を積算し、磁気カー
ドＣの搬送速度（１９ｃｍ　／　ｓ　）との積を求め、
各データビットの記録位置を算出すれば、当該カードＣ
の所定のデータ（ＳＴＸ、ＬＲＣ）が、例えばＪＩＳ−
８９５６１に基づく記録様式に基づいて所定の位置に記
録されているか否かを判定することができる。

更にまた、必要に応じて読み取った全ての磁束反転間隔
１１を出力させれば、該データを検討することによって
、より詳細な分析を行うことができる。

なお、上記実施例の説明では、２進符号「１」が記録さ
れたデータビットの磁束反転間隔の偏差ＲＨ！を、前半
の磁束反転間隔Ｚ、と後半の磁束反転間隔に、とで、 ＲＨｉ　　＝　　（Ｋ　五　　−Ｚ　ｉ　）／Ｚｔによ
り定義したが、本発明はこれに限らず、例えば該データ
ビットのデータ記録間隔Ｔ、の１／２を基準磁束反転間
隔として、 ＲＨｉ　＝２　（Ｚｔ　−Ｔｔ　／２）／Ｔ＋のように
定義される場合であってもよく、要するに、何らかの基
準に基づいて中央の磁束反転の偏りが検出できればよい
。

また、実施例においては、磁気カードＣに記録された全
てのデータを分析する場合について説明したが、磁気カ
ードＣの特定の範囲、例えば初め符号ＳＴＸが記録され
たデータビットからＬＲＣ符号が記録されたデータビッ
トまでのデータについてのみ分析するものであってもよ
い。

更に、実施例では本発明方法を、磁気カードに記録され
たデータの分析に適用した場合について説明したが、そ
の他任意の磁気記録媒体に記録されたデータの分析にも
適用できることは勿論である。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明方法によれば、記録媒体に記
録された各データビットのデータ記録間隔の偏差を測定
すると共に、これに加えて２進符号「１」において与え
られる磁束反転間隔の偏差をも測定することとしている
から、従来より行われていたデータ記録間隔の誤差に起
因するデータの異常を検出することができるのは勿論の
こと、２進符号「１」が記録されたデータビット間で与
えられる磁束反転位置の偏りに起因するデータの異常を
も検出することができるので、当該磁気記録媒体に対す
るデータの記録状態の良否を正確に分析して判定するこ
とができるという優れた効果があり、記録媒体に磁気情
報を記録する入力装置の異常を推測する有力な基礎デー
タを提供することができるという有用性がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法を説明するために磁気記録・媒体に
記録された磁気記録情報の信号波形を示す図、第２図は
本発明方法を適用した磁気記録情報の分析装置の基本構
成を示すブロック図、第３図はその演算処理装置の処理
手順を示すフローチャート、第４図は磁気記録情報の分
析結果を示すグラフである。 符号の説明 ４−・−制御装置、７−磁気ヘッド、８−光学センサ、
９−搬送装置、１０−・ＣＲＴディスプレイ、１１−プ
リンタ、Ｓ−・−信号波形、 Ｔ、・−データ記録間隔、Ｚ、、Ｋ４，１．−磁束反転
間隔。 特許出願人　株式会社　アメックス ＄１１ｍ 旦

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 周波数変調方式により磁気記録媒体に連続的に記録され
   たデータが所定の規格で記録されているか否かを判定す
   る磁気記録データの分析方法であって、磁気記録媒体に
   記録された各データビットのデータ記録間隔を、所定の
   基準データ記録間隔と比較してその偏差を測定すると共
   に、２進符号「１」が記録されているデータビットの磁
   束反転間隔を所定の基準磁束反転間隔と比較してその偏
   差を測定することによって磁気記録媒体に記録されたデ
   ータの異常を検出することを特徴とする磁気記録データ
   の分析方法。