JPS61292033A - フエル−ルのキヤピラリの同軸度測定装置 - Google Patents
フエル−ルのキヤピラリの同軸度測定装置Info
- Publication number
- JPS61292033A JPS61292033A JP13203585A JP13203585A JPS61292033A JP S61292033 A JPS61292033 A JP S61292033A JP 13203585 A JP13203585 A JP 13203585A JP 13203585 A JP13203585 A JP 13203585A JP S61292033 A JPS61292033 A JP S61292033A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ferrule
- capillary
- edge
- microscope
- outside diameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はフェルールのキャピラリの同軸度測定装置に関
するものである。
するものである。
フェルールの外径部に対するキャピラリの同軸度が悪い
と、光ファイバの接続部において、ファイバ同志がズし
て接続損失が大きくなる。
と、光ファイバの接続部において、ファイバ同志がズし
て接続損失が大きくなる。
このためフェルールの外径部に対するキャピラリの同軸
度は数ミクロンの精度を要求される。
度は数ミクロンの精度を要求される。
従ってその測定も極めて精度の高い測定装置が要求され
る。
る。
従来から使用されているフェルール外径部に対するキャ
ピラリの同軸度の測定装置は、キャピラリを上にしてフ
ェルールを垂直に立て、その上から顕微鏡、投影器、イ
メージセンサ装置などを使って、フェルールの外径部及
びキャピラリのエッヂ部の３点以上の位置を検出し、デ
ータ処理装置を使って、夫々の軸芯間距離を算出して同
軸度を計測する装置や、廻転台の上方に計測用光学機器
を、その計測視野の測定基準点と廻転台の廻転中心が合
致するよう取り付け、廻転台にキャピラリを上にしてフ
ェルールを垂直に立て、タッチセンサなどを用いてフェ
ルールの軸芯と廻転台の廻転中心とを合致させた後、計
測光学機器でキャピラリの軸芯と計測基準点との距離を
計測し、同軸度を算出する方式の装置がある。
ピラリの同軸度の測定装置は、キャピラリを上にしてフ
ェルールを垂直に立て、その上から顕微鏡、投影器、イ
メージセンサ装置などを使って、フェルールの外径部及
びキャピラリのエッヂ部の３点以上の位置を検出し、デ
ータ処理装置を使って、夫々の軸芯間距離を算出して同
軸度を計測する装置や、廻転台の上方に計測用光学機器
を、その計測視野の測定基準点と廻転台の廻転中心が合
致するよう取り付け、廻転台にキャピラリを上にしてフ
ェルールを垂直に立て、タッチセンサなどを用いてフェ
ルールの軸芯と廻転台の廻転中心とを合致させた後、計
測光学機器でキャピラリの軸芯と計測基準点との距離を
計測し、同軸度を算出する方式の装置がある。
然し乍ら、前者での測定はフェルール外径部のキャピラ
リのある方の端面がシャープエッヂでないのが通常で、
真の外径部の検出が困難であるため精度の高い測定がむ
づかしく、後者での測定も、フェルールの軸芯を廻転台
の廻転中心に合致させる操作に熟練を要するため、迅速
且容易に測定しにくい欠点がある。
リのある方の端面がシャープエッヂでないのが通常で、
真の外径部の検出が困難であるため精度の高い測定がむ
づかしく、後者での測定も、フェルールの軸芯を廻転台
の廻転中心に合致させる操作に熟練を要するため、迅速
且容易に測定しにくい欠点がある。
本発明はこれらの欠点がなく、精度の高い測定を、迅速
且容易に行えることが出来るフェルールのキャピラリの
同軸度測定装置を提供するものである。
且容易に行えることが出来るフェルールのキャピラリの
同軸度測定装置を提供するものである。
すなわち、本発明の測定装置は、フェルールの外径部の
少なくとも２個所でフェルールに接し、フェルールを廻
転してもその外径部が振れないようフェルールを保持す
る部分と、フェルール端部に穿設された光ファイバの入
るキャピラリのエッヂの偏位を計測する部分とを有する
ことを特徴とするものである。
少なくとも２個所でフェルールに接し、フェルールを廻
転してもその外径部が振れないようフェルールを保持す
る部分と、フェルール端部に穿設された光ファイバの入
るキャピラリのエッヂの偏位を計測する部分とを有する
ことを特徴とするものである。
〔実施例〕
以下本発明を図面によって詳細に説明するが、本発明が
以下の実施態様のみに限定されるものでないことは言う
迄もない。
以下の実施態様のみに限定されるものでないことは言う
迄もない。
第１図は本発明に係わる装置の実施例の一つで、フェル
ールの外径部の少なくとも２１［１１所で接し保持する
部分としてＶブロックを、キャピラリのエッヂの偏位を
計測する機器として顕微鏡を用いた装置の立体図で、１
ばフェルール、２はキャピラリ、３は■ブロック、４ば
■ブロックの取り付は台、５はフェルールを廻転させる
ためのモーター、６は駆動ヘルＩ・、７は顕微鏡である
。■ブロック３は、フェルール１を取り＜−Ｊげて廻転
させた時、キャピラリのエッヂが顕微鏡の計測視野内か
ら外れないよう位置決めされている。
ールの外径部の少なくとも２１［１１所で接し保持する
部分としてＶブロックを、キャピラリのエッヂの偏位を
計測する機器として顕微鏡を用いた装置の立体図で、１
ばフェルール、２はキャピラリ、３は■ブロック、４ば
■ブロックの取り付は台、５はフェルールを廻転させる
ためのモーター、６は駆動ヘルＩ・、７は顕微鏡である
。■ブロック３は、フェルール１を取り＜−Ｊげて廻転
させた時、キャピラリのエッヂが顕微鏡の計測視野内か
ら外れないよう位置決めされている。
又、駆動ベルト６は、モーター５の廻転をフェルール］
に伝えると同時にフェルール１がＶブロック３に絶えず
接して廻転するようにその張力が設定されている。この
ような設定がされているので、フェルール１は廻転させ
られてもその外径部が振れることはない。なお、図では
見えないがフェルール１が上下動しないようフェルール
１の下端にはストッパーが設置されている。
に伝えると同時にフェルール１がＶブロック３に絶えず
接して廻転するようにその張力が設定されている。この
ような設定がされているので、フェルール１は廻転させ
られてもその外径部が振れることはない。なお、図では
見えないがフェルール１が上下動しないようフェルール
１の下端にはストッパーが設置されている。
第２図は第１図に示した装置でキャピラリの同軸度を測
定する原理を示したもので、キャピラリのエッヂを顕微
鏡の計測視野の左側で検出する場合の測定原理を示して
いる。■はフェルール、２及び２′はキャピラリで、フ
ェルール１を廻転させた時、そのエッヂが最も左側に来
た位置が２であり、最も右側に来た時が２′である。８
はフェルールの軸芯、９，９′は夫々２．２′のキャピ
ラリの軸芯、１０．１０’は顕微鏡の計測用可動スケー
ル線である。
定する原理を示したもので、キャピラリのエッヂを顕微
鏡の計測視野の左側で検出する場合の測定原理を示して
いる。■はフェルール、２及び２′はキャピラリで、フ
ェルール１を廻転させた時、そのエッヂが最も左側に来
た位置が２であり、最も右側に来た時が２′である。８
はフェルールの軸芯、９，９′は夫々２．２′のキャピ
ラリの軸芯、１０．１０’は顕微鏡の計測用可動スケー
ル線である。
フェルール１を廻転させ、キャピラリのエッヂが顕微鏡
の計測視野の最も左に来た位置、即ち図でキャピラリが
２の位置に来た時、エッヂにスケール線を合わせる。図
でスケール線が１０の位置である。次いでフェルールを
更に廻転させ、エッヂの左側が最も右側に来た時、即ち
図でキャピラリが２′の位置に来た時、その左側のエッ
ヂにスケール線を合わせる。図で１０’の位置である。
の計測視野の最も左に来た位置、即ち図でキャピラリが
２の位置に来た時、エッヂにスケール線を合わせる。図
でスケール線が１０の位置である。次いでフェルールを
更に廻転させ、エッヂの左側が最も右側に来た時、即ち
図でキャピラリが２′の位置に来た時、その左側のエッ
ヂにスケール線を合わせる。図で１０’の位置である。
スケール線１０と１０′との間隔、図でａを読み取れば
、それがフェルール外径部に対するキャピラリの同軸度
となる。何故ならば、図でフェルールの軸芯８を中心と
し、フェルールの軸芯８とキャピラリの軸芯９又は９′
との距離を半径とする直径、言いかえればキャピラリの
軸芯９と９′との間隔がフェルール１の外径部に対する
キャピラリ２の同軸度であり、スケール線１０と１０′
の間隔、即ちａは当然その数値と合致するからである。
、それがフェルール外径部に対するキャピラリの同軸度
となる。何故ならば、図でフェルールの軸芯８を中心と
し、フェルールの軸芯８とキャピラリの軸芯９又は９′
との距離を半径とする直径、言いかえればキャピラリの
軸芯９と９′との間隔がフェルール１の外径部に対する
キャピラリ２の同軸度であり、スケール線１０と１０′
の間隔、即ちａは当然その数値と合致するからである。
よって、フェルール１に対するキャピラリ２の同軸度が
直読出来るのである。
直読出来るのである。
なお、フェルールの外径部に接して保持する個所は、図
では平面であるが、丸棒、球などの形状で構成されてい
るものでも良く、計測機も顕微鏡のほか投影器、イメー
ジセンサなどの計測機が使用出来る。
では平面であるが、丸棒、球などの形状で構成されてい
るものでも良く、計測機も顕微鏡のほか投影器、イメー
ジセンサなどの計測機が使用出来る。
本発明に係わる装置は上述の様に、フェルールの外径部
の少なくとも２個所で接し、フェルールを廻転させた時
、フェルールの外径部が振れないようフェルールを保持
する部分と、フェルールを保持廻転させた時、フェルー
ル端部に穿設された光ファイバの入るキャピラリのエッ
ヂの偏位を計測する部分とから構成したものであるので
、従来からある装置に比しフェルールの外径部に対する
キャピラリの同軸度の測定を極めて迅速且容易に行える
ことが出来るものである。
の少なくとも２個所で接し、フェルールを廻転させた時
、フェルールの外径部が振れないようフェルールを保持
する部分と、フェルールを保持廻転させた時、フェルー
ル端部に穿設された光ファイバの入るキャピラリのエッ
ヂの偏位を計測する部分とから構成したものであるので
、従来からある装置に比しフェルールの外径部に対する
キャピラリの同軸度の測定を極めて迅速且容易に行える
ことが出来るものである。
第１図は本発明に係わるキャピラリの同軸度測定装置の
一例を示す立体図、第２図はそれによる測定の原理図で
ある。 １・・・フェルール、２，２′・・・キャピラリ、３・
・・■ブロック、４・・・■ブロックの取り付り台、５
・・・モーター、６・・・駆動ベルト、７・・・顕微鏡
、８・・・フェルールの軸芯、９．９′・・・夫々キャ
ピラリ２，２′の軸芯、１０．１０’・・・夫々キャピ
ラリ２，２′のエッヂの左端に合わした時のスケール線
。
一例を示す立体図、第２図はそれによる測定の原理図で
ある。 １・・・フェルール、２，２′・・・キャピラリ、３・
・・■ブロック、４・・・■ブロックの取り付り台、５
・・・モーター、６・・・駆動ベルト、７・・・顕微鏡
、８・・・フェルールの軸芯、９．９′・・・夫々キャ
ピラリ２，２′の軸芯、１０．１０’・・・夫々キャピ
ラリ２，２′のエッヂの左端に合わした時のスケール線
。
Claims (1)
- フェルールの外径部の少なくとも２個所で接し、フェル
ールを廻転させた時、フェルールの外径部が振れないよ
うフェルールを保持する部分と、フェルールを保持廻転
させた時、フェルール端部に穿設された光ファイバの入
るキャピラリのエッヂの偏位を計測する部分とからなる
フェルールのキャピラリの同軸度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13203585A JPS61292033A (ja) | 1985-06-19 | 1985-06-19 | フエル−ルのキヤピラリの同軸度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13203585A JPS61292033A (ja) | 1985-06-19 | 1985-06-19 | フエル−ルのキヤピラリの同軸度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61292033A true JPS61292033A (ja) | 1986-12-22 |
Family
ID=15071976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13203585A Pending JPS61292033A (ja) | 1985-06-19 | 1985-06-19 | フエル−ルのキヤピラリの同軸度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61292033A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6246921B1 (en) | 1997-12-31 | 2001-06-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Concentricity processing apparatus using vision system and method therefor |
| CN102235939A (zh) * | 2010-04-30 | 2011-11-09 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 镜头杂散光检测装置及镜头杂散光检测方法 |
| CN104422404A (zh) * | 2013-08-27 | 2015-03-18 | 精工电子有限公司 | 测定装置 |
-
1985
- 1985-06-19 JP JP13203585A patent/JPS61292033A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6246921B1 (en) | 1997-12-31 | 2001-06-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Concentricity processing apparatus using vision system and method therefor |
| CN102235939A (zh) * | 2010-04-30 | 2011-11-09 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 镜头杂散光检测装置及镜头杂散光检测方法 |
| CN104422404A (zh) * | 2013-08-27 | 2015-03-18 | 精工电子有限公司 | 测定装置 |
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