JPS61290820A - 論理回路 - Google Patents
論理回路Info
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- JPS61290820A JPS61290820A JP13182185A JP13182185A JPS61290820A JP S61290820 A JPS61290820 A JP S61290820A JP 13182185 A JP13182185 A JP 13182185A JP 13182185 A JP13182185 A JP 13182185A JP S61290820 A JPS61290820 A JP S61290820A
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- voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、論理回路技術さらにはTTL(トランジス
タ・トランジスタ・ロジック)塁の論理回路に適用して
特に有効な技術に関するもので、例えば5BD−TTL
(ショットキーTTL)が形成される高速デジタル半導
体集積回路装置に利用して有効な技術に関するものであ
る。
タ・トランジスタ・ロジック)塁の論理回路に適用して
特に有効な技術に関するもので、例えば5BD−TTL
(ショットキーTTL)が形成される高速デジタル半導
体集積回路装置に利用して有効な技術に関するものであ
る。
例えば、高速の論理回路として知られている5BD−T
TL(以下、TTLと略称する)は1.第5図(a)K
示すように、電源ノ正側(Vcc : Vcc −約5
V)と負側(接地側)との間に直列接続されることによ
りプツシニブル型の出力段1を構成する一対のバイポー
ラ・トランジスタQl、Q2と、この一対のバイポーラ
−・トランジスタQ1とQzを相補的忙導通駆動する位
相分割段2を構成するバイポーラ・トランジスタQ3と
を備えている。
TL(以下、TTLと略称する)は1.第5図(a)K
示すように、電源ノ正側(Vcc : Vcc −約5
V)と負側(接地側)との間に直列接続されることによ
りプツシニブル型の出力段1を構成する一対のバイポー
ラ・トランジスタQl、Q2と、この一対のバイポーラ
−・トランジスタQ1とQzを相補的忙導通駆動する位
相分割段2を構成するバイポーラ・トランジスタQ3と
を備えている。
出力段1のH(高レベル)電位側のトランジスタQ1に
はトランジスタQ4がダーリントン接続サレテいる。ま
た、出力段1のL(低レベル)電位側のトランジスタQ
2にはショットキークランプ型のバイポーラ・トランジ
スタが使用されている0このショットキートランジスタ
Q2には、同図(a)中に点線で示すように、ベースか
らコレクタに向けてショットキー・バリア・ダイオ−)
”Dq2が等制約に接続されている。
はトランジスタQ4がダーリントン接続サレテいる。ま
た、出力段1のL(低レベル)電位側のトランジスタQ
2にはショットキークランプ型のバイポーラ・トランジ
スタが使用されている0このショットキートランジスタ
Q2には、同図(a)中に点線で示すように、ベースか
らコレクタに向けてショットキー・バリア・ダイオ−)
”Dq2が等制約に接続されている。
なお、トランジスタQ1と電源Vccの間に挿入された
抵抗R1は、過大電流を制限するためのものである。
抵抗R1は、過大電流を制限するためのものである。
位相分割段2のトランジスタQ3は、そのコレクタ側お
よびエミッタ側にそれぞれ負荷抵抗R2およびR3が接
続されている。また、そのベースには、入力部3からの
論理信号が入力されるよ5になっている。そして、トラ
ンジスタQ3のベース入力信号がH(高レベル)のとき
には、トランジスタQ3がオン(ON)状態になること
により、Q4.Qlがオy(OFF)でQzがオy(O
N)になり、これにより出力outはL(低レベル:■
。
よびエミッタ側にそれぞれ負荷抵抗R2およびR3が接
続されている。また、そのベースには、入力部3からの
論理信号が入力されるよ5になっている。そして、トラ
ンジスタQ3のベース入力信号がH(高レベル)のとき
には、トランジスタQ3がオン(ON)状態になること
により、Q4.Qlがオy(OFF)でQzがオy(O
N)になり、これにより出力outはL(低レベル:■
。
−約0.3V)の論理状態となる。他方、トランジスタ
Q3のベース入力()lがL(低レベル)のときには、
トランジスタQ3がオフ(OFF)状態になることによ
り、Q4.Qlがオン(ON)でQzがオフ(OFF)
になり、これにより出力outはH(高レベル:■。−
約3.8V)の論理状態となる。
Q3のベース入力()lがL(低レベル)のときには、
トランジスタQ3がオフ(OFF)状態になることによ
り、Q4.Qlがオン(ON)でQzがオフ(OFF)
になり、これにより出力outはH(高レベル:■。−
約3.8V)の論理状態となる。
以上のような構成および動作によりて、入力部3からの
入力論理信号が、論理反転されるとともに、出力out
から高駆動力の論理信号として負荷2に与えられるよう
になっている。
入力論理信号が、論理反転されるとともに、出力out
から高駆動力の論理信号として負荷2に与えられるよう
になっている。
ところが、上述したごとき論理回路では、第5図(b)
にその出力電圧■。の波形の一例を示すように、出力o
utに接続する負荷2の状態などKよって、その立ち上
がり時および立ち下がり時にそれぞれオーバシュートA
およびBを生じやすいという問題があった。このオーバ
シュートA、Bは、負荷ZK寄生するインダクタンス成
分などによって生じ、論理回路の動作が高速になるほど
顕著に現れるようになる。そして、このようなオーバシ
ュート、特にユち下がり時に出力電圧V。が瞬時的に負
側にふれるようなオーバシュートBが生じると、これに
よって回路素子の破壊あるいは誤動作が発生するように
なる、という問題のあることが本発明者らによって明ら
かとされた。
にその出力電圧■。の波形の一例を示すように、出力o
utに接続する負荷2の状態などKよって、その立ち上
がり時および立ち下がり時にそれぞれオーバシュートA
およびBを生じやすいという問題があった。このオーバ
シュートA、Bは、負荷ZK寄生するインダクタンス成
分などによって生じ、論理回路の動作が高速になるほど
顕著に現れるようになる。そして、このようなオーバシ
ュート、特にユち下がり時に出力電圧V。が瞬時的に負
側にふれるようなオーバシュートBが生じると、これに
よって回路素子の破壊あるいは誤動作が発生するように
なる、という問題のあることが本発明者らによって明ら
かとされた。
また、入力部3の出力がL(低レベル)からH(高レベ
ル)に切り換ったときに出力電圧v0が負側にオーバシ
ュートすると、位相分割段1のトランジスタQ3のベー
ス電位すなわち入力部3の出力電位が、この位相分割段
2のトランジスタQ3のベースからエミッタおよび出力
段1のL(低レベル)電位側トランジスタQ2のベース
からコレクタをそれぞれに経て、負側に引っ張られてし
まう。この結果、一旦はL(低レベル)からH(高レベ
ル)になった入力部3の出力が瞬時的にL(低レベル)
側に引き戻されてしまう。従って、入力部3が例えばク
リップフロップのような保持回路であった場合には、出
力電圧V。が立ち下がる時のオーバシュートBによって
、その保持状態が誤って反転させられてしまう恐れがあ
る、といりた問題を生じることが本発明者らによって明
らかとされた。
ル)に切り換ったときに出力電圧v0が負側にオーバシ
ュートすると、位相分割段1のトランジスタQ3のベー
ス電位すなわち入力部3の出力電位が、この位相分割段
2のトランジスタQ3のベースからエミッタおよび出力
段1のL(低レベル)電位側トランジスタQ2のベース
からコレクタをそれぞれに経て、負側に引っ張られてし
まう。この結果、一旦はL(低レベル)からH(高レベ
ル)になった入力部3の出力が瞬時的にL(低レベル)
側に引き戻されてしまう。従って、入力部3が例えばク
リップフロップのような保持回路であった場合には、出
力電圧V。が立ち下がる時のオーバシュートBによって
、その保持状態が誤って反転させられてしまう恐れがあ
る、といりた問題を生じることが本発明者らによって明
らかとされた。
−さらに、この種の論理回路の出力動作特性を評価する
指標として、出力outがH(高レベル)のときに、そ
の出力outを接地電位(0ボルト)に短絡したときに
得られる出力電流の大きさ、いわゆるIosの大きさが
良く使われている。ところが、このIosを測定するた
めに出力outを接地電位に実際に接続してみると、第
5図(a)中に点線矢印Ioでで示すように、位相分割
段2のトランジスタQ3のベースからエミッタおよび出
力段1のL(低1/ベル)電位側トランジスタQ2のベ
ースからヨレフタをそれぞれに経る電流路が形成され、
これによってトランジスタQ3のベース・エミッタ間電
圧Vsz (Q 3 )が立ってしまうようになる。す
ると、トランジスタQ3がオフ(OFF)状態を保てな
(なって、不完全ながらオン(ON)駆動されてしまう
ようになる。この結果、出力outがH(高レベル)の
論理状態を正規に保つことができな(なって、Iosが
正常に流れな(なってしまう。
指標として、出力outがH(高レベル)のときに、そ
の出力outを接地電位(0ボルト)に短絡したときに
得られる出力電流の大きさ、いわゆるIosの大きさが
良く使われている。ところが、このIosを測定するた
めに出力outを接地電位に実際に接続してみると、第
5図(a)中に点線矢印Ioでで示すように、位相分割
段2のトランジスタQ3のベースからエミッタおよび出
力段1のL(低1/ベル)電位側トランジスタQ2のベ
ースからヨレフタをそれぞれに経る電流路が形成され、
これによってトランジスタQ3のベース・エミッタ間電
圧Vsz (Q 3 )が立ってしまうようになる。す
ると、トランジスタQ3がオフ(OFF)状態を保てな
(なって、不完全ながらオン(ON)駆動されてしまう
ようになる。この結果、出力outがH(高レベル)の
論理状態を正規に保つことができな(なって、Iosが
正常に流れな(なってしまう。
つまり、Iosを正確に実測することができない、とい
う問題のあることも本発明者らによりて明らかにされた
。
う問題のあることも本発明者らによりて明らかにされた
。
なお、この糧のTTLW論理回路については、例えば、
株式会社コロナ社発行[集積回路光学(211柳井久義
、永田穣共著、昭和54年4月5日発行、75〜7′7
頁(ショットキーTTL)などに記載されている。
株式会社コロナ社発行[集積回路光学(211柳井久義
、永田穣共著、昭和54年4月5日発行、75〜7′7
頁(ショットキーTTL)などに記載されている。
この発明の目的は、出力電圧のオーバシュート、特に立
ち下がり時のオーバシュートを確実に抑制できるように
し、これにより回路素子の破壊や誤動作の発生を防止で
きるようにするとともに、論理回路の動作の高速化を安
全に行えるようにする技術を提供することにある。
ち下がり時のオーバシュートを確実に抑制できるように
し、これにより回路素子の破壊や誤動作の発生を防止で
きるようにするとともに、論理回路の動作の高速化を安
全に行えるようにする技術を提供することにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
ついては、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものを簡単
に説明すれば、下記のとおりである。
に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、出力電圧が大きく低下することKよって位相
分割段のトランジスタのベース・エミッタ間電圧VB鵞
が立ち上がろうとするときに、そのベース・エミッタ間
電圧Vivを一定電圧以下にクランプするような電流バ
イパス路を設けることにより、出力電圧のオーバシュー
ト、特に立ち下がり時のオーバシュートを確実に抑制で
きるようにし、これにより回路素子の破壊や誤動作の発
生を防止できるようKするとともに、論理回路の動作の
高速化を安全に行えるようにする、という目的を達成す
るものである。
分割段のトランジスタのベース・エミッタ間電圧VB鵞
が立ち上がろうとするときに、そのベース・エミッタ間
電圧Vivを一定電圧以下にクランプするような電流バ
イパス路を設けることにより、出力電圧のオーバシュー
ト、特に立ち下がり時のオーバシュートを確実に抑制で
きるようにし、これにより回路素子の破壊や誤動作の発
生を防止できるようKするとともに、論理回路の動作の
高速化を安全に行えるようにする、という目的を達成す
るものである。
以下、この発明の代表的な実施例を図面を参照しながら
説明する。
説明する。
なお、図面において同一符号は同一あるいは相当部分を
示す。
示す。
第1図はこの発明による論理回路の要部における一実施
例を示す。
例を示す。
同図に示す論理回路はTTL回路であって、先ずその基
本的な構成について説明すると、電源の正側(V’cc
:Vcc−約5V ) ト負側(’Ji地側)’)間
に直列接続されることによりプッシュプル型の出力段1
を構成する一対のバイポーラ・トランジスタQl、Q2
と、この一対のバイポーラ・トランジスタQ1とQ2を
相補的に導通駆動する位相分割段2を構成するバイポー
ラ・トランジスタQ3とを備えている。
本的な構成について説明すると、電源の正側(V’cc
:Vcc−約5V ) ト負側(’Ji地側)’)間
に直列接続されることによりプッシュプル型の出力段1
を構成する一対のバイポーラ・トランジスタQl、Q2
と、この一対のバイポーラ・トランジスタQ1とQ2を
相補的に導通駆動する位相分割段2を構成するバイポー
ラ・トランジスタQ3とを備えている。
出力段1のH(高レベル)電位側のトランジスタQ1に
はトランジスタQ4がダーリントン接続されている。ま
た、出力段lのL(低レベル)電位側のトランジスタQ
2にはショットキークランプ型のバイポーラ・トランジ
スタが使用されている。このショットキートランジスタ
Q2には、同図(al中に点線で示すように、ベースか
らコレクタに向けてショットキー・バリア・ダイオード
Dq2が等制約に接続されている。
はトランジスタQ4がダーリントン接続されている。ま
た、出力段lのL(低レベル)電位側のトランジスタQ
2にはショットキークランプ型のバイポーラ・トランジ
スタが使用されている。このショットキートランジスタ
Q2には、同図(al中に点線で示すように、ベースか
らコレクタに向けてショットキー・バリア・ダイオード
Dq2が等制約に接続されている。
なお、トランジスタQ1と電源VCCの間に挿入された
抵抗R1は、過大電流を制限するためのものである。
抵抗R1は、過大電流を制限するためのものである。
位相分割段2のトランジスタQ3は、そのコレクタ側お
よびエミッタ側にそれぞれ負荷抵抗R2−お゛よびR3
が接続されている。また、そのベースには、入力部3か
らの論理信号が入力されるようになっている。そして、
トランジスタQ3のベース入力信号がH(高レベル)の
ときには、トランジスタQ3がオン(ON)状態になる
ことにより、Q4 、Qlがオフ(OFF)でQ2がオ
ン(ON)になり、これにより出力outはL(低レベ
ル:vo−約O,a V )の論理状態となる。他方、
トランジスタQ3のベース入力信号がL(低レベル)の
ときには、トランジスタQ3がオフ(OFF)状態にな
ることにより、Q4.’Qlがオン(ON)でQ2がオ
フ(OFF)になり、これにより出力outはH(高レ
ベル:■。−約3.8V)の論理状態となる。
よびエミッタ側にそれぞれ負荷抵抗R2−お゛よびR3
が接続されている。また、そのベースには、入力部3か
らの論理信号が入力されるようになっている。そして、
トランジスタQ3のベース入力信号がH(高レベル)の
ときには、トランジスタQ3がオン(ON)状態になる
ことにより、Q4 、Qlがオフ(OFF)でQ2がオ
ン(ON)になり、これにより出力outはL(低レベ
ル:vo−約O,a V )の論理状態となる。他方、
トランジスタQ3のベース入力信号がL(低レベル)の
ときには、トランジスタQ3がオフ(OFF)状態にな
ることにより、Q4.’Qlがオン(ON)でQ2がオ
フ(OFF)になり、これにより出力outはH(高レ
ベル:■。−約3.8V)の論理状態となる。
以上のような構成および動作によって、入力部3からの
入力論理信号が、論理反転されるとともに、出力out
から高駆動力の論理信号として負荷Zに与えられるよう
になっている。
入力論理信号が、論理反転されるとともに、出力out
から高駆動力の論理信号として負荷Zに与えられるよう
になっている。
次に、この発明の要部について説明する。
第1図に示す実施例では、上述した構成に加えて、上記
位相分割段2のバイポーラ・トランジスタQ3のベース
側から上記出力段1の出力Out側に向けて電圧降下を
伴う電流バイパス路が設けられている。これとともに、
そのバイパス路における電圧降下の大きさが、上記位相
分割段2のバイポーラ・トランジスタQ3のベースから
エミッタを経て電源の負側すなわち接地側に抜ける経路
に生じる電圧降下の大きさより小さくなるように設定さ
れている。
位相分割段2のバイポーラ・トランジスタQ3のベース
側から上記出力段1の出力Out側に向けて電圧降下を
伴う電流バイパス路が設けられている。これとともに、
そのバイパス路における電圧降下の大きさが、上記位相
分割段2のバイポーラ・トランジスタQ3のベースから
エミッタを経て電源の負側すなわち接地側に抜ける経路
に生じる電圧降下の大きさより小さくなるように設定さ
れている。
ここで、上記電流バイパス路は、互いに順方向に直列接
続されたpn接合ダイオードD1とショットキー・バリ
ア・ダイオードD2の2つのダイオードによりて構成さ
れている。これにより、その電流バイパス路における電
圧降下の大きさVflは、各ダイオードD1.D2のそ
れぞれの順方向電圧Vf(DI)、Vf(D2)(7)
和となり、その値は、 Vfl−Vf (Di)+Vf(D2)中0.7V+0
.4V−1,IV となる。
続されたpn接合ダイオードD1とショットキー・バリ
ア・ダイオードD2の2つのダイオードによりて構成さ
れている。これにより、その電流バイパス路における電
圧降下の大きさVflは、各ダイオードD1.D2のそ
れぞれの順方向電圧Vf(DI)、Vf(D2)(7)
和となり、その値は、 Vfl−Vf (Di)+Vf(D2)中0.7V+0
.4V−1,IV となる。
他方、上記位相分割段2のバイポーラ・トランジスタ3
のベースからエミッタを経て接地側に抜ける経路に生じ
る電圧降下の大きさVf2は、トランジスタQ3のベー
ス・エミッタ間電圧VBE(Q3)と、トランジスタQ
2のコレクタ・ペース間クランプ電圧すなわちダイオー
ドDq2の順方向電圧Vf(Dq2)と、トランジスタ
Q2のコレクタ・エミッタ間飽和電圧Vcg(sat)
との和となり、 その値は、 Vf2−Vi+g (Q3) +Vf (Dq2) +
Vclij(sat)*0.7V+0.4V+0.3V
−1,4Vとなる。
のベースからエミッタを経て接地側に抜ける経路に生じ
る電圧降下の大きさVf2は、トランジスタQ3のベー
ス・エミッタ間電圧VBE(Q3)と、トランジスタQ
2のコレクタ・ペース間クランプ電圧すなわちダイオー
ドDq2の順方向電圧Vf(Dq2)と、トランジスタ
Q2のコレクタ・エミッタ間飽和電圧Vcg(sat)
との和となり、 その値は、 Vf2−Vi+g (Q3) +Vf (Dq2) +
Vclij(sat)*0.7V+0.4V+0.3V
−1,4Vとなる。
以上のようにして、VflがVf2よりも約0.3V(
Vf2−Vfl+0.3V)だけ低(設定すしている。
Vf2−Vfl+0.3V)だけ低(設定すしている。
これにより、トランジスタQ3のベース入力電位がH(
高レベル)になって該トランジスタQ3がオン(ON)
状態になることにより出力電圧v。
高レベル)になって該トランジスタQ3がオン(ON)
状態になることにより出力電圧v。
が立ち下がる過程において、出力電圧v0が約3.8v
のH(高レベル)電位から0.3■を下回るところまで
低下すると、上記電流バイパス路すなわちダイオードD
I、D2によってトランジスタQ3のベース・エミッタ
間電圧vng(Q3)が0、7 Vよりも低い電圧にク
ランプされるようKなる。これによって、トランジスタ
Q3はオン(ON)状態を維持できなくなる。すると、
トランジスタQ3のコレクタ電位がH(高レベル)電位
側に上昇してトランジスタQ4.Q1が導通し、出力o
utに電源Vc c側からの電流が供給されるようにな
る。これにより、出力電圧v0は、その立ち下がりの終
点近くに達したところで、電源Vce側からの電流供給
をうけることにより、正側に一時的に引り張られるよう
になる。
のH(高レベル)電位から0.3■を下回るところまで
低下すると、上記電流バイパス路すなわちダイオードD
I、D2によってトランジスタQ3のベース・エミッタ
間電圧vng(Q3)が0、7 Vよりも低い電圧にク
ランプされるようKなる。これによって、トランジスタ
Q3はオン(ON)状態を維持できなくなる。すると、
トランジスタQ3のコレクタ電位がH(高レベル)電位
側に上昇してトランジスタQ4.Q1が導通し、出力o
utに電源Vc c側からの電流が供給されるようにな
る。これにより、出力電圧v0は、その立ち下がりの終
点近くに達したところで、電源Vce側からの電流供給
をうけることにより、正側に一時的に引り張られるよう
になる。
この結果、第1図(b)に実線で示す波形のように、出
力電圧v0が負側ヘオーバシュートするのが抑制される
ようになる。
力電圧v0が負側ヘオーバシュートするのが抑制される
ようになる。
他方、負荷2かもの吸込電流などによって、出力電圧v
0が0.3V以上になろうとすると、上記電流バ4パス
路によるクランプ動作が停止するこ−どにより、トラン
ジスタQ3のベース・エミッタ間電圧Vnr: (Q
3 )が0.7V以上に立つようになる。これにより、
トランジスタQ4.Qlがオフ(OFF)に復帰する一
方、トランジスタQ3がオン(ON)に復帰して、その
出力電圧v0を0.3v以下まで下げようとする動作が
行われるようになる。
0が0.3V以上になろうとすると、上記電流バ4パス
路によるクランプ動作が停止するこ−どにより、トラン
ジスタQ3のベース・エミッタ間電圧Vnr: (Q
3 )が0.7V以上に立つようになる。これにより、
トランジスタQ4.Qlがオフ(OFF)に復帰する一
方、トランジスタQ3がオン(ON)に復帰して、その
出力電圧v0を0.3v以下まで下げようとする動作が
行われるようになる。
以上のように、出力v0は一定のL(低レベル)電位(
約Q、3V)にフィードバック制御され、これにより立
ち下がり時のオーバシェー)Bが緩衝されるとともに、
一定のL(低レベル)電位が確実に確保されるようにな
りている。
約Q、3V)にフィードバック制御され、これにより立
ち下がり時のオーバシェー)Bが緩衝されるとともに、
一定のL(低レベル)電位が確実に確保されるようにな
りている。
これにより、回路素子の破壊や誤動作の発生が防止され
るようになる。また、入力部3が7リツプフロツプのよ
うな保持回路であっても、その保持状態が誤りて反転さ
せられる恐れもな(なる。
るようになる。また、入力部3が7リツプフロツプのよ
うな保持回路であっても、その保持状態が誤りて反転さ
せられる恐れもな(なる。
これらによって、論理回路の高速化も安全に行えるよう
になる。
になる。
さらに、出力outがH(高レベル)のときに、その出
力outを接地電位(0ボルト)に短絡したときに得ら
れる出力電流の大きさ、いわゆるIosの大きさを実測
する場合には、出力outを接地電位に短絡させても、
位相分割段2のトランジスタQ3のベース電位が上記電
流バイパス路によって1.1V以下にクランプされるこ
とにより(点線矢印Io)、そのトランジスタQ3はオ
フ(OFF)状態を確実に保つことができる。これによ
り、出力outttHC高レベル)の論理状態に確実に
保ちながら、Iosを正確に測定することができる。
力outを接地電位(0ボルト)に短絡したときに得ら
れる出力電流の大きさ、いわゆるIosの大きさを実測
する場合には、出力outを接地電位に短絡させても、
位相分割段2のトランジスタQ3のベース電位が上記電
流バイパス路によって1.1V以下にクランプされるこ
とにより(点線矢印Io)、そのトランジスタQ3はオ
フ(OFF)状態を確実に保つことができる。これによ
り、出力outttHC高レベル)の論理状態に確実に
保ちながら、Iosを正確に測定することができる。
第2図(a)(b)は、第1図の回路に、出力電圧v0
の立ち上°がり時のオーバシェードを抑制する手段を加
えた実施例を示す。
の立ち上°がり時のオーバシェードを抑制する手段を加
えた実施例を示す。
同図に示す論理回路では、第1図に示した構成のほかに
、npnバイポーラ・トランジスタQ5、ダイオードD
3.D4.D5、および抵抗R4゜R5が設けられてい
る。
、npnバイポーラ・トランジスタQ5、ダイオードD
3.D4.D5、および抵抗R4゜R5が設けられてい
る。
トランジスタQ5は、そのベース電位が、抵抗R5によ
って電源Vce側にバイアスされるとともに、ダイオー
ドD2を介して出力outに接続されている。また、そ
のコレクタは、抵抗R4を介して位相分割段2のトラン
ジスタQ3のコレクタに接続され【いる。さらに、その
工ばツタは、ダイオードD3.D4.D5をそれぞれ直
列に介して接地電位に接続されている。そして、ダイオ
ードD’3.D4.D5の順方向電圧などによって、一
定以上の電位がベースに与えられたときだけ、トランジ
スタQ5をオン(ON)駆動してトランジスタQ3のコ
レクタ電位を接地電位側にクランプする(引き下げる)
ように動作する。
って電源Vce側にバイアスされるとともに、ダイオー
ドD2を介して出力outに接続されている。また、そ
のコレクタは、抵抗R4を介して位相分割段2のトラン
ジスタQ3のコレクタに接続され【いる。さらに、その
工ばツタは、ダイオードD3.D4.D5をそれぞれ直
列に介して接地電位に接続されている。そして、ダイオ
ードD’3.D4.D5の順方向電圧などによって、一
定以上の電位がベースに与えられたときだけ、トランジ
スタQ5をオン(ON)駆動してトランジスタQ3のコ
レクタ電位を接地電位側にクランプする(引き下げる)
ように動作する。
これにより、出力電圧■。が所定の制限電圧以上に跳ね
上がろうとすると、トランジスタQ3のコレクタ電位が
クランプされてトランジスタQ4゜Qlが非導通化され
るようになる。この結果、同図(b)に示すように、出
力電圧v0の立ち上がり時におけるオーバシェードAが
抑制されるようになる。この場合、そのオーバシュー)
AのMlレベルは、ダイオードD3.D4.D5の直列
接続数および抵抗R4、R5の値などによって任意に設
定することができる。
上がろうとすると、トランジスタQ3のコレクタ電位が
クランプされてトランジスタQ4゜Qlが非導通化され
るようになる。この結果、同図(b)に示すように、出
力電圧v0の立ち上がり時におけるオーバシェードAが
抑制されるようになる。この場合、そのオーバシュー)
AのMlレベルは、ダイオードD3.D4.D5の直列
接続数および抵抗R4、R5の値などによって任意に設
定することができる。
第3図は、第1図に示した構成を2人力NANDゲー)
K適用した例を示す。
K適用した例を示す。
この場合、2人力NANDゲートとしての動作をなす部
分は、同図(a)に示すように、トランジスタQl〜Q
4 、 Q6、ショットキー・バリア・ダイオードD6
〜DIO1抵抗R1〜R3、R6〜R8などによって構
成されている。そして、立ち下がり時のオーバシュート
を抑制する部分は、わずか2つのダイオードD1.D2
によって構成されている。
分は、同図(a)に示すように、トランジスタQl〜Q
4 、 Q6、ショットキー・バリア・ダイオードD6
〜DIO1抵抗R1〜R3、R6〜R8などによって構
成されている。そして、立ち下がり時のオーバシュート
を抑制する部分は、わずか2つのダイオードD1.D2
によって構成されている。
なお、GNDは接地電位を示す。また、i n 1゜i
n2は論理入力を示す。
n2は論理入力を示す。
同図(b)はその2人力NANDゲートの回路記号を示
す。
す。
第4図は、第1図に示した構成をマスタースレーブ型の
D−7リツプフロツプに適用した例を示す。
D−7リツプフロツプに適用した例を示す。
この場合、D−7リツプフロツプとしての動作をなす部
分は、同図(a)に示すように、トランジスタQ1〜Q
4.Q6.Qll〜Q20、ダイオードD6.D11.
D21〜D39、抵抗R1〜R−,3’、 R6、R7
、R,11〜R17などによりて構成されている。そし
て、立ち下がり時のオーバシュートを抑制する部分は、
わずか2つずつのダイオードD1.D2によって構成さ
れている。
分は、同図(a)に示すように、トランジスタQ1〜Q
4.Q6.Qll〜Q20、ダイオードD6.D11.
D21〜D39、抵抗R1〜R−,3’、 R6、R7
、R,11〜R17などによりて構成されている。そし
て、立ち下がり時のオーバシュートを抑制する部分は、
わずか2つずつのダイオードD1.D2によって構成さ
れている。
このD−クリップフロップでは、出力電圧v0の立ち下
がり時におけるオーバシュートが抑制されるとともに、
入力部3の保持状態が誤って反転させられることが確実
に防止されるようになっている。
がり時におけるオーバシュートが抑制されるとともに、
入力部3の保持状態が誤って反転させられることが確実
に防止されるようになっている。
なお、+Q、−Qはクリップフロップの出力端子、CL
Rはクリア一端子、PRはプリセット端子、CKはクロ
ック入力端子、Dはデータ入力端子をそれぞれ示す。
Rはクリア一端子、PRはプリセット端子、CKはクロ
ック入力端子、Dはデータ入力端子をそれぞれ示す。
同図(b)はそのD−7リツプフロツプの回路記号を示
す。
す。
(1)出力電圧が太き(低下することによって位相分割
段のトランジスタのベース・エミッタ間電圧VBIが立
ち上がろうとするときに、そのペース・エミッタ間電圧
VBIを一定電圧以下にクランプするような電流バイパ
ス路を設けることにより、出力電圧のオーバシュート、
特に立ち下がり時のオーバクニートな確実に抑制できろ
ようになり、これにより回路素子の破壊や誤動作の発生
を防止できるようKするとともに、論理回路の動作の高
速化も安全に行えるようになる、という効果が得られる
。
段のトランジスタのベース・エミッタ間電圧VBIが立
ち上がろうとするときに、そのペース・エミッタ間電圧
VBIを一定電圧以下にクランプするような電流バイパ
ス路を設けることにより、出力電圧のオーバシュート、
特に立ち下がり時のオーバクニートな確実に抑制できろ
ようになり、これにより回路素子の破壊や誤動作の発生
を防止できるようKするとともに、論理回路の動作の高
速化も安全に行えるようになる、という効果が得られる
。
(2) これとともに、L(低レベル)出力時の論理
レベルを、一種のフィードパ、1り動作によつて、一定
かつ安定に保つことができるようになる、という効果が
得られる。
レベルを、一種のフィードパ、1り動作によつて、一定
かつ安定に保つことができるようになる、という効果が
得られる。
(3)さらに、入力部に保持回路を接続した場合には、
その入力部の保持状態が誤って反転させられるという恐
れをなくすことができる、という効果が得られる。
その入力部の保持状態が誤って反転させられるという恐
れをなくすことができる、という効果が得られる。
(4)さらにまた、H(高レベル)が出力されていると
きに出力を短絡したときの出力電流、いわゆるIosも
正確に測定することができる、という効果も得られる。
きに出力を短絡したときの出力電流、いわゆるIosも
正確に測定することができる、という効果も得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
以上、本発明者によってなされた発明をその背景となっ
た利用分野であるTTLの技術に適用した場合について
説明したが、それに限定されるものではな(、例えばバ
イポーラC−MO8技術(日経マグロウヒル社刊行「日
経エレクトロニクス1985年3月25日号」209〜
225頁参照)などKも適用できる。少なくともバイポ
ーラ・トランジスタによる出力段と駆動段を有する条件
のものには適用できる。
た利用分野であるTTLの技術に適用した場合について
説明したが、それに限定されるものではな(、例えばバ
イポーラC−MO8技術(日経マグロウヒル社刊行「日
経エレクトロニクス1985年3月25日号」209〜
225頁参照)などKも適用できる。少なくともバイポ
ーラ・トランジスタによる出力段と駆動段を有する条件
のものには適用できる。
第1図(at(b)はこの発明の一実施例による論理回
路の構成および動作波形例を示す図、 第2図(at(blはこの発明のさらに改良された一実
施例による論理回路の構成および動作波形例を示す図、 第3図(a)(b)はこの発明が適用された論理回路の
一例を示す回路とその論理記号を示す図、第4図(a)
(b)はこの発明が適用された論理回路の別の例を示す
回路とその論理記号を示す図、第5図軸)(b)は従来
の論理回路の構成および動作波形例を示す図である。 1・・・出力段、2・・・位相分割段、3・・・入力部
、Ql、Q2・・・出力段1を構成する一対のバイポー
ラ・トランジスタ、Q3・・・位相分割段2を構成する
バイポーラ・トランジスタ、 DI 、D2・・・電流
バイパス路を形成するダイオード、vo・・・出力電圧
、Z・・・負荷。 代理人 弁理士 小 川 勝 男 第 1 図 第 2− 図 第 3 図 (a−) (1> 第 4 図 (L) (4> 第5図 +
路の構成および動作波形例を示す図、 第2図(at(blはこの発明のさらに改良された一実
施例による論理回路の構成および動作波形例を示す図、 第3図(a)(b)はこの発明が適用された論理回路の
一例を示す回路とその論理記号を示す図、第4図(a)
(b)はこの発明が適用された論理回路の別の例を示す
回路とその論理記号を示す図、第5図軸)(b)は従来
の論理回路の構成および動作波形例を示す図である。 1・・・出力段、2・・・位相分割段、3・・・入力部
、Ql、Q2・・・出力段1を構成する一対のバイポー
ラ・トランジスタ、Q3・・・位相分割段2を構成する
バイポーラ・トランジスタ、 DI 、D2・・・電流
バイパス路を形成するダイオード、vo・・・出力電圧
、Z・・・負荷。 代理人 弁理士 小 川 勝 男 第 1 図 第 2− 図 第 3 図 (a−) (1> 第 4 図 (L) (4> 第5図 +
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電源の正側と負側の間に直列接続されることにより
出力段を構成する一対のバイポーラ・トランジスタと、
この一対のバイポーラ・トランジスタを相補的に導通駆
動する位相分割段を構成するバイポーラ・トランジスタ
とを備えた論理回路であって、上記位相分割段のバイポ
ーラ・トランジスタのベース側から上記出力段の出力側
に向けて電圧降下を伴う電流バイパス路を有するととも
に、このバイパス路における電圧降下の大きさが、上記
位相分割段のバイポーラ・トランジスタのベースからエ
ミッタを経て電源の負側に抜ける経路に生じる電圧降下
の大きさより小さくなるように設定されていることを特
徴とする論理回路。 2、上記出力段の一対のバイポーラ・トランジスタの少
なくともL(低レベル)電位側のバイポーラ・トランジ
スタがショットキークランプ型のトランジスタであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の論理回路。 3、上記電流バイパス路が、互いに順方向に直列接続さ
れたpn接合ダイオードとショットキー・バリア・ダイ
オードの2つのダイオードによって構成されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の
論理回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60131821A JPH0681038B2 (ja) | 1985-06-19 | 1985-06-19 | 論理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60131821A JPH0681038B2 (ja) | 1985-06-19 | 1985-06-19 | 論理回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61290820A true JPS61290820A (ja) | 1986-12-20 |
JPH0681038B2 JPH0681038B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=15066885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60131821A Expired - Lifetime JPH0681038B2 (ja) | 1985-06-19 | 1985-06-19 | 論理回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0681038B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5034631A (en) * | 1989-02-24 | 1991-07-23 | Sgs-Thomson Microelectronics S.A. | TTL compatible output circuit with a high switching speed |
EP0452747A2 (en) * | 1990-04-20 | 1991-10-23 | National Semiconductor Corporation | Ground bounce isolation network |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55143840A (en) * | 1979-04-26 | 1980-11-10 | Nec Corp | Logical operation circuit |
JPS577633A (en) * | 1980-06-16 | 1982-01-14 | Nec Corp | Ttl circuit |
-
1985
- 1985-06-19 JP JP60131821A patent/JPH0681038B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55143840A (en) * | 1979-04-26 | 1980-11-10 | Nec Corp | Logical operation circuit |
JPS577633A (en) * | 1980-06-16 | 1982-01-14 | Nec Corp | Ttl circuit |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5034631A (en) * | 1989-02-24 | 1991-07-23 | Sgs-Thomson Microelectronics S.A. | TTL compatible output circuit with a high switching speed |
EP0452747A2 (en) * | 1990-04-20 | 1991-10-23 | National Semiconductor Corporation | Ground bounce isolation network |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0681038B2 (ja) | 1994-10-12 |
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