JPS61275629A - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
- Publication number
- JPS61275629A JPS61275629A JP11682185A JP11682185A JPS61275629A JP S61275629 A JPS61275629 A JP S61275629A JP 11682185 A JP11682185 A JP 11682185A JP 11682185 A JP11682185 A JP 11682185A JP S61275629 A JPS61275629 A JP S61275629A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emissivity
- temperature
- radiant energy
- measured
- detection means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、非接触で被測定物の放射エネルギーを受けて
温度計測する放射温度計に係り、特に、被測定物の真温
度を同時に測定して放射率の自動設定を行い、常に正確
な温度信号を得ることができる放射温度計に関する。
温度計測する放射温度計に係り、特に、被測定物の真温
度を同時に測定して放射率の自動設定を行い、常に正確
な温度信号を得ることができる放射温度計に関する。
［従来の技術］
第６図に従来の放射温度計を示す。
図に示す放射温度計７によって、被測定物０の温度を計
測する場合、被測定物０の材質による放射率との変化、
また被測定物０の温度に伴う放射率εの変化を考慮して
予めこの放射率εを補正しなければならず、この補正に
よって外部に取り出すことができる温度信号を正確に出
力するものである。したがって、被測定物０の真温度Ｔ
・を測定する真温度測定手段８によってこの真温度Ｔ・
と放射温度計７が出力する温度Ｔとを判別手段９で判別
し、放射温度計７の放射率設定部７ａで放射率とを補正
しなければならない。
測する場合、被測定物０の材質による放射率との変化、
また被測定物０の温度に伴う放射率εの変化を考慮して
予めこの放射率εを補正しなければならず、この補正に
よって外部に取り出すことができる温度信号を正確に出
力するものである。したがって、被測定物０の真温度Ｔ
・を測定する真温度測定手段８によってこの真温度Ｔ・
と放射温度計７が出力する温度Ｔとを判別手段９で判別
し、放射温度計７の放射率設定部７ａで放射率とを補正
しなければならない。
［発明が解決しようとする問題点］
しかし、上述の方法によって放射率設定部７ａの放射率
εを補正するには、従来判別手段９の判別を目視のみに
よって判別し、かつ放射率設定部７ａを手動操作によっ
て補正していたので、人手による手間がかかり、更に被
測定物０の材質の変化、あるいは温度変化があればその
都度補正しなければならない欠点があった。
εを補正するには、従来判別手段９の判別を目視のみに
よって判別し、かつ放射率設定部７ａを手動操作によっ
て補正していたので、人手による手間がかかり、更に被
測定物０の材質の変化、あるいは温度変化があればその
都度補正しなければならない欠点があった。
本発明は上記の欠点を解消するために成され。
放射率の補正が自動的に行なわれ、常に正確な温度信号
を得ることができる放射温度計を提供することを目的と
している。
を得ることができる放射温度計を提供することを目的と
している。
［問題点を解決するための手段］
すなわち本発明による放射温度計の改良について、その
第１の発明においては、被測定物の放射エネルギー及び
放射率補正信号により温度情報を出力する検出手段、及
び被測定物の真温度を測定する第２の温度測定手段と、
前記検出手段及び第２の温度測定手段の出力を受け、放
射率を自動設定して検出手段に放射率補正信号を帰還し
、検出手段の温度情報を変換して温度信号として出力す
る変換手段とを具備することを特徴とし、第２の発明に
おいては被測定物の放射エネルギー及び放射率補正信号
により温度情報を出力する検出手段、及び被測定物の真
温度を測定する第２の温度測定手段と、前記検出手段及
び第２の温度測定手段の出力を受け、放射率、を自動設
定して検出手段に放射率補正信号を帰還し、前記検出手
段の温度信号を変換して温度信号として出力する変換手
段とを具備し、前記検出手段で放射エネルギーと放射率
とについて複数の放射率補正関数を設定して、自動的に
放射率が補正されることを特徴としている。
第１の発明においては、被測定物の放射エネルギー及び
放射率補正信号により温度情報を出力する検出手段、及
び被測定物の真温度を測定する第２の温度測定手段と、
前記検出手段及び第２の温度測定手段の出力を受け、放
射率を自動設定して検出手段に放射率補正信号を帰還し
、検出手段の温度情報を変換して温度信号として出力す
る変換手段とを具備することを特徴とし、第２の発明に
おいては被測定物の放射エネルギー及び放射率補正信号
により温度情報を出力する検出手段、及び被測定物の真
温度を測定する第２の温度測定手段と、前記検出手段及
び第２の温度測定手段の出力を受け、放射率、を自動設
定して検出手段に放射率補正信号を帰還し、前記検出手
段の温度信号を変換して温度信号として出力する変換手
段とを具備し、前記検出手段で放射エネルギーと放射率
とについて複数の放射率補正関数を設定して、自動的に
放射率が補正されることを特徴としている。
［作用〕
本発明による放射温度計によれば、検出手段で被測定物
の放射エネルギーを検出し、第２の温度測定手段が測定
・する被測定物の真温度の出力および前記検出手段の出
力とによって変換手段は、放射率を自動設定して温度信
号を出力するようにしたので、被測定物の放射率変化を
自動的に補正でき、常に正確な温度信号を得ることがで
きる。
の放射エネルギーを検出し、第２の温度測定手段が測定
・する被測定物の真温度の出力および前記検出手段の出
力とによって変換手段は、放射率を自動設定して温度信
号を出力するようにしたので、被測定物の放射率変化を
自動的に補正でき、常に正確な温度信号を得ることがで
きる。
また、検出手段に、熱で変化が生じる放射エネルギーと
放射率との関係を放射率補正関数として複数設定する構
成とすれば、被測定物の温度変化に伴う放射率の変化に
ついて、検出手段に入力される放射エネルギーのみから
放射率を自動的に補正することができる。
放射率との関係を放射率補正関数として複数設定する構
成とすれば、被測定物の温度変化に伴う放射率の変化に
ついて、検出手段に入力される放射エネルギーのみから
放射率を自動的に補正することができる。
［実施例〕
以下１図面に示した実施例に基づいて本発明の詳細な説
明する。
明する。
第１図は本発明の放射温度計の一実施例を示す図、第２
図は温度と放射エネルギーとの関係を示す図、第４図は
本発明の放射温度計の他の実施例を示す図、第５図は放
射率と放射エネルギーとの関係を示す図である。
図は温度と放射エネルギーとの関係を示す図、第４図は
本発明の放射温度計の他の実施例を示す図、第５図は放
射率と放射エネルギーとの関係を示す図である。
第１図において、１は放射温度計を示し、この放射温度
計１は放射率Ｉの被測定物０が放射する放射エネルギー
６Ｒ（Ｔ）を検出する検出手段２と、被測定物０の真温
度を計測する第２の温度測定手段３と、変換手段４とに
より構成され、この変換手段４でこれら検出手段２の出
力と第２の温度測定手段３の出力を演算して放射率εの
補正を行い、この変換手段４から温度信号Ｔとして出力
する構成となっており以下に詳述する。
計１は放射率Ｉの被測定物０が放射する放射エネルギー
６Ｒ（Ｔ）を検出する検出手段２と、被測定物０の真温
度を計測する第２の温度測定手段３と、変換手段４とに
より構成され、この変換手段４でこれら検出手段２の出
力と第２の温度測定手段３の出力を演算して放射率εの
補正を行い、この変換手段４から温度信号Ｔとして出力
する構成となっており以下に詳述する。
検出手段２は、集光レンズ等の集光手段２１によって被
測定物０の放射エネルギーεＲ（Ｔ）を、光電素子等か
らなる検出素子２２上に集光するもので検出素子２２の
検出信号はプリアンプ２３により増幅されＡ／Ｄコンバ
ータ２４でのＡ／Ｄ変換後、処理回路（ＣＰＵ）２５に
入力される。処理回路２５は、測定開始時において自動
あるいは手動操作等により自動セットモードに設定され
れば、放射率εを自動的にｔ、ｏｏｏに一担設定し、こ
れによりＩｓｌの温度情報ＥＩ＝入カ入車エネルギー
（Ｔ） ＝第１の出力エネルギーＲ（Ｔ＋）から第１の
出力エネルギーＲ（Ｔ、）を出力した後、後段の変換手
段４から返送される放射率補正信号ε′が入力されれば
これに応じて補正された放射率ε（Ｏ〜ε〜ｌ）より第
２の温度情報Ｅ２＝入力エネルギーεＲ（Ｔ） ／放射
率補正信号ε′を演算して出力するものである。ただし
放射率補正後、第１の温度情報Ｅ＋は第２の温度情報Ｅ
２へと換って、第２の温度情報Ｅ２−人力エネルギーε
Ｒ（Ｔ） ＝第２の出力エネルギーＲ（Ｔ２）を出力す
ることになり、第２の温度情報Ｅ２の値が放射率補正後
の正確な値である。
測定物０の放射エネルギーεＲ（Ｔ）を、光電素子等か
らなる検出素子２２上に集光するもので検出素子２２の
検出信号はプリアンプ２３により増幅されＡ／Ｄコンバ
ータ２４でのＡ／Ｄ変換後、処理回路（ＣＰＵ）２５に
入力される。処理回路２５は、測定開始時において自動
あるいは手動操作等により自動セットモードに設定され
れば、放射率εを自動的にｔ、ｏｏｏに一担設定し、こ
れによりＩｓｌの温度情報ＥＩ＝入カ入車エネルギー
（Ｔ） ＝第１の出力エネルギーＲ（Ｔ＋）から第１の
出力エネルギーＲ（Ｔ、）を出力した後、後段の変換手
段４から返送される放射率補正信号ε′が入力されれば
これに応じて補正された放射率ε（Ｏ〜ε〜ｌ）より第
２の温度情報Ｅ２＝入力エネルギーεＲ（Ｔ） ／放射
率補正信号ε′を演算して出力するものである。ただし
放射率補正後、第１の温度情報Ｅ＋は第２の温度情報Ｅ
２へと換って、第２の温度情報Ｅ２−人力エネルギーε
Ｒ（Ｔ） ＝第２の出力エネルギーＲ（Ｔ２）を出力す
ることになり、第２の温度情報Ｅ２の値が放射率補正後
の正確な値である。
第１の温度情報ＥＩは変換手段４の入力回路４１に入力
されて、リニヤライズ回路４２で直線補正され、第１の
温度信号Ｔ１として出力される。（この温度信号Ｔ＋は
放射率ε＝１のときの値である。）また、第１の温度信
号ＴＩの出力の一部は関数発生器４３に入力されている
。さらに、この関数発生器４３には、被測定物０の真温
度を測定する熱電対、白金等から構成される第２の温度
測定手段３が出力する真温度信号Ｔｏが入力され、第１
の温度信号Ｔ＋及び真温度信号Ｔ・はいずれも同一係数
によって第２図に示す放射率から放射エネルギーへと変
換され、Ｒ（Ｔ ＋ ）及びＲ（Ｔ ｏ ）が得られる
。この関数発生器４３の出力は、除算回路４４に入力さ
れる。
されて、リニヤライズ回路４２で直線補正され、第１の
温度信号Ｔ１として出力される。（この温度信号Ｔ＋は
放射率ε＝１のときの値である。）また、第１の温度信
号ＴＩの出力の一部は関数発生器４３に入力されている
。さらに、この関数発生器４３には、被測定物０の真温
度を測定する熱電対、白金等から構成される第２の温度
測定手段３が出力する真温度信号Ｔｏが入力され、第１
の温度信号Ｔ＋及び真温度信号Ｔ・はいずれも同一係数
によって第２図に示す放射率から放射エネルギーへと変
換され、Ｒ（Ｔ ＋ ）及びＲ（Ｔ ｏ ）が得られる
。この関数発生器４３の出力は、除算回路４４に入力さ
れる。
除算回路４４は、第２の関数発生器３の出力Ｒ（Ｔ＋）
及びＲ（Ｔ・）によってＲ（Ｔ＋）／Ｒ（Ｔｏ）の演算
を施し、この結果書られる出力を出力回路４５から放射
率補正信号ε′として前述の検出手段２の処理回路２５
へ帰還されている。
及びＲ（Ｔ・）によってＲ（Ｔ＋）／Ｒ（Ｔｏ）の演算
を施し、この結果書られる出力を出力回路４５から放射
率補正信号ε′として前述の検出手段２の処理回路２５
へ帰還されている。
この帰還ループが一順した後、処理回路２５が出力する
温度情報Ｅ２ ＝Ｒ（Ｔ２ ）は同様に変換手段４の入
力回路４１、リニヤライズ回路４２を介して、第２の温
度信号Ｔ２として出力され、この値が放射率補正後の正
確な値となる。また、変換手段４は放射率補正信号ε′
を出力回路４５が出力した時点で関数発生器４３では温
度信号Ｔ、特に第２の温度信号Ｔ２を取り込まぬよう閉
鎖されるようになっており、誤動作が防止される。
温度情報Ｅ２ ＝Ｒ（Ｔ２ ）は同様に変換手段４の入
力回路４１、リニヤライズ回路４２を介して、第２の温
度信号Ｔ２として出力され、この値が放射率補正後の正
確な値となる。また、変換手段４は放射率補正信号ε′
を出力回路４５が出力した時点で関数発生器４３では温
度信号Ｔ、特に第２の温度信号Ｔ２を取り込まぬよう閉
鎖されるようになっており、誤動作が防止される。
上述の実施例では、リニヤライズ回路４２の出力を関数
発生器４３に入力するよう構成しているが入力回路４１
の出力を入力リニヤライズ４２、関数発生器４３を経路
せず信号路Ｓを介して直接、除算回路４４に入力するよ
う構成することもできる。
発生器４３に入力するよう構成しているが入力回路４１
の出力を入力リニヤライズ４２、関数発生器４３を経路
せず信号路Ｓを介して直接、除算回路４４に入力するよ
う構成することもできる。
以上の放射温度計の動作は、第３図のブロック図に示さ
れている。
れている。
このように放射率との自動設定を、検出手段２及び第２
の測定手段３の出力を受ける変換手段４ε′ で行い、検出手段２に放射率補正信ケ１帰還し、第２の
温度信号Ｔ２を得るように構成したが放射率比の自動設
定により第２の温度信号Ｔ２を得るよう構成することも
考えられる。
の測定手段３の出力を受ける変換手段４ε′ で行い、検出手段２に放射率補正信ケ１帰還し、第２の
温度信号Ｔ２を得るように構成したが放射率比の自動設
定により第２の温度信号Ｔ２を得るよう構成することも
考えられる。
また、処理回路２５にて、測定開始時放射率とはｔ、ｏ
ｏｏに自動セットされるから、放射率の基準値による第
１の温度信号Ｔ１を得ることができるから測定レンジの
設定やスパン幅を知ることができ、更に検出手段２．変
換手段４の演算について数値上の誤差も少なくすること
ができる。
ｏｏに自動セットされるから、放射率の基準値による第
１の温度信号Ｔ１を得ることができるから測定レンジの
設定やスパン幅を知ることができ、更に検出手段２．変
換手段４の演算について数値上の誤差も少なくすること
ができる。
また、前記第２の温度測定手段３による真温度の測定以
外に、データキー５や、外部側Ｗ装Ｍ６を用いることが
考えられる。
外に、データキー５や、外部側Ｗ装Ｍ６を用いることが
考えられる。
第４図は、本発明の更に他の実施例を示すものである。
この実施例には、検出手段２の処理回路２５および変換
手段４の出力回路４５の各々に情報を記憶するテーブル
２６．４６が設けられていて、他の構成は上述した第１
実施例と全く同様である。
手段４の出力回路４５の各々に情報を記憶するテーブル
２６．４６が設けられていて、他の構成は上述した第１
実施例と全く同様である。
これらテーブル２６．４６は、被測定物０が同一の材質
であっても熱変化で生じる表面酸化等の影響で生じる放
射率との変化について補正を行うべく放射エネルギーε
Ｒ（Ｔ）に対する放射率εの補正数値を表として記憶で
きるものであって。
であっても熱変化で生じる表面酸化等の影響で生じる放
射率との変化について補正を行うべく放射エネルギーε
Ｒ（Ｔ）に対する放射率εの補正数値を表として記憶で
きるものであって。
更に表は、材質別に複数のパターンを有している。この
パターンを放射率補正関数としてその一例を第５図に示
し説明する。
パターンを放射率補正関数としてその一例を第５図に示
し説明する。
上述の第１の実施例に示した放射率Ｃを求めるとき、測
定対象物０の熱変化の度合に応じて変化する放射率εの
うち、例えば１６点（εざ 〜εＩＩ＋）をテーブル４
６にてセットする。そのとき、被測定物Ｏが放射する放
射エネルギーεＲ（Ｔ）と放射率εを対にテーブル２６
にてセットすることにより第５図に示す放射エネルギー
εＲ（Ｔ）に対する放射率εの値が対となって記憶する
ことができ、放射エネルギーεＲ（Ｔ＋）、放射率ε１
〜放射エネルギーεＲ（Ｔｍ）、放射率ε鴫までの１６
点によって放射率補正関数Ｃが作成されることになる。
定対象物０の熱変化の度合に応じて変化する放射率εの
うち、例えば１６点（εざ 〜εＩＩ＋）をテーブル４
６にてセットする。そのとき、被測定物Ｏが放射する放
射エネルギーεＲ（Ｔ）と放射率εを対にテーブル２６
にてセットすることにより第５図に示す放射エネルギー
εＲ（Ｔ）に対する放射率εの値が対となって記憶する
ことができ、放射エネルギーεＲ（Ｔ＋）、放射率ε１
〜放射エネルギーεＲ（Ｔｍ）、放射率ε鴫までの１６
点によって放射率補正関数Ｃが作成されることになる。
したがって、この放射率補正関数Ｃ作成後は、検出手段
２に入力される放射エネルギーεＲ（Ｔ）のみで処理回
路２５は放射率εを読み出し、演算して温度情報Ｅを得
ることができる。なお、放射率補正関数Ｃは、簡単には
１次折線関数で近似して演算するようにしてもよい。
２に入力される放射エネルギーεＲ（Ｔ）のみで処理回
路２５は放射率εを読み出し、演算して温度情報Ｅを得
ることができる。なお、放射率補正関数Ｃは、簡単には
１次折線関数で近似して演算するようにしてもよい。
またテーブル２６には放射率εと放射エネルギーεＲ（
Ｔ）による放射率補正関数Ｃを複数セットすることによ
り被測定物Ｏによって異なる特性に対応することができ
る。
Ｔ）による放射率補正関数Ｃを複数セットすることによ
り被測定物Ｏによって異なる特性に対応することができ
る。
また、上述の放射率補正カーブＣは、温度Ｔ（＠Ｋ）に
対する放射率Ｅの補正を行うものであっても良い。
対する放射率Ｅの補正を行うものであっても良い。
なお、検出手段２と、変換手段４とは、別体でなく、一
体のものとして構成するようにしてもよい。
体のものとして構成するようにしてもよい。
〔発明の効果１
本発明は以上説明したように、検出手段によって被測定
物の放射エネルギーを検出し、該検出手段の出力および
第２の温度測定手段が測定する被測定物の真温度の出力
とが入力される変換手段は、放射率を自動設定して温度
信号を出力するようにしたので、被測定物の変化に影響
されることなく常に正確な温度信号を出力することがで
きる。
物の放射エネルギーを検出し、該検出手段の出力および
第２の温度測定手段が測定する被測定物の真温度の出力
とが入力される変換手段は、放射率を自動設定して温度
信号を出力するようにしたので、被測定物の変化に影響
されることなく常に正確な温度信号を出力することがで
きる。
また、検出手段に熱によって変化する放射エネルギーに
対する放射率は放射率補正関数を設定する構成としたの
で、同一材質の温度変化に供う放射率の変化にも対応す
ることができ、常に正確な温度信号を得ることができる
。
対する放射率は放射率補正関数を設定する構成としたの
で、同一材質の温度変化に供う放射率の変化にも対応す
ることができ、常に正確な温度信号を得ることができる
。
第１図は本発明の一実施例の放射温度計を示す図、第２
図は変換手段の関数発生器の動作を示すある。 ｌ・・・放射温度計、２・・・検出手段、３・・・第２
の温度測定手段、４・・・変換手段、２６・・・テーブ
ル、０・・・被測定物、ε′・・・放射率補正信号。 第 １ 図 第２図 ３ｊＪ Ｔ（Ｋ） 第３図 第４図 ｗｃ ６ 図 手 続 補 正 書
図は変換手段の関数発生器の動作を示すある。 ｌ・・・放射温度計、２・・・検出手段、３・・・第２
の温度測定手段、４・・・変換手段、２６・・・テーブ
ル、０・・・被測定物、ε′・・・放射率補正信号。 第 １ 図 第２図 ３ｊＪ Ｔ（Ｋ） 第３図 第４図 ｗｃ ６ 図 手 続 補 正 書
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定物の放射エネルギーにより温度計測する放射
温度計において： 被測定物の放射エネルギーを検出し、温度情報を出力し
、更に入力される放射率補正信号により温度情報を補正
すべく演算出力する検出手段と、被測定物の真温度を測
定する第２の温度測定手段と、 前記検出手段、及び第２の温度測定手段の出力により放
射率を自動設定して前記検出手段に放射率補正信号を帰
還し、更に前記検出手段の温度情報からリニヤライズさ
れた温度信号を生成する変換手段とを具備したことを特
徴とする放射温度計。 ２ 被測定物の放射エネルギーにより温度計測する放射
温度計において： 被測定物の放射エネルギーを検出し、温度情報を出力し
、更に入力される放射率補正信号により温度情報を補正
すべく演算出力する検出手段と、 被測定物の真温度を測定する第２の温度測定手段と、 前記検出手段、及び第２の温度測定手段の出力により放
射率を自動設定して前記検出手段に放射率補正信号を帰
還し、更に前記検出手段の温度情報からリニヤライズさ
れた温度信号を生成する変換手段とを具備し、前記検出
手段で測定対象物から放射される放射エネルギーと放射
率とについて少くとも１個の放射率補正関数を設定して
、自動的に放射率が補正されることを特徴とする放射温
度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11682185A JPS61275629A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11682185A JPS61275629A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 放射温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61275629A true JPS61275629A (ja) | 1986-12-05 |
| JPH0566975B2 JPH0566975B2 (ja) | 1993-09-22 |
Family
ID=14696460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11682185A Granted JPS61275629A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61275629A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0289335U (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-16 | ||
| JPH0777892A (ja) * | 1993-09-10 | 1995-03-20 | Ricoh Co Ltd | 定着装置の温度制御方法及び装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006292713A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-10-26 | Keyence Corp | 放射温度計 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5221380A (en) * | 1975-08-12 | 1977-02-17 | Horimoto Giken Kogyo | Automatic boiled rice supply apparatus |
| JPS53131083A (en) * | 1977-03-11 | 1978-11-15 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Method of and apparatus for measuring high temperature |
| JPS56104226A (en) * | 1980-01-23 | 1981-08-19 | Fujitsu Ltd | Temperature measuring system using infrared ray |
| JPS596736U (ja) * | 1982-07-06 | 1984-01-17 | 新日本製鐵株式会社 | 放射温度計の放射率自動較正装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS596736B2 (ja) * | 1978-12-28 | 1984-02-14 | 日立製線株式会社 | 低酸素銅線の連続製造法 |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP11682185A patent/JPS61275629A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5221380A (en) * | 1975-08-12 | 1977-02-17 | Horimoto Giken Kogyo | Automatic boiled rice supply apparatus |
| JPS53131083A (en) * | 1977-03-11 | 1978-11-15 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Method of and apparatus for measuring high temperature |
| JPS56104226A (en) * | 1980-01-23 | 1981-08-19 | Fujitsu Ltd | Temperature measuring system using infrared ray |
| JPS596736U (ja) * | 1982-07-06 | 1984-01-17 | 新日本製鐵株式会社 | 放射温度計の放射率自動較正装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0289335U (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-16 | ||
| JPH0777892A (ja) * | 1993-09-10 | 1995-03-20 | Ricoh Co Ltd | 定着装置の温度制御方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0566975B2 (ja) | 1993-09-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0801926A4 (en) | CLINICAL RADIATION THERMOMETER | |
| US6609824B1 (en) | Radiation thermometer | |
| JPS61275629A (ja) | 放射温度計 | |
| JPH06142063A (ja) | 放射体温計 | |
| Dimitrov et al. | Infrared temperature measurement of wall areas with automatic distance correction | |
| JP3166565B2 (ja) | 赤外線検出回路 | |
| JPS63256814A (ja) | 位置検出装置 | |
| JPH08278203A (ja) | 赤外線放射温度計 | |
| JPH09329498A (ja) | 放射温度計 | |
| JP3985366B2 (ja) | センサ装置 | |
| JPH07218345A (ja) | 高温物体の測温装置 | |
| JPH1096667A (ja) | 赤外線熱画像装置およびその光学系毎の温度変換テーブル作成回路 | |
| JP2017044676A (ja) | 温度検出装置及び温度検出方法 | |
| JPH08285767A (ja) | 水分計 | |
| JPS6130728A (ja) | 赤外線放射温度の測定方法 | |
| JPS6239736A (ja) | 走査形放射温度計 | |
| JPH036430A (ja) | サーモグラフィ装置 | |
| JPH04109128A (ja) | 放射温度計 | |
| JPH02140611A (ja) | 高温物体の距離測定装置 | |
| JPS6275204A (ja) | 光電式幅計測装置 | |
| JPS5983020A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH03246408A (ja) | 寸法測定器の温度補正方法 | |
| JPH06241906A (ja) | 炉内物体の放射測温法および放射測温装置 | |
| JPH11128179A (ja) | 放射温度計 | |
| JPH0569455B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |