JPS61273840A - 電子ビ−ム励起イオン照射装置 - Google Patents

電子ビ−ム励起イオン照射装置

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JPS61273840A
JPS61273840A JP60115085A JP11508585A JPS61273840A JP S61273840 A JPS61273840 A JP S61273840A JP 60115085 A JP60115085 A JP 60115085A JP 11508585 A JP11508585 A JP 11508585A JP S61273840 A JPS61273840 A JP S61273840A
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plasma
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民夫 原
Manabu Hamagaki
浜垣 学
Katsunobu Aoyanagi
克信 青柳
Susumu Nanba
難波 進
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子ビームによってイオンを生成し、  □生
成されたイオンを試料に照射する電子ビーム励  、゛
起イオン照射装置に関する。
(従来の技術) イオン照射装置が集積回路の微細加工等に用いられてい
る。今日知られているイオン照射装置は以下の様にして
試料にイオンを照射している。DC放電、RF放電ある
いはECR(電子サイクロトロン共鳴)によってプラズ
マを発生し、このプラズマのうちイオンのみを電界によ
って引き出し、これによって、試料にイオンを照射して
いる。
(発明が解決しようとする問題点) 試料に大きなダメージを残すことなく、イオンビームエ
ツチング等を有効に行なうためには低工  ゛ネルギー
領域において大電流イオンビームを試料に照射すること
が必要であるが、従来の装置においてはイオンビーム電
流を低エネルギー領域において大きくできなかった。従
来は低エネルギー領域においてイオンビーム電流は10
mA/cm2以下であった。
本発明の目的は低エネルギー領域において大電流イオン
ビームを照射することのできる装置を提供することにあ
る。
(問題点を解決するための手段) 上記目的は、プラズマ領域、加速陰極、電子ビーム加速
領域、加速陽極、イオン生成領域および導電性イオン被
照射体設置部がこの順で設けられ・  ており、前記導
電性イオン被照射体設置部と前記加速陽極との間の電圧
を制御する手段が備えられている第1の発明の電子ビー
ム励起イオンビーム、置またはプラズマ領域、加速陰極
、電子ビーム加速領域、加速陽極、イオン生成領域、グ
リッド電極およびイオン被照射体設置部がこの順で設け
られており、前記グリッド電極と前記加速陽極との間の
電圧を制御する手段が備えられている第2の□  発明
の電子ビーム励起イオン照射装置によって達成される。
(作 用) プラズマ領域中の電子が加速陽極によって引き出されて
イオン生成領域内に突入する。突入した電子はイオン生
成領域内の不活性ガス(又は金属蒸気)と衝突してイオ
ンを生成するが、このイオンの逆流によって、加速陰極
の出口付近に負のポテンシャルバリヤが形成されること
が防止される。
従って、プラズマ領域のプラズマ密度に比例する大電流
電子ビームがイオン生成領域に流入することができる。
イオン生成領域においては、これに流入した電子ビーム
の電流値に比例した数のイオンが発生するが、そのイオ
ンのエネルギーはイオン被照射体設置台あるいはグリッ
ド電極と加速陽極との間の電圧によって制御されて半導
体基板等に入射する。
なお、本発明の装置内にアルゴン等の不活性ガス、CF
、等の反応性エツチング用ガスを充填することによりエ
ツチングを行うことができ、SiF4等の成膜用ガスを
充填することにより成膜を行うことができる。
(実施例) 第1図は、本発明の電子ビーム励起イオン照射装置の一
実施例の概略図である。カソード11アノードを兼ねる
加速陰極2、加速陽極3および導電製イオン被照射体設
置部である試料設置部4がこの順で設けられている。カ
ソードlと加速陰極2との間はプラズマが充填するプラ
ズマ領域5と□  なり、加速陰極2と加速陽極3との
間がプラズマ領域5から引き出された電子を加速する電
子ビー、  ム加速領域6となり、加速陽極3と試料設
置部41  との間がイオン生成領域7となる。カソー
ド1と−加速陰極2との間には放電用電源8によって電
圧が与えられて、プラズマ領域5内においてプラズマ生
成放電が生じるようになっている。加速陰極2と加速陽
極3との間に電位差を生じせしめる加速電源9は、プラ
ズマ領域5内の電子を引き出し、□′  かつイオン生
成領域7中のイオンを加速陰極2ま゛  で引き出す。
加速陰極2は直接アースされており、また、試料設置部
4は電圧可変のイオンエネルギ□  −制御用電源10
を介してアースされており、試料設置部4は加速陽極3
に対する電圧を制御しうるようにされている。通常アル
ゴンガス等の不活性ガス゛が流入口11a、llbから
装置内部に流入され、排出口12a、12b、12Cか
ら排出される。また、本実施例において電子およびイオ
ンの進行方向に沿って磁場が与えられており、電子流お
よびイオン流の横方向の拡がりが防止されている。プラ
ズマ領域5に設けられた仕切り13 a 。
13bはガスの圧力差をつけるためのものである。
このように構成されたイオン照射装置は以下の様に作動
する。カソード1と加速陰極2との間の放電によってプ
ラズマ領域5内にプラズマが発生する。このプラズマを
構成する電子は加速陽極3に引かれてイオン生成領域7
に突入して、イオンを生成する。このイオンの一部は加
速陰極2に引かれて加速陰極2の開口付近に形成される
負のポテンシャルバリアを引き下げる。従って、プラズ
マ領域内のプラズマ密度に比例した電流値の電子流がイ
オン生成領域7に流入する。イオン生成領   ゛域7
においては、流入した電子の電流値(数)に   ゛゛
・4゛・  比例するイオンが生成される。このイオン
は試料i、e   設置部4の電位によりてその・ネ・
・ギーを制御さべ;( ,;;1゛   れて試料設置部4上の試料18に照射
される。上土; □   述した本実施例において、装置内に充填するガ
スパ1  がアルゴンガスであり、加速陰極2と加速陽
極3゛   との間の電圧が110■、試料設置部4と
アース゛   との間の電圧が一34V、プラズマ領域
5の真空、1  度が0.7Torr、電子ビーム加速
領域6の真空度が・)ゝ  L、I X 10−’To
rr、イオン生成領域7の真空度が、≧4.・ ;、   2. OX I Q−’Torr、加速陽極
3と試料設置部4と一□  の距離がlQcmである場
合のイオン電流と初期放ゝ( :  電電流(はぼ電子ビーム電流に等しい)との関係
↓へ □゛  を第2図に示す。このグラフから本発明による
と□ 、 −従来の技術と比較して約2桁も大きいイオン電流づ。
、)、   が得られることがわかる。なお、イオン電
流は抵:昂・ 、jll、  抗14の両端電圧を電圧計16によって
測定する゛  ことによって測られた。
・5゜ 、   なお、イオンエネルギー制御用電源10として
は交流(高周波)のものを使用することができ、)” この交流電源の電圧を制御して試料18の電位を変える
ことができる。
また、導電性イオン被照射体設置部である試料  )設
置部4と加速陽極3との間の電圧は、イオンエ  ”ネ
ルボー制御用電源10の電圧を制御するのでは  )な
く、加速陰極2と加速陽極3との間の加速電源  19
の電圧値を制御することによっても変えること  :番 ができる。この場合の例を第3図および第4図に  ”
示す。第3図および第4図に示されたいずれの例  :
においても、イオンエネルギー制御用電源lOは設けら
れておらず、試料設置部4は直接アースされておりイオ
ンエネルギーの制御は加速電源9の  )電圧を制御す
ることにより行われている。第4図に示された実施例に
おいては、加速陰極2ではな  □く、カソードがアー
スされており、放電電源の電圧を変化しても試料設置部
4と加速陽極3との間  :の電圧を変化することがで
きる。
第5図は別の実施例の概略図である。本実施例  □に
おいては試料設置部4′の電位は浮動状態とされており
、導電性を有している必要はない。加速陽極3と試料設
置部4′との間にはグリッド電極17が配されており、
このグリッド電極17がイオンエネルギー制御用電源1
0の陰極に接続されている。その他の構成は第1図に示
された実施例と全く同一である。本実施例においては、
イオンエネルギーの制御はグリッド電極17の電位を変
、   化することにより設置部4′に向う電子の数と
工□°  ネルギーを制御し、これによって試料18の
電位◇2 ′  を変化することにより行われる。
−また、本実施例においても、第3図に示された1  
 実施例と同様にして、イオンエネルギー制御用型し 
 源10を省いてグリッド電極17を直接アースするよ
うにしてもよい。
第1図および第5図に示された実施例のように、電子ビ
ームガイド用磁場として一様磁場を用いても直径15m
m程度の均一なイオンビームの照射が行なえることが確
認されているが、第6a図、第゛  部に永久磁石20
を配してマルチポール磁場を形6b図に示されるように
イオン生成領域7の外周底すると、イオンビームをさら
に拡大することができ、大面積試料の均一照射が可能と
なる。
本発明においては、種々の変形実施例が考えられるが、
加速陽極を2つに分け、イオン生成領域と試料室とを分
離するようにしてもよいし、また、第7図に示されるよ
うに、絶縁物24を介して設けられたイオンビーム加速
電極21.22を境にしてイオン生成領域7と試料室2
3とを分離して設けるようにしてもよい。このようにす
ると、試  □料室23内を高真空状態にすることがで
きる。イ  □オン生成領域7から試料室23へのイオ
ンの流入はイオンビーム加速電極21.22によって行
わ  □れる。イオン生成領域とイオンビーム加速電極
との間にイオン源プラズマ領域を設け、このイオン  
゛源プラズマ領域において発生したイオンを試料に  
゛照射するようにしてもよい。この場合、第6a図およ
び第6b図に示されるようにイオン源プラズ  □マ領
域と試料室とにマルチポール磁場を与え、かつイオンビ
ーム加速電極をメツシュ電極とすることによりイオンビ
ーム径を拡大することができる。
第8図は、本発明をスパッタ装置として使用し  ゛た
場合の実施例を示す。イオン生成領域7において生成さ
れたイオンは、導電性設置部4′上のターゲット25に
衝突する。イオンの衝突によって飛散したターゲット材
料は基板26上に堆積する。
基板26に図示されるように電位を印加すると、イオン
の衝突によってガス状に飛散され、さらにこの後電子ビ
ームの照射によってイオン化されたターゲット原子を、
基板26に引きつけることもできる。
第9図は、本発明をスパッタ装置として使用した場合の
別の実施例を示す。ターゲット25が電子ビームの照射
を受けることによってターゲット材料ガスが発生し、さ
らにこのガスが電子ビームの照射を受けることによって
イオンが生成される。
このターゲット材料ガスイオンは加速陰極2に引 。
かれて、プラズマ領域5へ向うがこの際イオンを捕える
ことにより基板26上に成膜が行われる。
この実施例においては、加速陽極3の開口を大きめに設
定し、かつ電子ビームがターゲット25上に集中する様
にターゲット付近に磁場を設定するとよい。また、基板
26を設置する台としては加速陰極2自体を使用しても
よい。さらに、加速陽極3とターゲット25との間に電
圧を加えてもよい。
上述した各実施例において特願昭59−276738号
に従ってカソードと加速陰極の間にプラズマ電位分布整
形用電極を配することも極めて有効である。また、イオ
ンエネルギー制御用電源を用いる実施例において、電源
の極性を逆にすると負イオンの照射を行うことができる
(発明の効果) 本発明のイオン照射装置はプラズマ領域中のプラズマ密
度を制御することにより、照射するイオンの電流(イオ
ンの数)を制御することができる。
また、これとは独立して試料設置台あるいはグリッド電
極と加速陽極との間の電圧を制御することによりイオン
のエネルギーを制御することができる。従って、低エネ
ルギーのイオンを多数試料に照射することができ、半導
体基板等に結晶欠陥を生じることなく試料の加工を効率
よく行うことが可能となる。
また、本発明においては、イオン生成領域に外部から電
子ビームを流入してプラズマを作り出しているので、充
填ガスの組成変化や、不純物の混入に対するプラズマの
安定性は高い。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の概略図であり、第2図は
、第1図の実施例におけるイオン電流と初期放電電流と
の関係を示すグラフ、第3図および第4図は、本発明の
別の実施例の概略図、 第5図は、グリッド電極を用いた場合の実施例の概略図
、 第6a図および第6b図は電子ビームガイド用マルチポ
ール磁場を表わす側面図および断面図、第7図は、イオ
ン生成領域と試料室とを分離した場合の実施例を表わす
概略図、 第8図は、本発明をスパッタ装置として使用した場合の
実施例を示す概略図、 第9図は、本発明をスパッタ装置として使用した場合の
別の実施例を示す概略図である。 l・・・・・・カソード、2・・・・・・加速陰極、3
・・・・・・加速陽極、4・・・・・・導電性試料設置
部、4′・・・・・・試料設置部、5・・・・・・プラ
ズマ領域、6・・・・・・電子ビーム加速領域、7・・
・・・・イオン生成領域、8・・・・・・放電用電源、
9・・・・・・加速電源、lO・・・・・・イオンエネ
ルギー制御用電源、17・・・・・・グリッド電極。 イズン竜漢、CA] 第3図 第4図 第5図 第60図      第6b図 第7図 j18図 第9°図 2、発明の名称   電子ビーム励起イオン照射装置3
、補正をする者 事件との関係  出願人 名称 (679)理化学研究所 4、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内3丁目3番1号ゝ、’J
(f(:)2”−°“”    f・色比 名(599
5)弁理士 中  村−稔 φ5、補正命′令の日付 
 自  発 −’l’i°60・ 6、補正の対象               の欄、
I報−爾り 覧 )特許請求の範囲を別紙の通り訂正する。 J 明細書第3頁7行から20行“上記目的は・・・・
・・・・・達成される。”を[上記目的は、プラズマ領
域、加速陰極、電子ビーム加速領域、加速陽極、イオン
生成領域およびターゲット陰極がこの順で設けられてお
り、前記加速陽極に対して負の電位を前記ターゲット陰
極に与え、かつこの電位の値を制御することのできる手
段と、前記イオン生成領域において生成された正イオン
または負イオンを吸引し、このイオンの照射を受けるイ
オン被照射体が設置されるイオン被照射体設置部とが備
えられている電子ビーム励起イオン照射装置によって達
成される。」と訂正する。 (3)同第4頁10行から第4頁15行“イオン生成領
域にふいては、・・・・・・・・・・・・に入射する。 ”を[イオン生成領域においては、流入した電子ビーム
の電流値に比例した数のイオンが発生するが、本発明の
装置においては、第11図に示されるように加速陰極、
加速陽極およびターゲッ’、、”     ) 陰極ニ
よって、ポテンシャルの井戸が形成さ、、9′、 れ、コノポテンシャルの井戸内を電子が往復運・1、 
   動じて、プラズマが効率的に発生される。発生゛
8゛あtl、is 25オフ中。イオ7(よイオ、被照
射体設□−゛置邪によって引き出されて、イオン被照射
体を照射する。イオンのエネルギー(速度)はイオ;1 □    ン被照射体設置部の電位によって制御される
。 イオン生成領域に荷電粒子の横方向の拡散を防ぐマルチ
ポール磁場、ミラー磁場あるいは電位l′    。井
戸を設(す、。と13より効率良くッ、オフ。 ミ′・ )5    発生を行うことができる。」と訂正する。 ′□°□  (4)同第5頁第4行から第5行“導電製
イオン被□、− 士、ン。 照射体設置部である”を[ターゲット陰極の機、、  
fft、*b64 、t y*ff1lJ#RKFif
ATl=6J”1正する。 ゛(5)同第8頁第17行から第19行“第5図は別の
実施例・・・・・・・・・必要はない”を[第5図は、
本発明ではないが、本発明と同じ原理でイオンを放出す
るイオン源の一例を示している。本例においては、試料
設置部4゛は導電性を有している必要はない。」と訂正
する。 (6)同第9頁8行“変化することにより行われる0″
′ □の次に[又、グリッド電極17の電位と試料設置
部4°の電位とを制御することにより、低エネルギーイ
オンを大電流密度で試料に入射することもできる。この
場合の1例になるが、グリッド電極17を浮動電位(常
にイオン生成領域のプラズマ電位より負である。)に保
ち、試料設置部4゛の電位でイオンエネルギーを制御す
  。 ることもできる。」を挿入する。 (7)同第10頁2行から3行“イオン生成領域と試料
室とを”を「第1イオン生成領域と第2イ  ・オン生
成領域に」と訂正する。 (8)同第10頁5行“イオンビーム加速電極”   
□を「2つのターゲット陰極」と訂正する。 (9)同第10頁10行“イオンビーム加速電極21.
22”を「試料設置部4」と訂正する。   □αQ 
同第10頁11行“イオンビーム加速電極”と「ターゲ
ット陰極」と訂正する。 α口 同第1O頁15行1示されるように”と6イオン
源”との間に「イオン生成領域と」を挿入する。 (12)同第10頁17行“メツシュ電極”を「メツシ
ュ電極又は多数の開口部を有する電極」と訂、□ 正する。 ((131同第11頁1行“導電性設置部”を[タープ
′    ット陰極を兼ねる設置部」と訂正する。 □ −t141  同第11頁10行から11行“電子ビー
ム”::    をrイオンビーム」と訂正する。 ゝむ1 、・1、  固 同第11頁18行“電子ビーム”を「
イオン゛(・□   ビーム」と訂正する。 τ ゛(1G  同第12頁1行から3行「さらに、・・・
・・・・・・よ□    い。」を削除し、この部分に
改行して以下の文章を挿入する。 「 第10図は負イオンを照射することのできる実施例
を示す概略図である。イオンと電子とではラーマ−半径
が大きく異なる。このため、外部磁場が印加されている
場合、プラズマから磁力線を横切る方向で電子のラーマ
−半径以上に遠く離れた空間ではイオンのみが存在する
ことになる。本実施例はこのことに基いている。即ち、
試料設置部4は、電子通路部分28から離れて設けられ
ている。この試料設置部4がプラズマ電位(はぼ加速陽
極3の電位と同じ)に対して負の電位のときは、 ゛正
イオンが引き出される。逆に、プラズマ電位に対して正
の電位を有するときは、負イオンが引き出される。」 (17)同第12頁7行ないし9行“また、イオンエネ
ルギー・・・・・・・・・行うことができる。”を削除
する。 (18)同第13頁15行から16行“イオン生成領域
と試料室とを分離した場合”を「ターゲット陰極とイオ
ン被照射体設置部とを別体とした場合」と訂正する。 一旧 同第5頁第40行“概略図である。”の後に以下
の文章を挿入する。 「 第10図は、負イオンを放出することのできる実施
例を示す概略図、 第11図は、本考案の作用を説明する図で′  (イ)
同第14頁第17行“17・・・・・・・・・グリッド
電・   極。”を「17・・・・・・・・・グリッド
電極、21,22□   ・・・・・・・・・ターゲッ
ト陰極。」と訂正する。 □ 211  橢哨−等ヰト、第7図および第9図を別紙の
通り訂正し、第10図右よび第11図を追加する。 特許請求の範囲 (1)  プラズマ領域、加速陰極、電子ビーム加速領
域、加速陽極、イオン生成領域およびターゲット陰極が
この順で設けられており、前記加速陽極に対して負の電
位を前記ターゲット陰極に与え、かつこの電位を制御す
ることのできる手段と、前記イオン生成領域において生
成された正イオンまたは負イオンを吸引し、このイオン
の照射を受けるイオン被照射体が設置されるイオン被照
射体設置部とが備えられている電子ビーム励起イオン照
射装置。 (2)前記ターゲット陰極が前記イオン被照射体設置部
を兼ねていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)
項記載の電子ビーム励起イオン被照射装置。 第7図 第9rI!J 第1O図 第11図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プラズマ領域、加速陰極、電子ビーム加速領域、
    加速陽極、イオン生成領域および導電性イオン被照射体
    設置部がこの順で設けられており、前記導電性イオン被
    照射体設置部と前記加速陽極との間の電圧を制御する手
    段が備えられていることを特徴とする電子ビーム励起イ
    オン照射装置。
  2. (2)プラズマ領域、加速陰極、電子ビーム加速領域、
    加速陽極、イオン生成領域、グリッド電極およびイオン
    被照射体設置部がこの順で設けられており、前記グリッ
    ド電極と前記加速陽極との間の電圧を制御する手段が備
    えられていることを特徴とする電子ビーム励起イオン照
    射装置。
JP60115085A 1985-05-28 1985-05-28 電子ビ−ム励起イオン照射装置 Granted JPS61273840A (ja)

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