JPS6126623B2 - - Google Patents

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JPS6126623B2
JPS6126623B2 JP54044735A JP4473579A JPS6126623B2 JP S6126623 B2 JPS6126623 B2 JP S6126623B2 JP 54044735 A JP54044735 A JP 54044735A JP 4473579 A JP4473579 A JP 4473579A JP S6126623 B2 JPS6126623 B2 JP S6126623B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、血液や尿等の被検液中の所定の物質
を定量分析する自動分析装置に関するものであ
る。
従来、自動分析装置は分析処理スピードを高め
るため、被検液の反応速度を測定して定量分析す
るものが種々提案されている。例えば、特公昭52
−47345号公報には、所定のピツチで移送される
試料の反応ラインに沿つて2個の測光部を離間し
て設け、これら2個の測光部における吸光度の差
を検出して反応速度を測定し、この反応速度に基
いて試料中の所望の物質の定量分析を行なうよう
にした自動分析装置が記載されている。しかし、
このように2個の測光部を設け、各測光部におけ
る吸光度からその変化量を求める場合には、光
源、光電変換素子等を具える測光光学系の特性を
各測光部において等しくなるように調整する必要
があるため、各測光部の構成が複雑になると共
に、2個の測光部を設けることから装置全体が大
形になり、高価となる欠点がある。
一方、同一測光部によつて同一の被検液を複数
回測光する自動分析装置として、遠沈方式を採用
するものがある。この装置は円盤ロータに複数組
の凹みを設け、この凹みに試料と試薬とを分注器
で注入し、遠沈機にかけて数秒後に試料を試薬で
洗い流して移行部の穴から測光部に混合移動して
測光するものである。しかし、この装置では測定
ごとに円盤ロータを交換する手間を必要とすると
共に、多項目を同時に測定することができない欠
点がある。
本発明の目的は、上述した欠点を除去し、簡単
かつ小形に構成することができると共に、多項目
の分析を迅速かつ効率良く行ない得るようにした
自動分析装置を提供せんとするにある。
本発明は、容器に試料および測定項目に応じた
試薬を収容し、この容器中の被検液に対する測定
項目の定量分析を行なう自動分析装置において、
反応ラインに沿つて前記容器を一定時間Hで間欠
的に被検液移送位置へ搬送する容器搬送機構と、
閉じたループに沿つて配置された複数T個の被検
液保持部を被検液収容位置、測光位置、被検液廃
棄位置を経て前記Hより短い一定時間Sで間欠的
に搬送する被検液保持搬送装置と、前記容器搬送
機構により前記被検液移送位置へ搬送された容器
に収容された被検液を前記被検液収容位置にある
被検液保持部へ移送する被検液移送装置と、前記
被検液保持搬送装置により搬送されてきた被検液
を前記測光位置で測光する測光装置と、前記被検
液が少なくとも2回測光位置を通過した後この被
検液を前記廃棄位置で前記被検液保持部から廃棄
する廃棄装置とを具えると共に、前記一定時間
H,Sおよび前記被検液保持部の数Tを前記被検
液移送位置へ搬送されてくる被検液が空の被検液
保持部へ移送されるよう設定したことを特徴とす
るものである。
以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明自動分析装置の一例の構成を示
す線図である。キユベツト1はキユベツト搬送機
構2に保持し、矢印Aで示す直線状の反応ライン
に沿つて一定時間本例ではH=6秒で間欠的に搬
送する。反応ラインAの近傍には試料分注装置3
を設け、採取した各種の試料を収容する試料容器
を保持搬送する図示しないサンプラー機構から試
料を吸引し、これをキユベツト1内に吐出する。
反応ラインAの方向にみて、試料分注装置3の前
方には2つの試薬分注装置4,5を設け、試料を
収容するキユベツト1に測定項目に応じた試薬
を、図示しない複数種の試薬容器からそれぞれ選
択的に分注する。
本例では、試薬分注装置5による試薬分注位置
を被検液移送位置とし、該位置に位置決めされ所
定の試薬の注入によつて作成された被検液を収容
するキユベツト1を、キユベツト移送装置6によ
りキユベツトごとキユベツト保持搬送装置7に移
送する。このキユベツト保持搬送装置7は、本例
では同一円周上に等間隔に設けた29個のキユベツ
ト保持部8を有し、反応ラインAでのキユベツト
の間欠搬送時間Hよりも速い一定時間S、本例で
はS=2秒で矢印Bで示す測光ラインに沿つて、
被検液収容位置、測光位置および廃棄位置を経て
間欠的に回動するよう構成し、被検液収容位置に
おいてキユベツト移送装置6により移送されるキ
ユベツト1を該被検液収容位置にあるキユベツト
保持部8に保持する。また、測光位置には、キユ
ベツト保持部8に保持されたキユベツト1を通し
て当該キユベツトに収容されている被検液の吸光
度を測定する測定装置9を設ける。この測光装置
9は、本例では多色光源10から射出された光を
レンズ11によつて平行光束としてキユベツト1
に投射し、その透過光を測定項目に応じて切り換
え可能に設けた特定の波長の光を透過する干渉フ
イルター12を経て光電変換素子13で受光する
よう構成する。更に、廃棄位置には、キユベツト
廃棄装置14を設け、これにより所定の測光を終
了した被検液をキユベツト1ごとキユベツト保持
部8から選択的に取り外して廃棄する。
次に、第1図に示す自動分析装置の分析動作に
ついて説明する。
反応ラインA上でのキユベツト1は6秒周期で
測光ラインBに間欠的に搬送されてくる。これに
対し、測光ラインBは2秒周期で間欠的に回動し
ている。したがつて、反応ラインA上を順次搬送
されるキユベツト1は、キユベツト移送装置6に
より、測光ラインBのキユベツト保持部8に2個
おきに保持され、29個のキユベツト保持部8全部
にキユベツト1が保持されるまでには、最初に保
持されたキユベツトは測光装置9を58秒間隔で3
回通過することになる。したがつて測光ラインB
上の各キユベツトについて、それぞれの時間間隔
での吸光度差を求めることにより、各被検液中の
所望物質を反応速度に基いて定量分析することが
できる。なお、このように各被検液を3回測光す
る場合には、各被検液について吸光度差を2回測
定することができるが、分析結果は例えば平均吸
光度差あるいはいずれか一方の吸光度差を選択
し、その反応速度に基いて演算することにより求
めることができる。所定の3回の測光を終了した
キユベツト1は、キユベツト廃棄装置14によ
り、キユベツト保持部8から選択的に取り外して
廃棄する。このようにして、反応ラインAからキ
ユベツト移送装置6により順次に移送されるキユ
ベツト1をキユベツト保持搬送装置7のキユベツ
ト保持部8に重複することなく保持することがで
きる。
第1図に示す自動分析装置によれば、1つの測
光装置9によつて各被検液を複数回測光して吸光
度差を検出するものであるから、複数個の測光装
置を設ける場合における測光装置間の調整を必要
としない。したがつて、構成が簡単であると共
に、装置全体を小形にすることができる。また、
反応ラインAおよび測光ラインBがシングルライ
ンであつても、各種の試料について異なる項目の
分析を行なうことができる。更にまた、測光ライ
ンBにおけるキユベツトの搬送速度は、反応ライ
ンAにおけるそれよりも速く、反応ラインAから
のキユベツトを重複することなく測光ラインに移
送することができるから、装置全体が小形であつ
ても処理能力を十分高くすることができる。すな
わち、上述した特公昭52−47345号公報に記載さ
れた自動分析装置におけるように、反応ライン上
で測光しようとすると、被検液の送り速度を吸光
度に差が生じる時間間隔に対応して決定する必要
があり、処理能力を高めるためには測光間隔を長
くとつて被検液の送り速度を速くする必要があ
る。しかし、この場合には処理能力が向上して
も、反応ライン上での測光間隔が長いため、必然
的に装置が大形になると共に、各測光装置の構成
も複雑になる。
以下本発明の変形例について説明する。
第1図では、反応ラインA上の被検液をキユベ
ツト1ごと移送装置6によりキユベツト保持搬送
装置7のキユベツト保持部8に移送保持するよう
にしたが、各キユベツト保持部8に予じめキユベ
ツトを装着しておき、反応ラインA上の被検液の
みを分注装置によつて移送するよう構成すること
もできる。この場合には、第1図においてキユベ
ツト移送装置6の代わりに被検液のみを測光ライ
ンBに移送する分注装置および被検液を移送した
キユベツトを廃棄するキユベツト廃棄装置を設け
ると共に、キユベツト保持搬送装置7の部分に設
けたキユベツト廃棄装置14の代わりに所定回数
の測光を終了したキユベツトを選択的に洗浄して
被検液を廃棄するキユベツト洗浄装置を設ければ
よい。
また、被検液の反応終了後、すなわちエンドポ
イントでの吸光度を測定して所望の物質の定量分
析を行なうこともできる。この場合、第1図にお
いては各被検液は測光装置9を3回通過するか
ら、それぞれの測光時において干渉フイルター1
2を切り換えて複波長法により信頼性の高い分析
を行なうことができる。また、被検液の測光を2
回として2波長法により定量分析するようにし、
2回の測光を終了した後はキユベツトを廃棄し、
3回目の測光において装置のドリフト補正を行な
うよう構成することもできる。このように、測光
と全く同じ光学系でドリフト補正を行なえば、高
精度の分析を行なうことができる。なお、各種の
被検液についてそれぞれ異なる測定項目をエンド
ポイントで分析するためには、それぞれ異なる波
長の光を透過する干渉フイルターの数も多くな
る。この場合には測光装置を複数個設けると共
に、各測光装置にほゞ等分に分割した数の干渉フ
イルターを設け、各被検液について各測光装置の
干渉フイルターを選択的に切り換えるように構成
することもできる。このように複数個の測光装置
を設けたとしても、上述したようなドリフト補正
を各測光装置について行なえば、測光装置間の合
わせを必要としないから、簡単に構成することが
できる。
更に、第1図において測光ラインB上にあるキ
ユベツト1に選択的に所定の試薬を注入する分注
装置を設けて、例えば直接ピリルビンおよび総ピ
リルビンの測定を連続して行なつたり、測定項目
の反応以外を分離し、ブランク補正をして反応速
度からGOTを測定するよう構成することもでき
る。すなわち、従来では直接ピリルビンおよび総
ピリルビンを測定する場合、それぞれ独立のチヤ
ンネルを使用して測定していたため、試料および
試薬が2倍必要であつたが、このように測光ライ
ンBに別に試薬分注装置を設ければ、先ず反応ラ
インA上で試料とジアゾ試薬とを混合した後、こ
れを測光ラインBで1回測光して直接ピリルビン
を測定し、次に測光ラインB上で別に設けた試薬
分注装置によつてメタールを注入して再び測光し
て総ピリルビンを連続して測光することができ
る。このようにすれば、試料および試薬の量も少
なくて済むし、測定した総ピリルビンと直接ピリ
ルビンとの差を演算することにより、間接ピリル
ビンを簡単に求めることができる。また、反応速
度からGOTを測定する場合、従来では試料にR1
(共役酵素、補酵素、緩衝液)とR3(基質液)と
を注入して加温した後R2(基質液)を添加し、
その後の吸光度変化を測定して活性値を求めてい
たが、試料中には種々の成分が含まれ、測定項目
以外の反応が加わることがあつて、必ずしも高精
度の定量分析を行なうことができなかつた。しか
し、上述したように、第1図において測光ライン
Bに別に試薬分注装置を設ければ、測定項目以外
の反応による誤差原因を段階的測定によつて取り
除くことができ、これにより高精度の分析を行な
うことができる。すなわち、反応ラインA上で、
試料にR1を添加して加温した後R2を添加し、こ
れを測光ラインB上で2回測光して吸光度変化Δ
E1を測定し、次に測光ラインB上で別に設けた
試薬分注装置でR3を添加して再び吸光度変化Δ
E2を測定して(ΔE2−ΔE1)を求める。したがつ
て、この場合には合計4回の測光を行なうことに
なるが、このようにすれば測定項目以外の反応に
よる誤差を除去した吸光度変化を求めることがで
きる。なお、R2の添加を測光ラインB上で行な
うこともできる。かかる反応過程の一例を第2図
に示す。
更にまた、第1図では反応ラインAでのキユベ
ツト1の間欠搬送時間をH=6秒、測光ラインB
でのキユベツト1の間欠搬送時間をS=2秒、測
光回数をN=3、キユベツト保持部8の個数すな
わち測光ラインBのキユベツト総数をT=29とす
ることにより、反応ラインAからキユベツト移送
装置6により順次に移送されるキユベツト1を、
キユベツト保持搬送装置7のキユベツト保持部8
に重複することなく移送保持して所望の回数の測
光を行なうように構成したが、前記H,S,Nお
よびTは、例えば以下の関係を満足すれば種々の
変更が可能である。すなわち、 N=H/S,T=C・N+K 但し、H>S,Nは2以上の正の整数、Cは0
を除く正の整数、Kは1,2,…,(N−1)の
整数で、ただし|T−C・N|とNとを素数分解
し、両方に共通な素数が含まれるようなKの値は
除く。
例えば、N=6,C=1とすれば、T=7,
8,9,10,11となるが、|T−C・N|とNと
を素数分解して両方に共通の素数が含まれるよう
な場合を除くと、Kの整数は1または5となる。
したがつて、T=7またはT=11となる。また、
HおよびSはH/Sが6となる値で、任意に設定
することができる。
更にまた、第1図では測光ラインBを円状にし
たが、閉ループであればその形状はいかなるもの
でもよい。
上述したように本発明によれば、簡単かつ小形
な構成により、多項目の分析を迅速かつ効率良く
行ない得る自動分析装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明自動分析装置の一例の構成を示
す線図、第2図は測定項目以外の反応による誤差
原因を除去して吸光度変化を測定する場合の反応
過程の一例を示す線図である。 1……キユベツト、2……キユベツト搬送機
構、3……試料分注装置、4,5……試薬分注装
置、6……キユベツト移送装置、7はキユベツト
保持搬送装置、8……キユベツト保持部、9……
測光装置、10……多色光源、11……レンズ、
12……干渉フイルター、13……光電変換素
子、14……キユベツト廃棄装置、A……反応ラ
イン、B……測光ライン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 容器に試料および測定項目に応じた試薬を収
    容し、この容器中の被検液に対する測定項目の定
    量分析を行なう自動分析装置において、 反応ラインに沿つて前記容器を一定時間Hで間
    欠的に被検液移送位置へ搬送する容器搬送機構
    と、閉じたループに沿つて配置された複数T個の
    被検液保持部を被検液収容位置、測光位置、被検
    液廃棄位置を経て前記Hより短い一定時間Sで間
    欠的に搬送する被検液保持搬送装置と、前記容器
    搬送機構により前記被検液移送位置へ搬送された
    容器に収容された被検液を前記被検液収容位置に
    ある被検液保持部へ移送する被検液移送装置と、
    前記被検液保持搬送装置により搬送されてきた被
    検液を前記測光位置で測光する測光装置と、前記
    被検液が少なくとも2回測光位置を通過した後こ
    の被検液を前記廃棄位置で前記被検液保持部から
    廃棄する廃棄装置とを具えると共に、前記一定時
    間H,Sおよび前記被検液保持部の数Tを前記被
    検液移送位置へ搬送されてくる被検液が空の被検
    液保持部へ移送されるよう設定したことを特徴と
    する自動分析装置。 2 前記被検液移送装置は、前記被検液移送位置
    へ搬送されてきた容器から被検液を前記被検液収
    容位置にある被検液保持部に予め装着された容器
    中へ分注する機構を有することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の自動分析装置。 3 前記被検液移送装置は、前記被検液移送位置
    へ搬送されてきた被検液を収容する容器を前記被
    検液収容位置にある被検液保持部へ移送する機構
    を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の自動分析装置。 4 前記一定時間H,Sおよび前記被検液保持部
    の数Tは、 N=H/S,T=C・N+K (ただし、H>S,Nは各被検液に対する測光回
    数で、2以上の正の整数、Cは自然数、Kは1,
    2,3,……,(N−1)の自然数で|T−C・
    N|とNとの共通な素数を除くものとする。) を満足するよう設定したことを特徴とする特許請
    求の範囲第1,2または3項記載の自動分析装
    置。
JP4473579A 1979-04-12 1979-04-12 Automatic analyzer Granted JPS55136956A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4473579A JPS55136956A (en) 1979-04-12 1979-04-12 Automatic analyzer
US06/138,518 US4311394A (en) 1979-04-12 1980-04-09 Automatic analytical apparatus
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JP4473579A JPS55136956A (en) 1979-04-12 1979-04-12 Automatic analyzer

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Publication Number Publication Date
JPS55136956A JPS55136956A (en) 1980-10-25
JPS6126623B2 true JPS6126623B2 (ja) 1986-06-21

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JP (1) JPS55136956A (ja)
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