JPS61264220A - 密封容器内容量のｘ線検査装置 - Google Patents
密封容器内容量のｘ線検査装置Info
- Publication number
- JPS61264220A JPS61264220A JP60106591A JP10659185A JPS61264220A JP S61264220 A JPS61264220 A JP S61264220A JP 60106591 A JP60106591 A JP 60106591A JP 10659185 A JP10659185 A JP 10659185A JP S61264220 A JPS61264220 A JP S61264220A
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- Japan
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- signal
- filling
- circuit
- vessels
- rays
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、密封容器の内容量のＸ線検査装置に係り、特
に、不良品連続発生検出回路を用いて周期的に液面レベ
ル不良信号が発生するか否かを検知し、充填機不良の早
期発見を可能にする技術に関するものである。
に、不良品連続発生検出回路を用いて周期的に液面レベ
ル不良信号が発生するか否かを検知し、充填機不良の早
期発見を可能にする技術に関するものである。
ビール、ジュース、牛乳、清涼飲料、潤活油。
化粧品、合成洗剤等を高速でパッケージされる製品の液
量検査には、一般に秤量法か打検法が使用されている６
ところが、これでは処理能率が低いため、マスプロライ
ンシステムそのものに大きな影響を与えている。そこで
、この問題を解決するために、ＸＡＲを利用した密封容
器の内容量のＸ線検査装置が開発された。
量検査には、一般に秤量法か打検法が使用されている６
ところが、これでは処理能率が低いため、マスプロライ
ンシステムそのものに大きな影響を与えている。そこで
、この問題を解決するために、ＸＡＲを利用した密封容
器の内容量のＸ線検査装置が開発された。
この密封容器の内容量のＸ線検査装置は、密封容器がコ
ンベアで送られ、検査位置までくると、パルス状のＸ線
が発生し、密封容器に照射される。
ンベアで送られ、検査位置までくると、パルス状のＸ線
が発生し、密封容器に照射される。
密封容器を透過したＸＡｉは、Ｘｍ検出器で検出され、
液面の高さに応じた電流に変えられる。この電流の大小
により、検査中の密封容器の液面が適正か否かを判定し
、不良品はコンベアから圧縮空気で吹き落されるように
なっている。
液面の高さに応じた電流に変えられる。この電流の大小
により、検査中の密封容器の液面が適正か否かを判定し
、不良品はコンベアから圧縮空気で吹き落されるように
なっている。
しかしながら、このような従来の密封容器の内容量のＸ
線検査装置では、例えば、充填機が不良となり、内容物
充填不良の密封容器が連続して発生しても、充填機は密
封容器に内容物を充填し続けるという問題があった。
線検査装置では、例えば、充填機が不良となり、内容物
充填不良の密封容器が連続して発生しても、充填機は密
封容器に内容物を充填し続けるという問題があった。
本発明は、密封容器の内容量のＸ線検査装置において、
密封容器の内容物の液面レベル良否の判定結果の不良信
号が周期的に発生した場合にはインターロック信号ある
いは警報信号を発生させて充填機の充填ヘッド部等の不
良を検出することができる技術を提供することにある。
密封容器の内容物の液面レベル良否の判定結果の不良信
号が周期的に発生した場合にはインターロック信号ある
いは警報信号を発生させて充填機の充填ヘッド部等の不
良を検出することができる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
密封容器の内容物の充填レベルをＸ線によって検出する
密封容器入身検査機器と、該密封容器入身検査機器の出
力に基づいて容器入身の良否を判定して良否判定信号を
発生する良否判定信号発生手段と、該良否判定信号発生
手段の出力が周期的に発生しているか否かを検知し、周
期的に発生している場合にはインターロック信号又は警
報信号を発する手段を設けたことにより、例えば、充填
機内の特定充填ヘッドに不具合が生じていることを検知
できるようにしたものである。
密封容器入身検査機器と、該密封容器入身検査機器の出
力に基づいて容器入身の良否を判定して良否判定信号を
発生する良否判定信号発生手段と、該良否判定信号発生
手段の出力が周期的に発生しているか否かを検知し、周
期的に発生している場合にはインターロック信号又は警
報信号を発する手段を設けたことにより、例えば、充填
機内の特定充填ヘッドに不具合が生じていることを検知
できるようにしたものである。
以下、本発明の構成について一実施例とともに図面を用
いて説明する。
いて説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。
第１図乃至第４図は、本発明の一実施例の密封容器内容
量のＸ線検査装置を説明するための図であり、第１図は
１本実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の不良品連
続発生検出回路の概略構成を示すブロック図、第２図は
、密封容器マスプロラインシステムにおける密封容器内
容量のＸ線検査装置の配置を示す平面図、第３図は、本
実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の概略構成を示
すブロック図、第４図は、第１図の不良品連続発生検出
回路の動作を説明するためのタイムチャートである。
量のＸ線検査装置を説明するための図であり、第１図は
１本実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の不良品連
続発生検出回路の概略構成を示すブロック図、第２図は
、密封容器マスプロラインシステムにおける密封容器内
容量のＸ線検査装置の配置を示す平面図、第３図は、本
実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の概略構成を示
すブロック図、第４図は、第１図の不良品連続発生検出
回路の動作を説明するためのタイムチャートである。
密封容器のマスプロラインシステムは、第２図に示すよ
うに、回転する複数の充填ヘッド４を有する充填機２に
対して容器３が充填ヘッド４の位置から順次供給される
。この位置から充填ヘッド４が回転しながら容器３に内
容物を充填した後、密封装置５で容器３は密封されろ。
うに、回転する複数の充填ヘッド４を有する充填機２に
対して容器３が充填ヘッド４の位置から順次供給される
。この位置から充填ヘッド４が回転しながら容器３に内
容物を充填した後、密封装置５で容器３は密封されろ。
本実施例の密封容器内容量のＸ線検査袋ｆｆｌ！１は、
この密封された容器３Ａが矢印方向に搬送コンベア６に
より流れてくる場所に設置されている。
この密封された容器３Ａが矢印方向に搬送コンベア６に
より流れてくる場所に設置されている。
前記密封容器内容量のＸ線検査装置１は、第３図に示す
ように、密封容器３Ａが搬送コンベア６で送られ、検査
位置までくると、フォトセンサ等からなる位置検出器７
の光線をさえぎって、検査開始の信号を演算器８に送る
ようになっている。
ように、密封容器３Ａが搬送コンベア６で送られ、検査
位置までくると、フォトセンサ等からなる位置検出器７
の光線をさえぎって、検査開始の信号を演算器８に送る
ようになっている。
前記検査開始信号によってＸ線制御器９を介してＸ線発
生器１０からパルス状のＸ線が発生し、密封容器３Ａに
照射される。密封容器３Ａを透過したＸ線は、差動イオ
ン槽等のｘｉ検出器１１で液面の高さに応じた電流に変
えられるようになっている。この電流の大小により、演
算器８で検査中の密封容器３Ａの液面が適正か否かを判
定する。
生器１０からパルス状のＸ線が発生し、密封容器３Ａに
照射される。密封容器３Ａを透過したＸ線は、差動イオ
ン槽等のｘｉ検出器１１で液面の高さに応じた電流に変
えられるようになっている。この電流の大小により、演
算器８で検査中の密封容器３Ａの液面が適正か否かを判
定する。
密封容器３Ａが検査位置を離れると１位置検出器７の受
光部に光線が入射し、検査終了の信号が前記演算器８に
送られ、この検査終了信号によりＸ線の発生が停止され
るようになっている。一方、それと同時に検査匍間中に
演算器８によって密封容器３Ａ内の液面が゛不良″と判
断された場合は演算器８から高速′ｒ＃、磁弁１２に信
号が送られ、不良密封容器３Ａは、圧縮空気溜１３から
の圧縮空気により搬送コンベア６から吹き落されるよう
になっている。１４は電源回路、１５は不良品連続発生
検出回路であり、前記演算器８の出力である良否判定信
号が周期的に発生しているか否かを検知し１周期的に発
生している場合にはインターロック信号又は警報信号を
発生するものである。
光部に光線が入射し、検査終了の信号が前記演算器８に
送られ、この検査終了信号によりＸ線の発生が停止され
るようになっている。一方、それと同時に検査匍間中に
演算器８によって密封容器３Ａ内の液面が゛不良″と判
断された場合は演算器８から高速′ｒ＃、磁弁１２に信
号が送られ、不良密封容器３Ａは、圧縮空気溜１３から
の圧縮空気により搬送コンベア６から吹き落されるよう
になっている。１４は電源回路、１５は不良品連続発生
検出回路であり、前記演算器８の出力である良否判定信
号が周期的に発生しているか否かを検知し１周期的に発
生している場合にはインターロック信号又は警報信号を
発生するものである。
この不良品連続発生検出回路１５の具体的な回路構成を
第１図に示す。
第１図に示す。
第１図において、２１はタイミング設定回路であり、カ
ウンタ回路のリセット動作を確実に行なうためのタイミ
ングをとる回路である。このタイミング設定回路２１は
１例えば単安定マルチ回路を用いる。２２はフリップフ
ロップ回路、２３はカウンタ回路をリセットするための
アンドゲート回路、２４はカウントのためのアンドゲー
ト回路。
ウンタ回路のリセット動作を確実に行なうためのタイミ
ングをとる回路である。このタイミング設定回路２１は
１例えば単安定マルチ回路を用いる。２２はフリップフ
ロップ回路、２３はカウンタ回路をリセットするための
アンドゲート回路、２４はカウントのためのアンドゲー
ト回路。
２５はカウンタ回路であり、アップカウント型あるいは
ダウンカウント型いずれのカウンタ回路であってもよい
。２６は任意の充填ヘッド数にカウンタ回路２５を対応
させるためのカウント数プリセット回路、２７はインタ
ーロックのアンドゲート回路、２８はインターロック回
路であり１例えば、リレー回路、オープンコレクタ駆動
のインバータ回路、トランジスタ回路等を用いる。
ダウンカウント型いずれのカウンタ回路であってもよい
。２６は任意の充填ヘッド数にカウンタ回路２５を対応
させるためのカウント数プリセット回路、２７はインタ
ーロックのアンドゲート回路、２８はインターロック回
路であり１例えば、リレー回路、オープンコレクタ駆動
のインバータ回路、トランジスタ回路等を用いる。
第４図において、（ｓ）は容器検出信号、（、）は容器
検出パ始″信号、（ｂ）は演算器８からの不良信号、（
Ｃ）はタイミング信号、（ｄ）はフリップフロップ回路
２２の出力信号であり、不良信号発生の時ハイレベル（
Ｈ）となる。（ｅ）はフリップフロップ回路２２の出力
信号（ｄ）の裏返し信号である。
検出パ始″信号、（ｂ）は演算器８からの不良信号、（
Ｃ）はタイミング信号、（ｄ）はフリップフロップ回路
２２の出力信号であり、不良信号発生の時ハイレベル（
Ｈ）となる。（ｅ）はフリップフロップ回路２２の出力
信号（ｄ）の裏返し信号である。
（ｆ）はカウンタ回路２５のリセット信号、（ｇ）はカ
ウンタ回路２５のカウント信号、（ｈ）はカウンタ回路
２５のプリセット信号であり、例えば、本実施例ではカ
ウント値”１００”にセットしである。
ウンタ回路２５のカウント信号、（ｈ）はカウンタ回路
２５のプリセット信号であり、例えば、本実施例ではカ
ウント値”１００”にセットしである。
（ｉ）はカウンタ回路２５のカウントアツプ信号、（ｊ
）ゲート回路２７の出力信号（インターロック信号）、
（ｋ）はインターロック回路２８の出力信号である。
）ゲート回路２７の出力信号（インターロック信号）、
（ｋ）はインターロック回路２８の出力信号である。
次に、前記不良品連続発生検出回路１５の動作を説明す
る。
る。
前記密封容器内容量のＸ線検査装置１は、密封容器３Ａ
が搬送用コンベア６上を流れてくると、位置検出器７に
より、密封容器３Ａが検査位置にきたことが密封容器３
Ａ毎に検出されて容器検出″始″信号（ａ）が出力され
、第１図に示すように、アンドゲート回路２４に入力さ
れる。また、前記演算器８の液量判定結果が不良とでた
場合、容器検出″゛終″信号のタイミングで不良信号（
ｂ）が発生されて、不良品連続発生検出回路１５のタイ
ミング設定回路２１．アンドゲート回路２３．アンドゲ
ート回路２７に入力される。
が搬送用コンベア６上を流れてくると、位置検出器７に
より、密封容器３Ａが検査位置にきたことが密封容器３
Ａ毎に検出されて容器検出″始″信号（ａ）が出力され
、第１図に示すように、アンドゲート回路２４に入力さ
れる。また、前記演算器８の液量判定結果が不良とでた
場合、容器検出″゛終″信号のタイミングで不良信号（
ｂ）が発生されて、不良品連続発生検出回路１５のタイ
ミング設定回路２１．アンドゲート回路２３．アンドゲ
ート回路２７に入力される。
これにより、タイミング設定回路２１によりタイミング
信号（Ｃ）（通常１〜２ ｔａｓｅｃ程度の時間でよい
）が発生され、このタイミング信号（ｅ）によりフリッ
プフロップ回路２２がセットされる。このフリップフロ
ップ回路２２の出力信号（８）によりアンドゲート回路
２３を一瞬開いてカウンタ回路２５のリセット信号（ｆ
）が出力されて閉じられる。これにより一連の信号処理
が完了しないとその後の不良信号は受付けない。前記リ
セット信号（ｆ）によりカウンタ回路２５がリセットさ
れると同時にプリセット回路２６で設定されたプリセッ
ト信号（ｈ）が読み取られる。このプリセット信号（ｈ
）は、本実施例では、”１００”をプリセットしている
が、この値は充填機の充填ヘッド数に対応した任意の値
をセットすることができる。そして、同時に信号（ｄ）
によりアンドゲート回路２４が開き、信号（ｇ）が発生
されてカウンタ回路２５に入力され、カウントが開始さ
れる。
信号（Ｃ）（通常１〜２ ｔａｓｅｃ程度の時間でよい
）が発生され、このタイミング信号（ｅ）によりフリッ
プフロップ回路２２がセットされる。このフリップフロ
ップ回路２２の出力信号（８）によりアンドゲート回路
２３を一瞬開いてカウンタ回路２５のリセット信号（ｆ
）が出力されて閉じられる。これにより一連の信号処理
が完了しないとその後の不良信号は受付けない。前記リ
セット信号（ｆ）によりカウンタ回路２５がリセットさ
れると同時にプリセット回路２６で設定されたプリセッ
ト信号（ｈ）が読み取られる。このプリセット信号（ｈ
）は、本実施例では、”１００”をプリセットしている
が、この値は充填機の充填ヘッド数に対応した任意の値
をセットすることができる。そして、同時に信号（ｄ）
によりアンドゲート回路２４が開き、信号（ｇ）が発生
されてカウンタ回路２５に入力され、カウントが開始さ
れる。
カウント数がプリセット値”ｔｏｏ”になると、カウン
トアツプ信号（ｉ）が発生し、アンドゲート回路２７を
次の容器がくるまで開き、同時にフリップフロップ回路
２２がリセットされる。この状態でカウントを開始して
１００個目の容器（不良信号を出した充填ヘッドで充填
された容器：第４図のタイムチャートでは容器検出信号
パ１′″）で再び不良信号が発生すると、インターロッ
ク信号（ｊ）が発生される。
トアツプ信号（ｉ）が発生し、アンドゲート回路２７を
次の容器がくるまで開き、同時にフリップフロップ回路
２２がリセットされる。この状態でカウントを開始して
１００個目の容器（不良信号を出した充填ヘッドで充填
された容器：第４図のタイムチャートでは容器検出信号
パ１′″）で再び不良信号が発生すると、インターロッ
ク信号（ｊ）が発生される。
インターロック信号（ｊ）はインターロック回路２８を
介してインターロック出力（ｋ）としてユーザに供給さ
れる。
介してインターロック出力（ｋ）としてユーザに供給さ
れる。
カウントを開始してから設定した値で不良信号（ｂ）が
発生しなかった場合には、次に発生する不良信号（ｂ）
から一連の信号処理を開始する。笠間 。
発生しなかった場合には、次に発生する不良信号（ｂ）
から一連の信号処理を開始する。笠間 。
隔（つまり設定した値毎）で不良信号が発生しなければ
インターロック信号は発生しない。
インターロック信号は発生しない。
以上、本発明を実施例にもとずき具体的に説明したが１
本発明は、前記実施例に限定されるものでなく、その要
旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは
言うまでもない。
本発明は、前記実施例に限定されるものでなく、その要
旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは
言うまでもない。
以上説明したように、本発明によれば、不良品連続発生
検出回路を設けることにより、液量不良の容器が検査さ
れた場合、その液量不良が充填機のある限られた充填ヘ
ッド部等により発生しているか否かを検知できるので、
充填機等の不具合の早期発見並びに生産効率の向上をは
かることができる。
検出回路を設けることにより、液量不良の容器が検査さ
れた場合、その液量不良が充填機のある限られた充填ヘ
ッド部等により発生しているか否かを検知できるので、
充填機等の不具合の早期発見並びに生産効率の向上をは
かることができる。
第１図乃至第４図は５本発明の一実施例の密封容器内容
物のＸ線検査装置を説明するための図であり。 第１図は１本実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の
不良品連続発生検出回路の概略構成を示すブロック図。 第２図は、密封容器マスプロラインシステムにおける密
封容器内容量のＸ線検査装置の配置を示す平面図、 第３図は、本実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の
概略構成を示すブロック図、 第４図は、第１図の不良品連続発生検出回路の動作を説
明するためのタイムチャートである。 図中、１５・・・不良品連続発生検出回路、２１・・・
タイミング設定回路、２２・・・フリップフロップ回路
、２３・・・アンドゲート回路、２４・・・アンドゲー
ト回路、２５・・・カウンタ回路、２６・・・カウント
数プリセット回路、２７・・・アンドゲート回路、２８
・・・インターロック回路である。
物のＸ線検査装置を説明するための図であり。 第１図は１本実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の
不良品連続発生検出回路の概略構成を示すブロック図。 第２図は、密封容器マスプロラインシステムにおける密
封容器内容量のＸ線検査装置の配置を示す平面図、 第３図は、本実施例の密封容器内容量のＸ線検査装置の
概略構成を示すブロック図、 第４図は、第１図の不良品連続発生検出回路の動作を説
明するためのタイムチャートである。 図中、１５・・・不良品連続発生検出回路、２１・・・
タイミング設定回路、２２・・・フリップフロップ回路
、２３・・・アンドゲート回路、２４・・・アンドゲー
ト回路、２５・・・カウンタ回路、２６・・・カウント
数プリセット回路、２７・・・アンドゲート回路、２８
・・・インターロック回路である。
Claims (1)
- 密封容器の内容物の充填レベルをＸ線によって検出する
密封容器入身検査機器と、該密封容器入身検査機器の出
力に基づいて容器入身の良否を判定して良否判定信号を
発生する良否判定信号発生手段と、該良否判定信号発生
手段の出力が周期的に発生しているか否かを検知し、周
期的に発生している場合にはインターロック信号又は警
報信号を発する手段を具備したことを特徴とする密封容
器内容量のＸ線検査装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60106591A JPS61264220A (ja) | 1985-05-18 | 1985-05-18 | 密封容器内容量のｘ線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60106591A JPS61264220A (ja) | 1985-05-18 | 1985-05-18 | 密封容器内容量のｘ線検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61264220A true JPS61264220A (ja) | 1986-11-22 |
| JPH0521411B2 JPH0521411B2 (ja) | 1993-03-24 |
Family
ID=14437420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60106591A Granted JPS61264220A (ja) | 1985-05-18 | 1985-05-18 | 密封容器内容量のｘ線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61264220A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006214725A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-08-17 | Hitachi Ltd | Ｘ線液面検査装置 |
| CN103754580A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-30 | 楚天科技股份有限公司 | 用于输出单列连续瓶体的星轮出瓶装置的初始化方法 |
| JP2020052027A (ja) * | 2018-09-26 | 2020-04-02 | テスト リサーチ， インク． | 光学検出設備 |
-
1985
- 1985-05-18 JP JP60106591A patent/JPS61264220A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006214725A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-08-17 | Hitachi Ltd | Ｘ線液面検査装置 |
| CN103754580A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-30 | 楚天科技股份有限公司 | 用于输出单列连续瓶体的星轮出瓶装置的初始化方法 |
| CN103754580B (zh) * | 2013-12-31 | 2015-12-02 | 楚天科技股份有限公司 | 用于输出单列连续瓶体的星轮出瓶装置的初始化方法 |
| JP2020052027A (ja) * | 2018-09-26 | 2020-04-02 | テスト リサーチ， インク． | 光学検出設備 |
| TWI704336B (zh) * | 2018-09-26 | 2020-09-11 | 德律科技股份有限公司 | 光學檢測設備 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0521411B2 (ja) | 1993-03-24 |
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