JPS61260155A - 溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を測定する装置 - Google Patents
溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を測定する装置Info
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- JPS61260155A JPS61260155A JP60101372A JP10137285A JPS61260155A JP S61260155 A JPS61260155 A JP S61260155A JP 60101372 A JP60101372 A JP 60101372A JP 10137285 A JP10137285 A JP 10137285A JP S61260155 A JPS61260155 A JP S61260155A
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- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
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- G01N27/406—Cells and probes with solid electrolytes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本願発明は、溶融金属中に溶けている金属元素例えば、
St、Mn、Cr、Aj、Tin Vその他の元素の
量を電気化学的に測定する装置に関する。
St、Mn、Cr、Aj、Tin Vその他の元素の
量を電気化学的に測定する装置に関する。
金属の溶融精練においては、その精練対象金属例えば鉄
1w4.亜鉛、鉛などに溶けている各種の金属元素の量
を迅速に計測することが必要とされる場合が多い。
1w4.亜鉛、鉛などに溶けている各種の金属元素の量
を迅速に計測することが必要とされる場合が多い。
溶融金属中の酸素量の測定については1部分安定化また
は安定化二酸化ジルコニウムを電解質とした濃淡電池が
よく知られている。このような濃淡電池による酸素セン
サーに関しては多くの研究がなされ、その改善に関する
極めて多数の提案がなされている。
は安定化二酸化ジルコニウムを電解質とした濃淡電池が
よく知られている。このような濃淡電池による酸素セン
サーに関しては多くの研究がなされ、その改善に関する
極めて多数の提案がなされている。
また溶融金属中の硫黄量を濃淡電池の原理で測定するこ
とが例えば特開昭58−189553号公報に提案され
ている。
とが例えば特開昭58−189553号公報に提案され
ている。
しかし、溶融金属中に溶けている酸素や硫黄以外の金属
元素の含有量については、もっばら精練過程の溶融金属
の一部をサンプリングし、その試料を化学分析または機
器分析に供してその含有量を調べるよりほかはなかった
。
元素の含有量については、もっばら精練過程の溶融金属
の一部をサンプリングし、その試料を化学分析または機
器分析に供してその含有量を調べるよりほかはなかった
。
精練過程中でその精練金属の一部をサンプリングしこれ
を化学分析または機器分析に供する測定法は、その測定
操作や測定時間の短縮に改善が加えられつつあるとして
も、なお、サンプリングから測定結果が出る時点までの
間には成る程度の時間を必要とする。したがって、その
測定結果が得られたときには、その値は成る時間前の値
を知ることになる。このため、その測定値により次の操
作を行うことが必要とされる場合には、その測定結果が
出るまでその操作を中断することも余儀無くされる。ま
た、サンプリングから測定結果が出るまでの時間帯にお
いても精練反応を続行させている場合には、その測定結
果から現時点の値を推定することが必要とされ、現時点
の実値との間に誤差が生ずるおそれがある。
を化学分析または機器分析に供する測定法は、その測定
操作や測定時間の短縮に改善が加えられつつあるとして
も、なお、サンプリングから測定結果が出る時点までの
間には成る程度の時間を必要とする。したがって、その
測定結果が得られたときには、その値は成る時間前の値
を知ることになる。このため、その測定値により次の操
作を行うことが必要とされる場合には、その測定結果が
出るまでその操作を中断することも余儀無くされる。ま
た、サンプリングから測定結果が出るまでの時間帯にお
いても精練反応を続行させている場合には、その測定結
果から現時点の値を推定することが必要とされ、現時点
の実値との間に誤差が生ずるおそれがある。
本発明はこのような問題を解決することを目的としたも
ので、既述の酸素センサーと同様な処方で、溶融金属中
に溶けている酸素以外の元素の量を電気的に測定する装
置を提供しようとするものである。
ので、既述の酸素センサーと同様な処方で、溶融金属中
に溶けている酸素以外の元素の量を電気的に測定する装
置を提供しようとするものである。
本発明に従う溶融金属中に溶けている金属元素の濃度測
定装置は。
定装置は。
少なくとも部分的に安定化された二酸化ジルコニウムか
らなる固体電解質の層と。
らなる固体電解質の層と。
この固体電解質層の内表面に接してセントされた所定の
酸素ポテンシャルを与える基準極と。
酸素ポテンシャルを与える基準極と。
この基準極と溶融金属との間の電位差を計測するための
電位差測定手段と、そして。
電位差測定手段と、そして。
該固体電解質の溶融金属と接することになる外表面に接
してこの固体電解質に支持された。測定目的元素の固体
酸化物からなる副電極、または。
してこの固体電解質に支持された。測定目的元素の固体
酸化物からなる副電極、または。
該固体電解質の溶融金属と接することになる外表面と僅
かな距離を離して設置された。測定目的元素の固体酸化
物からなる副電極と。
かな距離を離して設置された。測定目的元素の固体酸化
物からなる副電極と。
から実質的に構成される。
本発明においては、溶融金属中に溶けている各種の元素
のうち酸素以外の元素であって且つその溶融金属の温度
において固体の酸化物を形成することができる元素を対
象とする。従って、従来より行われていた溶融金属中の
酸素濃度の測定は本発明の対象外であり、また溶融金属
の温度において通常は固体の酸化物を形成することがな
い炭素や硫黄などの元素も測定対象外である0本発明は
従来まったくその例を見ない、溶融金属中に溶けている
金属元素例えばS r + M n 、Cr + A
J! ) T i +Vその他の金属元素の量を直接的
に検出するものである。
のうち酸素以外の元素であって且つその溶融金属の温度
において固体の酸化物を形成することができる元素を対
象とする。従って、従来より行われていた溶融金属中の
酸素濃度の測定は本発明の対象外であり、また溶融金属
の温度において通常は固体の酸化物を形成することがな
い炭素や硫黄などの元素も測定対象外である0本発明は
従来まったくその例を見ない、溶融金属中に溶けている
金属元素例えばS r + M n 、Cr + A
J! ) T i +Vその他の金属元素の量を直接的
に検出するものである。
本発明装置を構成する要素のうち、固体電解質。
基準極、および電位差測定手段は、従来の酸素センサー
に使用されていたものを利用することができる0本発明
装置の最も特徴的な要素は副電極である。
に使用されていたものを利用することができる0本発明
装置の最も特徴的な要素は副電極である。
溶融金属中の測定目的元素濃度或いは活量を濃淡電池に
よって測定するには、測定目的元素のイオン電導体の電
解質を必要とすると考えるのが最も常識的である0本発
明はかような常識に反し。
よって測定するには、測定目的元素のイオン電導体の電
解質を必要とすると考えるのが最も常識的である0本発
明はかような常識に反し。
測定目的元素イオンの電導体の固体電解質を用いないで
溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を瞬間的に測定
する新規な処方を提供するものである。すなわち、固体
電解質として、酸素センサーに常用されているような少
な(とも部分的に安定化された二酸化ジルコニウムから
なる固体電解質を使用する。これは酸素イオンの電導体
であって金属イオンの電導体ではない、そして、溶融金
属中の測定目的元素の活量を本発明に従う副電極によっ
て酸素ポテンシャルに変換し、この酸素ボテンシャルを
通常の酸素濃淡電池によって計測する。
溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を瞬間的に測定
する新規な処方を提供するものである。すなわち、固体
電解質として、酸素センサーに常用されているような少
な(とも部分的に安定化された二酸化ジルコニウムから
なる固体電解質を使用する。これは酸素イオンの電導体
であって金属イオンの電導体ではない、そして、溶融金
属中の測定目的元素の活量を本発明に従う副電極によっ
て酸素ポテンシャルに変換し、この酸素ボテンシャルを
通常の酸素濃淡電池によって計測する。
したがって本発明においては、従来より溶融金属中の酸
素濃度を測定するのに使用されている酸素センサー(酸
素濃淡電池)をそのまま利用することが可能である。す
なわち9本発明に従って溶融金属中の金属元素濃度を測
定するには、少なくとも部分的に安定化された二酸化ジ
ルコニウムからなる固体電解質の層と、この固体電解質
層の内表面に接してセントされた所定の酸素ポテンシャ
ルを与える基準極と、そして、この基準極と溶融金属と
の間の電位差を計測するための電位差測定手段と、を備
えた電位差測定装置を用いて、これを行うことができる
。
素濃度を測定するのに使用されている酸素センサー(酸
素濃淡電池)をそのまま利用することが可能である。す
なわち9本発明に従って溶融金属中の金属元素濃度を測
定するには、少なくとも部分的に安定化された二酸化ジ
ルコニウムからなる固体電解質の層と、この固体電解質
層の内表面に接してセントされた所定の酸素ポテンシャ
ルを与える基準極と、そして、この基準極と溶融金属と
の間の電位差を計測するための電位差測定手段と、を備
えた電位差測定装置を用いて、これを行うことができる
。
なお、上述したような原理によって金属元素濃度を測定
する際に用いる固体電解質としては、副電極によって変
換された酸素ポテンシャルを測定できる酸素イオンの電
導体であれば何でもよく。
する際に用いる固体電解質としては、副電極によって変
換された酸素ポテンシャルを測定できる酸素イオンの電
導体であれば何でもよく。
例えばY、0.を固溶したTh1sなどでもよい。
本発明において使用する副電極は、この副電極の周囲に
、一般式が nM +sO= Mn0m ・ ・+
11M;溶融金属中の測定目的元素 0;溶融金属中の酸素 n、−:整数 M n O論 ;Mの安定な酸化物 で表わされる化学平衡を成立させることができるような
純粋なMn0−またはMn0−を含む固体酸化物である
。溶融金属中においてこの化学平衡が成立しているであ
ろう帯域を本明細書では“重化学平衡帯域”と呼ぶ。
、一般式が nM +sO= Mn0m ・ ・+
11M;溶融金属中の測定目的元素 0;溶融金属中の酸素 n、−:整数 M n O論 ;Mの安定な酸化物 で表わされる化学平衡を成立させることができるような
純粋なMn0−またはMn0−を含む固体酸化物である
。溶融金属中においてこの化学平衡が成立しているであ
ろう帯域を本明細書では“重化学平衡帯域”と呼ぶ。
測定目的元素Mが例えば、 Sl、 Mn、 Cr
、 All。
、 All。
TiまたはV等の金属元素である場合には、M n O
mは。
mは。
Sing + MnO,CrzOs、AjiroslT
iltまたはV t Osなどの固体酸化物である。こ
の場合、各酸化物Mn0−としては純粋なものを用いる
こともできるが、Mn0−よりも安定な他の酸化物と混
合されていてもよいし、或いはかような他の酸化物と結
合したコンパウンドを形成していてもよい。
iltまたはV t Osなどの固体酸化物である。こ
の場合、各酸化物Mn0−としては純粋なものを用いる
こともできるが、Mn0−よりも安定な他の酸化物と混
合されていてもよいし、或いはかような他の酸化物と結
合したコンパウンドを形成していてもよい。
例えば、Slが測定目的元素である場合に、このsi濃
度測定用の副電極を構成する材料として。
度測定用の副電極を構成する材料として。
Zr0gとZr0t・5ift (Zr5iO4)の2
相共存混合物を使用することができる。
相共存混合物を使用することができる。
本発明者らは、このようなM n Omの活量を一定に
できる副電極を溶融金属中に置き、この副電極の周囲に
既述の重化学平衡帯域を形成させ、そ、して、この重化
学平衡帯域での酸素ポテンシャルを酸素濃淡電池の原理
によって検出すると、この検出値からMの濃度を求める
ことができることを見出した。すなわち測定目的元素M
を含有する溶融金属中にM n O−の活量を一定工す
る固体の副電極を置き、この副電極の周囲に(溶融金属
中のMの活量(apl)”)X(溶融金属中の酸素の活
量(a、)’ )が実質上一定となる重化学平衡帯域を
形成させ、この重化学平衡帯域に前記の固体電解質の外
表面を接触させると2この固体電解質によって検出され
る電位差は溶融金属中の測定目的元素の濃度に実質上対
応するという極めて興味深い事実を見出した。
できる副電極を溶融金属中に置き、この副電極の周囲に
既述の重化学平衡帯域を形成させ、そ、して、この重化
学平衡帯域での酸素ポテンシャルを酸素濃淡電池の原理
によって検出すると、この検出値からMの濃度を求める
ことができることを見出した。すなわち測定目的元素M
を含有する溶融金属中にM n O−の活量を一定工す
る固体の副電極を置き、この副電極の周囲に(溶融金属
中のMの活量(apl)”)X(溶融金属中の酸素の活
量(a、)’ )が実質上一定となる重化学平衡帯域を
形成させ、この重化学平衡帯域に前記の固体電解質の外
表面を接触させると2この固体電解質によって検出され
る電位差は溶融金属中の測定目的元素の濃度に実質上対
応するという極めて興味深い事実を見出した。
より具体的に説明すると、(l)式の成る温度における
平衡定数には。
平衡定数には。
aN*0+e
(ax)”(as)”
a Ma(1m :副電極中のM n O−の活量〔
a6〕^ ;溶融金属中のMの活量 (3,)@;溶融金属中の0の活量 で表される。ここで、純粋なM n O−を副電極とし
て用いる場合にはその活量は1であり、また。
a6〕^ ;溶融金属中のMの活量 (3,)@;溶融金属中の0の活量 で表される。ここで、純粋なM n O−を副電極とし
て用いる場合にはその活量は1であり、また。
M n O−を含む固体酸化物を副電極として用いる場
合にはその活量は1より小さな値となる。しかし、いず
れの場合も、MnO■の活量を一定とすることが可能で
あり・+ aM、losが一定であれば、固体酸化物
の表面近傍では1次の+31式が成立することになる。
合にはその活量は1より小さな値となる。しかし、いず
れの場合も、MnO■の活量を一定とすることが可能で
あり・+ aM、losが一定であれば、固体酸化物
の表面近傍では1次の+31式が成立することになる。
K’ −II (Jls )穐x(as)鞠 ・
・(3)K゛は温度のみの関数であるから、ある一定の
温度においては一定値となる。したがって、この帯域の
〔a、〕―を酸素センサーで測定すれば。
・(3)K゛は温度のみの関数であるから、ある一定の
温度においては一定値となる。したがって、この帯域の
〔a、〕―を酸素センサーで測定すれば。
この帯域の測定目的元素Mの活量〔a、l)+1が求め
られる。
られる。
この求められた測定目的元素Mの活量(a、I)’″値
はあくまで重化学平衡帯域でのMの活量である筈である
。ところが、この重化学平衡帯域でのMの活量は溶融金
属中のバルク中のM濃度に実質上対応することがわかっ
た。
はあくまで重化学平衡帯域でのMの活量である筈である
。ところが、この重化学平衡帯域でのMの活量は溶融金
属中のバルク中のM濃度に実質上対応することがわかっ
た。
このことは次のように考えられる。1融金属中の酸素量
は9通常は酸化しゃすいMが存在する場合には、そのM
量に比べて通常は非常に低い値となっているのが通常で
ある。したがって、この重化学平衡帯域における酸素ポ
テンシャルはこの帯域における酸素濃度が僅かに変化し
ただけでも変化し得るのに対し、この帯域のMのポテン
シャルはMの濃度が相当大きく変化しなければ変化し得
ないという現象が存在すると考えられる0例えば測定目
的元素濃度が0.01%以上といった溶銑ではその酸素
濃度は数pp■のオーダーであり、かような溶銑中に前
記のように局部的な重化学平衡帯域を形成させた場合に
は、この帯域中においてそのMの濃度は変化したとして
もそれは相対的には極めて僅かであるのに対し、その酸
素ポテンシャルの変化量は十分な測定可能範囲の幅をも
うて変動することになり5 したがって、この帯域を形
成したことによる酸素ポテンシャルの変動値はこの帯′
域中のMの濃度つまりこれと濃度が実質上等しい溶銑中
のMの濃度と対応させることができることになる。
は9通常は酸化しゃすいMが存在する場合には、そのM
量に比べて通常は非常に低い値となっているのが通常で
ある。したがって、この重化学平衡帯域における酸素ポ
テンシャルはこの帯域における酸素濃度が僅かに変化し
ただけでも変化し得るのに対し、この帯域のMのポテン
シャルはMの濃度が相当大きく変化しなければ変化し得
ないという現象が存在すると考えられる0例えば測定目
的元素濃度が0.01%以上といった溶銑ではその酸素
濃度は数pp■のオーダーであり、かような溶銑中に前
記のように局部的な重化学平衡帯域を形成させた場合に
は、この帯域中においてそのMの濃度は変化したとして
もそれは相対的には極めて僅かであるのに対し、その酸
素ポテンシャルの変化量は十分な測定可能範囲の幅をも
うて変動することになり5 したがって、この帯域を形
成したことによる酸素ポテンシャルの変動値はこの帯′
域中のMの濃度つまりこれと濃度が実質上等しい溶銑中
のMの濃度と対応させることができることになる。
本発明において使用する副電極は、前記の式で表される
ような平衡を溶融金属中において局部的に形成できるも
のであればよく、最も簡単には純粋なMn0mの固体で
あればよいことになるが。
ような平衡を溶融金属中において局部的に形成できるも
のであればよく、最も簡単には純粋なMn0mの固体で
あればよいことになるが。
実際には1Mの種類によっては、Mn0m単独では溶融
金属に浸漬したときに融解したり表面形態が変化したり
するおそれがあること、さらには。
金属に浸漬したときに融解したり表面形態が変化したり
するおそれがあること、さらには。
この副電極の接触して固体電解質(安定化二酸化ジルコ
ニウム)を置く場合には、この固体電解質と副電極との
密着性などとの関係から、Mn0mを他の酸化物で固定
したものを使用するのが好ましい、すなわち、この副電
極は溶融金属中においてM n Omの活量を一定にさ
えできればよいのであり、MnO+wとM n Omよ
り安定な他の酸化物とのコンパウンドや混合物さらには
他の酸化物との固溶体などであってもよい。
ニウム)を置く場合には、この固体電解質と副電極との
密着性などとの関係から、Mn0mを他の酸化物で固定
したものを使用するのが好ましい、すなわち、この副電
極は溶融金属中においてM n Omの活量を一定にさ
えできればよいのであり、MnO+wとM n Omよ
り安定な他の酸化物とのコンパウンドや混合物さらには
他の酸化物との固溶体などであってもよい。
本発明装置における副電極は、固体電解質の溶融金属と
接触することになる外表面に接してこの固体電解質に支
持させてもよいし、または固体電解質の溶融金属と接す
ることになる外表面と僅かな距離を離して設置してもよ
い0重要なことは。
接触することになる外表面に接してこの固体電解質に支
持させてもよいし、または固体電解質の溶融金属と接す
ることになる外表面と僅かな距離を離して設置してもよ
い0重要なことは。
副電極によって形成される重化学平衡帯域に、固体電解
質の溶融金属と接触することになる外表面が存在するこ
とである。
質の溶融金属と接触することになる外表面が存在するこ
とである。
以下に本発明の装置を図面を参照しながらより具体的に
説明しよう。
説明しよう。
第1図および第2図は1本発明の詳細な説明するための
概念図であり、1は溶融金属、2は副電極、3は固体電
解質、4は基準極、5は基準極側のリード線、6は熔融
金属側のリード線、そして7は電位差計を表しており9
本発明でいう電位差測定手段とは、リード線5および6
並びに電位差計7とからなっている。Bは溶融金属1と
接触することになる固体電解質3の外表面、9は基準極
4と接触する固体電解質3の内表面である。
概念図であり、1は溶融金属、2は副電極、3は固体電
解質、4は基準極、5は基準極側のリード線、6は熔融
金属側のリード線、そして7は電位差計を表しており9
本発明でいう電位差測定手段とは、リード線5および6
並びに電位差計7とからなっている。Bは溶融金属1と
接触することになる固体電解質3の外表面、9は基準極
4と接触する固体電解質3の内表面である。
溶融金mtは、溶銑、溶鋼、非鉄金属の溶湯などのMを
含有する液体金属である。副電極2は溶融金属1中にお
いて局部的な重化学平衡帯域を形成させるためのM n
O−からなるかまたはM n O11を含む固体酸化
物部材である。Mn0mを含む固体酸化物部材とは、M
n0wとM以外の金属の酸化物とのコンパウンドや混合
物または固溶体などで形成された部材を意味する。固体
電解質3は酸素ポテンシャルを測定するための少なくと
も部分的に安定化した二酸化ジルコニウムである。安定
化剤としては1例えばMgOやCaOなどが使用される
。この固体電解質3としては、最も代表的iはMgOを
約7〜9Mol %含有させた部分安定化二酸化ジルコ
ニウムが使用される。基準極4は、酸素ポテンシャルを
測定温度で一定にするために1例えばMo粉末とMoO
□粉末との混合体、Cr粉末とCrabs粉末との混合
体などで構成される0本発明において、固体電解質3と
基準極4を構成する材料は周知の酸素センサーに使用さ
れているものを適用することができ、これ自身の材質に
新規な特徴を有しているわけではない。
含有する液体金属である。副電極2は溶融金属1中にお
いて局部的な重化学平衡帯域を形成させるためのM n
O−からなるかまたはM n O11を含む固体酸化
物部材である。Mn0mを含む固体酸化物部材とは、M
n0wとM以外の金属の酸化物とのコンパウンドや混合
物または固溶体などで形成された部材を意味する。固体
電解質3は酸素ポテンシャルを測定するための少なくと
も部分的に安定化した二酸化ジルコニウムである。安定
化剤としては1例えばMgOやCaOなどが使用される
。この固体電解質3としては、最も代表的iはMgOを
約7〜9Mol %含有させた部分安定化二酸化ジルコ
ニウムが使用される。基準極4は、酸素ポテンシャルを
測定温度で一定にするために1例えばMo粉末とMoO
□粉末との混合体、Cr粉末とCrabs粉末との混合
体などで構成される0本発明において、固体電解質3と
基準極4を構成する材料は周知の酸素センサーに使用さ
れているものを適用することができ、これ自身の材質に
新規な特徴を有しているわけではない。
第1図は、副電極2の表面と固体電解質3の外表面8と
が接している状態を示している。また。
が接している状態を示している。また。
第2図は、 IIJ電極2の表面と固体電解質3の外表
面8とが若干の距離をもって離れている状態を示してい
る。いずれの場合にも、溶融金属lの中に置かれた副電
極2の周囲に形成される重化学平衡帯域に固体電解質3
の外表面8が接するようにすることが可能である。
面8とが若干の距離をもって離れている状態を示してい
る。いずれの場合にも、溶融金属lの中に置かれた副電
極2の周囲に形成される重化学平衡帯域に固体電解質3
の外表面8が接するようにすることが可能である。
すなわち、前述のように副電極20表面近傍にはく溶融
金属中のMの活量(aH)”)x(溶融金属中の酸素の
活量(a、)”)が実質上一定となる重化学平衡帯域が
形成されるが、いずれの場合にも、この重化学平衡帯域
に固体電解質3の外表面8を存在させることができる。
金属中のMの活量(aH)”)x(溶融金属中の酸素の
活量(a、)”)が実質上一定となる重化学平衡帯域が
形成されるが、いずれの場合にも、この重化学平衡帯域
に固体電解質3の外表面8を存在させることができる。
第1図および第2図においてこの重化学平衡帯域を10
で示される破線域で概念的に表した。
で示される破線域で概念的に表した。
電位差針7は、基準極4とこの重化学平衡帯域の間の酸
素ポテンシャルの差を検出する。いま溶融金属が溶銑で
ある場合を考えると、重化学平衡帯域10の酸素ポテン
シャルは溶銑1のバルク中の酸素ポテンシャルとは変化
した値となるが、重化学平衡帯域10のMの活量は既に
説明したように溶銑1のバルク中のMの活量とは相対的
に大きく変化するようなことは通常は生じないので、検
出される電位差ば溶銑1中のMの濃度に実質上対応する
ことになる。この関係を第3図に概念的に示した。
素ポテンシャルの差を検出する。いま溶融金属が溶銑で
ある場合を考えると、重化学平衡帯域10の酸素ポテン
シャルは溶銑1のバルク中の酸素ポテンシャルとは変化
した値となるが、重化学平衡帯域10のMの活量は既に
説明したように溶銑1のバルク中のMの活量とは相対的
に大きく変化するようなことは通常は生じないので、検
出される電位差ば溶銑1中のMの濃度に実質上対応する
ことになる。この関係を第3図に概念的に示した。
第3図において、直線には重化学平衡帯域における熱力
学的な酸素ポテンシャルとMのポテンシャルの平衡関係
を示す、縦軸および横軸はヘンリー基準の活量(対数目
盛り)によって酸素およびMの活量を表している。溶銑
中の酸素ポテンシャルとMのポテンシャルが例えばA点
にあるような場合に、このA点の酸素ポテンシャルと重
化学平衡帯域の酸素ポテンシャルBとは数値的には大き
な差となって現れるが、A点のMのポテンシャルとB点
のMのポテンシャルとは、横軸と縦軸の目盛り(オーダ
ー)が大きく相違するので、現実には大きな差となって
現れない、このような関係が維持されるには、溶銑を例
とした場合には、溶銑中の酸素濃度が150pp−以下
、好ましくは1100pp以下であり、溶銑中のMの濃
度が好ましくは0.01%以上である。溶融金属中の酸
素濃度とMの濃度の差が大きければ大きいだけこの関係
が良好に維持される。反対にこの差が小さいと計測され
た電位差は直接的には溶融金属中のMの濃度に対応しな
いことになることもあるが、これは幾つかの実験値を基
にした検量線により測定値に所定の補正を行えばこの4
題は解決される。したがって8例えば溶鉄中の測定目的
元素濃度が0.01%付近の低域でもその濃度の測定が
可能である。
学的な酸素ポテンシャルとMのポテンシャルの平衡関係
を示す、縦軸および横軸はヘンリー基準の活量(対数目
盛り)によって酸素およびMの活量を表している。溶銑
中の酸素ポテンシャルとMのポテンシャルが例えばA点
にあるような場合に、このA点の酸素ポテンシャルと重
化学平衡帯域の酸素ポテンシャルBとは数値的には大き
な差となって現れるが、A点のMのポテンシャルとB点
のMのポテンシャルとは、横軸と縦軸の目盛り(オーダ
ー)が大きく相違するので、現実には大きな差となって
現れない、このような関係が維持されるには、溶銑を例
とした場合には、溶銑中の酸素濃度が150pp−以下
、好ましくは1100pp以下であり、溶銑中のMの濃
度が好ましくは0.01%以上である。溶融金属中の酸
素濃度とMの濃度の差が大きければ大きいだけこの関係
が良好に維持される。反対にこの差が小さいと計測され
た電位差は直接的には溶融金属中のMの濃度に対応しな
いことになることもあるが、これは幾つかの実験値を基
にした検量線により測定値に所定の補正を行えばこの4
題は解決される。したがって8例えば溶鉄中の測定目的
元素濃度が0.01%付近の低域でもその濃度の測定が
可能である。
次に、副電極2の周囲に形成される重化学平衡帯域に固
体電解質3の外表面8を宥和に存在させる仕方を第4図
〜第14図に従って説明する。
体電解質3の外表面8を宥和に存在させる仕方を第4図
〜第14図に従って説明する。
第4図は固体電解質3の外表面8に副電極2を部分的に
コーテングした例である。すなわち固体電解質3の外表
面8に斑点状に副電極2をコーテングすることによって
、固体電解質3の外表面8のエリヤを小面積の多数の副
電極2で覆ったものである。
コーテングした例である。すなわち固体電解質3の外表
面8に斑点状に副電極2をコーテングすることによって
、固体電解質3の外表面8のエリヤを小面積の多数の副
電極2で覆ったものである。
第5図は固体電解質3の外表面8に多数の切り込みまた
は窪みを設け、この切り込みまたは窪みに副電極2を、
この副電極2の表面が外に現れるようにして、埋め込ん
だものである。
は窪みを設け、この切り込みまたは窪みに副電極2を、
この副電極2の表面が外に現れるようにして、埋め込ん
だものである。
第6図は、固体電解質3の外表面8に、線状の副電極2
を固着させたものであり1図示の例ではこの線状の副電
極は格子状に組まれている。
を固着させたものであり1図示の例ではこの線状の副電
極は格子状に組まれている。
第7図は固体電解質3の外表面8にポーラスな副電極2
を塗布したものである。第8図はこの塗布面の一部を拡
大して示している。第8図に見られるように、副電極2
の塗布層には多数の粒子間通路が存在し、この粒子間通
路を経て固体電解質3の外表面8が外部に通じている。
を塗布したものである。第8図はこの塗布面の一部を拡
大して示している。第8図に見られるように、副電極2
の塗布層には多数の粒子間通路が存在し、この粒子間通
路を経て固体電解質3の外表面8が外部に通じている。
第9図は固体電解質3を形成している結晶粒子の間隙ま
たは粒子の内部に副電極2の粒子を介在させたもので、
特に固体電解質3の外表面8の粒子間または粒子内に副
電極2の粒子を相互に間隙をあけながら分散して介在さ
せたものである。これは固体電解質3の外表面8に副電
極2を形成する物質の粉体を機械的に擦り込んでから全
体を焼成するという処方によって有利に作ることができ
る。
たは粒子の内部に副電極2の粒子を介在させたもので、
特に固体電解質3の外表面8の粒子間または粒子内に副
電極2の粒子を相互に間隙をあけながら分散して介在さ
せたものである。これは固体電解質3の外表面8に副電
極2を形成する物質の粉体を機械的に擦り込んでから全
体を焼成するという処方によって有利に作ることができ
る。
第10図は、固体電解質3によって一端閉管状の容器1
2を作った場合の本発明の詳細な説明するものである。
2を作った場合の本発明の詳細な説明するものである。
固体電解質からなる一端閉管状の容器12の底部分に基
準極4を構成する物質を装填し。
準極4を構成する物質を装填し。
この基準極4を構成する物質をその上に装填したシール
材料13によって容器12内に封入する。この容器12
の溶融金属と接触することになる外表面8(より具体的
には溶融金属と接触することになる外表面であって且つ
少な(とも基準極4と接している内表面に対応する外表
面)に第4図〜第9図に例示したような関係をもって副
電極2を取り付けることができる。このような固体電解
質3からなる一端閉管状の容器12を使用し且つその外
表面8に既述の関係をもって副電極2を取り付ける処方
は2本発明の実施にとって非常に好ましい態様である。
材料13によって容器12内に封入する。この容器12
の溶融金属と接触することになる外表面8(より具体的
には溶融金属と接触することになる外表面であって且つ
少な(とも基準極4と接している内表面に対応する外表
面)に第4図〜第9図に例示したような関係をもって副
電極2を取り付けることができる。このような固体電解
質3からなる一端閉管状の容器12を使用し且つその外
表面8に既述の関係をもって副電極2を取り付ける処方
は2本発明の実施にとって非常に好ましい態様である。
第11図は、一端閉管状の容器12を固体電解質3によ
って構成する場合に、この一端閉管状の容器12の外表
面8に副電極2を斑点状にコーテングした例を示す、第
12図は、同じく容器12の外表面8に副電極2を横縞
状にコーテングした例を示す。
って構成する場合に、この一端閉管状の容器12の外表
面8に副電極2を斑点状にコーテングした例を示す、第
12図は、同じく容器12の外表面8に副電極2を横縞
状にコーテングした例を示す。
第13図は、同じく容器12の外表面8に副電極2を縦
縞状にコーテングした例を示す、そして第14図は、・
同じく容器12の外表面8に副電極2を格子状にコーテ
ングした例を示す、このように、固体電解質3からなる
容器の外表面8に副電極2をコーテングする場合には2
本発明者らの実験によると容器の外表面8の表面積の約
25〜95%の範囲、好ましくは30〜90%の範囲が
副電極2のコーテング被膜で覆われるようにするのがよ
いようである。
縞状にコーテングした例を示す、そして第14図は、・
同じく容器12の外表面8に副電極2を格子状にコーテ
ングした例を示す、このように、固体電解質3からなる
容器の外表面8に副電極2をコーテングする場合には2
本発明者らの実験によると容器の外表面8の表面積の約
25〜95%の範囲、好ましくは30〜90%の範囲が
副電極2のコーテング被膜で覆われるようにするのがよ
いようである。
この場合、副電極2のコーテング被膜で覆われる部分が
外表面8にできるだけ均等な割合(副電極2相互の間隔
ができるだけ均等であること)をもつて分散しているの
がよい。
外表面8にできるだけ均等な割合(副電極2相互の間隔
ができるだけ均等であること)をもつて分散しているの
がよい。
以上の第4図〜第14図に例示した態様は副電極2の表
面が固体電解質3の外表面8と接触している例であった
。副電極2の表面が固体電解質3の外表面8と接触して
いない本発明のS様を次の第15図〜第19図に示す、
この場合、接触していないといっても、第2図で説明し
たように、固体電解質3の外表面8の少なくとも一部が
副電極2によ1て形成されるであろう重化学平衡帯域1
0内に存在するという関係を維持することが必要である
。
面が固体電解質3の外表面8と接触している例であった
。副電極2の表面が固体電解質3の外表面8と接触して
いない本発明のS様を次の第15図〜第19図に示す、
この場合、接触していないといっても、第2図で説明し
たように、固体電解質3の外表面8の少なくとも一部が
副電極2によ1て形成されるであろう重化学平衡帯域1
0内に存在するという関係を維持することが必要である
。
第15図は、固体電解質3によって形成された一端閉管
状の容器12の外側に、この筒状容器12の外径より若
干大きな内径を有する筒状の副電極2を容器12を取り
巻くようにして、取付けた本発明の態様を示す、固体電
解質3からなる容器12と筒状の副電極2は共にその開
口端が耐火物14の中に埋め込まれることによって1両
者の相対位置が固定される。一端閉管状の容器12の中
には第10図の場合と同様にシール材料13によって基
準極4を構成する物質が封入される。15はこのシール
を更に完全にするための容器開口端を封鎖するセメント
層を示している。5は基準極4のリード線である。
状の容器12の外側に、この筒状容器12の外径より若
干大きな内径を有する筒状の副電極2を容器12を取り
巻くようにして、取付けた本発明の態様を示す、固体電
解質3からなる容器12と筒状の副電極2は共にその開
口端が耐火物14の中に埋め込まれることによって1両
者の相対位置が固定される。一端閉管状の容器12の中
には第10図の場合と同様にシール材料13によって基
準極4を構成する物質が封入される。15はこのシール
を更に完全にするための容器開口端を封鎖するセメント
層を示している。5は基準極4のリード線である。
湾状の副電極2は、その側面の壁にも底面にも孔16を
各所に有しており、この孔16を通じて、溶融金属が容
器12の外表面8に自由に流れ込むようになっている0
本例の容器12と副電極2の形状は第16図(all、
(blおよび(C1により詳細に示されている。
各所に有しており、この孔16を通じて、溶融金属が容
器12の外表面8に自由に流れ込むようになっている0
本例の容器12と副電極2の形状は第16図(all、
(blおよび(C1により詳細に示されている。
第16図+8)は固体電解質3からなる一端閉管状の容
器12の全体を示し、第16図山)は容器12の外側に
取付けられる多数の孔16をもつ筒状の副電極2の全体
の形状を示している。また、第16図(C1は、筒状の
副電極2の底面部分にも孔16を有している状態を示し
ている。
器12の全体を示し、第16図山)は容器12の外側に
取付けられる多数の孔16をもつ筒状の副電極2の全体
の形状を示している。また、第16図(C1は、筒状の
副電極2の底面部分にも孔16を有している状態を示し
ている。
第17図は、溶融金属と接触することになる固体電解質
3の層が他の部材によって支持されたB様を示す、すな
わち耐火物製の両端開口の筒18を支持部材とし、この
筒18の一方の開口端を固体電解質3で封鎖し、これに
よってこの筒18の端面に。
3の層が他の部材によって支持されたB様を示す、すな
わち耐火物製の両端開口の筒18を支持部材とし、この
筒18の一方の開口端を固体電解質3で封鎖し、これに
よってこの筒18の端面に。
好ましくは、筒18の端よりも若干内側に入った位置に
、固体電解質3の外表面8を露出させる。19は筒18
の耐火物と固体電解1t3とを接合するシールセメント
を示している。このようにして固体電解質3の層によっ
て底が形成された筒状容器の中に、固体電解質3の内表
面9と接する関係をもって基準極4を構成する物質を入
れ、第15図と同様な関係をもってシール材13並びに
セメント15によって基準極4を構成する物質をこの容
器内に封入し、この容器全体を耐火物14に支持させる
。5は基準極4のリード線である。このような構成にお
いて、固体電解質3を支持するのに使用する筒18自身
を副電極2とすることもできる。すなわち。
、固体電解質3の外表面8を露出させる。19は筒18
の耐火物と固体電解1t3とを接合するシールセメント
を示している。このようにして固体電解質3の層によっ
て底が形成された筒状容器の中に、固体電解質3の内表
面9と接する関係をもって基準極4を構成する物質を入
れ、第15図と同様な関係をもってシール材13並びに
セメント15によって基準極4を構成する物質をこの容
器内に封入し、この容器全体を耐火物14に支持させる
。5は基準極4のリード線である。このような構成にお
いて、固体電解質3を支持するのに使用する筒18自身
を副電極2とすることもできる。すなわち。
副電極2を構成する材料で′筒18を形成するのである
。より好ましくは、筒18の一端に固定された固体電解
1t3の外表面8のさらに外側に別途副電極2を取付け
る。この副電極2の支持は筒18に行わせる。より具体
的には、この副電極2を網状または格子状などの多孔板
形状とし、これを筒18の最先端に取付ける。第18図
はこの態様を示す第17図のX−X線矢視断面を示して
いる。筒18を副電極2を構成する材料で構成した場合
には、この多孔板形状の副電極2と同質材料となるので
、筒18とこの多孔板形状の副電極2とを一体的に焼成
して作ることができる0図示の例では固体電解質3の外
表面8と多孔板形状の副電極2とは若干離れているが1
両者は接触していてもよい。
。より好ましくは、筒18の一端に固定された固体電解
1t3の外表面8のさらに外側に別途副電極2を取付け
る。この副電極2の支持は筒18に行わせる。より具体
的には、この副電極2を網状または格子状などの多孔板
形状とし、これを筒18の最先端に取付ける。第18図
はこの態様を示す第17図のX−X線矢視断面を示して
いる。筒18を副電極2を構成する材料で構成した場合
には、この多孔板形状の副電極2と同質材料となるので
、筒18とこの多孔板形状の副電極2とを一体的に焼成
して作ることができる0図示の例では固体電解質3の外
表面8と多孔板形状の副電極2とは若干離れているが1
両者は接触していてもよい。
第16図〜第18図に示した副電極2が固体電解質3の
外表面8から離れた状態の態様においては。
外表面8から離れた状態の態様においては。
いずれも第19図に示すように、固体電解質3の外表面
8近傍に副電極2が存在しても1両者間には溶融金属が
自由に出入りできる通路20を持つことになり、副電極
2の存在によって形成される重化学平衡帯域に固体電解
質3の外表面8が位置するという関係を維持することが
できる。
8近傍に副電極2が存在しても1両者間には溶融金属が
自由に出入りできる通路20を持つことになり、副電極
2の存在によって形成される重化学平衡帯域に固体電解
質3の外表面8が位置するという関係を維持することが
できる。
第20図〜第22図は、精練途中にある溶銑や溶鋼(通
常はスラグ層を有している)などを対象とした場合に、
使用に便なるように組み立てた本発明に従う装置の例を
示しており、第20図はその全体概観図、第21図は測
定中における機器配置図、そして第22図は第21図の
要部拡大図である。以下に本例装置の詳細を説明する。
常はスラグ層を有している)などを対象とした場合に、
使用に便なるように組み立てた本発明に従う装置の例を
示しており、第20図はその全体概観図、第21図は測
定中における機器配置図、そして第22図は第21図の
要部拡大図である。以下に本例装置の詳細を説明する。
本例の金属元素センサ一本体22は、第20図に見られ
るように1先端にセンサ一部23をもつ細長い筒である
。この筒のセンサ一部23とは反対側の端からは2系列
の導体24と25が導きだされており。
るように1先端にセンサ一部23をもつ細長い筒である
。この筒のセンサ一部23とは反対側の端からは2系列
の導体24と25が導きだされており。
一方は電位差計に他方は温度計に接続される。
金属元素センサ一本体22は、第21図に見られるよう
に、測定対象の溶融金属の湯面26がその中腹に位置す
るように、tll金金属中浸漬される。スラグ層27が
存在する場合には、湯面26はスラグ層27が覆ってい
るが、センサ一部23が、このスラグ層27を突き抜け
て溶融金属1の中に挿入される。
に、測定対象の溶融金属の湯面26がその中腹に位置す
るように、tll金金属中浸漬される。スラグ層27が
存在する場合には、湯面26はスラグ層27が覆ってい
るが、センサ一部23が、このスラグ層27を突き抜け
て溶融金属1の中に挿入される。
このスラグ層27を突き抜ける際に、センサ一部23が
スラグによって汚染されるのを防止するために溶融金属
と同じ金属で作られた(別の金属であってもよい)厚み
の薄いキャップ28がセンサ一部23に被せである。こ
のキャンプ28は溶融金属中において直ぐに溶解してバ
ルク中に希釈されてしまう。
スラグによって汚染されるのを防止するために溶融金属
と同じ金属で作られた(別の金属であってもよい)厚み
の薄いキャップ28がセンサ一部23に被せである。こ
のキャンプ28は溶融金属中において直ぐに溶解してバ
ルク中に希釈されてしまう。
金属元素センサ一本体22並びにセンサ一部23の内部
構造は第22図に示されている0図示のように金属元素
センサ一本体22は二つのと部材ratと山)とに分割
される2部材(a)はセンサ一部23をもつ部材であり
1部材中)は部材(alに差し込まれるプラグ側部材で
ある0部材(+1)は測定回数毎に消費され、繰り返し
使用は実質上できないが1部材中)は何回でも使用可能
である。この部材1a+と伽)との外見上の関係は、第
20図および第21図に示されているように部材(al
が外筒であり1部材(blがこの外筒のなかに差し込ま
れる内筒という関係になっている。
構造は第22図に示されている0図示のように金属元素
センサ一本体22は二つのと部材ratと山)とに分割
される2部材(a)はセンサ一部23をもつ部材であり
1部材中)は部材(alに差し込まれるプラグ側部材で
ある0部材(+1)は測定回数毎に消費され、繰り返し
使用は実質上できないが1部材中)は何回でも使用可能
である。この部材1a+と伽)との外見上の関係は、第
20図および第21図に示されているように部材(al
が外筒であり1部材(blがこの外筒のなかに差し込ま
れる内筒という関係になっている。
部材Talは、S紙からなる筒30の外側表面に耐火物
31の層を被着した筒であり、その一端側に本発明に従
う金属元素センサー32が取付けられる。図示の金属元
素センサー32は、第11図のものに対応するものが示
されている。33は金属極そして34は熱電対である。
31の層を被着した筒であり、その一端側に本発明に従
う金属元素センサー32が取付けられる。図示の金属元
素センサー32は、第11図のものに対応するものが示
されている。33は金属極そして34は熱電対である。
これらの取付けは例えば次のようにしてなされている。
まず、巻紙筒30の先端にセラミック製のハウジング3
5を取付け、このハウジング35の中を耐火セメント3
6で埋める。そのさいに、この耐火セメント36のなか
に、金属元素センサー32.熱電対34の筒37および
金属極33の一部を埋め込むと同時に、リード!%*5
と6.並びに熱電対のリード線38なども埋め込み、こ
れはのリード線につながるプラグ側コネクター39.4
0.41および42もこの耐火セメント36に支持させ
る。そして。
5を取付け、このハウジング35の中を耐火セメント3
6で埋める。そのさいに、この耐火セメント36のなか
に、金属元素センサー32.熱電対34の筒37および
金属極33の一部を埋め込むと同時に、リード!%*5
と6.並びに熱電対のリード線38なども埋め込み、こ
れはのリード線につながるプラグ側コネクター39.4
0.41および42もこの耐火セメント36に支持させ
る。そして。
巻紙筒30の外側に耐火物31をコーキングするが。
そのさいにキャップ2日をこのコーテング層によって支
持させる。なお1本発明に従う金属元素センサー32の
耐火物31への取付けにあたっては基準極4の物質をシ
ール材(例えばA I gos、系粉末)!3で封入し
さらにアルミナ系セメント44でシールしておくのがよ
い、@紙筒30の一端は、ハウジング35および耐火セ
メント36によって、この部材(alが溶融金属中に浸
漬されてもこの筒30の内部には溶融金属が侵入しない
ように、封鎖される。そしてこの封鎖部材35さらには
36からは、筒30の内部に向かってコネクター39.
40.41および42が突出し。
持させる。なお1本発明に従う金属元素センサー32の
耐火物31への取付けにあたっては基準極4の物質をシ
ール材(例えばA I gos、系粉末)!3で封入し
さらにアルミナ系セメント44でシールしておくのがよ
い、@紙筒30の一端は、ハウジング35および耐火セ
メント36によって、この部材(alが溶融金属中に浸
漬されてもこの筒30の内部には溶融金属が侵入しない
ように、封鎖される。そしてこの封鎖部材35さらには
36からは、筒30の内部に向かってコネクター39.
40.41および42が突出し。
これらは1部材(blがこの筒30内に挿入されたとき
に1部材(blのプラグ側コネクター45゜46.47
および48と接続される0図示の例では、金属元素セン
サー32のリード線5はコネクター39と45とが、金
属極33のリード&16はコネクター40と46とが、
そして熱電対のリードwaa8aはコネクター41と4
7とがまた38bはコネクター42と48とが接続され
る関係になっている。
に1部材(blのプラグ側コネクター45゜46.47
および48と接続される0図示の例では、金属元素セン
サー32のリード線5はコネクター39と45とが、金
属極33のリード&16はコネクター40と46とが、
そして熱電対のリードwaa8aはコネクター41と4
7とがまた38bはコネクター42と48とが接続され
る関係になっている。
プラグ側コネクター45.46.47および4日をその
端にもつ部材山)は1部材(8)の巻紙筒30の内径と
ほぼ等しい外径を持つ巻紙筒49からなっており、プラ
グ側コネクター45.46.47および4Bを支持する
ための基体43をその一端にもつ中空筒体である。この
中空筒体内をリードmsと6並びにリード線38aと3
8bとが通り抜け、リード線5と6は電位差計7に、ま
たリードwA38aと38bは温度計50に連結される
。第20図や第21図では、リード線5と6とを組み合
わせた一つの系列の導体24として、またリード線38
aと38bとを組み合わせた他の系列の導体25として
描かれている。
端にもつ部材山)は1部材(8)の巻紙筒30の内径と
ほぼ等しい外径を持つ巻紙筒49からなっており、プラ
グ側コネクター45.46.47および4Bを支持する
ための基体43をその一端にもつ中空筒体である。この
中空筒体内をリードmsと6並びにリード線38aと3
8bとが通り抜け、リード線5と6は電位差計7に、ま
たリードwA38aと38bは温度計50に連結される
。第20図や第21図では、リード線5と6とを組み合
わせた一つの系列の導体24として、またリード線38
aと38bとを組み合わせた他の系列の導体25として
描かれている。
第21図には1本発明に従う金属元素センサーで検出さ
れる起電力信号から測定目的元素濃度を読み取るために
設置される機器の配置をブロック図で示しである。まず
、電位差計7と温度計50にはそれぞれA/D変換器5
1と52が接続される。これらのA/D変換器51と5
2は、測定目的元素センサーから送られた2系統の電気
信号(アナログ信号)をそれぞれデジタル信号に変換す
るものである。そして、このデジタル信号はそれぞれ演
算器53(マイクロコンピュータ)に入力され、この入
力値からこの演算器53において予め求められた換算式
を用いて金属元素濃度値に演算される。この演算値はデ
ィスプレイ54および55にそれぞれ出力されると共に
、プリンター56に出力して印字される。
れる起電力信号から測定目的元素濃度を読み取るために
設置される機器の配置をブロック図で示しである。まず
、電位差計7と温度計50にはそれぞれA/D変換器5
1と52が接続される。これらのA/D変換器51と5
2は、測定目的元素センサーから送られた2系統の電気
信号(アナログ信号)をそれぞれデジタル信号に変換す
るものである。そして、このデジタル信号はそれぞれ演
算器53(マイクロコンピュータ)に入力され、この入
力値からこの演算器53において予め求められた換算式
を用いて金属元素濃度値に演算される。この演算値はデ
ィスプレイ54および55にそれぞれ出力されると共に
、プリンター56に出力して印字される。
第23図は、第20図〜第22図に示した構造のシリコ
ンセンサーを用いて溶銑1中のシリコン濃度を測定した
結果を示す、この測定結果は次のような測定条件によっ
て得られたものである。
ンセンサーを用いて溶銑1中のシリコン濃度を測定した
結果を示す、この測定結果は次のような測定条件によっ
て得られたものである。
シリコンセンサー32としては、第11図に示したよう
に斑点状の副電極2を、一体電解質からなる一端閉管状
の容器12の外表面8にコーテングした態様のものを使
用した。固体電解質3は、安定剤として8.1■ol
%のMgOを含有する二酸化ジルコニウムを使用した。
に斑点状の副電極2を、一体電解質からなる一端閉管状
の容器12の外表面8にコーテングした態様のものを使
用した。固体電解質3は、安定剤として8.1■ol
%のMgOを含有する二酸化ジルコニウムを使用した。
副電極2の材料は粒径が200メツシユ以下のZr5i
O6粉末(市販の一級試薬)と市販のZrO,系ペース
ト状セメントとを重量比で1:4に混合したものである
。この副電極2の混合材料は、該固体電解質からなる一
端閉管状の容器12の外表面の約50%を覆うように斑
点状に塗布された。そして、約2時間の自然乾燥のあと
、100℃で1時間強制乾燥しついで1400℃で10
時間の焼成を行った。この焼成によって副電極2は容器
12の外表面8に強固に固定され、容器12の外表面の
約50%を覆う関係をもうて斑点状に取付けられた。
O6粉末(市販の一級試薬)と市販のZrO,系ペース
ト状セメントとを重量比で1:4に混合したものである
。この副電極2の混合材料は、該固体電解質からなる一
端閉管状の容器12の外表面の約50%を覆うように斑
点状に塗布された。そして、約2時間の自然乾燥のあと
、100℃で1時間強制乾燥しついで1400℃で10
時間の焼成を行った。この焼成によって副電極2は容器
12の外表面8に強固に固定され、容器12の外表面の
約50%を覆う関係をもうて斑点状に取付けられた。
基準極4の物質としては、 MO粉とMoot粉とを重
量比で4:1に配合したものを使用した。そしてこの基
準極4を容器12内にいれ、モリブデン線を差し込んだ
うえ、AI、Os粉をシール材13として使用し且つ^
180.系セメント44でこの容器12の開口端を封鎖
した。金属極33としては、 Mo棒を使用した。また
熱電対34は、 Pt−13%Rh/Pt系のものを使
用した。基準極4および金属極33のリード線としてF
evAを用いた。
量比で4:1に配合したものを使用した。そしてこの基
準極4を容器12内にいれ、モリブデン線を差し込んだ
うえ、AI、Os粉をシール材13として使用し且つ^
180.系セメント44でこの容器12の開口端を封鎖
した。金属極33としては、 Mo棒を使用した。また
熱電対34は、 Pt−13%Rh/Pt系のものを使
用した。基準極4および金属極33のリード線としてF
evAを用いた。
このようにして構成したシリコンセンサーを。
アルミナルツボ内で溶解したシリコン濃度が異なる炭素
飽和溶銑中に約1分間浸漬するという条件で測定を行っ
た。溶銑中のシリコン濃度の調整は高純度シリコンを添
加することによって行い、これによって、溶銑中のシリ
コン濃度を0.1〜0.9%の範囲で調整した。溶銑の
温度は測定中は実質的に1450℃に維持された。
飽和溶銑中に約1分間浸漬するという条件で測定を行っ
た。溶銑中のシリコン濃度の調整は高純度シリコンを添
加することによって行い、これによって、溶銑中のシリ
コン濃度を0.1〜0.9%の範囲で調整した。溶銑の
温度は測定中は実質的に1450℃に維持された。
第23図は、シリコン濃度既知の溶銑に対して測定され
たシリコンセンサーのEMFの値を該シリコン濃度に対
応してプロットしたものであり5 シリコン濃度は対数
目盛りで示しである。第23図から明らかなように、シ
リコン濃度の対数値と測定されたEMFの値とは直線関
係にある。したがって。
たシリコンセンサーのEMFの値を該シリコン濃度に対
応してプロットしたものであり5 シリコン濃度は対数
目盛りで示しである。第23図から明らかなように、シ
リコン濃度の対数値と測定されたEMFの値とは直線関
係にある。したがって。
本発明にしたがうシリコンセンサーから得られるEMF
の測定値によって溶銑中のシリコン濃度の測定ができる
。
の測定値によって溶銑中のシリコン濃度の測定ができる
。
さらに、容器12の外表面に斑点状に取付けた副電極2
の面積率(固体電解質3の外表面8に占める副電極2の
面積率)を種々変えて同様の測定を数多〈実施した。そ
の結果、副電極2が占める面積が固体電解質3の外表面
8に対して25〜95%。
の面積率(固体電解質3の外表面8に占める副電極2の
面積率)を種々変えて同様の測定を数多〈実施した。そ
の結果、副電極2が占める面積が固体電解質3の外表面
8に対して25〜95%。
好ましくは30〜90%となる範囲で良好な結果が得ら
れることがわかった。
れることがわかった。
第23図は溶銑中のSi濃度の測定に本発明の装置を用
いた結果を示したが、31以外の金属元素に対してもそ
の測定目的元素に対応した酸化物からなる副電極を使用
することによって、同様の結果を得ることができる。
いた結果を示したが、31以外の金属元素に対してもそ
の測定目的元素に対応した酸化物からなる副電極を使用
することによって、同様の結果を得ることができる。
第1図は本発明に従う金属元素センサーの測定原理を示
す概念図、第、2図は本発明に従う金属元素センサーの
原理を示す他の概念図、第3図は本発明に従って形成さ
れる準化学平衡帯域と溶融金属中における測定目的元素
の活量と酸素ポテンシャルとの関係図、第4図は固体電
解質と副電極との本発明に従う関係を示す略断面図、第
5図は固体電解質と副電極との本゛発明に従う他の関係
を示す離断面図、第6図は固体電解質と副電極との本発
明に従う今一つの関係を示す部分斜視図、第7図は固体
電解質と副電極との本発明に従うさらに今一つの関係を
示す略断面図、第8図は第7図の副電極部分の拡大図、
第9図は固体電解質と副電極との本発明に従うさらに今
一つの関係を示す離断面図、第10図は固体電解質から
なる一端閉管状の容器を使用する場合の本発明の一つの
態様を説明するための測定原理図、第11図は固体電解
質からなる一端閉管状の容器の外表面に副電極を斑点状
に取り付ける例を示す外見図、第12図は同じく副電極
を横縞状に取り付ける例を示す外見図、第13図は同じ
く副電極を縦縞状に取付ける例を示す外見図、第14図
は同じく副電極を格子状に取付ける例を示す外見図、第
15図は固体電解質からなる一端閉管状の容器の外表面
から離して副電極を取り付ける本発明の態様を示す略断
面図、第16 (81図は第15図の一端閉管状の容器
の全体図、第16(b)図は第15図の副電極の全体図
、第16 (C1図は山)図の副電極の底の部分を示す
切り欠き図、第17図は固体電解質と副電極との取付は
関係のさらに他の態様を示す離断面図、第18図は第1
7図のX−X線矢視断面図、第19・図は固体電解質と
副電極とを離して設置する場合の測定原理図、第20図
は本発明に従う金属元素センサ一本体の全体図、第21
図は本発明に従う金属元素センサ一本体の使用状態と機
器の接続状態を示す図、第22図は第20図および第2
1図の金属元素センサ一本体の内部の詳細を示す断面図
、第23図は本発明装置によって測定された溶銑中のS
I濃度と検出起電力との関係図である。 ■・・溶融金属(溶銑)、 2・・副電極。 3・・固体電解質、 4・・基準極、 5・・基準
極側リード線、 6・・溶融金属側リード線。 7・・電位差計、 8・・固体電解質の外表面。 9・・固体電解質の内表面、 10・・準化学平衡帯域
、12 ・・固体電解質からなる一端閉管状の容器、
13 ・・シール材料、22・・金属元素センサ一本
体132 ・・金属元素センサー、33 ・・溶融金
属極、34・・熱電対135 ・・ハウジング、36
・・耐火セメント。 39.40.41および42・・ソケット側コネクター
。 45.46.47および48・・プラグ側コネクター。 50・・温度計、51および52・・A/D変換器。 53・・演X器(マイクロコンピュータ)。 54および55・・ディスプレイ、56 ・・プリン
ター。 第1図 第jば 1M 第4図 第5ri!J 第6図 第16(8層 第17図 第19図 第23図 0.1 0.2 0.4 0.71.0〔%S
il
す概念図、第、2図は本発明に従う金属元素センサーの
原理を示す他の概念図、第3図は本発明に従って形成さ
れる準化学平衡帯域と溶融金属中における測定目的元素
の活量と酸素ポテンシャルとの関係図、第4図は固体電
解質と副電極との本発明に従う関係を示す略断面図、第
5図は固体電解質と副電極との本゛発明に従う他の関係
を示す離断面図、第6図は固体電解質と副電極との本発
明に従う今一つの関係を示す部分斜視図、第7図は固体
電解質と副電極との本発明に従うさらに今一つの関係を
示す略断面図、第8図は第7図の副電極部分の拡大図、
第9図は固体電解質と副電極との本発明に従うさらに今
一つの関係を示す離断面図、第10図は固体電解質から
なる一端閉管状の容器を使用する場合の本発明の一つの
態様を説明するための測定原理図、第11図は固体電解
質からなる一端閉管状の容器の外表面に副電極を斑点状
に取り付ける例を示す外見図、第12図は同じく副電極
を横縞状に取り付ける例を示す外見図、第13図は同じ
く副電極を縦縞状に取付ける例を示す外見図、第14図
は同じく副電極を格子状に取付ける例を示す外見図、第
15図は固体電解質からなる一端閉管状の容器の外表面
から離して副電極を取り付ける本発明の態様を示す略断
面図、第16 (81図は第15図の一端閉管状の容器
の全体図、第16(b)図は第15図の副電極の全体図
、第16 (C1図は山)図の副電極の底の部分を示す
切り欠き図、第17図は固体電解質と副電極との取付は
関係のさらに他の態様を示す離断面図、第18図は第1
7図のX−X線矢視断面図、第19・図は固体電解質と
副電極とを離して設置する場合の測定原理図、第20図
は本発明に従う金属元素センサ一本体の全体図、第21
図は本発明に従う金属元素センサ一本体の使用状態と機
器の接続状態を示す図、第22図は第20図および第2
1図の金属元素センサ一本体の内部の詳細を示す断面図
、第23図は本発明装置によって測定された溶銑中のS
I濃度と検出起電力との関係図である。 ■・・溶融金属(溶銑)、 2・・副電極。 3・・固体電解質、 4・・基準極、 5・・基準
極側リード線、 6・・溶融金属側リード線。 7・・電位差計、 8・・固体電解質の外表面。 9・・固体電解質の内表面、 10・・準化学平衡帯域
、12 ・・固体電解質からなる一端閉管状の容器、
13 ・・シール材料、22・・金属元素センサ一本
体132 ・・金属元素センサー、33 ・・溶融金
属極、34・・熱電対135 ・・ハウジング、36
・・耐火セメント。 39.40.41および42・・ソケット側コネクター
。 45.46.47および48・・プラグ側コネクター。 50・・温度計、51および52・・A/D変換器。 53・・演X器(マイクロコンピュータ)。 54および55・・ディスプレイ、56 ・・プリン
ター。 第1図 第jば 1M 第4図 第5ri!J 第6図 第16(8層 第17図 第19図 第23図 0.1 0.2 0.4 0.71.0〔%S
il
Claims (2)
- (1)、少なくとも部分的に安定化された二酸化ジルコ
ニウムからなる固体電解質の層と、 この固体電解質層の内表面に接してセットされた所定の
酸素ポテンシャルを与える基準極と、この基準極と溶融
金属との間の電位差を計測するための電位差測定手段と
、そして、 該固体電解質の溶融金属と接することになる外表面に接
してこの固体電解質に支持された、測定目的元素の固体
酸化物からなる副電極と、 からなる溶融金属中に溶けている金属元素の濃度測定装
置。 - (2)、少なくとも部分的に安定化された二酸化ジルコ
ニウムからなる固体電解質の層と、 この固体電解質層の内表面に接してセットされた所定の
酸素ポテンシャルを与える基準極と、この基準極と溶融
金属との間の電位差を計測するための電位差測定手段と
、そして、 該固体電解質の溶融金属と接することになる外表面と僅
かな距離を離して設置された、測定目的元素の固体酸化
物からなる副電極と、 からなる溶融金属中に溶けている金属元素の濃度測定装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60101372A JPH0629879B2 (ja) | 1985-05-15 | 1985-05-15 | 溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を測定する装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60101372A JPH0629879B2 (ja) | 1985-05-15 | 1985-05-15 | 溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を測定する装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61260155A true JPS61260155A (ja) | 1986-11-18 |
JPH0629879B2 JPH0629879B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=14298981
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60101372A Expired - Lifetime JPH0629879B2 (ja) | 1985-05-15 | 1985-05-15 | 溶融金属中に溶けている金属元素の濃度を測定する装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0629879B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0295112A2 (en) * | 1987-06-11 | 1988-12-14 | Osaka Sanso Kogyo Limited | Probe for measuring concentration of impurity element in molten metal |
WO2004077040A1 (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-10 | Toyo Engineering And Research Center Co., Ltd. | センサ外表面の薄膜層形成方法及びこれを用いて製作されたセンサ |
JP2006132959A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Tokyo Yogyo Co Ltd | マグネシウムセンサプローブ |
JP2007163495A (ja) * | 2005-12-15 | 2007-06-28 | Heraeus Electro-Nite Internatl Nv | 金属溶融物又はスラグ溶融物における測定のための測定プローブ |
JP2009068855A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Heraeus Electro Nite Japan Ltd | 溶融金属中の銅濃度測定用プローブ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61142455A (ja) * | 1984-11-20 | 1986-06-30 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 溶融金属中の不純物元素の活量測定方法及び測定プロ−ブ |
-
1985
- 1985-05-15 JP JP60101372A patent/JPH0629879B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61142455A (ja) * | 1984-11-20 | 1986-06-30 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 溶融金属中の不純物元素の活量測定方法及び測定プロ−ブ |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0295112A2 (en) * | 1987-06-11 | 1988-12-14 | Osaka Sanso Kogyo Limited | Probe for measuring concentration of impurity element in molten metal |
WO2004077040A1 (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-10 | Toyo Engineering And Research Center Co., Ltd. | センサ外表面の薄膜層形成方法及びこれを用いて製作されたセンサ |
JP2006132959A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Tokyo Yogyo Co Ltd | マグネシウムセンサプローブ |
JP4596886B2 (ja) * | 2004-11-02 | 2010-12-15 | 東京窯業株式会社 | マグネシウムセンサプローブ |
JP2007163495A (ja) * | 2005-12-15 | 2007-06-28 | Heraeus Electro-Nite Internatl Nv | 金属溶融物又はスラグ溶融物における測定のための測定プローブ |
JP2009068855A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Heraeus Electro Nite Japan Ltd | 溶融金属中の銅濃度測定用プローブ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0629879B2 (ja) | 1994-04-20 |
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