JPS61252718A - Ａ／ｄ変換器試験方式 - Google Patents
Ａ／ｄ変換器試験方式Info
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- JPS61252718A JPS61252718A JP60093656A JP9365685A JPS61252718A JP S61252718 A JPS61252718 A JP S61252718A JP 60093656 A JP60093656 A JP 60093656A JP 9365685 A JP9365685 A JP 9365685A JP S61252718 A JPS61252718 A JP S61252718A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
- G01R29/027—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
- G01R29/0276—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being rise time
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1071—Measuring or testing
- H03M1/1095—Measuring or testing for ac performance, i.e. dynamic testing
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、Ａ／Ｄ変換器にお（為て１％にλ力信号に依
存する１Ｉ１１特性を試験するための試験方式に関する
ものである。
存する１Ｉ１１特性を試験するための試験方式に関する
ものである。
近年、ビデオ信号処理、波形記碌、一般計側などのデジ
タル信号処理の分野において高速Ａ／Ｄ変ｇ＆器の＊＊
は急速に高まっている。この様な状況の中で、Ａ／Ｄ変
換器の使用条件における１１１Ｊｑ＃性を試験するため
の試験方式が重要となっている。％に、入力アナａグ周
波数がナイキスト周波数近く、もしくはそれ以上におい
て使用される場合もあり、被試験Ａ ／ Ｄ ｆ換器の
入力アナａグ周波数に依存したＪ＠特性を効率良く試験
する必景が生じている。
タル信号処理の分野において高速Ａ／Ｄ変ｇ＆器の＊＊
は急速に高まっている。この様な状況の中で、Ａ／Ｄ変
換器の使用条件における１１１Ｊｑ＃性を試験するため
の試験方式が重要となっている。％に、入力アナａグ周
波数がナイキスト周波数近く、もしくはそれ以上におい
て使用される場合もあり、被試験Ａ ／ Ｄ ｆ換器の
入力アナａグ周波数に依存したＪ＠特性を効率良く試験
する必景が生じている。
従来からの試験方式は、「日経エレクトロニクｘＪ Ａ
２９２ 、 Ｐ２２１〜２５４ （１９８２年）にお
いて、マーチン噛ネイル及びアート・ムトによる”Ａ−
Ｄ変換器のＭＪ特性を試験する”、また。
２９２ 、 Ｐ２２１〜２５４ （１９８２年）にお
いて、マーチン噛ネイル及びアート・ムトによる”Ａ−
Ｄ変換器のＭＪ特性を試験する”、また。
「日経エレクトａ＝りｘ Ｊ ４５５Ｂ 、 ｐ１５７
〜２５４（１９８４年）＠画像処理の普及をにらみ開発
熱高まるビデオ信号用高速Ａ−Ｄ変換ＩＣ”と題する文
献において論じられている。
〜２５４（１９８４年）＠画像処理の普及をにらみ開発
熱高まるビデオ信号用高速Ａ−Ｄ変換ＩＣ”と題する文
献において論じられている。
第２図は、上記文献中に運べられている従来例の代表的
な試験方式である。図において、１は正弦波発生器、２
は被試験Ａ／Ｄ変換器（ＤＵＴ）、５はＤ／ＡＫ換器、
４はオシＣ１ス：２−７．５はりΩツク発生器である。
な試験方式である。図において、１は正弦波発生器、２
は被試験Ａ／Ｄ変換器（ＤＵＴ）、５はＤ／ＡＫ換器、
４はオシＣ１ス：２−７．５はりΩツク発生器である。
正弦波発生器１の正弦波出力は、被試験Ａ／Ｄ変換器２
のアナログ入力端に入力される。被試験Ａ ／ Ｄ変換
器２は、りΩツク発生器５より発生する変換クロックに
同期して、デジタルデータな出力する＠デジタルデータ
は、＊試験Ａ／Ｄ変換６２以上の分解能、変換速度を有
するＤ ／ Ａ ｆ換器３によって、再度アナログ信号
に再変換する。ここで、正弦ｖｇ１号発生器１０発生信
号周波数ｆｘａとクロック発生器５０ｉｌｌりａツクｆ
ＩＩＪｔｆＬ数ｆｓｐｇとの相互関係ｔ−選ぶことによ
ってアナログ信号を再生できる。第３図く示す様にｆｘ
ａ工ｆｘｐｔ／ ２＋Δｆなる関係を選ぶことによって
、入力正弦阪の包絡ｍｖ形を＊ ｈａ冨ｈＰＬ＋Δｆな
る関係な迩ぶことによってビート波形を周波数Δｆで再
生できる。この再生波形をオシロスコープ４によりて観
測することにより、被試験Ａ／Ｉ）変換器のＩＩ！Ｊ籍
性を試験する。しかし、従来方式においては、入力試験
成形に正弦波を使用するために、Ｖ形上の谷振幅１［Ｋ
おける波形の傾斜、即ちスルーレートが異なる。従って
、％に波形頂部付近ではスルーレートが小さり、［流入
力時と特価であり、この福分の入力信号周波数依存性を
十分に試験できなかった。また、アナログ入力帯域幅を
試験するためにはｏｆｌＯを）畝次スイ−１し、再生波
形の撤幅が５ｄＢ低下するアナミグ入力周波数を見つけ
なければならない煩雑さを伴なった。
のアナログ入力端に入力される。被試験Ａ ／ Ｄ変換
器２は、りΩツク発生器５より発生する変換クロックに
同期して、デジタルデータな出力する＠デジタルデータ
は、＊試験Ａ／Ｄ変換６２以上の分解能、変換速度を有
するＤ ／ Ａ ｆ換器３によって、再度アナログ信号
に再変換する。ここで、正弦ｖｇ１号発生器１０発生信
号周波数ｆｘａとクロック発生器５０ｉｌｌりａツクｆ
ＩＩＪｔｆＬ数ｆｓｐｇとの相互関係ｔ−選ぶことによ
ってアナログ信号を再生できる。第３図く示す様にｆｘ
ａ工ｆｘｐｔ／ ２＋Δｆなる関係を選ぶことによって
、入力正弦阪の包絡ｍｖ形を＊ ｈａ冨ｈＰＬ＋Δｆな
る関係な迩ぶことによってビート波形を周波数Δｆで再
生できる。この再生波形をオシロスコープ４によりて観
測することにより、被試験Ａ／Ｉ）変換器のＩＩ！Ｊ籍
性を試験する。しかし、従来方式においては、入力試験
成形に正弦波を使用するために、Ｖ形上の谷振幅１［Ｋ
おける波形の傾斜、即ちスルーレートが異なる。従って
、％に波形頂部付近ではスルーレートが小さり、［流入
力時と特価であり、この福分の入力信号周波数依存性を
十分に試験できなかった。また、アナログ入力帯域幅を
試験するためにはｏｆｌＯを）畝次スイ−１し、再生波
形の撤幅が５ｄＢ低下するアナミグ入力周波数を見つけ
なければならない煩雑さを伴なった。
本発明の目的は、入力試＠信号に方形波パルス、ステッ
プパルス等の急峻な！上り、立下り特性を持った波形を
使用することによりて、従来例で問題であった人力試験
成形の各振幅１におけるスルーレートの相異を改畳する
とともに、正弦波試験波形に比較して、試験点数を減少
可能な試験方式を提供することにある。
プパルス等の急峻な！上り、立下り特性を持った波形を
使用することによりて、従来例で問題であった人力試験
成形の各振幅１におけるスルーレートの相異を改畳する
とともに、正弦波試験波形に比較して、試験点数を減少
可能な試験方式を提供することにある。
入力信号に急峻な立上り、立下り特性を待つた波形を使
用することによって、正弦波に比較して高スルーレート
でかつ、全入力レンジにおいてスルーレート差の少ない
試験が可能なことに層目した。更に、再生したアナログ
波形の！上り又は豆下り時間から被試験Ａ ／ Ｄ変換
器のアナログ遮断周波数を容易に算出でき、また同時に
、アナログ入力端の静電入力容量を苅ることも可能なこ
とを見出した。これによって、正弦波試験時に比較して
、試験精度を向上できるだけでなく、単一の試験で複数
の特性を苅ることが９餌となり、試験点数の減少が可能
である。
用することによって、正弦波に比較して高スルーレート
でかつ、全入力レンジにおいてスルーレート差の少ない
試験が可能なことに層目した。更に、再生したアナログ
波形の！上り又は豆下り時間から被試験Ａ ／ Ｄ変換
器のアナログ遮断周波数を容易に算出でき、また同時に
、アナログ入力端の静電入力容量を苅ることも可能なこ
とを見出した。これによって、正弦波試験時に比較して
、試験精度を向上できるだけでなく、単一の試験で複数
の特性を苅ることが９餌となり、試験点数の減少が可能
である。
以下１本発明の第１笑施例な帛１図を用いて説明する。
図において、２は被試験Ａ ／ Ｄ変換器、３はＤ／Ａ
変換器、４はオシａスーー１，６はラッチ回路、７はデ
ィグリッチ回路、８は周波数シンセサイザ、９は基準ク
ロック発生器、１０は分周器・１１は方形波発生器であ
る。被試験Ａ／Ｄ変換器２には、基準りΩツク発生器９
より発生したｆ換りａツクが入力される。また、方形波
発生器１１より発生した試験方形改とｆ挨り０１２間の
相互の位相関係を一ツクし、再生波形の安定度を向上す
る。このため、基準りΩツク発生器９より菱侠クロック
に位相ｌＷ１期した同期信号を発生し、これ全周波数シ
ンセサイザ８の基３［を号とする。更に方形波発生器１
１の出力方形波は１周波数シンセサイザ８の出力信号と
位相同期するために変換りａツクと出力方形直間の位相
関係′４ｒ：１１！ｒ１Ｍする。被試験Ａ ／ Ｄ変換
器２の出力デジタルデータは、変換りａツクを分周器１
０によりてル分ＡＣｎは處叔〕したりａツクをラッチ回
路６に〃口えることによって変換りａツク周波数の１７
３間隔でラッチする。ラッチ回路を設けることにより、
被試験Ａ ／ Ｊ）変換器２の出力デジタルデータ間の
スキニーを軽諷し、Ｄ／Ａ／Ｒ換器３の出力に虫するグ
リッチを低減する。ラッチ後の出刃デジタルデータは、
Ｊ）／ＡＫ換器３によって再度アナログ信号に変換する
。Ｌ）／ＡＫ侠器６の出力に生ずるグリッチな低減する
ために、デグリッチ回路７を通過させた再生出力をオシ
ロスコープ４によりテｉ！測ｆる・再生出力波形は、変
換りａツク周波数をｆｌＢ＊試験方試験方形数周波数ａ
十Δｆ１分局数ルとした場合にｊｓｏ ＝ ｈｐｘ ／
％なる条件において周波数Δｆに変換される。。
変換器、４はオシａスーー１，６はラッチ回路、７はデ
ィグリッチ回路、８は周波数シンセサイザ、９は基準ク
ロック発生器、１０は分周器・１１は方形波発生器であ
る。被試験Ａ／Ｄ変換器２には、基準りΩツク発生器９
より発生したｆ換りａツクが入力される。また、方形波
発生器１１より発生した試験方形改とｆ挨り０１２間の
相互の位相関係を一ツクし、再生波形の安定度を向上す
る。このため、基準りΩツク発生器９より菱侠クロック
に位相ｌＷ１期した同期信号を発生し、これ全周波数シ
ンセサイザ８の基３［を号とする。更に方形波発生器１
１の出力方形波は１周波数シンセサイザ８の出力信号と
位相同期するために変換りａツクと出力方形直間の位相
関係′４ｒ：１１！ｒ１Ｍする。被試験Ａ ／ Ｄ変換
器２の出力デジタルデータは、変換りａツクを分周器１
０によりてル分ＡＣｎは處叔〕したりａツクをラッチ回
路６に〃口えることによって変換りａツク周波数の１７
３間隔でラッチする。ラッチ回路を設けることにより、
被試験Ａ ／ Ｊ）変換器２の出力デジタルデータ間の
スキニーを軽諷し、Ｄ／Ａ／Ｒ換器３の出力に虫するグ
リッチを低減する。ラッチ後の出刃デジタルデータは、
Ｊ）／ＡＫ換器３によって再度アナログ信号に変換する
。Ｌ）／ＡＫ侠器６の出力に生ずるグリッチな低減する
ために、デグリッチ回路７を通過させた再生出力をオシ
ロスコープ４によりテｉ！測ｆる・再生出力波形は、変
換りａツク周波数をｆｌＢ＊試験方試験方形数周波数ａ
十Δｆ１分局数ルとした場合にｊｓｏ ＝ ｈｐｘ ／
％なる条件において周波数Δｆに変換される。。
第４図（αＩＫ示す像な、豆上り時間ｔｒ、スルーＬ／
−ト５Ｒ＝ｄＶ／ｄｔの入力試験波形に対するＡｌ１）
Ｋ換後の再生波形が（りに示す立上り時間４になったと
する。この場会、Ａ／Ｄ変換器個有り豆上り時間ｔｙ（
＊ｌＩ）をｔ ｔｒ＜ｌｎ）±〜、Ｐ−、％−で示され
る。従って、 Ａｌ１）変換器の周波数特性カ、抵抗と
靜電容麓によって構成されルー次積分形である時、その
遮断周波数ｆ、はｆｃ〜α３５／ｌ ｆ （ｊ ｊ））
と近似でき、豆上り時間１．の測定のみでｆｃを求
めることかできる。入力試験波形（りは、正弦波に比較
してスルーレートが大きく。
−ト５Ｒ＝ｄＶ／ｄｔの入力試験波形に対するＡｌ１）
Ｋ換後の再生波形が（りに示す立上り時間４になったと
する。この場会、Ａ／Ｄ変換器個有り豆上り時間ｔｙ（
＊ｌＩ）をｔ ｔｒ＜ｌｎ）±〜、Ｐ−、％−で示され
る。従って、 Ａｌ１）変換器の周波数特性カ、抵抗と
靜電容麓によって構成されルー次積分形である時、その
遮断周波数ｆ、はｆｃ〜α３５／ｌ ｆ （ｊ ｊ））
と近似でき、豆上り時間１．の測定のみでｆｃを求
めることかできる。入力試験波形（りは、正弦波に比較
してスルーレートが大きく。
かつ−足であり、被試験Ａ ／ Ｄ変換器２の全入力レ
ンジに渡る振幅′４を加えることにより、均一なスルー
レート試験が可耗である＠また立上り時間ｔｒ’に可叢
することで、ｌｉＫＭＡ／ＤＫ洪器２の特性に過器２波
形を遇択することもできる。
ンジに渡る振幅′４を加えることにより、均一なスルー
レート試験が可耗である＠また立上り時間ｔｒ’に可叢
することで、ｌｉＫＭＡ／ＤＫ洪器２の特性に過器２波
形を遇択することもできる。
第５凶にｊＡ原の試作回路例におけるＡ ／ Ｄ変換器
の立上り部分の丹生改形例を示す。試験成形は１株返し
周波数５．００１ＭＩｉｚ 、立上り時間ｔｌ＝Ｑｒｂ
ｓの方形波を使用し、変洪りロック局Ｋ １５！ ２０
Ｍｉｘ 。
の立上り部分の丹生改形例を示す。試験成形は１株返し
周波数５．００１ＭＩｉｚ 、立上り時間ｔｌ＝Ｑｒｂ
ｓの方形波を使用し、変洪りロック局Ｋ １５！ ２０
Ｍｉｘ 。
分周比４とした。この時、試ＦＩＩＩＬ波形の一周期は
、Ｉ Ｋｔｌｚのビート波形として再生され、帛５図の
立上り時間は１等価的に＆ ８ｎＳに相当する。従って
Ａ／ＤＫ換器伽有の立上り時間は約＆６ルＳである。こ
の憾からＢｗｒ局彼数ｆｃ ’４ｔ Ｘめると約４０Ｍ
Ｈｚと定められる。また、方形波発生器１１の出力イン
ピーダンス４と、被試験Ａ／ −Ｚ’ 変換器２のアナ
ログ入力選との入力静電容重Ｃ１ｎとによって立上９ｆ
ｊＦＰ閲ｔｙ（ａｎ） が決定される場合には。
、Ｉ Ｋｔｌｚのビート波形として再生され、帛５図の
立上り時間は１等価的に＆ ８ｎＳに相当する。従って
Ａ／ＤＫ換器伽有の立上り時間は約＆６ルＳである。こ
の憾からＢｗｒ局彼数ｆｃ ’４ｔ Ｘめると約４０Ｍ
Ｈｚと定められる。また、方形波発生器１１の出力イン
ピーダンス４と、被試験Ａ／ −Ｚ’ 変換器２のアナ
ログ入力選との入力静電容重Ｃ１ｎとによって立上９ｆ
ｊＦＰ閲ｔｙ（ａｎ） が決定される場合には。
出力インピーダンス櫃Ｚ。７に予め知ることで、（、’
５ｎ＝１／２π／ＣＯＯからの４の臘を測定できる。一
方、第５図の！上り部分において、スルーレートの大き
い部分に欠陥コードか餡められる。これから、スルーレ
ート依存性の大きい部分′４ｒ：容易に矧ることもでざ
る。
５ｎ＝１／２π／ＣＯＯからの４の臘を測定できる。一
方、第５図の！上り部分において、スルーレートの大き
い部分に欠陥コードか餡められる。これから、スルーレ
ート依存性の大きい部分′４ｒ：容易に矧ることもでざ
る。
久に自１ｍ区験試打通な第２夾ゐカについて第６図から
ａｇ９図を使用し工睨明する。帛６図の傳或図に８いて
、２は被試験Ａ ／ Ｄ変換器、８は周改数シン七すイ
ザ、９は基準りａツク発主器、１１は方形波発生器、１
２はメモリ、１５は処理用ｔｔ其愼、１４は、ＸＹ７Ｃ
Ｉツタ等の表示装置である。基準クロツク発生６９．周
改数シンセサイザ８．方形波発生器１１は第１夾月例と
同様の纏出によって変換りΩツク周波数ｆｓｐＬと試験
方形Ｍ、周阪数ｆｌａ間の位相同期を行なう。被試験Ａ
／ Ｄ賀換器２の出力デジタルデータは、変換りΩツ
ク周波数ｆｘｐｇ Ｋ １１１３期してメモリ１２に一
坦記憶丁金。史に出力デジタルデータは計算機１５によ
りてデータ並べ俟え操作が行なわれ、再度アナログ信号
成形に宸決されΦ。この方式ではＤ／Ａ変決鰺を使用し
ないため、丹生成形忙り／Ａ賀侠阻漉を含まない利点が
ある。
ａｇ９図を使用し工睨明する。帛６図の傳或図に８いて
、２は被試験Ａ ／ Ｄ変換器、８は周改数シン七すイ
ザ、９は基準りａツク発主器、１１は方形波発生器、１
２はメモリ、１５は処理用ｔｔ其愼、１４は、ＸＹ７Ｃ
Ｉツタ等の表示装置である。基準クロツク発生６９．周
改数シンセサイザ８．方形波発生器１１は第１夾月例と
同様の纏出によって変換りΩツク周波数ｆｓｐＬと試験
方形Ｍ、周阪数ｆｌａ間の位相同期を行なう。被試験Ａ
／ Ｄ賀換器２の出力デジタルデータは、変換りΩツ
ク周波数ｆｘｐｇ Ｋ １１１３期してメモリ１２に一
坦記憶丁金。史に出力デジタルデータは計算機１５によ
りてデータ並べ俟え操作が行なわれ、再度アナログ信号
成形に宸決されΦ。この方式ではＤ／Ａ変決鰺を使用し
ないため、丹生成形忙り／Ａ賀侠阻漉を含まない利点が
ある。
次に１以上の変換鳩機を第７図を用いて詳細に説明する
。入力佃゛号周波数ｊｓａが、ナイキスト周波数（＝
ｆｘｐｘ ／ ２ ）に近い試験を行５場合に、人力（
ｉ！を方−周期当りのサンプル点数は十分な甑を優るこ
とかでざず、試戚を行ｔ５ために十分な波形１？ｆ ＠
’ｔ’得ることは頬しくなる。しかし、第７図の休に
人力信号が一足の繰返し周期を待った場合には、数周切
分の波形中から具なる改形状渡を得ることによって、入
力信号−周期当りのサン１ル点叡を等価的に増加するこ
とかでざ、試練を行な５に十分な成形情報を得ることか
できる。第７図奢工１図（＠）の繰返し入力方形波信号
ｔ３周期に渡って図（ｂ）の９１戻りａｙりでＡｌ１）
変換した場合の例である。Ａ／Ｄ賀洪盪に慢られた出力
デジタルコードは図ＣＯ）に示す僚になる。これを計算
＋ｌＡ１３によって図（ｄ）の嫌に並ぺ洪えた＊Ｋ、出
力デジタル；−ドに応じたレベルａＣ＆洪することによ
って図Ｃ６）の−周期当りに比較して５倍のサン１リン
ダ点数ｔ／待つ ４％ｇ：波形を得ることができる。こ
こで。
。入力佃゛号周波数ｊｓａが、ナイキスト周波数（＝
ｆｘｐｘ ／ ２ ）に近い試験を行５場合に、人力（
ｉ！を方−周期当りのサンプル点数は十分な甑を優るこ
とかでざず、試戚を行ｔ５ために十分な波形１？ｆ ＠
’ｔ’得ることは頬しくなる。しかし、第７図の休に
人力信号が一足の繰返し周期を待った場合には、数周切
分の波形中から具なる改形状渡を得ることによって、入
力信号−周期当りのサン１ル点叡を等価的に増加するこ
とかでざ、試練を行な５に十分な成形情報を得ることか
できる。第７図奢工１図（＠）の繰返し入力方形波信号
ｔ３周期に渡って図（ｂ）の９１戻りａｙりでＡｌ１）
変換した場合の例である。Ａ／Ｄ賀洪盪に慢られた出力
デジタルコードは図ＣＯ）に示す僚になる。これを計算
＋ｌＡ１３によって図（ｄ）の嫌に並ぺ洪えた＊Ｋ、出
力デジタル；−ドに応じたレベルａＣ＆洪することによ
って図Ｃ６）の−周期当りに比較して５倍のサン１リン
ダ点数ｔ／待つ ４％ｇ：波形を得ることができる。こ
こで。
人力何方周波数ｔ’ ７ｓ ｓ ｓデータ填込１ｍ返し
周期を蚕、変換りａツク周波数ｋｆｓｐｇとした時に。
周期を蚕、変換りａツク周波数ｋｆｓｐｇとした時に。
入力信号−周期当りのサンプリング点数をＮ制得たい場
合にはｓ ｆｘｐｇ冨Ａ’ ／ Ｍ ＠７Ｊ ｏとなる
条件を満た丁のみで良い。
合にはｓ ｆｘｐｇ冨Ａ’ ／ Ｍ ＠７Ｊ ｏとなる
条件を満た丁のみで良い。
Ｂａ図は、第６図のＩｌ属にｇいて、高速方形波を入力
した場合の良品大科九対する再生波形の一例である。サ
ンプリング点数ＮｋＮＩＸＪすることによって、！上り
、立下り部の詳細な試験が可能である。第９図は、第８
図と同様の条件において不良品資料を試験した結果であ
る０豆上り、立下り部分において欠陥コードな主じ、ス
ルーレート依存性な試験できる。＠８．９図において、
ｓＬ上９時間からＡ／Ｄ変′ｆｌ＆器の遮断層ＢＬ数ｆ
ｃを求める手法は、第−実施例と同様である。本案Ａｆ
ｉｌは、基準りａツク発生器９１周波数シンセサイザ８
の発生局ｍａを計算機によって制御し、かつ、８生匝形
を予め定めた良品波形形状と自鯛比叔を行な５ことによ
って、任意試験周置数において、＊試験Ａ／Ｄ変換器２
の自動試験が可能である。ｆた。立上り時間１゜を阪形
銘識で求めることによって、 、！１ｌｌｒ周改数りの
自虐試験も可能である。
した場合の良品大科九対する再生波形の一例である。サ
ンプリング点数ＮｋＮＩＸＪすることによって、！上り
、立下り部の詳細な試験が可能である。第９図は、第８
図と同様の条件において不良品資料を試験した結果であ
る０豆上り、立下り部分において欠陥コードな主じ、ス
ルーレート依存性な試験できる。＠８．９図において、
ｓＬ上９時間からＡ／Ｄ変′ｆｌ＆器の遮断層ＢＬ数ｆ
ｃを求める手法は、第−実施例と同様である。本案Ａｆ
ｉｌは、基準りａツク発生器９１周波数シンセサイザ８
の発生局ｍａを計算機によって制御し、かつ、８生匝形
を予め定めた良品波形形状と自鯛比叔を行な５ことによ
って、任意試験周置数において、＊試験Ａ／Ｄ変換器２
の自動試験が可能である。ｆた。立上り時間１゜を阪形
銘識で求めることによって、 、！１ｌｌｒ周改数りの
自虐試験も可能である。
不発明によれば、ｉ／Ｄ変換器のＫＦＩＩｔにおいて人
力試験信号に方形波パルス、ステラ１パルス等の急峻な
！上り、ｓＬ下り特性を待った波形を使用することによ
って、入力試験成形の各振暢櫃におけるスルーレートの
相異を改畳できる。
力試験信号に方形波パルス、ステラ１パルス等の急峻な
！上り、ｓＬ下り特性を待った波形を使用することによ
って、入力試験成形の各振暢櫃におけるスルーレートの
相異を改畳できる。
更に、衿生波形の立上り、ｆ下り部分に層目することに
より、被試＠ Ａ ／ Ｄ武侠鮨の変換特性において、
スルーレート依存性の高い部分を検出可能であり、これ
によって生じた欠陥コードも容易に検出できる。層成数
帯域幅試験では。
より、被試＠ Ａ ／ Ｄ武侠鮨の変換特性において、
スルーレート依存性の高い部分を検出可能であり、これ
によって生じた欠陥コードも容易に検出できる。層成数
帯域幅試験では。
従来例では正弦［をスィーブし、点前周波数を見つける
必要があったが１本発明によれば再生波形の豆上り時か
ら容易に試験できる。更に。
必要があったが１本発明によれば再生波形の豆上り時か
ら容易に試験できる。更に。
ａ知の出力インピーダンスを佇つ万形波発虫器を使用し
た場合には豆上り時間から被試ｋｆｔＡ／Ｄ変渓器のア
ナログ入力１４１Ｋｇける入力靜電谷童’ｋＸめること
かできる。
た場合には豆上り時間から被試ｋｆｔＡ／Ｄ変渓器のア
ナログ入力１４１Ｋｇける入力靜電谷童’ｋＸめること
かできる。
以上、不発明を用いることＫよって、従米異なる試験方
式を必要としてた′ＩＢ特性試験項目を単一の方式のみ
で試験可能であり１試験の簡易化と、高速化を英机する
上で効果がある・
式を必要としてた′ＩＢ特性試験項目を単一の方式のみ
で試験可能であり１試験の簡易化と、高速化を英机する
上で効果がある・
第１図は本発明の第１夾施例を適用した１１１％性試験
方式の構成図、第２図は従来例のＩＩｔＪ特性試験方式
を示す図％累５図は従来例の再生波形を示す凶、第４図
は本発明のａｇ１実施例における二上’）ｗＩＰ間と遮
断周波数の計算方＠を示す図。 鳥５図は試作装置における再生波形の一例を示す図、第
６図は本発明第２笑施例を適用した勤脣性試験方式のＷ
属図、第７図は成形再生方法を示す図、第８図は試作装
置における良品資料の再主波形の一例を示す幽、第９図
は、不良品貴書の再主波形の一例を示す図である。 １・・・正弦波発生器 ２・・・被試験Ａ ／ Ｄ変換器 ５ ・・・ｊ） ／ Ｊ変換器 ４・・・オシａスコ
ー１５・・・クロック発生器 ６・・・ラッチ回路７・
・・ディグリッチ回路 ８・・・周ｒＢＬｉｊ５１シンセサイザ９・・・基準り
ａツク発生器 １０・・・分周器 １１・・・方形技発生器１
２・・・メモリ １３・・・酊鼻嶺１４・−
ＸＹ７ａ ｙｐ 第２図 第３図 第４記 第Ｓ図 時藺
方式の構成図、第２図は従来例のＩＩｔＪ特性試験方式
を示す図％累５図は従来例の再生波形を示す凶、第４図
は本発明のａｇ１実施例における二上’）ｗＩＰ間と遮
断周波数の計算方＠を示す図。 鳥５図は試作装置における再生波形の一例を示す図、第
６図は本発明第２笑施例を適用した勤脣性試験方式のＷ
属図、第７図は成形再生方法を示す図、第８図は試作装
置における良品資料の再主波形の一例を示す幽、第９図
は、不良品貴書の再主波形の一例を示す図である。 １・・・正弦波発生器 ２・・・被試験Ａ ／ Ｄ変換器 ５ ・・・ｊ） ／ Ｊ変換器 ４・・・オシａスコ
ー１５・・・クロック発生器 ６・・・ラッチ回路７・
・・ディグリッチ回路 ８・・・周ｒＢＬｉｊ５１シンセサイザ９・・・基準り
ａツク発生器 １０・・・分周器 １１・・・方形技発生器１
２・・・メモリ １３・・・酊鼻嶺１４・−
ＸＹ７ａ ｙｐ 第２図 第３図 第４記 第Ｓ図 時藺
Claims (1)
- 方形波パルス、ステップパルス等の急峻な立上り、立下
り波形を持った試験信号を発生する試験信号発生手段と
、試験信号発生手段から発生した試験信号を供給する被
試験Ａ／Ｄ変換器と、被試験Ａ／Ｄ変換器の出力デジタ
ルデータから入力試験波形を再生するための再生手段に
よって構成されるＡ／Ｄ変換器の動特性試験方式におい
て、再生した試験波形から被試験Ａ／Ｄ変換器の周波数
帯域幅、スルーレート、入力静電容量、欠陥コードの動
特性を知ることを特徴としたＡ／Ｄ変換器試験方式。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60093656A JPH0630444B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | Ａ／ｄ変換器試験方式 |
| US06/858,793 US4795963A (en) | 1985-05-02 | 1986-05-01 | Test method of A/D converter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60093656A JPH0630444B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | Ａ／ｄ変換器試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61252718A true JPS61252718A (ja) | 1986-11-10 |
| JPH0630444B2 JPH0630444B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=14088425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60093656A Expired - Lifetime JPH0630444B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | Ａ／ｄ変換器試験方式 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4795963A (ja) |
| JP (1) | JPH0630444B2 (ja) |
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| JP5815918B2 (ja) | 2009-10-06 | 2015-11-17 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 |
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| JP5883558B2 (ja) | 2010-08-31 | 2016-03-15 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置及び電子機器 |
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1985
- 1985-05-02 JP JP60093656A patent/JPH0630444B2/ja not_active Expired - Lifetime
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1986
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4795963A (en) | 1989-01-03 |
| JPH0630444B2 (ja) | 1994-04-20 |
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